- •1. Процессы формирования слоев
- •2. Микроклимат производственных помещений
- •3. Оборудование для контроля чистоты и микроклимата
- •4. Значение чистоты и микроклимата
- •1. Классы чистоты воздуха (iso 14644)
- •2. Классы чистоты материалов
- •3. Классы чистоты веществ
- •1. Мокрая химическая очистка
- •2. Сухая очистка
- •1. Подготовка подложек
- •1. Механические вакуумметры
- •2. Тепловые вакуумметры
- •3. Ионизационные вакуумметры
- •1. Пластинчато-роторные насосы
- •2. Мембранные насосы
- •3. Поршневые насосы
- •4. Винтовые насосы
- •5. Водокольцевые насосы
- •4. Сорбционные насосы
- •5. Геттерные насосы
- •1. Пиролиз
- •2. Восстановление водородом
- •1. Подготовка подложки
- •2. Нанесение фоторезиста
- •3. Экспонирование
- •4. Проявление
- •5. Постобработка резиста
- •6. Травление
- •7. Удаление резиста
- •8. Контроль качества
- •1. Центрифугирование (спин-костинг, spin-coating)
- •2. Нанесение методом погружения (дип-костинг, dip-coating)
- •3. Напыление (спрей-костинг, spray-coating)
- •4. Литьё (casting)
- •5. Нанесение методом распыления центрифугой
- •1. Прямолинейное распределение (наивная модель)
- •2. Гауссово распределение ионов
- •3. Влияние каналирования
1. Пиролиз
Разложение газообразных соединений кремния (например, силана SiH4SiH_4) под действием высокой температуры: SiH4→T>900∘CSi+2H2SiH_4 \xrightarrow{T > 900^\circ C} Si + 2H_2
Особенности:
Процесс эффективен при температуре выше 900∘900^\circC.
Формируется чистый кремний с высокой скоростью роста.
Подходит для эпитаксии на полированном кремнии.
2. Восстановление водородом
Восстановление кремнийтетрагалогенидов (SiCl4,SiHCl3,SiH2Cl2SiCl_4, SiHCl_3, SiH_2Cl_2) водородом: SiCl4+2H2→T>1000∘CSi+4HClSiCl_4 + 2H_2 \xrightarrow{T > 1000^\circ C} Si + 4HCl SiHCl3+H2→T>800∘CSi+3HClSiHCl_3 + H_2 \xrightarrow{T > 800^\circ C} Si + 3HCl
Особенности:
Используется при более низких температурах (800800–1000∘1000^\circC) по сравнению с пиролизом.
Позволяет получать высококачественные эпитаксиальные слои.
Преимущества и недостатки методов
Метод |
Преимущества |
Недостатки |
Пиролиз |
- Высокая скорость роста. |
- Требует высокой температуры. |
|
- Простота реализации. |
- Повышенное энергопотребление. |
Восстановление водородом |
- Более низкая температура процесса. |
- Использование хлорсодержащих соединений. |
|
- Высокое качество эпитаксиальных слоев. |
- Образование побочных продуктов (HCl). |
Контроль процесса
Толщина слоя:
Регулируется временем осаждения и концентрацией прекурсоров.
Температурный градиент:
Контроль температуры подложки обеспечивает равномерность слоя.
Состав газа:
Соотношение прекурсоров и водорода влияет на скорость роста и качество слоя.
Чистота процесса:
Вакуумная среда минимизирует загрязнение и дефекты.
Применение газофазной эпитаксии кремния
Производство интегральных схем:
Выращивание высококачественных слоев для формирования активных областей транзисторов.
Оптоэлектроника:
Создание структур для фотодетекторов и светодиодов.
Сенсоры и MEMS:
Формирование базовых структур для микроэлектромеханических систем.
Солнечная энергетика:
Производство тонких слоев для солнечных батарей.
Газофазная эпитаксия с использованием пиролиза и восстановления водородом обеспечивает высокое качество материалов, что делает этот метод ключевым в современной микроэлектронике и материаловедении.
Газовая эпитаксия соединений АIII BV.
