- •1. Подготовка подложки 56
- •6. Травление 57
- •Классификация процессов микротехнологии
- •1. Процессы формирования слоёв
- •Чистота и микроклимат производственных помещений.
- •2. Микроклимат производственных помещений
- •3. Оборудование для контроля чистоты и микроклимата
- •4. Значение чистоты и микроклимата
- •Классы чистоты материалов и веществ. Примеры.
- •1. Классы чистоты воздуха (iso 14644)
- •2. Классы чистоты материалов
- •3. Классы чистоты материалов и веществ
- •Способы очистки поверхности пластин в микроэлектронном производстве.
- •1. Мокрая химическая очистка
- •2. Сухая очистка
- •Базовые операции планарной технологии.
- •1. Подготовка подложек
- •2. Формирование тонких плёнок
- •3. Литография
- •4. Удаление вещества
- •5. Легирование
- •6. Формирование контактов
- •7. Пассивация
- •8. Соединение и сборка
- •Базовые операции изопланарной технологии.I
- •1. Подготовка подложки
- •2. Формирование изолирующих слоёв
- •Технология «кремний на изоляторе».
- •Уровни вакуума. Способы получения вакуума.
- •Форвакуумные насосы:
- •Приборы для измерения уровня вакуума.
- •Форвакуумные насосы.
- •1. Пластинчато-роторные насосы
- •2. Мембранные насосы
- •3. Поршневые насосы
- •4. Винтовые насосы
- •5. Водокольцевые насосы
- •Насосы для получения высокого и сверхвысокого вакуума.
- •3. Криогенные насосы
- •4. Сорбционные насосы
- •5. Геттерные насосы
- •Термическое вакуумное нанесение.
- •Методы осаждения вещества из газовой фазы.
- •Газофазная эпитаксия кремния: пиролиз, восстановление водородом.
- •Подготовка подложки:
- •1. Пиролиз
- •2. Восстановление водородом
- •Газовая эпитаксия соединений аiii bv.
- •Газофазное осаждение окислов и нитридов.
- •Молекулярно-лучевая эпитаксия.
- •Магнетронное нанесение металлических слоёв.
- •Литографический процесс. Оценка качества и разрешения.
- •Подготовка подложки:
- •Травление:
- •Литографический процесс. Негативный и позитивный резисты.
- •Фотошаблоны. Совмещение.
- •1. Фотошаблоны
- •2. Совмещение (Aligment)
- •Последовательность операций стандартного фотолитографического процесса.
- •1. Подготовка подложки
- •2. Нанесение фоторезиста
- •3. Экспонирование
- •4. Проявление
- •5. Постобработка резиста
- •6. Травление
- •7. Удаление резиста
- •8. Контроль качества
- •Методы нанесения резистов. Адгезия.
- •1. Центрифугирование (спин-костинг, spin-coating)
- •2. Нанесение методом погружения (дип-костинг, dip-coating)
- •3. Напыление (спрей-костинг, spray-coating)
- •4. Литьё (casting)
- •5. Нанесение методом распыления центрифугой
- •Ультразвуковая очистка.
- •Фотолитография. Способы экспонирования. Разрешающая способность.
- •1. Основы фотолитографии
- •4. Применение фотолитографии
- •Виды дефектов при проведении литографии.
- •1. Виды дефектов в литографии
- •1.1. Дефекты, возникающие на этапе нанесения фоторезиста
- •1.2. Дефекты, возникающие на этапе экспонирования
- •1.3. Дефекты, возникающие на этапе проявления
- •1.4. Дефекты, возникающие на этапе травления
- •2. Типы литографических дефектов по механизму их возникновения
- •2.1. Геометрические дефекты
- •2.2. Дефекты из-за взаимодействия с окружающей средой
- •2.3. Дефекты, связанные с оптическими эффектами
- •3. Способы борьбы с дефектами литографии
- •Методы термического окисления кремния. Способы реализации и особенности.
