- •ОГЛАВЛЕние
- •Предисловие авторов
- •Введение
- •Глава 1. Магнитные свойства вещества
- •§ 1.1. Условия возникновения самопроизвольной намагниченности
- •§ 1.2. Магнитные состояния вещества
- •§ 1.3. Причины возникновения доменной структуры
- •§ 1.4. Намагничивание ферромагнетиков внешним магнитным полем
- •§ 1.5. Классификация магнитных материалов
- •Контрольные вопросы по главе 1
- •Список рекомендуемой литературы по главе 1
- •Глава 2. Электромагнитные устройства
- •§ 2.1. Основные понятия и определения
- •§ 2.2. Требования к магнитопроводам электромагнитных устройств
- •§ 2.3. Конструкции магнитопроводов
- •§ 2.4. Материалы магнитопроводов электромагнитных устройств
- •§ 2.5. Статические электромагнитные устройства
- •Контрольные вопросы по главе 2
- •Список рекомендуемой литературы по главе 2
- •Глава 3. Постоянные магниты
- •§ 3.1. Назначение, способы намагничивания, стабильность характеристик
- •§ 3.2. Основные магнитные характеристики магнитотвердых материалов
- •§ 3.3. Примеры расчета индукции магнитного поля постоянных магнитов
- •§ 3.4. Материалы для изготовления постоянных магнитов
- •§ 3.5. Примеры использования постоянных магнитов
- •Контрольные вопросы по главе 3
- •Список рекомендуемой литературы по главе 3
- •Глава 4. Электромагнитные экраны и поглотители электромагнитных волн
- •§ 4.1. Электромагнитное экранирование: назначение, эффективность, типы экранов
- •§ 4.2. Физические основы электромагнитного экранирования
- •§ 4.3. Магнитные материалы для электромагнитных экранов
- •§ 4.4. Поглотители электромагнитных волн
- •Контрольные вопросы по главе 4
- •Список рекомендуемой литературы по главе 4
- •Глава 5. Запоминающие устройства
- •§ 5.2. Магнитные материалы, используемые в качестве запоминающих сред
- •§ 5.4. Магнитные ленты
- •§ 5.5. Жесткие магнитные диски
- •§ 5.6. Магниторезистивные запоминающие устройства
- •§ 5.7. Перспективные технологии создания запоминающих устройств с магнитной записью
- •Контрольные вопросы по главе 5
- •Список рекомендуемой литературы по главе 5
- •§ 6.1. Классификация, основные термины и определения
- •§ 6.2. Стабилизация и намагничивание магнитных и магнитореологических жидкостей
- •§ 6.3. Виды магнитных и магнитореологических жидкостей
- •§ 6.4. Магнитожидкостные герметизаторы
- •Расчет максимального перепада давлений, удерживаемого МЖГ
- •§ 6.5. Демпферы, муфты, амортизаторы, тормоза
- •§ 6.6. Магнитожидкостные сепараторы и устройства магнитореологической прецизионной обработки поверхности
- •§ 6.7. Магнитожидкостные датчики
- •§ 6.8. Жидкости с низкой концентрацией наноразмерных магнитных частиц
- •§ 6.9. Магнитные суспензии
- •Контрольные вопросы по главе 6
- •Список рекомендуемой литературы по главе 6
- •Глава 7. Вспомогательные устройства фидеров на основе ферритов
- •§ 7.1. Назначение, характеристика передаваемых волн, примеры устройств
- •§ 7.2. Физические эффекты, проявляющиеся при прохождении ЭМВ через намагниченный феррит
- •§ 7.3. Магнитные материалы, применяемые при создании вспомогательных устройств фидеров
- •§ 7.4. Неуправляемые вспомогательные устройства фидеров
- •§ 7.5. Управляемые вспомогательные устройства фидеров
- •Контрольные вопросы по главе 7
- •Список рекомендуемой литературы по главе 7
- •Глава 8. Электромагнитные датчики
- •§ 8.1. Назначение, области применения, типы и требования
- •§ 8.2. Датчики на основе магнитоупругого взаимодействия
- •§ 8.3. Индуктивные датчики
- •§ 8.4. Магниторезистивные датчики
- •§ 8.5. Индукционные датчики
- •Контрольные вопросы по главе 8
- •Список рекомендуемой литературы по главе 8
- •сокращения
- •Термины и определения
годным, и тело последовательно переходит в однодоменное состояние. Как правило, такой переход происходит при размерах частиц в десятки нанометров (рис. 1.5).
