
- •1. Подготовка подложки 56
- •6. Травление 57
- •Классификация процессов микротехнологии
- •1. Процессы формирования слоёв
- •Чистота и микроклимат производственных помещений.
- •2. Микроклимат производственных помещений
- •3. Оборудование для контроля чистоты и микроклимата
- •4. Значение чистоты и микроклимата
- •Классы чистоты материалов и веществ. Примеры.
- •1. Классы чистоты воздуха (iso 14644)
- •2. Классы чистоты материалов
- •3. Классы чистоты материалов и веществ
- •Способы очистки поверхности пластин в микроэлектронном производстве.
- •1. Мокрая химическая очистка
- •2. Сухая очистка
- •Базовые операции планарной технологии.
- •1. Подготовка подложек
- •2. Формирование тонких плёнок
- •3. Литография
- •4. Удаление вещества
- •5. Легирование
- •6. Формирование контактов
- •7. Пассивация
- •8. Соединение и сборка
- •Базовые операции изопланарной технологии.I
- •1. Подготовка подложки
- •2. Формирование изолирующих слоёв
- •Технология «кремний на изоляторе».
- •Уровни вакуума. Способы получения вакуума.
- •Форвакуумные насосы:
- •Приборы для измерения уровня вакуума.
- •Форвакуумные насосы.
- •1. Пластинчато-роторные насосы
- •2. Мембранные насосы
- •3. Поршневые насосы
- •4. Винтовые насосы
- •5. Водокольцевые насосы
- •Насосы для получения высокого и сверхвысокого вакуума.
- •3. Криогенные насосы
- •4. Сорбционные насосы
- •5. Геттерные насосы
- •Термическое вакуумное нанесение.
- •Методы осаждения вещества из газовой фазы.
- •Газофазная эпитаксия кремния: пиролиз, восстановление водородом.
- •Подготовка подложки:
- •1. Пиролиз
- •2. Восстановление водородом
- •Газовая эпитаксия соединений аiii bv.
- •Газофазное осаждение окислов и нитридов.
- •Молекулярно-лучевая эпитаксия.
- •Магнетронное нанесение металлических слоёв.
- •Литографический процесс. Оценка качества и разрешения.
- •Подготовка подложки:
- •Травление:
- •Литографический процесс. Негативный и позитивный резисты.
- •Фотошаблоны. Совмещение.
- •1. Фотошаблоны
- •2. Совмещение (Aligment)
- •Последовательность операций стандартного фотолитографического процесса.
- •1. Подготовка подложки
- •2. Нанесение фоторезиста
- •3. Экспонирование
- •4. Проявление
- •5. Постобработка резиста
- •6. Травление
- •7. Удаление резиста
- •8. Контроль качества
- •Методы нанесения резистов. Адгезия.
- •1. Центрифугирование (спин-костинг, spin-coating)
- •2. Нанесение методом погружения (дип-костинг, dip-coating)
- •3. Напыление (спрей-костинг, spray-coating)
- •4. Литьё (casting)
- •5. Нанесение методом распыления центрифугой
- •Ультразвуковая очистка.
- •Фотолитография. Способы экспонирования. Разрешающая способность.
- •1. Основы фотолитографии
- •4. Применение фотолитографии
- •Виды дефектов при проведении литографии.
- •1. Виды дефектов в литографии
- •1.1. Дефекты, возникающие на этапе нанесения фоторезиста
- •1.2. Дефекты, возникающие на этапе экспонирования
- •1.3. Дефекты, возникающие на этапе проявления
- •1.4. Дефекты, возникающие на этапе травления
- •2. Типы литографических дефектов по механизму их возникновения
- •2.1. Геометрические дефекты
- •2.2. Дефекты из-за взаимодействия с окружающей средой
- •2.3. Дефекты, связанные с оптическими эффектами
- •3. Способы борьбы с дефектами литографии
- •Методы термического окисления кремния. Способы реализации и особенности.
