
- •Тема 1. Технологический базис микросистемной техники
- •Основные особенности технологии микросистемной техники и отличия от технологии микроэлектроники.
- •Основные принципы технологии «объёмной микромеханики».
- •Ограниченные геометрии:
- •Сложность интеграции:
- •Основные принципы технологии «поверхностной микромеханики».
- •Особенности фотолитографии в технологии микросистем.
- •Нанесение фоторезиста:
- •Сушка (бэкинг):
- •Совмещение и экспонирование:
- •Проявление:
- •Задубливание (вторая сушка):
- •Технология анизотропного травления кремния: травители, маски, «стоп-слои».
- •Технология вертикального ионного травления в изготовлении микросистем.
- •Пассивация:
- •Травление:
- •Механические напряжения в тонких плёнках: причины появления, влияние на микроструктуры.
- •Методы микрокорпусирования, анодной и эвтектической сварки.
- •Тема 2. Микромеханические структуры
- •Мембранные и балочные элементы микросистем. Методы формирования.
- •1. Мембранные элементы
- •Тема 3. Тензорезистивные интегральные преобразователи
- •Тензорезистивные акселерометры. Линейный и маятниковый акселерометр. Конструкции, тензорезистивная схема. Погрешности измерения.
- •1. Линейный акселерометр
- •2. Маятниковый акселерометр
- •Тема 4. Микроэлектромеханические преобразователи
- •Ёмкостные электромеханические преобразователи. Основные типы конструкций.
- •С переменным расстоянием между электродами
- •С переменной площадью перекрытия электродов
- •С переменной диэлектрической проницаемостью среды
- •С комбинированными изменениями параметров
- •Ёмкостная дифференциальная и мостовая измерительная схема: особенности питания и обратной связи.
- •1. Дифференциальная ёмкостная схема
- •2. Мостовая ёмкостная схема
- •Поверхностные ёмкостные акселерометры: основные типы структур, преимущества и недостатки.
- •Вибрационные микрогироскопы: принцип работы, основные типы, особенности функционирования.
- •Электростатические актюаторы. Микрореле. Конструкция и принцип работы.
- •Включение
- •Выключение
- •Тема 5. Тепловые микросистемы
- •Терморезисторы. Характеристики. Терморезистивные преобразователи.
- •Тема 6. Акустические микросистемы
Технология вертикального ионного травления в изготовлении микросистем.
Вертикальное ионное травление (DRIE, Deep Reactive Ion Etching) — это метод сухого травления, который используется для создания глубоких, узких и высокоанизотропных структур в микросистемах, таких как микромеханические устройства (MEMS). Эта технология является ключевой в микроэлектронике и микромеханике благодаря высокой точности и возможности работы с кремнием.
Принцип работы
DRIE основано на сочетании химического и физического процессов травления, используя плазму реактивных газов. Процесс включает повторяющиеся циклы из двух основных этапов:
Пассивация:
Осаждение защитного слоя (например, полимера) на боковые стенки травимого материала.
Этот слой предотвращает травление боковых стенок, обеспечивая строго вертикальные профили.
Травление:
Ионное бомбардирование дна травимой области удаляет защитный слой, а затем химическая реакция с плазмой гравирует материал.
Обычно используются газы, такие как SF₆ для травления и C₄F₈ для пассивации.
Эти циклы повторяются до достижения требуемой глубины.
Особенности
Анизотропность: Процесс обеспечивает строго вертикальные стенки
Высокая глубина: DRIE может создавать структуры глубиной до сотен микрометров.
Точность: Минимальная ширина канавок может составлять всего несколько микрометров.
Преимущества
Создание сложных структур: Позволяет формировать узкие канавки, отверстия и другие микроструктуры.
Совместимость с MEMS: Используется для производства акселерометров, гироскопов, микрозеркал и других MEMS-устройств.
Высокая повторяемость: Отличается стабильностью процессов, что важно для массового производства.
Недостатки
Стоимость: Оборудование для DRIE дорогостоящее, что увеличивает стоимость производства.
Технологическая сложность: Требуется точный контроль процесса для предотвращения дефектов, таких как подрезы или дефекты профиля стенок.
Применение
MEMS-устройства:
Акселерометры, гироскопы, датчики давления.
Оптические микросистемы:
Микролинзы, световоды.
Биомедицинские устройства:
Микроиглы, микрофлюидные чипы.
Силовая электроника:
Создание вертикальных структур для транзисторов и других компонентов.
Механические напряжения в тонких плёнках: причины появления, влияние на микроструктуры.
Механические напряжения в тонких плёнках — это внутренние напряжения, которые возникают в процессе формирования плёнок или их эксплуатации. Эти напряжения играют важную роль в функциональности и надёжности микросистем, так как могут вызывать деформации, трещины или отслоение плёнок.
Причины появления напряжений
1. Из плёнки могут улетучиваться газообразные элементы, что может привести к растягивающим напряжениям
2. Может оседать кислород (если связи в объёме – создаются напряжения
3. Ионная имплантация приводит к появлению сжимающих связей
4. Диффузия:
Примесный радиус меньше, чем у кремния – структура пытается сжаться – растягивающие связи. И наоборот
5.Оседает металл с хорошей адгезией и кот. хорошо окисляется (Ti, Ta, Va)
6. Разница температурных коэффициентов расширения
7.Гетероэпитаксия
8.Фазовые и структурные превращения
9. Влияние разных факторах на разных этапах роста плёнки
Влияние на микроструктуры
Положительное влияние:
Контроль свойств плёнки:
Некоторые напряжения могут улучшать механические, электрические или оптические свойства плёнки.
Например, в транзисторах натяжение может повышать подвижность носителей заряда.
Негативное влияние:
Растягивание и отслаивание
Искривление
Дефекты:
Высокие напряжения могут приводить к образованию трещин, складок или отслоений плёнки.
Изменение параметров структуры (жесткости)
Методы управления напряжениями
Для снижения или контроля напряжений используются различные подходы:
Гофрировка мембраны
Оптимизация процесса осаждения:
Изменение температуры, скорости осаждения, состава газовой среды.
Низкие температуры
Термическая обработка:
Отжиг после осаждения помогает снизить внутренние напряжения.
Комбинирование материалов:
Использование материалов с близкими КТР.
Измерение напряжений
По радиусу прогиба / по измерениям параметров решётки