Газовая эпитаксия (или MBE, от англ. Molecular Beam Epitaxy) — это метод осаждения тонких пленок материалов на подложку с использованием молекулярных потоков газа. Он широко используется для создания высококачественных полупроводниковых структур, включая соединения AIII–BV (группа III-V элементов). В данном контексте речь идет о таких материалах, как арсенид галлия (GaAs), фосфид галлия (GaP), нитрид галлия (GaN), и другие соединения.
Принцип работы газовой эпитаксии
Подготовка подложки: Подложка (чаще всего это полупроводниковый материал, например, кремний или кристаллический арсенид галлия) очищается и подготавливается для роста материала. Часто подложка предварительно нагревается до определенной температуры, чтобы стимулировать кристаллизацию.
Подача молекулярных потоков: Исходные материалы (например, металлы группы III — галлий, алюминий, индий, и элементы группы V — арсен, фосфор, азот) подаются в виде молекул или атомов с помощью специальных источников, таких как термокатализаторы или радикальные источники, которые разлагают газовые молекулы на атомы.
Процесс роста: Атомы или молекулы осаждаются на подложке, где они могут кристаллизоваться и формировать структуру с нужными свойствами. Важно поддерживать высокую чистоту среды, чтобы избежать загрязнений.
Контроль параметров: В процессе газовой эпитаксии контролируются температура подложки, давление газа, соотношение потоков материалов, а также скорость осаждения для получения качественных пленок с нужной толщиной и структурой.
Применение для соединений AIII–BV
Соединения группы III-V, такие как GaAs, InP, GaN и другие, обладают особыми электрическими и оптическими свойствами, которые делают их крайне востребованными в различных областях:
Электроника: Полупроводники III-V активно используются для создания высокоскоростных транзисторов, светодиодов (LED), лазеров (LD) и фотодетекторов.
Оптика: Важны для создания лазеров и детекторов в инфракрасном диапазоне.
Солнечные элементы: Конструкции на основе GaAs показывают высокую эффективность преобразования солнечной энергии.
Газовая эпитаксия предоставляет возможность точного контроля над составом, структурой и качеством кристаллов, что делает этот метод идеальным для создания многослойных структур, используемых в оптоэлектронных устройствах и высокоскоростной электронике.
Преимущества газовой эпитаксии:
Высокая чистота и точность состава: Позволяет получать материалы с высококачественной кристаллической решеткой.
Гибкость в дизайне: Можно растить многослойные структуры с различными материалами, что важно для создания различных полупроводниковых приборов.
Контроль над толщиной слоя: Газовая эпитаксия позволяет наносить слои от нескольких нанометров до десятков микрометров с точной толщиной.
Процесс газовой эпитаксии требует высокой точности в контроле всех параметров, что делает его высокотехнологичным и затратным, но в то же время крайне эффективным для создания высококачественных материалов и устройств.
Газофазное осаждение окислов и нитридов.
Газофазное осаждение (CVD, от англ. Chemical Vapor Deposition) — это технология нанесения тонких пленок материалов на подложку из газовой фазы путем химической реакции. Этот метод широко применяется для осаждения различных окислов (например, SiO2SiO_2, Al2O3Al_2O_3) и нитридов (например, Si3N4Si_3N_4, GaN) в микроэлектронике, оптоэлектронике и других областях.
Основные этапы процесса газофазного осаждения
Подача газов:
Исходные материалы (прекурсоры) вводятся в реакционную камеру в виде газов или паров.
Типичные прекурсоры для окислов: SiH4SiH_4 (силан), O2O_2 (кислород), H2OH_2O (водяной пар).
Для нитридов: NH3NH_3 (аммиак), GaCl3GaCl_3, SiH4SiH_4.
Химическая реакция:
При определенных условиях (температура, давление) прекурсоры взаимодействуют друг с другом, образуя осаждаемый материал (например, SiO2SiO_2, Si3N4Si_3N_4).
Реакция может происходить вблизи поверхности подложки или на самой подложке.
Осаждение пленки:
Реакционные продукты осаждаются на поверхности подложки, образуя тонкий слой материала.
Нежелательные побочные продукты удаляются из камеры с потоком газа.
Контроль параметров:
Температура, давление, состав и соотношение газов тщательно контролируются для обеспечения требуемых свойств пленки.
Газофазное осаждение окислов
Типичные материалы: SiO2SiO_2, Al2O3Al_2O_3, TiO2TiO_2.
