Добавил:
t.me мой будущий Dungeon Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
лаба2 / мэтЛР№2.docx
Скачиваний:
1
Добавлен:
11.06.2025
Размер:
132.04 Кб
Скачать

МИНОБРНАУКИ РОССИИ

Санкт-Петербургский государственный

электротехнический университет

«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)

Кафедра микро- и наноэлектроники

отчет

по лабораторной работе №2

по дисциплине «Материалы электронной техники»

Тема: «исследование электрических свойств полупроводниковых материалов.»

Студент гр. 1282

fВ.

Преподаватель

Муратова Е.Н.

Санкт-Петербург

2022

ЦЕЛЬ: сравнение температурных зависимостей сопротивления полупроводников с различной шириной запрещенной зоны; определение ширины запрещенной зоны и энергии ионизации легирующих примесей в материалах.

ОСНОВНЫЕ ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

Полупроводники – материалы с электронной электропроводимостью, которые по своему удельному сопротивлению занимают промежуточное положение между проводниками и диэлектриками. Условный диапазон удельных сопротивлений полупроводников – 10-5 – 108 Ом∙м.

Удельная проводимость полупроводников сильно зависит от внешних энергетических воздействий, концентрации и типа примесей.

Собственный полупроводник – такой п/п, в котором можно пренебречь влиянием примесей при данной температуре. Содержание примесей в них не превышает 10-9 – 10-8%.

Примесный – такой п/п, электрофизические свойства которого в основном определяются примесями.

Процесс термогенерации носителей заряда определяется соотношением (1):

(1)

Суммарная концентрация носителей заряда в полупроводнике определяется соотношением (2):

(2)

где – концентрация собственных носителей заряда, – концентрация примесных носителей заряда, обусловленная термической ионизацией легирующих примесей.

Выражение для определения тока дрейфа:

(3)

Подвижность носителей заряда:

(4)

Выражение для определения результирующей подвижности электронов в проводнике:

(5)

Выражение закона Ома в дифференциальной форме имеет вид:

(6)

Протокол

Лабораторная работа № 2

« Исследование электрических свойств полупроводниковых материалов »

Выполнил студент гр.___1282______

__Козлов Сергей Вячеславович

Таблица 1.

t, °C

R, Ом

Si

Ge

SiC

InSb

25

109,8

289

7743

64,6

35

114

302

6130

58

45

117

311

5340

54,3

55

120,6

322

4406

49,2

65

123,8

322

3264

44,2

75

127,3

359

2782

41,5

85

132

330

2340

38,1

95

136

317

2009

35,7

105

138,7

282

1645

33,5

115

143

267

1483

31,2

Таблица 2.

Материал

L, см

S, мм2

Подвижность электронов

Кремний

3

0,2

0,15 (Т/300) -2,5

Германий

3

0,2

0,39 (Т/300) -1,66

Карбид кремния

1

1,2

0,01 (Т/300)-1

Антимонид индия

2

0,1

7,8 (Т/300) -1,6

Соседние файлы в папке лаба2