
- •1. Подготовка подложки 56
- •6. Травление 57
- •Классификация процессов микротехнологии
- •1. Процессы формирования слоёв
- •Чистота и микроклимат производственных помещений.
- •2. Микроклимат производственных помещений
- •3. Оборудование для контроля чистоты и микроклимата
- •4. Значение чистоты и микроклимата
- •Классы чистоты материалов и веществ. Примеры.
- •1. Классы чистоты воздуха (iso 14644)
- •2. Классы чистоты материалов
- •3. Классы чистоты материалов и веществ
- •Способы очистки поверхности пластин в микроэлектронном производстве.
- •1. Мокрая химическая очистка
- •2. Сухая очистка
- •Базовые операции планарной технологии.
- •1. Подготовка подложек
- •2. Формирование тонких плёнок
- •3. Литография
- •4. Удаление вещества
- •5. Легирование
- •6. Формирование контактов
- •7. Пассивация
- •8. Соединение и сборка
- •Базовые операции изопланарной технологии.I
- •1. Подготовка подложки
- •2. Формирование изолирующих слоёв
- •Технология «кремний на изоляторе».
- •Уровни вакуума. Способы получения вакуума.
- •Форвакуумные насосы:
- •Приборы для измерения уровня вакуума.
- •Форвакуумные насосы.
- •1. Пластинчато-роторные насосы
- •2. Мембранные насосы
- •3. Поршневые насосы
- •4. Винтовые насосы
- •5. Водокольцевые насосы
- •Насосы для получения высокого и сверхвысокого вакуума.
- •3. Криогенные насосы
- •4. Сорбционные насосы
- •5. Геттерные насосы
- •Термическое вакуумное нанесение.
- •Методы осаждения вещества из газовой фазы.
- •Газофазная эпитаксия кремния: пиролиз, восстановление водородом.
- •Подготовка подложки:
- •1. Пиролиз
- •2. Восстановление водородом
- •Газовая эпитаксия соединений аiii bv.
- •Газофазное осаждение окислов и нитридов.
- •Молекулярно-лучевая эпитаксия.
- •Магнетронное нанесение металлических слоёв.
- •Литографический процесс. Оценка качества и разрешения.
- •Подготовка подложки:
- •Травление:
- •Литографический процесс. Негативный и позитивный резисты.
- •Фотошаблоны. Совмещение.
- •1. Фотошаблоны
- •2. Совмещение (Aligment)
- •Последовательность операций стандартного фотолитографического процесса.
- •1. Подготовка подложки
- •2. Нанесение фоторезиста
- •3. Экспонирование
- •4. Проявление
- •5. Постобработка резиста
- •6. Травление
- •7. Удаление резиста
- •8. Контроль качества
- •Методы нанесения резистов. Адгезия.
- •1. Центрифугирование (спин-костинг, spin-coating)
- •2. Нанесение методом погружения (дип-костинг, dip-coating)
- •3. Напыление (спрей-костинг, spray-coating)
- •4. Литьё (casting)
- •5. Нанесение методом распыления центрифугой
- •Ультразвуковая очистка.
- •Фотолитография. Способы экспонирования. Разрешающая способность.
- •1. Основы фотолитографии
- •4. Применение фотолитографии
- •Виды дефектов при проведении литографии.
- •1. Виды дефектов в литографии
- •1.1. Дефекты, возникающие на этапе нанесения фоторезиста
- •1.2. Дефекты, возникающие на этапе экспонирования
- •1.3. Дефекты, возникающие на этапе проявления
- •1.4. Дефекты, возникающие на этапе травления
- •2. Типы литографических дефектов по механизму их возникновения
- •2.1. Геометрические дефекты
- •2.2. Дефекты из-за взаимодействия с окружающей средой
- •2.3. Дефекты, связанные с оптическими эффектами
- •3. Способы борьбы с дефектами литографии
- •Методы термического окисления кремния. Способы реализации и особенности.
- •1. Принципы термического окисления
- •2. Методы термического окисления
- •2.1. Сухое окисление
- •2.2. Мокрое окисление
- •2.3. Комбинированное (двухэтапное) окисление
- •3. Способы реализации процесса термического окисления
- •3.1. Печи для термического окисления
- •3.2. Локальное окисление (locos)
- •3.3. Быстрое термическое окисление (rto)
- •3.4. Плазмохимическое окисление
- •4. Особенности термического окисления
- •5. Применение термического окисления
- •Распределение примесей при термическом окислении
- •1. Принципы распределения примесей
- •6. Методы контроля распределения примесей
- •Физика диффузионных процессов. Двухстадийная диффузия.
- •Математическое описание диффузионных процессов в твёрдых телах. Законы диффузии.
- •1. Основные законы диффузии
- •1.1. Первый закон Фика (статический)
- •5. Влияние температуры на диффузию
- •6. Примеры диффузионных процессов
- •Распределение примесей при диффузии. Стадия «загонки» (введение примесей).
- •1. Основные этапы процесса диффузии
- •1.1. Стадия загонки (введение примесей)
- •Распределение примесей при диффузии. Стадия «разгонки» (перераспределение примесей).