Примеры реакций:
SiH4+2O2→SiO2+2H2OSiH_4 + 2O_2 \rightarrow SiO_2 + 2H_2O (силан и кислород).
Al(CH3)3+H2O→Al2O3+CH4Al(CH_3)_3 + H_2O \rightarrow Al_2O_3 + CH_4 (испарение триметилалюминия).
Применение:
SiO2SiO_2: Диэлектрики в полупроводниковых приборах, изоляция между слоями.
Al2O3Al_2O_3: Барьерные слои, антипаразитная изоляция, покрытие для защиты от коррозии.
Газофазное осаждение нитридов
Типичные материалы: Si3N4Si_3N_4, GaNGaN, BNBN.
Примеры реакций:
3SiH4+4NH3→Si3N4+12H23SiH_4 + 4NH_3 \rightarrow Si_3N_4 + 12H_2 (осаждение нитрида кремния).
GaCl3+NH3→GaN+HClGaCl_3 + NH_3 \rightarrow GaN + HCl (нитрид галлия).
Применение:
Si3N4Si_3N_4: Изоляция затвора в транзисторах, защитные покрытия.
GaNGaN: Оптоэлектроника, светодиоды (LED), мощные и высокочастотные устройства.
Методы CVD для окислов и нитридов
Термальное CVD:
Реакция стимулируется нагревом подложки (300–1100°C).
Используется для материалов с высокой температурой разложения.
Плазмохимическое осаждение (PECVD):
Воздействие плазмы низкого давления на газы.
Преимущества:
Низкие температуры процесса (100–400°C).
Возможность осаждения на чувствительных подложках.
Металлоорганическое CVD (MOCVD):
Используются металлоорганические прекурсоры, такие как Al(CH3)3Al(CH_3)_3, Ga(CH3)3Ga(CH_3)_3.
Широко применяется для нитридов (например, GaNGaN) в производстве светодиодов.
Атмосферное CVD (APCVD):
Осаждение при атмосферном давлении.
Применяется для крупных покрытий и массового производства.
Преимущества метода газофазного осаждения
Тонкие и равномерные пленки: Толщина слоя может быть контролируемой вплоть до нанометров.
Высокая чистота и качество: Отличная адгезия к подложке.
Гибкость: Возможность осаждения сложных структур, включая многослойные системы.
Недостатки
Сложность оборудования и высокая стоимость.
Токсичность некоторых прекурсоров (например, SiH4SiH_4, NH3NH_3).
Требование к высокоточному контролю параметров.
Газофазное осаждение окислов и нитридов остается ключевым методом для создания тонкопленочных структур, необходимых в микро- и наноэлектронике, оптике и защитных покрытиях.
Молекулярно-лучевая эпитаксия.
Молекулярно-лучевая эпитаксия (МЛЭ) (англ. Molecular Beam Epitaxy, MBE) — это метод осаждения тонких пленок и создания многослойных структур из молекул или атомов, которые направляются в виде молекулярных потоков на поверхность подложки. Этот процесс широко используется в производстве полупроводниковых материалов, квантовых структур, оптоэлектронных устройств и других высокотехнологичных приложений.
Принцип работы молекулярно-лучевой эпитаксии
Молекулярные пучки:
В процессе МЛЭ исходные материалы подаются в виде молекул или атомов из специальных источников (например, термокатализаторов или радикальных источников).
Каждый источник генерирует поток молекул или атомов (молекулярный пучок), который направляется в вакуумную камеру к подложке.
Контроль потока:
Потоки молекул (или атомов) тщательно контролируются, чтобы обеспечить необходимое соотношение элементов для осаждения нужных материалов.
Концентрация и скорость этих потоков регулируются с помощью источников, таких как эванесцентные источники или калориметрические контроллеры.
Кристаллизация на подложке:
Подложка (обычно из полупроводников, например, кремний, галлий-арсенид или индиум-фосфид) нагревается до определенной температуры, чтобы атомы материала могли сажаться на поверхности и кристаллизоваться.
Поступающие молекулы или атомы осаждаются на поверхности и начинают организовываться в кристаллическую решетку.
Реакция и рост:
Процесс роста материала происходит в условиях ультра-вакуумной среды, что обеспечивает высокую чистоту и высококачественное осаждение.
