- •1. Подготовка подложки 56
- •6. Травление 57
- •Классификация процессов микротехнологии
- •1. Процессы формирования слоёв
- •Чистота и микроклимат производственных помещений.
- •2. Микроклимат производственных помещений
- •3. Оборудование для контроля чистоты и микроклимата
- •4. Значение чистоты и микроклимата
- •Классы чистоты материалов и веществ. Примеры.
- •1. Классы чистоты воздуха (iso 14644)
- •2. Классы чистоты материалов
- •3. Классы чистоты материалов и веществ
- •Способы очистки поверхности пластин в микроэлектронном производстве.
- •1. Мокрая химическая очистка
- •2. Сухая очистка
- •Базовые операции планарной технологии.
- •1. Подготовка подложек
- •2. Формирование тонких плёнок
- •3. Литография
- •4. Удаление вещества
- •5. Легирование
- •6. Формирование контактов
- •7. Пассивация
- •8. Соединение и сборка
- •Базовые операции изопланарной технологии.I
- •1. Подготовка подложки
- •2. Формирование изолирующих слоёв
- •Технология «кремний на изоляторе».
- •Уровни вакуума. Способы получения вакуума.
- •Форвакуумные насосы:
- •Приборы для измерения уровня вакуума.
- •Форвакуумные насосы.
- •1. Пластинчато-роторные насосы
- •2. Мембранные насосы
- •3. Поршневые насосы
- •4. Винтовые насосы
- •5. Водокольцевые насосы
- •Насосы для получения высокого и сверхвысокого вакуума.
- •3. Криогенные насосы
- •4. Сорбционные насосы
- •5. Геттерные насосы
- •Термическое вакуумное нанесение.
- •Методы осаждения вещества из газовой фазы.
- •Газофазная эпитаксия кремния: пиролиз, восстановление водородом.
- •Подготовка подложки:
- •1. Пиролиз
- •2. Восстановление водородом
- •Газовая эпитаксия соединений аiii bv.
- •Газофазное осаждение окислов и нитридов.
- •Молекулярно-лучевая эпитаксия.
- •Магнетронное нанесение металлических слоёв.
- •Литографический процесс. Оценка качества и разрешения.
- •Подготовка подложки:
- •Травление:
- •Литографический процесс. Негативный и позитивный резисты.
- •Фотошаблоны. Совмещение.
- •1. Фотошаблоны
- •2. Совмещение (Aligment)
- •Последовательность операций стандартного фотолитографического процесса.
- •1. Подготовка подложки
- •2. Нанесение фоторезиста
- •3. Экспонирование
- •4. Проявление
- •5. Постобработка резиста
- •6. Травление
- •7. Удаление резиста
- •8. Контроль качества
- •Методы нанесения резистов. Адгезия.
- •1. Центрифугирование (спин-костинг, spin-coating)
- •2. Нанесение методом погружения (дип-костинг, dip-coating)
- •3. Напыление (спрей-костинг, spray-coating)
- •4. Литьё (casting)
- •5. Нанесение методом распыления центрифугой
- •Ультразвуковая очистка.
- •Фотолитография. Способы экспонирования. Разрешающая способность.
- •1. Основы фотолитографии
- •4. Применение фотолитографии
- •Виды дефектов при проведении литографии.
- •1. Виды дефектов в литографии
- •1.1. Дефекты, возникающие на этапе нанесения фоторезиста
- •1.2. Дефекты, возникающие на этапе экспонирования
- •1.3. Дефекты, возникающие на этапе проявления
- •1.4. Дефекты, возникающие на этапе травления
- •2. Типы литографических дефектов по механизму их возникновения
- •2.1. Геометрические дефекты
- •2.2. Дефекты из-за взаимодействия с окружающей средой
- •2.3. Дефекты, связанные с оптическими эффектами
- •3. Способы борьбы с дефектами литографии
- •Методы термического окисления кремния. Способы реализации и особенности.
- •1. Принципы термического окисления
- •2. Методы термического окисления
- •2.1. Сухое окисление
- •2.2. Мокрое окисление
- •2.3. Комбинированное (двухэтапное) окисление
- •3. Способы реализации процесса термического окисления
- •3.1. Печи для термического окисления
- •3.2. Локальное окисление (locos)
- •3.3. Быстрое термическое окисление (rto)
- •3.4. Плазмохимическое окисление
- •4. Особенности термического окисления
- •5. Применение термического окисления
- •Распределение примесей при термическом окислении
- •1. Принципы распределения примесей
- •6. Методы контроля распределения примесей
- •Физика диффузионных процессов. Двухстадийная диффузия.
- •Математическое описание диффузионных процессов в твёрдых телах. Законы диффузии.
- •1. Основные законы диффузии
- •1.1. Первый закон Фика (статический)
- •5. Влияние температуры на диффузию
- •6. Примеры диффузионных процессов
- •Распределение примесей при диффузии. Стадия «загонки» (введение примесей).
- •1. Основные этапы процесса диффузии
- •1.1. Стадия загонки (введение примесей)
- •Распределение примесей при диффузии. Стадия «разгонки» (перераспределение примесей).
