 
        
        - •Аннотация
- •1 Краткое описание структуры, свойств и применения соедения
- •1.1 Описание структуры
- •1.2 Свойства сульфида меди
- •1.3 Применение сульфида меди
- •2 Нахождение константы равновесия основного процесса
- •2.1 Расчет параметров реакции при температуре 298 к
- •2.2 Расчет параметров реакции при произвольно выбранных температурах
- •2.3 Выбор рабочей точки и анализ условий протекания процесса
- •3 Анализ процессов сублимации
- •3.1 Анализ сублимации олова Cu
- •3.2 Анализ сублимации серы s2
- •3.3 Расчет погрешностей нахождения температур кипения
- •4 Построение Pi – t диаграмм и оценка диапазона изменения соотношения давлений реагирующих веществ
- •4.1 Определение границ области гомогенности для двух компонентов
- •4.2 Определение линии стехиометрии и построение pi – t-диаграмм
- •5 Нахождение парциальных давлений паров и температур компонентов
- •5.1 Расчет давлений двух компонентов
- •5.2 Расчет рабочих температур двух компонентов
- •5.3 Построение диаграммы распределения температур в реакторе
- •6 Оценка возможности окисления компонентов
- •Заключение
- •Список литературы
- •Приложение Приложение а – Справочные данные
4 Построение Pi – t диаграмм и оценка диапазона изменения соотношения давлений реагирующих веществ
4.1 Определение границ области гомогенности для двух компонентов
Для построения p-T диаграмм необходимо определить границу области гомогенности (ГОГ) и со стороны олова, и со стороны селена.
Определим границы области гомогенности со стороны компонента Sn. Для этого найдем аналитические решения системы (16):
| 
			 | (16) | 
Решениями системы (16) являются две функции от логарифмов константы равновесия, рассчитанных ранее при различных температурах. Для удобства сразу переведем полученные решения в логарифмический вид для удобства построения диаграммы в координатах Аррениуса:
 
Аналогичным образом найдем границы области гомогенности со стороны компонента Se2. Для этого найдем аналитические решения системы (17). Решения запишем в таком же виде из тех же соображений:
| 
			 | (17) | 
Решения системы (17):
 
4.2 Определение линии стехиометрии и построение pi – t-диаграмм
Для определения линий стехиометрии диаграмм обоих компонентов необходимо аналитически решить систему (18):
| 
			 | (18) | 
Решение системы уравнений (18) представим аналогичным предыдущему пункту курсовой образом:
 
Рассчитаем зависимости давлений компонентов на границах области гомогенности и на линии стехиометрии от температуры, используя значения логарифмов давлений паров, полученные ранее в других пунктах. Приведем пример расчета для температуры 298 К. Результаты для удобства сведем в таблицу 5. Полученные диаграммы для олова и селена изобразим на рисунках 7 и 8 соответственно:
Таблица 5 – Расчетные значения давлений паров при различных температурах
| 
 | 
				 | 
				 | 
				 | 
				 | 
				 | 
				 | 
| 298 | -46,74518812 | -46,51561699 | -62,09188028 | -46,35750474 | -46,81664699 | -15,66412042 | 
| 493 | -25,80508233 | -25,32631177 | -34,96663895 | -24,66980064 | -25,62734177 | -6,346687405 | 
| 505 | -25,04328462 | -24,55771811 | -33,97851075 | -23,88761509 | -24,85874811 | -6,017162841 | 
| 950 | -10,11181611 | -9,792182177 | -14,87156859 | -9,453944304 | -10,09321217 | 0,065560649 | 
| 1153 | -7,332327836 | -6,852179263 | -11,66925046 | -6,192912112 | -7,153209258 | 2,480933132 | 
Пример расчета для температуры 298 К:
 
 
Рисунок 7 – p – T-диаграмма селенида олова в координатах lg(PSn) – T
 
Рисунок 8 – p – T-диаграмма селенида олова в координатах lg(PSe2) – T
Таким образом, были получены температурные зависимости давлений паров, по которым определены области p- и n-типов электропроводности.
Отметим, что во всей области гомогенности селенида олова, согласно рисунку 7, определяющим является p-тип электропроводности. Это связано с точечными дефектами: большое количество атомов селена в междоузлии, вакансий олова в кристаллической решетке, а также возможен антиструктурный дефект – атом селена может занимать позицию олова. Следовательно, имеем избыток компонента В – селена, а значит, преобладающее количество дырок и полупроводник p-типа.
По рисунку 8 так же можно определить, что вся область гомогенности – область p- типа электропроводности.
В общем случае область p-типа электропроводности на p – T-диаграммах располагается между линией стехиометрии и границей области гомогенности со стороны селена, область n-типа электропроводности располагается между линией стехиометрии и границей области гомогенности со стороны олова.

 
 
 
 
 
 
 
 
