
- •Физическая электроника Введение
- •Тема: Основы зонной теории твердых тел
- •1. Зоны разрешенных значений энергии в кристалле
- •2. Заполнение зон электронами и деление тел на металлы, диэлектрики и полупроводники
- •2.1. Число состояний в зоне
- •2.2. Связь заполнения зон с электрическими свойствами твердых тел
- •2.3. Поведение электронов во внешнем электрическом поле
- •3. Собственные полупроводники
- •4. Локальные уровни в запрещенной зоне
- •4.1. Донорные уровни
- •4.2. Акцепторные уровни
- •Тема: Статистика электронов и дырок в полупроводниках и металлах
- •1. Функция распределения в статистике Ферми-Дирака:
- •Функцию плотности состояний
- •Функцию распределения
- •2. Функция плотности состояний
- •3. Концентрация электронов и дырок в полупроводнике
- •3.1. Концентрация электронов в полупроводнике
- •3.2. Концентрация дырок в полупроводнике
- •4. Положение уровня Ферми и концентрация свободных носителей заряда в собственных полупроводниках
- •5. Статистика электронов в примесных полупроводниках
- •5.1. Донорный полупроводник
- •5.2. Акцепторный полупроводник
- •5.3. Закон действующих масс
- •5.4. Сильно легированные полупроводники
- •5.5. Компенсированные полупроводники
- •6. Статистика электронов в металлах
- •Тема: Неравновесные носители заряда в полупроводниках
- •1. Равновесные и неравновесные носители заряда (определение)
- •2. Время жизни. Скорости генерации и рекомбинации
- •3. Уравнение непрерывности
- •Диффузия и дрейф неравновесных носителей
- •4.1. Введение
- •4.2. Эффективный коэффициент диффузии
- •4.3. Стационарное распределение неравновесных носителей за слоем генерации
- •4.4. Максвелловское время релаксации
- •Тема: Электронная эмиссия Введение
- •1. Поверхностный потенциальный барьер для электронов в металле (Работа выхода)
- •2. Формула для плотности тока термоэлектронной эмиссии (Формула Ричардсона-Дешмена)
- •В ывод формулы для тока насыщения
- •3. Эффект Шоттки
- •4. Автоэлектронная эмиссия
- •5. Фотоэлектронная эмиссия
- •5.1. Основные закономерности. Формула Эйнштейна для фотоэффекта
- •5.2. Фотоэлектронная эмиссия из металлов
- •5.3. Фотоэлектронная эмиссия из диэлектриков и полупроводников
- •6. Вторичная электронная эмиссия
- •Тема: Электронные лампы
- •Двухэлектродные вакуумные лампы (диоды)
- •Вольт-амперная характеристика (вах) диода
- •Параметры диодов
- •Трехэлектродные лампы (триоды)
- •Внутреннее уравнение лампы
- •Недостатки триодов
- •Тетроды и пентоды
- •Тема. Электрический ток в газах
- •1. Ионизация газов. Упругие и неупругие столкновения
- •2. Длина свободного пробега. Эффективное сечение взаимодействия
- •3. Скорости генерации и рекомбинации
- •Несамостоятельный разряд в газе
- •5. Экспериментальное определение коэффициента рекомбинации
- •6. Распределение электронов по длинам свободного пробега
- •7. Лавинный разряд. Явление усиления тока при наличии ионизирующего соударения
- •8. Самостоятельный разряд
- •8.1. Лавинный разряд при объемной ионизации электронами и гамма-процессах на катоде
- •8.2. Зажигание самостоятельного разряда
- •8.2.1. Условия зажигания самостоятельного разряда
- •8.2.2. Процесс развития самостоятельного разряда
- •8.2.3. Развитие и установление самостоятельного разряда
- •8.2.4. Напряжение зажигания самостоятельного разряда
- •8.3. Формы самостоятельного разряда
- •8.3.1. Тлеющий разряд
- •8.3.2. Дуговой разряд
- •8.3.3. Коронный разряд
- •8.3.4. Искровой разряд
- •Тема: Движение электрона в электрических и магнитных полях
- •Электронная оптика
- •Движение электрона в однородном электрическом поле
- •3. Электростатическая электронная линза
- •1) Линзы-диафрагмы
- •2) Бипотенциальные линзы
- •3) Одиночные линзы
- •4. Магнитные линзы
- •Тема: Электронная микроскопия
- •Устройство электронного микроскопа
- •2. Разрешающая способность и увеличение электронного микроскопа
Тема: Электронная эмиссия Введение
Электронная эмиссия – это эмиссия или выход электронов из твердых или жидких тел.
Процессы эмиссии распадаются на 4 основных типа:
1. Термоэлектронная эмиссия – выход электронов при высокой температуре.
2. Холодная эмиссия (автоэлектронная эмиссия) – выход электронов вследствие туннельного эффекта.
3. Фотоэлектронная эмиссия – эмиссия, вызываемая поглощением электронами электромагнитного излучения.
4. Вторичная электронная эмиссия – выход электронов при бомбардировке потоком электронов или других частиц.
1. Поверхностный потенциальный барьер для электронов в металле (Работа выхода)
x0 – межатомное расстояние.
В модели:
1. Внутри двойного электрического слоя существует однородное электрическое поле Ɛ (от 0 до x0) и действует постоянная сила Fсл=Ɛe.
2. За слоем действует сила электрического изображения Fi:
.
Считаем, что на границе слоя в точке х0 сила изображения Fi без скачка (см. рисунок) переходит в силу двойного электрического слоя:
.
Рассчитаем работу
выхода Ea
– работу,
совершаемую электроном при удалении
его с поверхности металла в бесконечность.
Ea
– это
работа, совершаемая против 1) силы
двойного слоя
и 2) силы электрического изображения
:
.
.
Итак, мы получили, что работа выхода равна
.
Из этой формулы следует, что чем меньше межатомное расстояние, тем больше работа выхода.
2. Формула для плотности тока термоэлектронной эмиссии (Формула Ричардсона-Дешмена)
Эффект насыщения тока, протекающего через вакуумный диод, открыл Эдиссон в 1883 году.
Формулу для тока насыщения дали Ричардсон в 1901 году и уточнил Дешмен в 1923 году.
В ывод формулы для тока насыщения
Расчеты проведем в предположении, что объем кристалла V=1 (!).
Число квантовых
состояний dZ
внутри элемента объема импульсного
пространства
с учетом спина электрона и с учетом
того, что элементарный объем (объем,
приходящийся на одно состояние) равен
,
есть:
.
Число электронов в этом элементе объема с учетом распределения Ферми-Дирака равно:
.
Для электронов, эмиттированных из металла, выполняется условие . Поэтому
,
где учтено, что:
.
Направим ось x
перпендикулярно к поверхности металла.
Найдем долю электронов
,
x-составляющая
импульса которых заключена между px
и px+dpx.
Для этого последнее выражение для dN
проинтегрируем по pz
и py
от –∞ до +∞:
.
Используя интеграл
(
),
получаем:
.
Плотность потока
электронов, подходящих
(!) к поверхности
и имеющих импульс в пределах от
до
,
есть:
.
Плотность потока электронов, выходящих (!) с единицы поверхности, определяется электронами, имеющими энергию E > Ea (Ea – высота поверхностного потенциального барьера). Она равна интегралу:
,
где
,
а Ф =
– работа выхода.
Наконец, плотность тока (тока насыщения) определяется произведением заряда электрона е и плотности потока Lx:
,
где
.
Эта формула носит название формулы Ричардсона-Дешмена.