Операция продолжается до тех пор, пока не достигнута требуемая толщина и структура материала.
Преимущества молекулярно-лучевой эпитаксии
Высокое качество пленок:
МЛЭ позволяет получать тонкие пленки с высокой кристаллической структурой, минимальными дефектами и низким уровнем примесей, что критично для полупроводниковых и оптоэлектронных применений.
Точная контролируемость состава:
Метод позволяет точно контролировать состав осаждаемого материала на уровне атомов или молекул, что важно для создания сложных многослойных и гетероструктур.
Гибкость в создании многослойных структур:
МЛЭ позволяет создавать многослойные структуры с разными материалами (например, различные полупроводниковые соединения), что необходимо для создания современных транзисторов, лазеров, солнечных элементов и других устройств.
Высокая точность в контроле толщины слоев:
МЛЭ обеспечивает высокоточную толщину слоев с точностью до нанометров, что позволяет создавать устройства с чрезвычайно малыми размерами.
Низкие температуры осаждения:
Процесс можно проводить при низких температурах (от 300°C до 800°C), что позволяет использовать чувствительные подложки и материалам, не теряя их целостности.
Недостатки молекулярно-лучевой эпитаксии
Высокая стоимость оборудования:
Оборудование для МЛЭ является высокотехнологичным и дорогим. Камеры, источники молекул и системы вакуума требуют значительных инвестиций.
Низкая скорость роста:
В сравнении с другими методами, такими как CVD (газофазное осаждение), скорость роста пленок в МЛЭ может быть низкой, что делает этот метод менее подходящим для массового производства.
Сложность в масштабировании:
Процесс молекулярно-лучевой эпитаксии требует высокоточных условий, что ограничивает его использование для больших или высокоскоростных производственных процессов.
Применение молекулярно-лучевой эпитаксии
Полупроводниковая промышленность:
МЛЭ широко используется для создания сложных полупроводниковых структур, таких как гетероструктуры, квантовые точки и квантовые ямы. Например, создание лазеров на основе GaAs, GaN или InP.
Используется для изготовления транзисторов, которые необходимы для высокоскоростных электронных устройств, таких как микропроцессоры и радио-частотные устройства.
Оптоэлектроника:
МЛЭ позволяет создавать высококачественные светодиоды (LED), лазеры, фотодетекторы и солнечные элементы, особенно в материальных системах с нитридом галлия (GaN), которые используются в оптоэлектронных устройствах с высокой яркостью и мощностью.
Квантовые технологии:
Технология используется для создания квантовых структур, таких как квантовые точки и квантовые вазы, которые необходимы для разработки квантовых компьютеров, квантовых датчиков и других квантовых приложений.
Нанотехнологии:
МЛЭ активно используется в нанотехнологиях для создания наноструктурированных материалов и устройств. Например, для роста нанопроволок, нанопленок и других структур с точным контролем на атомарном уровне.
Микроскопия и нанофабрикация:
МЛЭ применяется для создания образцов, которые используются в сканирующих туннельных микроскопах и других инструментах для исследования структуры материалов на атомарном уровне.
Типы молекулярно-лучевой эпитаксии
MBE для полупроводников:
Наиболее распространенный метод для создания полупроводниковых гетероструктур. Используется для роста таких материалов, как GaAsGaAs, InPInP, GaNGaN, AlGaAsAlGaAs, и других.
MBE для углеродных материалов:
МЛЭ используется для роста углеродных наноматериалов, таких как углеродные нанотрубки и графен, которые имеют широкое применение в области электроники и материаловедения.
MBE для других материалов:
Применяется для осаждения и создания тонких пленок и гетероструктур на основе металлов, диэлектриков и ферромагнитных материалов.
Молекулярно-лучевая эпитаксия остается одним из наиболее точных и высококачественных методов осаждения материалов, особенно для создания сложных многослойных структур в области микро- и наноэлектроники.
Магнетронное нанесение металлических слоёв.
Магнетронное распыление (магнетронное нанесение) — это технология нанесения тонких металлических слоев на подложки путем распыления материала-мишени под воздействием плазмы, генерируемой в магнетронном разряде. Этот метод используется в микроэлектронике, оптике, производстве сенсоров, антикоррозийных покрытий и других областях.