- •1. Характеристики стадии «разгонки»
- •2. Модели перераспределения примесей
- •2.1. Диффузия с неограниченным источником
- •2.2. Диффузия с ограниченным источником
- •3. Основные параметры распределения
- •4. Факторы, влияющие на перераспределение примесей
- •5. Применение стадии разгонки
- •6. Пример: Диффузия бора в кремнии
- •Методы осуществления процесса диффузии. Источники и способы введения примесей. Оборудование для диффузии.
- •5. Применение процесса диффузии
- •Математическое описание процесса ионной имплантации.
- •1. Прямолинейное распределение (наивная модель)
- •2. Гауссово распределение ионов
- •3. Влияние каналирования
- •Физика процесса ионной имплантации. Эффекты разупорядочивания и каналирования.
- •Ионная имплантация. Процессы дефектообразования. Отжиг дефектов.
- •Применение методов ионной имплантации в микротехнологии. Легирование, окисление, нитрирование, протонизация.
- •1. Легирование полупроводников
- •2. Окисление ионной имплантацией
- •3. Нитрирование ионной имплантацией
- •4. Протонизация
- •Аппаратурная реализация процессов ионной имплантации.
- •Форвакуумные насосы.
- •Жидкостное химическое травление. Травители, стадии процесса, управление скоростью процесса.
- •Изотропное жидкостное травление кремния.
- •Подготовка подложки:
- •Травление:
- •Ориентационно-чувствительное анизотропное травление.
- •Плазменное и ионное травление.
- •1. Плазменное травление
- •2. Ионное травление
- •Свойства материалов, необходимые для создания проводящих и изолирующих слоёв интегральных микросхем.
- •2. Изолирующие материалы
- •Ионно-химическое осаждение слоёв.
- •Ионно-химическое травление.
1. Мокрая химическая очистка
Очистка с использованием жидких химических растворов.
Метод RCA (Radio Corporation of America):
RCA-1 (SC-1): Раствор аммиака, перекиси водорода и воды для удаления органических загрязнений и частиц.
RCA-2 (SC-2): Раствор соляной кислоты, перекиси водорода и воды для удаления металлических загрязнений.
Травление в плавиковой кислоте (HF): Для удаления оксидных слоёв и подготовки поверхности.
Кислотные и щелочные ванны:
Используются для удаления стойких загрязнений.
2. Сухая очистка
Удаление загрязнений без использования жидкостей.
Плазменная очистка:
Применение плазмы (на основе O2, CF4 или Ar) для удаления органических загрязнений, оксидов или частиц.
Эффективна для подготовки поверхности перед осаждением плёнок.
Термическая очистка:
Нагревание в вакууме или газовой среде для удаления адсорбированных молекул воды и органических веществ.
3. Ультразвуковая очистка
Очистка с использованием ультразвуковых волн.
Ванны с растворителями (например, изопропанол, ацетон) и ультразвуком помогают удалять частицы и загрязнения с поверхности пластин.
4. Очистка растворителями
Использование органических растворителей для растворения загрязнений.
Ацетон, изопропанол (IPA): Удаляют жиры, масла и органические вещества.
Этанол: Дополнительная промывка для устранения следов растворителей.
5. Механическая очистка
Механическое удаление загрязнений.
Щёточная очистка: Используются мягкие щётки и струи воды для удаления частиц.
Сушка потоком азота: Удаление оставшейся воды и частиц после очистки.
6. Комбинированные методы
Сочетание мокрой и сухой очистки для достижения максимального результата.
Например, использование плазменной обработки после RCA-очистки для окончательной подготовки поверхности.
Промывочные жидкости и сушка
После очистки пластины промываются сверхчистой водой (DI water) и сушатся:
Сушка азотом (N₂): Минимизирует риск повторного загрязнения.
Сушка в IPA-парах: Уменьшает водные пятна.
Ключевые факторы для выбора метода
Тип загрязнений (органические, металлические, частицы).
Материал подложки (например, кремний, стекло, карбид кремния).
Стадия производственного процесса.
Эти методы обеспечивают чистоту поверхности, необходимую для надёжной работы микроэлектронных устройств.
Базовые операции планарной технологии.
Планарная технология – совокупность технологических операций, проводимых для получения полупроводниковых (ПП) приборов с электронно-дырочными переходами.
Основные операции планарной технологии:
создание тонкой диэлектрической плёнки на поверхности кристаллического полупроводника (Si, Ge, GaAs);
удаление способом фотолитографии или электронолитографии определённых участков этой плёнки;
введение в кристалл через незащищённые плёнкой участки донорных или акцепторных примесей (легирование).
В результате этих операций в кристалле образуются области с электронно-дырочными переходами.
1. Подготовка подложек
На этом этапе выполняются операции для создания чистой и ровной поверхности подложки.
Резка пластин:
Монокристаллический кремний изготавливается методом Чохральского или зонной плавки. Пластины режут на заготовки.
Шлифовка и полировка:
Для получения гладкой поверхности с минимальной шероховатостью.
Очистка:
Удаление загрязнений методом RCA или с использованием ультразвуковой очистки.