- •1. Принципы термического окисления
- •2. Методы термического окисления
- •2.1. Сухое окисление
- •2.2. Мокрое окисление
- •2.3. Комбинированное (двухэтапное) окисление
- •3. Способы реализации процесса термического окисления
- •3.1. Печи для термического окисления
- •3.2. Локальное окисление (locos)
- •3.3. Быстрое термическое окисление (rto)
- •3.4. Плазмохимическое окисление
- •4. Особенности термического окисления
- •5. Применение термического окисления
- •Распределение примесей при термическом окислении
- •1. Принципы распределения примесей
- •6. Методы контроля распределения примесей
- •Физика диффузионных процессов. Двухстадийная диффузия.
- •Математическое описание диффузионных процессов в твёрдых телах. Законы диффузии.
- •1. Основные законы диффузии
- •1.1. Первый закон Фика (статический)
- •5. Влияние температуры на диффузию
- •6. Примеры диффузионных процессов
- •Распределение примесей при диффузии. Стадия «загонки» (введение примесей).
- •1. Основные этапы процесса диффузии
- •1.1. Стадия загонки (введение примесей)
- •Распределение примесей при диффузии. Стадия «разгонки» (перераспределение примесей).
- •1. Характеристики стадии «разгонки»
- •2. Модели перераспределения примесей
- •2.1. Диффузия с неограниченным источником
- •2.2. Диффузия с ограниченным источником
- •3. Основные параметры распределения
- •4. Факторы, влияющие на перераспределение примесей
- •5. Применение стадии разгонки
- •6. Пример: Диффузия бора в кремнии
- •Методы осуществления процесса диффузии. Источники и способы введения примесей. Оборудование для диффузии.
- •5. Применение процесса диффузии
- •Математическое описание процесса ионной имплантации.
- •1. Прямолинейное распределение (наивная модель)
- •2. Гауссово распределение ионов
- •3. Влияние каналирования
- •Физика процесса ионной имплантации. Эффекты разупорядочивания и каналирования.
- •Ионная имплантация. Процессы дефектообразования. Отжиг дефектов.
- •Применение методов ионной имплантации в микротехнологии. Легирование, окисление, нитрирование, протонизация.
- •1. Легирование полупроводников
- •2. Окисление ионной имплантацией
- •3. Нитрирование ионной имплантацией
- •4. Протонизация
- •Аппаратурная реализация процессов ионной имплантации.
- •Форвакуумные насосы.
- •Жидкостное химическое травление. Травители, стадии процесса, управление скоростью процесса.
- •Изотропное жидкостное травление кремния.
- •Подготовка подложки:
- •Травление:
- •Ориентационно-чувствительное анизотропное травление.
- •Плазменное и ионное травление.
- •1. Плазменное травление
- •2. Ионное травление
- •Свойства материалов, необходимые для создания проводящих и изолирующих слоёв интегральных микросхем.
- •2. Изолирующие материалы
- •Ионно-химическое осаждение слоёв.
- •Ионно-химическое травление.
Магнетронное нанесение металлических слоёв.
Магнетронное распыление — технология нанесения тонких плёнок на подложку с помощью катодного распыления мишени в плазме магнетронного разряда — диодного разряда в скрещённых полях. Технологические устройства, предназначенные для реализации этой технологии, называются магнетронными распылительными системами.
Магнетронными называются системы, в которых используются неоднородные скрещенные электрическое и магнитное поля. Электрические параметры разряда в магнетронной системе в значительной степени зависят от рабочего давления, величины и конфигурации магнитного поля, конструктивных особенностей распылительной системы. Магнетронные системы относятся к системам ионного распыления, в которых распыление материала происходит за счет бомбардировки поверхности мишени ионами рабочего газа (обычно аргона), образующихся в плазме аномального тлеющего разряда. Высокая скорость распыления, характерная для этих систем, достигается увеличением плотности ионного тока за счет локализации плазмы у распыляемой поверхности мишени с помощью сильного поперечного магнитного поля.