- •1. Принципы термического окисления
- •2. Методы термического окисления
- •2.1. Сухое окисление
- •2.2. Мокрое окисление
- •2.3. Комбинированное (двухэтапное) окисление
- •3. Способы реализации процесса термического окисления
- •3.1. Печи для термического окисления
- •3.2. Локальное окисление (locos)
- •3.3. Быстрое термическое окисление (rto)
- •3.4. Плазмохимическое окисление
- •4. Особенности термического окисления
- •5. Применение термического окисления
- •Распределение примесей при термическом окислении
- •1. Принципы распределения примесей
- •6. Методы контроля распределения примесей
- •Физика диффузионных процессов. Двухстадийная диффузия.
- •Математическое описание диффузионных процессов в твёрдых телах. Законы диффузии.
- •1. Основные законы диффузии
- •1.1. Первый закон Фика (статический)
- •5. Влияние температуры на диффузию
- •6. Примеры диффузионных процессов
- •Распределение примесей при диффузии. Стадия «загонки» (введение примесей).
- •1. Основные этапы процесса диффузии
- •1.1. Стадия загонки (введение примесей)
- •Распределение примесей при диффузии. Стадия «разгонки» (перераспределение примесей).
- •1. Характеристики стадии «разгонки»
- •2. Модели перераспределения примесей
- •2.1. Диффузия с неограниченным источником
- •2.2. Диффузия с ограниченным источником
- •3. Основные параметры распределения
- •4. Факторы, влияющие на перераспределение примесей
- •5. Применение стадии разгонки
- •6. Пример: Диффузия бора в кремнии
- •Методы осуществления процесса диффузии. Источники и способы введения примесей. Оборудование для диффузии.
- •5. Применение процесса диффузии
- •Математическое описание процесса ионной имплантации.
- •1. Прямолинейное распределение (наивная модель)
- •2. Гауссово распределение ионов
- •3. Влияние каналирования
- •Физика процесса ионной имплантации. Эффекты разупорядочивания и каналирования.
- •Ионная имплантация. Процессы дефектообразования. Отжиг дефектов.
- •Применение методов ионной имплантации в микротехнологии. Легирование, окисление, нитрирование, протонизация.
- •1. Легирование полупроводников
- •2. Окисление ионной имплантацией
- •3. Нитрирование ионной имплантацией
- •4. Протонизация
- •Аппаратурная реализация процессов ионной имплантации.
- •Форвакуумные насосы.
- •Жидкостное химическое травление. Травители, стадии процесса, управление скоростью процесса.
- •Изотропное жидкостное травление кремния.
- •Подготовка подложки:
- •Травление:
- •Ориентационно-чувствительное анизотропное травление.
- •Плазменное и ионное травление.
- •1. Плазменное травление
- •2. Ионное травление
- •Свойства материалов, необходимые для создания проводящих и изолирующих слоёв интегральных микросхем.
- •2. Изолирующие материалы
- •Ионно-химическое осаждение слоёв.
- •Ионно-химическое травление.
6. Методы контроля распределения примесей
Варьирование температуры и времени окисления:
Температурный контроль позволяет управлять скоростью диффузии примесей.
Использование барьерных слоёв:
Маски из нитрида кремния (Si3N4) предотвращают диффузию примесей в оксид.
Пост-окислительная термическая обработка:
Отжиг используется для снижения градиента концентрации примесей.
Заключение
Распределение примесей при термическом окислении является сложным процессом, зависящим от типа примесей, метода окисления и условий процесса. Управление этим процессом позволяет оптимизировать электрические и механические свойства полупроводниковых структур, что является ключевым фактором в производстве интегральных микросхем.
Физика диффузионных процессов. Двухстадийная диффузия.
Диффузионные процессы играют важную роль в технологии производства полупроводников, особенно для создания профилей легирования в кремниевых подложках. Они описывают перемещение атомов примесей под воздействием концентрационных градиентов и температуры.
