X
- •Микропроцессорны е устройства.
- •Принцип обмена с внешними устройствами.
- •Устройства ввода/вывода.
- •Структура системной шины.
- •Самым главным блоком является процессор, затем следует блок ввода-вывода, а память, это всегда
- •В 1990 году компанией Intel была разработана новая модель структуры, разделяющая шину памяти
- •Структура системной шины.
- •Начало каждого цикла отсчитывается по спаду импульса синхронизации. Максимальная частота генерируемых тактовых импульсов
- •Структура системной шины
- •В схему моста к шине памяти включается коммутатор, подключающий пары последовательных линий, сигнальной
- •Передача информации по двум проводам не требует тактового генератора. Любое подключенное устройство начинает
- •UART (Универсальный
- •Основные регистры данных: регистр приема (последовательно- параллельный) и регистр передачи (параллельно-последовательный).
- •Формат управляющего слова.
- •Структура передачи информации.
- •Интерфейс USB (Universal Serial Bus - Универсальный Последовательный Интерфейс)
- •Интерфейс (шина) USB.
- •Структура USB
- •Способ передачи данных по USB.
- •USB пакет состоит из нескольких полей.
- •Интерфейс (шина) SPI
- •Независимое подключение.
- •Каскадное подключение
- •Режим 0
- •Режимы 1 и 2
- •Режим 3.
- •Преимущества интерфейса SPI.
- •Недостатки интерфейса SPI.
- •Интерфейс (шина I2C - Inter-integrated circuit bus)
- •Подключение устройств на шину I2C.
- •Ведущее устройство, master, первым выставившее на линию данных «0» при неактивной линии синхронизации
- •Принцип формирования пакета.
- •Формат пакета-признака.
- •Протокол JTAG
- •JTAG. Схема подключения платы к ПК.
- •TAP требует 4-х внешних контактов:
- •Структура ТАР
- •Структура ячейки граничного сканирования для тестирования.
- •Структура ячейки граничного сканирования для программирования.
- •Каждая ячейка граничного сканирования располагается во внешней части кристалла между контактной площадкой и
Каждая ячейка граничного сканирования располагается во внешней части кристалла между контактной площадкой и внутренней частью.
Возможны следующие режимы работы:
-загрузка программ или чтение внутрисистемных ЗУ. В этом случае отключается контактная площадка, и вся информация поступает из BSC во внутреннюю часть кристалла или из кристалла в BSC;
-тестирование соединений БИС в плате или нескольких БИС между собой. Отключена внутренняя часть, остается соединение BSC с контактной площадкой;
-тестирование штатной работы. Все соединения сохраняются. Вся цепочка связей передается программе-обработчику.
Соседние файлы в папке лекции