Принцип работы магнетронного распыления
Вакуумная камера:
Процесс происходит в вакуумной камере, куда вводится рабочий газ, обычно инертный (например, аргон, ArAr).
Поддерживается давление в диапазоне от 10−310^{-3} до 10−110^{-1} Торр.
Создание плазмы:
Между катодом (мишенью) и анодом подается электрическое напряжение (порядка нескольких сотен вольт), что ионизирует атомы газа и образует плазму.
Электроны, ускоренные электрическим полем, сталкиваются с атомами газа, ионизируя их и создавая положительные ионы.
Распыление мишени:
Положительно заряженные ионы газа ускоряются к мишени (катоду) под воздействием электрического поля, выбивая атомы материала из поверхности мишени.
Эти атомы, переходя в газовую фазу, осаждаются на подложке, образуя тонкий слой.
Магнитное поле:
Магниты, размещенные за мишенью, создают магнитное поле, которое удерживает электроны вблизи поверхности мишени, увеличивая частоту их столкновений с атомами газа.
Это позволяет поддерживать стабильную плазму при более низких давлениях и улучшает эффективность процесса.
Осаждение слоя:
Распыленные атомы оседают на подложке, формируя равномерный металлический слой.
Типы магнетронного распыления
DC-магнетронное распыление (постоянный ток):
Используется для нанесения проводящих материалов (металлов).
Катод подключается к источнику постоянного напряжения.
RF-магнетронное распыление (высокочастотное):
Применяется для осаждения диэлектриков и сложных материалов.
Используется переменное высокочастотное напряжение (обычно 13,56 МГц), чтобы предотвратить зарядку изолирующих материалов на мишени.
Реактивное магнетронное распыление:
В рабочий газ добавляются реактивные газы (например, кислород O2O_2 или азот N2N_2), которые вступают в химическую реакцию с распыленным материалом.
Используется для получения нитридов (например, TiNTiN) и окислов (например, Al2O3Al_2O_3).
Пульсирующее магнетронное распыление:
Применяется для нанесения слоев с высокой плотностью и низким уровнем дефектов.
Осциллирующее напряжение улучшает качество покрытия.
Преимущества магнетронного распыления
Высокое качество покрытий:
Обеспечивает равномерные, плотные и адгезионно стойкие покрытия.
Используется для создания тонких слоев толщиной от нескольких нанометров до микрометров.
Гибкость материалов:
Можно наносить металлы (например, алюминий AlAl, медь CuCu, золото AuAu), сплавы, оксиды и нитриды.
Низкие температуры процесса:
Подходит для чувствительных подложек, так как подложка не требует нагрева.
Контроль параметров:
Легко контролировать скорость роста слоя, толщину, химический состав и текстуру поверхности.
Экономичность:
Высокая степень использования материала мишени благодаря эффективному распылению.
Недостатки магнетронного распыления
Ограниченная толщина слоя:
Для нанесения толстых слоев требуется значительное время, что снижает производительность.
Сложность осаждения на сложные формы:
Распыление работает по линии прямой видимости, что может затруднить нанесение на детали сложной формы.
Затраты на оборудование:
Вакуумные системы и магнетронное оборудование требуют значительных начальных инвестиций.
Применение магнетронного нанесения металлических слоев
Микроэлектроника:
Осаждение металлических контактов (например, алюминиевых или медных слоев) для интегральных схем.
Создание барьерных слоев, например, нитрида титана (TiNTiN).
Оптика:
Производство зеркал, светоотражающих и антиотражающих покрытий.
Нанесение слоев на линзы (например, алюминий или золото).
Сенсоры:
Осаждение слоев для сенсоров давления, температуры и химического состава.
Медицинская техника:
Покрытия для биосовместимости, защиты от коррозии и улучшения механической стойкости инструментов.
Механические покрытия:
Антикоррозийные и износостойкие слои для инструментов и деталей машин.
Солнечные элементы:
Нанесение тонких металлических слоев для контактов и отражающих структур.
Магнетронное распыление является универсальным и высокоточным методом, который обеспечивает контроль состава и толщины металлических слоев. Его использование в науке и промышленности продолжает расширяться благодаря возможностям создания сложных многослойных структур и функциональных покрытий.
Литографический процесс. Оценка качества и разрешения.