Принцип работы магнетронного распыления
Основные элементы
1 – Катод-мишень (изготовлен из напыляемого материала) 2 – Магнитная система (обычно на основе постоянных магнитов) 3 – Источник питания 4 – Анод 5 – Траектория движения электрона 6 – Зона распыления 7 – Силовые линии магнитного поля
Силовые линии магнитного поля замыкаются между полюсами магнитной системы. Поверхность мишени, расположенная между местами входа и выхода силовых линий магнитного поля, интенсивно распыляется и имеет вид замкнутой дорожки, геометрия которой определяется формой полюсов магнитной системы. При подаче постоянного напряжения между и анодом возникает неоднородное электрическое поле и возбуждается аномальный тлеющий разряд. Наличие замкнутого магнитного поля у распыляемой поверхности мишени позволяет локализовать плазму разряда непосредственно у мишени.
Электроны с катода под действием ионной бомбардировки совершают движение по замкнутым траекториям у поверхности мишени. Электроны оказываются как бы в ловушке, создаваемой с одной стороны магнитным полем, возвращающим электроны на катод, а с другой стороны — отрицательно заряженной поверхностью мишени, отталкивающей их. Электроны двигаются циклически в этой ловушке до тех пор, пока не произойдёт несколько ионизирующих столкновений с атомами рабочего газа, в результате которых электрон потеряет полученную от электрического поля энергию и диффундирует на границу плазмы по направлению к аноду. Таким образом, большая часть энергии электрона, прежде чем он попадёт на анод, используется на ионизацию и возбуждение атомов рабочего газа, что значительно увеличивает эффективность процесса ионизации и приводит к возрастанию концентрации положительных ионов у поверхности мишени. Это в свою очередь обусловливает увеличение интенсивности ионной бомбардировки мишени и значительный рост скорости распыления, а, следовательно, и скорости осаждения плёнки.
Вакуумная камера:
Процесс происходит в вакуумной камере, куда вводится рабочий газ, обычно инертный (например, аргон, Ar).
Поддерживается давление в диапазоне от 10^{-3} до 10^{-1} Торр.
Создание плазмы:
Между катодом (мишенью) и анодом подаётся электрическое напряжение (порядка нескольких сотен вольт), что ионизирует атомы газа и образует плазму.
Электроны, ускоренные электрическим полем, сталкиваются с атомами газа, ионизируя их и создавая положительные ионы.
Плазма разряда существует, в основном, в области магнитной ловушки в непосредственной близости от мишени, и ее форма определяется геометрией и величиной магнитного поля. Создание магнитной ловушки у распыляемой поверхности мишени представляет собой решение проблемы увеличения скорости распыления в плазменных распылительных системах. Но помимо этого достоинства магнетронная распылительная система обладает рядом специфических свойств, основным из которых является отсутствие бомбардировки подложки высокоэнергетическими вторичными электронами.
Распыление мишени:
Положительно заряженные ионы газа ускоряются к мишени (катоду) под воздействием электрического поля, выбивая атомы материала из поверхности мишени.
Эти атомы, переходя в газовую фазу, осаждаются на подложке, образуя тонкий слой.
При распылении материалов в плазме тлеющего разряда высокоэнергетические вторичные электроны с мишени являются основным источником нагрева подложек. В магнетронной распылительной системе вторичные электроны захватываются магнитной ловушкой и не бомбардируют подложку, что обеспечивает ее сравнительно низкую температуру. Источниками нагрева подложки в этой системе служат кинетическая энергия и энергия конденсации осаждаемых атомов, энергия отражённых от мишени нейтрализованных ионов и энергия ионов вторичной плазмы, а также излучение плазмы.
Магнитное поле:
Магниты, размещённые за мишенью, создают магнитное поле, которое удерживает электроны вблизи поверхности мишени, увеличивая частоту их столкновений с атомами газа.
Это позволяет поддерживать стабильную плазму при более низких давлениях и улучшает эффективность процесса.
Осаждение слоя:
Распылённые атомы оседают на подложке, формируя равномерный металлический слой.
Типы магнетронного распыления
DC-магнетронное распыление (постоянный ток):
Используется для нанесения проводящих материалов (металлов).
Катод подключается к источнику постоянного напряжения.
RF-магнетронное распыление (высокочастотное):
Применяется для осаждения диэлектриков и сложных материалов.
