- •1. Подготовка подложки 56
- •6. Травление 57
- •Классификация процессов микротехнологии
- •1. Процессы формирования слоёв
- •Чистота и микроклимат производственных помещений.
- •2. Микроклимат производственных помещений
- •3. Оборудование для контроля чистоты и микроклимата
- •4. Значение чистоты и микроклимата
- •Классы чистоты материалов и веществ. Примеры.
- •1. Классы чистоты воздуха (iso 14644)
- •2. Классы чистоты материалов
- •3. Классы чистоты материалов и веществ
- •Способы очистки поверхности пластин в микроэлектронном производстве.
- •1. Мокрая химическая очистка
- •2. Сухая очистка
- •Базовые операции планарной технологии.
- •1. Подготовка подложек
- •2. Формирование тонких плёнок
- •3. Литография
- •4. Удаление вещества
- •5. Легирование
- •6. Формирование контактов
- •7. Пассивация
- •8. Соединение и сборка
- •Базовые операции изопланарной технологии.I
- •1. Подготовка подложки
- •2. Формирование изолирующих слоёв
- •Технология «кремний на изоляторе».
- •Уровни вакуума. Способы получения вакуума.
- •Форвакуумные насосы:
- •Приборы для измерения уровня вакуума.
- •Форвакуумные насосы.
- •1. Пластинчато-роторные насосы
- •2. Мембранные насосы
- •3. Поршневые насосы
- •4. Винтовые насосы
- •5. Водокольцевые насосы
- •Насосы для получения высокого и сверхвысокого вакуума.
- •3. Криогенные насосы
- •4. Сорбционные насосы
- •5. Геттерные насосы
- •Термическое вакуумное нанесение.
- •Методы осаждения вещества из газовой фазы.
- •Газофазная эпитаксия кремния: пиролиз, восстановление водородом.
- •Подготовка подложки:
- •1. Пиролиз
- •2. Восстановление водородом
- •Газовая эпитаксия соединений аiii bv.
- •Газофазное осаждение окислов и нитридов.
- •Молекулярно-лучевая эпитаксия.
- •Магнетронное нанесение металлических слоёв.
- •Литографический процесс. Оценка качества и разрешения.
- •Подготовка подложки:
- •Травление:
- •Литографический процесс. Негативный и позитивный резисты.
- •Фотошаблоны. Совмещение.
- •1. Фотошаблоны
- •2. Совмещение (Aligment)
- •Последовательность операций стандартного фотолитографического процесса.
- •1. Подготовка подложки
- •2. Нанесение фоторезиста
- •3. Экспонирование
- •4. Проявление
- •5. Постобработка резиста
- •6. Травление
- •7. Удаление резиста
- •8. Контроль качества
- •Методы нанесения резистов. Адгезия.
- •1. Центрифугирование (спин-костинг, spin-coating)
- •2. Нанесение методом погружения (дип-костинг, dip-coating)
- •3. Напыление (спрей-костинг, spray-coating)
- •4. Литьё (casting)
- •5. Нанесение методом распыления центрифугой
- •Ультразвуковая очистка.
- •Фотолитография. Способы экспонирования. Разрешающая способность.
- •1. Основы фотолитографии
- •4. Применение фотолитографии
- •Виды дефектов при проведении литографии.
- •1. Виды дефектов в литографии
- •1.1. Дефекты, возникающие на этапе нанесения фоторезиста
- •1.2. Дефекты, возникающие на этапе экспонирования
- •1.3. Дефекты, возникающие на этапе проявления
- •1.4. Дефекты, возникающие на этапе травления
- •2. Типы литографических дефектов по механизму их возникновения
- •2.1. Геометрические дефекты
- •2.2. Дефекты из-за взаимодействия с окружающей средой
- •2.3. Дефекты, связанные с оптическими эффектами
- •3. Способы борьбы с дефектами литографии
- •Методы термического окисления кремния. Способы реализации и особенности.
- •1. Принципы термического окисления
- •2. Методы термического окисления
- •2.1. Сухое окисление
- •2.2. Мокрое окисление
- •2.3. Комбинированное (двухэтапное) окисление
- •3. Способы реализации процесса термического окисления
- •3.1. Печи для термического окисления
- •3.2. Локальное окисление (locos)
- •3.3. Быстрое термическое окисление (rto)
- •3.4. Плазмохимическое окисление
- •4. Особенности термического окисления
- •5. Применение термического окисления
- •Распределение примесей при термическом окислении
- •1. Принципы распределения примесей
- •6. Методы контроля распределения примесей
- •Физика диффузионных процессов. Двухстадийная диффузия.
- •Математическое описание диффузионных процессов в твёрдых телах. Законы диффузии.
- •1. Основные законы диффузии
- •1.1. Первый закон Фика (статический)
- •5. Влияние температуры на диффузию
- •6. Примеры диффузионных процессов
- •Распределение примесей при диффузии. Стадия «загонки» (введение примесей).
- •1. Основные этапы процесса диффузии
- •1.1. Стадия загонки (введение примесей)
- •Распределение примесей при диффузии. Стадия «разгонки» (перераспределение примесей).