- •1. Характеристики стадии «разгонки»
- •2. Модели перераспределения примесей
- •2.1. Диффузия с неограниченным источником
- •2.2. Диффузия с ограниченным источником
- •3. Основные параметры распределения
- •4. Факторы, влияющие на перераспределение примесей
- •5. Применение стадии разгонки
- •6. Пример: Диффузия бора в кремнии
- •Методы осуществления процесса диффузии. Источники и способы введения примесей. Оборудование для диффузии.
- •5. Применение процесса диффузии
- •Математическое описание процесса ионной имплантации.
- •1. Прямолинейное распределение (наивная модель)
- •2. Гауссово распределение ионов
- •3. Влияние каналирования
- •Физика процесса ионной имплантации. Эффекты разупорядочивания и каналирования.
- •Ионная имплантация. Процессы дефектообразования. Отжиг дефектов.
- •Применение методов ионной имплантации в микротехнологии. Легирование, окисление, нитрирование, протонизация.
- •1. Легирование полупроводников
- •2. Окисление ионной имплантацией
- •3. Нитрирование ионной имплантацией
- •4. Протонизация
- •Аппаратурная реализация процессов ионной имплантации.
- •Форвакуумные насосы.
- •Жидкостное химическое травление. Травители, стадии процесса, управление скоростью процесса.
- •Изотропное жидкостное травление кремния.
- •Подготовка подложки:
- •Травление:
- •Ориентационно-чувствительное анизотропное травление.
- •Плазменное и ионное травление.
- •1. Плазменное травление
- •2. Ионное травление
- •Свойства материалов, необходимые для создания проводящих и изолирующих слоёв интегральных микросхем.
- •2. Изолирующие материалы
- •Ионно-химическое осаждение слоёв.
- •Ионно-химическое травление.
Литографический процесс. Негативный и позитивный резисты.
Литографический процесс включает использование фоторезистов, которые играют ключевую роль в формировании микро- и наноструктур. Различают два типа резистов: позитивные и негативные, которые различаются механизмом взаимодействия с излучением и конечным результатом.
Позитивный резист
Механизм работы:
При облучении излучением (ультрафиолет, рентген, электроны) химическая структура резиста изменяется.
Облучённые области становятся более растворимыми в проявителе и удаляются в процессе проявления.
Результат:
Открытые области на подложке соответствуют облучённым участкам резиста.
Маска служит прямым шаблоном для структуры.
Особенности:
Высокая разрешающая способность.
Применяется для получения сложных мелких структур.
Широко используется в современных литографических процессах.
Примеры:
PMMA (полиметилметакрилат) — используется в электронно-лучевой литографии.
Двухкомпонентные резисты на основе диазо-кинон-смол для ультрафиолетовой литографии.
Негативный резист
Механизм работы:
При облучении излучением происходит полимеризация или сшивка молекул в облучённых областях.
Эти области становятся менее растворимыми в проявителе и остаются на подложке после проявления.
Результат:
Облучённые участки резиста остаются на подложке, а необлучённые удаляются.
Маска служит обратным шаблоном.
Особенности:
Подходит для формирования структур большего размера.
Меньшая разрешающая способность по сравнению с позитивными резистами из-за возможного разбухания материала.
Обладает лучшей адгезией и устойчивостью к травлению.
Примеры:
SU-8 — используется для получения толстых структур.
Электронно-лучевые резисты на основе полимеров, таких как эпоксидные смолы.
Сравнение позитивных и негативных резистов
Характеристика |
Позитивный резист |
Негативный резист |
Результат |
Удаляются облучённые области |
Остаются облучённые области |
Разрешение |
Выше |
Ниже |
Устойчивость |
Меньше устойчивость к травлению |
Высокая устойчивость |
Применение |
Для мелких и сложных структур |
Для толстых слоёв и крупных структур |
Чувствительность |
Менее чувствителен |
Более чувствителен |
Тип травления |
Подходит для сухого и мокрого травления |
Хорошо работает при сухом травлении |
Выбор резиста для литографического процесса
Разрешение:
Для создания наноразмерных структур предпочтительны позитивные резисты.
Для крупных структур и толстых слоёв используются негативные резисты.
Толщина слоя:
Негативные резисты лучше подходят для создания толстых слоёв (например, в микрофлюидике или MEMS).
Позитивные резисты удобны для тонких и высокоточных структур.
Устойчивость к травлению:
Негативные резисты обладают лучшей устойчивостью к агрессивным травящим процессам.
Экономичность:
Негативные резисты часто дешевле в производстве, но позитивные обеспечивают лучшее качество для современных техпроцессов.
Заключение
Позитивные резисты выбираются для задач, требующих высокой точности и минимальных размеров структур, особенно в нанолитографии.
Негативные резисты подходят для задач, где требуется высокая стойкость к травлению, большие размеры структур или большая толщина слоя.
В современных литографических процессах широко применяются как позитивные, так и негативные резисты, выбор которых зависит от конкретных требований к структурам, разрешению, и используемому оборудованию.