Используется переменное высокочастотное напряжение (обычно 13,56 МГц), чтобы предотвратить зарядку изолирующих материалов на мишени.
Реактивное магнетронное распыление:
В рабочий газ добавляются реактивные газы (например, кислород O2 или азот N2), которые вступают в химическую реакцию с распылённым материалом.
Используется для получения нитридов (например, TiN) и окислов (например, Al2O3).
Пульсирующее магнетронное распыление:
Применяется для нанесения слоёв с высокой плотностью и низким уровнем дефектов.
Осциллирующее напряжение улучшает качество покрытия.
Преимущества магнетронного распыления
Высокая производительность
Точность химического состава осаждённого вещества
Равномерность покрытия
Отсутствие термического воздействия на обрабатываемую заготовку
Возможность использования любых металлов и полупроводниковых материалов
Высокое качество покрытий:
Обеспечивает равномерные, плотные и адгезионно стойкие покрытия.
Используется для создания тонких слоёв толщиной от нескольких нанометров до микрометров.
Гибкость материалов:
Можно наносить металлы (например, алюминий Al, медь Cu, золото Au), сплавы, оксиды и нитриды.
Низкие температуры процесса:
Подходит для чувствительных подложек, так как подложка не требует нагрева.
Контроль параметров:
Легко контролировать скорость роста слоя, толщину, химический состав и текстуру поверхности.
Экономичность:
Высокая степень использования материала мишени благодаря эффективному распылению.
Недостатки магнетронного распыления
Ограниченная толщина слоя:
Для нанесения толстых слоёв требуется значительное время, что снижает производительность.
Сложность осаждения на сложные формы:
Распыление работает по линии прямой видимости, что может затруднить нанесение на детали сложной формы.
Затраты на оборудование:
Вакуумные системы и магнетронное оборудование требуют значительных начальных инвестиций.
Применение магнетронного нанесения металлических слоёв
Микроэлектроника:
Осаждение металлических контактов (например, алюминиевых или медных слоёв) для интегральных схем.
Создание барьерных слоёв, например, нитрида титана (TiN).
Оптика:
Производство зеркал, светоотражающих и антиотражающих покрытий.
Нанесение слоёв на линзы (например, алюминий или золото).
Сенсоры:
Осаждение слоёв для сенсоров давления, температуры и химического состава.
Медицинская техника:
Покрытия для биосовместимости, защиты от коррозии и улучшения механической стойкости инструментов.
Механические покрытия:
Антикоррозийные и износостойкие слои для инструментов и деталей машин.
Солнечные элементы:
Нанесение тонких металлических слоёв для контактов и отражающих структур.
Основные рабочие характеристики МРС - напряжение на электродах, ток разряда, плотность тока на мишени и удельная мощность, величина индукции магнитного поля и рабочее давление.
Высокая степень ионизации и высокая плотность ионного тока в МРС позволяют работать при более низком напряжении (0,3 - 0,8 кВ) и более низком давлении (10-2 - 1 Па) по сравнению с диодными распылительными системами на постоянном токе. Важнейшим параметром, во многом определяющим характер разряда в МРС, являются геометрия и величина магнитного поля, индукция которого у поверхности мишени 0,03 - 0,1 Т.
Высокая плотность ионного тока (на 2 порядка выше, чем в обычных диодных распылительных системах) и большая удельная мощность, рассеиваемая на мишени, резко увеличивает скорость распыления в МРС. Необходимая скорость осаждения плёнки в МРС с достаточной точностью может поддерживаться за счет постоянства таких параметров процесса, как ток разряда или подводимая мощность. Как показывает практика, для обеспечения воспроизводимости и стабильности процесса нанесения плёнки ток разряда необходимо поддерживать с точностью ± 2%, а при стабилизации процесса по мощности разряда точность ее поддержания составляет ± 20 Вт в диапазоне регулирования от 0 до 10 кВт. При этом рабочее давление должно быть постоянным (отклонение не должно превышать ± 5%). Увеличение скорости распыления с одновременным снижением давления рабочего газа позволяет существенно снизить степень загрязнения плёнок газовыми включениями.