
- •Исследование характеристик базовых элементов электроники Методические указания к лабораторным работам
- •Лабораторная работа №1.«Применение пассивных элементов электроники»
- •Основные теоретические положения
- •Резистор
- •Основные параметры резисторов
- •Конденсатор
- •Основные функции конденсаторов
- •Основные параметры конденсаторов
- •Фильтры высоких и низких частот
- •Мост Вина
- •Катушка индуктивности
- •Применение катушек индуктивности
- •Основные параметры катушек индуктивности
- •Порядок выполнения эксперимента
- •Исследование работы фнч
- •Исследование работы фвч
- •Мост Вина
- •Полосовой фильтр
- •Режекторный фильтр
- •Лабораторная работа №2 «Полупроводниковые приборы»
- •Основные теоретические положения
- •Основные параметры диода
- •Стабилитроны
- •Основные параметры стабилитрона
- •Светодиоды
- •Порядок выполнения эксперимента
- •Лабораторная работа №3.«Применение полупроводниковых диодов»
- •Основные теоретические положения
- •Нелинейная обработка аналоговых сигналов
- •Логические цепи
- •Порядок выполнения эксперимента
- •Параметрический стабилизатор
- •Лабораторная работа №4. «Исследование диода с переменной ёмкостью (варикапа)»
- •Основные теоретические положения
- •Порядок выполнения эксперимента
- •Лабораторная работа №5. «Исследование вольт - амперных характеристик тиристоров»
- •Основные теоретические положения
- •Порядок выполнения эксперимента
- •Вопросы для допуска к выполнению и защиты лабораторной работы
- •Лабораторная работа №6 «Снятие статических характеристик транзистора на постоянном токе»
- •Основные теоретические положения
- •Режимы работы транзистора
- •Транзистор как линейный четырехполюсник
- •Основные параметры биполярных транзисторов:
- •Порядок выполнения экспериментов
- •Лабораторная работа № 7. «Сравнительное исследование одиночных усилительных каскадов на биполярных транзисторах»
- •Основные теоретические положения
- •Рабочая точка
- •Порядок выполнения экспериментов
- •Лабораторная работа № 8 «Исследование статических характеристик полевых транзисторов и одиночных усилительных каскадов»
- •Основные теоретические положения
- •Полевые транзисторы с управляющим p-n-переходом
- •Основные параметры полевых транзисторов с управляющим р-n-переходом
- •Основные параметры мдп-транзисторов
- •Схемы включения полевых транзисторов
- •Порядок выполнения экспериментов
- •Исследование усилительных свойств каскадов на базе полевых транзисторов
- •Лабораторная работа №10 «Исследование двухтактного усилителя мощности на биполярных транзисторах»
- •Основные теоретические положения
- •Режим класса а
- •Режим класса в
- •Режим класса ав
- •Режим класса с
- •Режим класса d
- •Порядок выполнения экспериментов
- •Требования к оформлению отчета
Основные параметры полевых транзисторов с управляющим р-n-переходом
максимальный ток стока Iс max (при Uзи = 0);
максимальное напряжение сток-исток Uси max;
напряжение отсечки Uзи отс;
внутреннее (выходное) сопротивление ri − представляет собой сопротивление транзистора между стоком и истоком (сопротивление канала) для переменного тока:
при
Uзи=const;
крутизна стоко-затворной характеристики:
при
Uси=const,
-отображает влияние напряжения затвора на выходной ток транзистора;
входное сопротивление
при Uси=const транзистора определяется сопротивлением р-n-переходов, смещенных в обратном направлении. Входное сопротивление полевых транзисторов с р-n-переходом довольно велико (достигает единиц и десятков мегаом), (107-109Ом) что выгодно отличает их от биполярных транзисторов.
Полевые транзисторы с изолированным затвором
Полевой транзистор с изолированным затвором – полевой транзистор, затвор которого отделен в электрическом отношении от канала слоем диэлектрика. УГО таких транзисторов, имеющих также название. Как было отмечено раннее, существует две разновидности МДП-транзисторов: с индуцированным каналом и со встроенным каналом. На рисунке 9.4 изображены УГО МДП-транзисторов: а − со встроенным каналом n-типа; б − со встроенным каналом р-типа; г− с индуцированным каналом n-типа; д− с индуцированным каналом р-типа.
Рисунок 9.4
В качестве диэлектрика используют окисел кремния SiO2. Отсюда другое название этих транзисторов – МОП-транзисторы (структура: металл-окисел-полупроводник). Наличие диэлектрика обеспечивает высокое входное сопротивление рассматриваемых транзисторов (1010…1014Ом). Принцип действия МДП-транзисторов основан на эффекте изменения проводимости приповерхностного слоя полупроводника на границе с диэлектриком под воздействием поперечного электрического поля. Приповерхностный слой полупроводника является токопроводящим каналом этих транзисторов.
В МДП-транзисторах с индуцированным каналом проводящий канал между сильнолегированными областями истока и стока отсутствует и, следовательно, заметный ток стока появляется только при определённой полярности и при определённом значении напряжения на затворе относительно истока, которое называют пороговым напряжением (UЗИпор). В МДП-транзисторах со встроенным каналом у поверхности полупроводника под затвором при нулевом напряжении на затворе относительно истока существует инверсный слой — канал, который соединяет исток со стоком.
Стоковые (выходные) характеристики полевого транзистора с индуцированным каналом n-типа Ic =f(Uси) показаны на рисунке 9.5 а. Стоко-затворная характеристика транзистора со встроенным каналом n-типа Ic=f(Uзи) приведена на рисунке 4.5 б.Отличие стоковых характеристик заключается в том, что управление током транзистора осуществляется напряжением одной полярности, совпадающей с полярностью напряжения Uси. Ток Ic = 0 при Uси=0, в то время как в транзисторе со встроенным каналом для этого необходимо изменить полярность напряжения на затворе относительно истока.
Рисунок 9.5