1. Основы физики диффузионных процессов
Диффузия в полупроводниках — это процесс переноса атомов примесей из областей с высокой концентрацией в области с низкой концентрацией. Этот процесс подчиняется закону диффузии Фика.
1.1. Первый закон Фика
Определяет
поток диффундирующих частиц (J) через
единичную площадь в единицу времени:
Где:
J — поток частиц (атомы/см2⋅),
D — коэффициент диффузии (см2/с),
C — концентрация частиц (атомы/см3),
x — пространственная координата.
1.2. Второй закон Фика
Описывает
изменение концентрации примесей во
времени:
1.3. Температурная зависимость диффузии
Коэффициент
диффузии (D) зависит от температуры и
описывается уравнением Аррениуса:
Где:
D0 — предэкспоненциальный фактор (см2/с),
Ea — энергия активации диффузии (эВ),
k — постоянная Больцмана (8.617×10−5 эВ/К),
T — абсолютная температура (К).
2. Типы диффузионных процессов
2.1. Самодиффузия
Процесс перемещения атомов внутри чистого материала.
Протекает без участия внешних примесей.
2.2. Примесная диффузия
Перемещение атомов примесей в кристаллической решётке.
Примеси могут быть донорными (фосфор, мышьяк) или акцепторными (бор).
2.3. Межузельная и вакансионная диффузия
Межузельная диффузия: примеси перемещаются через промежутки между узлами кристаллической решётки.
Вакансионная диффузия: атомы перемещаются через вакансии (пустоты) в кристаллической решётке.
3. Двухстадийная диффузия
Двухстадийная диффузия применяется для более точного управления профилем распределения примесей в полупроводниках. Процесс делится на две стадии: ввод примеси и собственно диффузия.
3.1. Первая стадия: ввод примеси (предварительное легирование)
Примеси вводятся в поверхность подложки.
Осуществляется с использованием:
Газовой фазы (POCl3,B2H6),
Твёрдых источников (B2O3,P2O5),
Жидких источников.
Процесс происходит при температуре 850–1000 C.
Образуется тонкий слой с высокой концентрацией примеси вблизи поверхности подложки.
3.2. Вторая стадия: отжиг (распределение примеси)
Примеси, введённые на первой стадии, распределяются в глубину подложки.
Температура: 900–1200 C.
Протекает по механизму объёмной диффузии, формируя плавный профиль концентрации примесей.
4. Модели распределения примесей при двухстадийной диффузии
4.1. При ограниченном источнике
Примеси вводятся в ограниченном количестве.
Концентрация убывает с глубиной, формируя гауссов профиль:
Где:
Q — общее количество примесей.
4.2. При неограниченном источнике
Источник примеси поддерживает постоянную концентрацию на поверхности (Cs).
Концентрация распределяется по закону:
Где erfc — функция дополнительной ошибки.
5. Факторы, влияющие на диффузию
Температура: увеличение температуры ускоряет процесс.
Тип примеси: лёгкие примеси (бор) диффундируют быстрее, чем тяжёлые (мышьяк).
Кристаллическая ориентация: скорость диффузии зависит от ориентации подложки (100,111).
Наличие дефектов: вакансии или межузельные атомы ускоряют процесс диффузии.
6. Применение двухстадийной диффузии
Создание p-n переходов:
Двухстадийная диффузия обеспечивает плавный профиль концентрации примесей, что минимизирует утечки тока.
Оптимизация затворных структур:
Обеспечивает контроль толщины сильно легированных областей.
Управление поверхностными свойствами:
Регулирует концентрацию примесей для улучшения адгезии и электрических характеристик.
Заключение
Двухстадийная диффузия — это универсальный процесс, позволяющий точно управлять профилем распределения примесей в полупроводниках. Понимание физики диффузионных процессов и использование соответствующих моделей обеспечивает создание высококачественных структур для современной микроэлектроники.