Литографический процесс — это технология формирования тонких структур на поверхности полупроводниковых подложек для создания интегральных схем, микросенсоров и других микро- и наноустройств. Литография является ключевым этапом в микроэлектронике, определяющим размеры и точность воспроизводимых структур.
Этапы литографического процесса
Подготовка подложки:
На подложку (обычно из кремния) наносится слой фоторезиста (светочувствительного полимера).
Это может быть выполнено методом центрифугирования, чтобы создать равномерное покрытие.
Экспонирование:
Подложка с фоторезистом экспонируется через маску с помощью источника излучения (ультрафиолет, рентген, электронный или ионный пучок).
Излучение изменяет химические свойства фоторезиста в облученных областях.
Проявление:
Облученные (или необлученные, в зависимости от типа резиста) области удаляются химическим проявителем.
Формируется желаемая структура.
Травление:
Травление проводится для удаления материала подложки в открытых областях.
Типы травления:
Сухое травление: Ионное или плазменное воздействие.
Мокрое травление: Химическая обработка жидкими травителями.
Удаление резиста:
После травления остатки фоторезиста удаляются, оставляя сформированные структуры.
Типы литографических процессов
Оптическая литография:
Использует ультрафиолетовое излучение (Deep UV, Extreme UV).
Ограничено дифракцией света, что определяет минимальные размеры структуры.
Электронно-лучевая литография (EBL):
Использует пучок электронов.
Высокое разрешение (до нескольких нанометров), но низкая производительность.
Рентгеновская литография:
Использует рентгеновское излучение для достижения меньших размеров структуры.
Высокая стоимость из-за сложного оборудования.
Ионно-лучевая литография:
Основана на фокусировке ионов для создания структур.
Обеспечивает высокую точность, но медленный процесс.
Нанопечать:
Прямая механическая печать наноструктур с использованием штампов.
Оценка качества литографического процесса
Разрешение:
Минимальный размер структуры, который может быть воспроизведен.
Для оптической литографии ограничено длиной волны излучения (R≈k1⋅λNAR \approx k_1 \cdot \frac{\lambda}{NA}, где NANA — числовая апертура, k1k_1 — коэффициент процесса).
В современных процессах с экстремальным ультрафиолетом (EUV) разрешение может достигать 7-10 нм.
Точность наложения слоев (overlay):
Погрешность при совмещении масок разных слоев.
Измеряется в нанометрах и должна быть меньше размеров структур, чтобы избежать дефектов.
Контроль линейных размеров (CD, Critical Dimension):
Ширина и другие размеры структур должны быть строго выдержаны.
Погрешности приводят к изменению электрических характеристик устройства.
Однородность:
Постоянство толщины и свойств фоторезиста по всей площади подложки.
Контролируется методами измерения толщины слоя, такими как эллипсометрия.
Дефекты:
Наличие загрязнений, пропусков, трещин или других нарушений.
Контролируются автоматическими системами инспекции.
Факторы, влияющие на разрешение и качество
Длина волны излучения:
Чем меньше длина волны, тем выше разрешение.
Современные технологии используют экстремальный ультрафиолет (EUV) с длиной волны 13,5 нм.
Числовая апертура (NANA):
Увеличение NANA повышает разрешение, но уменьшает глубину резкости.
Качество маски:
Неточности в маске приводят к ошибкам на подложке.
Фоторезист:
Химическая чувствительность, толщина, и разрешающая способность резиста критически влияют на процесс.
Процесс экспонирования:
Дифракция, рассеяние и эффекты многократного отражения могут ухудшить качество изображения.
Стабильность оборудования:
Колебания, вибрации и неточности в настройке оборудования приводят к дефектам.
Методы оценки и контроля качества
Методы контроля размеров (CD metrology):
Сканирующая электронная микроскопия (SEM): Для измерения ширины и профиля структур.
Атомно-силовая микроскопия (AFM): Для анализа поверхности с высоким разрешением.
Инспекция дефектов:
Автоматизированные системы оптического и рентгеновского контроля.
Контроль однородности слоев:
Спектроскопическая эллипсометрия для измерения толщины.
Анализ совмещения (overlay metrology):
Оптические методы измерения смещения масок.
Симуляции и моделирование:
Используются для прогнозирования дефектов и оптимизации процесса.