а |
б |
в |
Рис. 1.5. Последовательное изменение доменной структуры при уменьшении размеров ферромагнитного тела:
а – многодоменная; б – двухдоменная; в – однодоменная
Наличие в ферромагнетике доменных структур влияет на процессы намагничивания и магнитные свойства магнитных материалов.
§ 1.4. Намагничивание ферромагнетиков внешним магнитным полем
В размагниченном состоянии каждый ферромагнетик, обладающий доменной структурой, характеризуется отсутствием намагниченности (магнитной индукции), что связано с равенством объемов доменов с противоположной ориентацией магнитных моментов. Рассмотрим кристалл ферромагнетика, имеющий доменную структуру, приведенную на рис. 1.5, а. Приложение внешнего магнитного поля приводит к появлению и изменению магнитной индукции (рис. 1.6).
а |
б |
в |
г |
д |
Рис. 1.6. Изменение доменной структуры и направления намагниченности доменов при увеличении напряженности магнитного поля:
а – при отсутствии магнитного поля; б–д – при последовательном увеличении напряженности внешнего магнитного поля
26
Рис. 1.7. Начальная кривая намагничивания и зависимость магнитной проницаемости магнитного материала
от напряженности внешнего магнитного поля
Для кривых, представленных на рис. 1.7, можно выделить 4 характерные области, имеющие условные границы. В области I происходит смещение доменных границ, приводящее к увеличению объема доменов, для которых угол между направлением вектора их намагниченности и направлением внешнего магнитного поля имеет наименьшие значения; при этом объем соседних с ними доменов уменьшается (рис. 1.6, б). Этот процесс носит обратимый характер, т. е. при снятии магнитного поля доменная структура принимает исходный вид. В этой области зависимости В(Н) имеют линейный характер. Магнитная проницаемость в области I равна начальной маг-
нитной проницаемости μн: |
|
|
|
|
|
μ (Н) = |
1 |
lim |
B |
. |
(1.8) |
|
|
||||
н |
0 |
H 0 H |
|
||
|
|
||||
Области II соответствует необратимое смещение доменных границ, при котором продолжается увеличение объемов доменов, но в отличие от области I доменные границы отрываются от мест своего первоначального закрепления (см. рис. 1.6, б и в). Этот участок характеризуется значительным увеличением индукции, причем из-
27
менение индукции может происходить скачкообразно*, как это показано в выделенном фрагменте на рис. 1.7.
Для некоторой точки А (ее положение на кривой В(Н) можно найти, проведя к ней касательную, проходящую через начало координат) напряженность поля НА имеет значение, при котором достигается максимальная магнитная проницаемость μ = μм. Аналитически НА соответствует максимуму отношения B
H . Точка А условно характеризует границу области II.
Приложение магнитного поля напряженностью, соответствующей области III, приводит к исчезновению доменных границ в кристалле (рис. 1.6, г). При увеличении Н вектор намагниченности в доменах разворачивается от направления ОЛН к направлению намагничивающего поля (рис. 1.6, д) и наступает техническое насыщение материала. Это состояние, наступающее при напряженности поля НS, характеризуется значением намагниченности, рав-
ным намагниченности технического насыщения** MS, и значением индукции, равным индукции технического насыщения*** (BS). Магнитная проницаемость в этой области при дальнейшем повышении Н уменьшается от максимального значения μм. Зависимость μ(Н) может быть построена на основе зависимости В(Н). Значение μ(Н) пропорционально значению тангенса угла наклона секущей, проведенной через начало координат и любую точку на кривой В(Н).
Начало области IV соответствует напряженности магнитного поля НS, увеличение напряженности магнитного поля практически не приводит к увеличению индукции. Дальнейший рост В обуслов-
*Эффект скачкообразного изменения магнитной индукции при увеличении напряженности поля называют эффектом Баркгаузена.
**Намагниченность технического насыщения – намагниченность магнитного материала, подвергнутого воздействию такого внешнего магнитного поля, при увеличении напряженности которого намагниченность не может быть существенно повышена.
***Индукция технического насыщения – значение индукции магнитного материала, определяемое экстраполяцией из области напряженностей магнитных полей, соответствующих намагниченности технического насыщения, к нулевому значению напряженности поля.
28
лен изменением намагниченности за счет ориентации по направлению поля магнитных моментов отдельных атомов (ионов), дезориентированных тепловым движением, и за счет вклада в значение магнитной индукции слагаемого μ0Н (см. (1.6)). Значение магнитной проницаемости продолжает снижаться с ростом Н.