- •1. Характеристики стадии «разгонки»
- •2. Модели перераспределения примесей
- •2.1. Диффузия с неограниченным источником
- •2.2. Диффузия с ограниченным источником
- •3. Основные параметры распределения
- •4. Факторы, влияющие на перераспределение примесей
- •5. Применение стадии разгонки
- •6. Пример: Диффузия бора в кремнии
- •Методы осуществления процесса диффузии. Источники и способы введения примесей. Оборудование для диффузии.
- •5. Применение процесса диффузии
- •Математическое описание процесса ионной имплантации.
- •1. Прямолинейное распределение (наивная модель)
- •2. Гауссово распределение ионов
- •3. Влияние каналирования
- •Физика процесса ионной имплантации. Эффекты разупорядочивания и каналирования.
- •Ионная имплантация. Процессы дефектообразования. Отжиг дефектов.
- •Применение методов ионной имплантации в микротехнологии. Легирование, окисление, нитрирование, протонизация.
- •1. Легирование полупроводников
- •2. Окисление ионной имплантацией
- •3. Нитрирование ионной имплантацией
- •4. Протонизация
- •Аппаратурная реализация процессов ионной имплантации.
- •Форвакуумные насосы.
- •Жидкостное химическое травление. Травители, стадии процесса, управление скоростью процесса.
- •Изотропное жидкостное травление кремния.
- •Подготовка подложки:
- •Травление:
- •Ориентационно-чувствительное анизотропное травление.
- •Плазменное и ионное травление.
- •1. Плазменное травление
- •2. Ионное травление
- •Свойства материалов, необходимые для создания проводящих и изолирующих слоёв интегральных микросхем.
- •2. Изолирующие материалы
- •Ионно-химическое осаждение слоёв.
- •Ионно-химическое травление.
Математическое описание диффузионных процессов в твёрдых телах. Законы диффузии.
Диффузия в твёрдых телах — это процесс переноса атомов или частиц под действием градиента концентрации. Математическое описание диффузионных процессов основывается на законах Фика, которые описывают скорость и характер перераспределения вещества.
1. Основные законы диффузии
1.1. Первый закон Фика (статический)
Определяет плотность потока (J) диффундирующего вещества через единичную площадь за единицу времени:
J=−D∂C/∂x
Где:
J — плотность потока вещества (моль/м2),
D — коэффициент диффузии (м2/с),
∂C/∂x— градиент концентрации (моль/м3).
🔹 Физический смысл: диффузия происходит в направлении уменьшения концентрации с интенсивностью, зависящей от градиента концентрации и коэффициента диффузии.
1.2. Второй закон Фика (динамический)
Описывает
изменение концентрации вещества (C) во
времени (t) с учётом пространственного
изменения:
Где:
∂C/∂t — скорость изменения концентрации во времени,
∂C2/∂x2 — вторая производная концентрации по пространственной координате (x).
🔹 Физический смысл: скорость изменения концентрации в точке пропорциональна кривизне её распределения.
2. Решения уравнений Фика
Решения зависят от начальных и граничных условий. Основные модели включают:
2.1. Постоянный источник
Когда
концентрация на поверхности поддерживается
постоянной (Cs):
Где:
erfc(z) — дополнительная функция ошибки.
2.2. Ограниченный источник
Если
общее количество вещества (Q) остаётся
постоянным:
Где:
Q — общее количество диффундирующего вещества.
3. Коэффициент диффузии
Коэффициент диффузии (D) описывает способность атомов перемещаться в материале. Его величина зависит от температуры и подчиняется уравнению Аррениуса:
D=D0e−Ea/kT
Где:
D0 — предэкспоненциальный фактор (м2/с),
Ea — энергия активации диффузии (эВ),
k — постоянная Больцмана (8.617×10−5 эВ/К),
T — абсолютная температура (К).
4. Механизмы диффузии в твёрдых телах
Вакансионная диффузия:
Перемещение атомов через вакансии (пустоты) в кристаллической решётке.
Характерно для тяжёлых примесей.
Межузельная диффузия:
Атомы перемещаются через межузельные позиции решётки.
Преобладает у лёгких примесей, таких как бор.
Диффузия по границам зёрен:
Ускоренная диффузия вдоль дефектов структуры (например, границ зёрен).
Объёмная диффузия:
Примеси равномерно распространяются внутри кристалла.
5. Влияние температуры на диффузию
С увеличением температуры коэффициент диффузии (D) возрастает, что связано с повышением энергии атомов.
Типичные диапазоны температур в микроэлектронике: 800–1200 C.
6. Примеры диффузионных процессов
Легирование полупроводников:
Используется для создания p-n переходов.
Диффундирующие примеси: бор (B), фосфор (P), мышьяк (As).
Окисление кремния:
Диффузия кислорода в оксид кремния (SiO2).
Металлургические процессы:
Образование сплавов.
Заключение
Математическое описание диффузии позволяет предсказать распределение примесей и управлять профилем их концентрации. Законы Фика и их решения — это основа для проектирования полупроводниковых приборов и технологий микроэлектроники.