Современные тренды и вызовы
Миниатюризация:
Литография для технологий 3-нм и ниже требует использования EUV и новых материалов.
Технологии многомасочной литографии:
Для сложных структур используются несколько масок, что повышает точность, но увеличивает сложность.
Новые фоторезисты:
Разработка резистов для EUV, устойчивых к высокоэнергетическому излучению и обеспечивающих высокую разрешающую способность.
Экономичность:
Уменьшение стоимости процесса, особенно на стадиях разработки и массового производства.
Литографический процесс остается центральной технологией в микро- и наноэлектронике, и его совершенствование определяет прогресс в создании современных полупроводниковых устройств.
Литографический процесс. Негативный и позитивный резисты.
Литографический процесс включает использование фоторезистов, которые играют ключевую роль в формировании микро- и наноструктур. Различают два типа резистов: позитивные и негативные, которые различаются механизмом взаимодействия с излучением и конечным результатом.
Позитивный резист
Механизм работы:
При облучении излучением (ультрафиолет, рентген, электроны) химическая структура резиста изменяется.
Облученные области становятся более растворимыми в проявителе и удаляются в процессе проявления.
Результат:
Открытые области на подложке соответствуют облученным участкам резиста.
Маска служит прямым шаблоном для структуры.
Особенности:
Высокая разрешающая способность.
Применяется для получения сложных мелких структур.
Широко используется в современных литографических процессах.
Примеры:
PMMA (полиметилметакрилат) — используется в электронно-лучевой литографии.
Двухкомпонентные резисты на основе диазо-кинон-смол для ультрафиолетовой литографии.
Негативный резист
Механизм работы:
При облучении излучением происходит полимеризация или сшивка молекул в облученных областях.
Эти области становятся менее растворимыми в проявителе и остаются на подложке после проявления.
Результат:
Облученные участки резиста остаются на подложке, а необлученные удаляются.
Маска служит обратным шаблоном.
Особенности:
Подходит для формирования структур большего размера.
Меньшая разрешающая способность по сравнению с позитивными резистами из-за возможного разбухания материала.
Обладает лучшей адгезией и устойчивостью к травлению.
Примеры:
SU-8 — используется для получения толстых структур.
Электронно-лучевые резисты на основе полимеров, таких как эпоксидные смолы.
Сравнение позитивных и негативных резистов
Характеристика |
Позитивный резист |
Негативный резист |
Результат |
Удаляются облученные области |
Остаются облученные области |
Разрешение |
Выше |
Ниже |
Устойчивость |
Меньше устойчивость к травлению |
Высокая устойчивость |
Применение |
Для мелких и сложных структур |
Для толстых слоев и крупных структур |
Чувствительность |
Менее чувствителен |
Более чувствителен |
Тип травления |
Подходит для сухого и мокрого травления |
Хорошо работает при сухом травлении |
Выбор резиста для литографического процесса
Разрешение:
Для создания наноразмерных структур предпочтительны позитивные резисты.
Для крупных структур и толстых слоев используются негативные резисты.
Толщина слоя:
Негативные резисты лучше подходят для создания толстых слоев (например, в микрофлюидике или MEMS).
Позитивные резисты удобны для тонких и высокоточных структур.
Устойчивость к травлению:
Негативные резисты обладают лучшей устойчивостью к агрессивным травящим процессам.
Экономичность:
Негативные резисты часто дешевле в производстве, но позитивные обеспечивают лучшее качество для современных техпроцессов.
Заключение
Позитивные резисты выбираются для задач, требующих высокой точности и минимальных размеров структур, особенно в нанолитографии.
Негативные резисты подходят для задач, где требуется высокая стойкость к травлению, большие размеры структур или большая толщина слоя.
В современных литографических процессах широко применяются как позитивные, так и негативные резисты, выбор которых зависит от конкретных требований к структурам, разрешению, и используемому оборудованию.
Фотошаблоны. Совмещение.
Последовательность операций стандартного фотолитографического процесса.
Последовательность операций стандартного фотолитографического процесса
Фотолитография — это метод, используемый для создания микро- и наноструктур на поверхности подложек, таких как кремний. Процесс включает несколько ключевых этапов, которые обеспечивают высокую точность формирования рисунков.