Зависимость, аналогичная приведенной на рис. 1.7, может быть построена для намагниченности. Область IV при изменении напряженности намагничивающего поля от значения НS и выше называют парапроцессом.
Работа большинства магнитных материалов связана с воздействием на них внешних периодических знакопеременных магнитных полей. Реакция магнетика на их действие может быть описана на основе эффекта магнитного гистерезиса – неоднозначной зависимости магнитной индукции (намагниченности) магнитного материала от напряженности внешнего магнитного поля при его квазистатическом* изменении.
Замкнутую кривую, выражающую зависимость магнитной индукции (намагниченности) материала от амплитуды напряженности магнитного поля при периодическом достаточно медленном изменении последнего, называют петлей магнитного гистерезиса по индукции (намагниченности) (рис. 1.8).
Если магнитный материал перемагничивается медленно меняющимся магнитным полем с амплитудой НS, то магнитный гистерезис описывается предельной петлей – симметричной петлей магнитного гистерезиса, максимальное значение намагниченности которой соответствует намагниченности технического насыщения (кривая 1 на рис. 1.8). В остальных случаях, когда амплитуда Н ˂ НS, перемагничивание магнитного материала характеризуется петлями магнитного гистерезиса, расположенными внутри кривой 1 и имеющими характерный вид (кривые 2 и 3 на рис. 1.8). По мере уменьшения амплитуды поля вид петли магнитного гистерезиса все больше приближается к эллипсу. Аналогичную кривую можно построить в координатах «намагниченность от напряженности внешнего магнитного поля» – М(Н).
* Под квазистатическим магнитным полем имеется в виду периодическое достаточно медленно изменяющееся магнитное поле.
29
Рис. 1.8. Магнитный гистерезис: предельная петля (1) и частные циклы перемагничивания по индукции (2, 3)
Петля магнитного гистерезиса характеризуется остаточной индукцией, коэрцитивной силой, формой и площадью.
Остаточная индукция Br – индукция, сохраняющаяся в магнитном материале после его намагничивания до намагниченности технического насыщения и уменьшения напряженности магнитного поля в нем до нуля.
Коэрцитивная сила по индукции (намагниченности) – величи-
на, равная напряженности магнитного поля, необходимого для изменения магнитной индукции (намагниченности) от остаточной индукции (намагниченности) до нуля. На рис. 1.8 коэрцитивная сила по индукции обозначена НсВ.
Площадь петли гистерезиса определяет потери энергии в материале за один цикл его перемагничивания – удельные потери на гистерезис (потери на гистерезис).
Потери на гистерезис можно определить, используя эмпирическую формулу Штейнмеца для расчета энергии, теряемой в единице объема вещества за один полный цикл перемагничивания по симметричной петле с максимальной индукцией Bm:
30
W k Bn |
, |
(1.9) |
г г m |
|
где kг – коэффициент, зависящий от свойств материала; n – показатель, зависящий от амплитуды индукции (n = 1,6 для Bm = 0,1…1,0 Тл; n = 2 для Bm < 0,1 Тл и для Bm = 1,0…1,6 Тл).
Исходя из (1.9), мощность потерь на гистерезис в магнитном материале (если пренебречь неравномерностью распределения в нем магнитного потока) можно рассчитать следующим образом:
P W |
fV k VfBn |
, |
(1.10) |
г г |
г m |
|
|
где f – частота перемагничивания магнитного материала; V – объем магнитного материала.
Потери на гистерезис можно уменьшить за счет использования магнитных материалов, имеющих узкую петлю гистерезиса.
Кроме потерь на гистерезис перемагничивание магнитных материалов сопровождается потерями на вихревые токи и дополнительными потерями*.
Мощность потерь на вихревые токи в магнитном материале (пренебрегая неравномерностью распределения в нем магнитного потока) также может быть определена по эмпирической формуле:
(1.11)
где kв – коэффициент, зависящий от удельной электрической про-
водимости материала и конструкции детали, изготовленной из этого материала.
Вихревые токи, индуцируемые в образце магнитного материала, вызывают вытеснение потока индукции к поверхности образца:
В ≈ В0 exp (–x/δc), |
(1.12) |
где В0 – индукция на поверхности образца; δc – глубина проникновения электромагнитного поля в вещество:
δc = |
|
|
|
, |
(1.13) |
|
|
||||||
f 0 |
||||||
|
|
|
|
|
* Дополнительные потери называют потерями на магнитное последействие, они малы, что позволяет пренебрегать ими в подавляющем большинстве случаев; при необходимости их значение определяется экспериментально.
31
