
- •Технология интегральных микросхем
- •Введение
- •Лабораторная работа 1 термическое окисление кремния
- •1.1. Общие сведения
- •Параметры температурной зависимости констант скорости термического окисления кремния ориентации (111)
- •1.2. Схема установки
- •1.3. Порядок выполнения работы
- •2.2. Порядок выполнения работы
- •2.3. Отчет о работе
- •2.4. Контрольные вопросы
- •Параметры распределения ионов b, p, As, Sb в Si
- •Параметры концентрационной зависимости подвижности носителей заряда в кремнии
- •3.2. Схема установки ионной имплантации
- •3.3. Порядок выполнения работы
- •3.4. Отчет о работе
- •3.5. Контрольные вопросы
- •Параметры пленок диоксида кремния, полученных различными методами
- •4.2. Схема установки
- •4.3. Порядок выполнения работы
- •4.4. Отчет о работе
- •4.5. Контрольные вопросы
- •5.2. Порядок выполнения работы
- •5.3. Отчет о работе
- •5.4. Контрольные вопросы
- •Список рекомендуемой литературы
- •Содержание
- •197376, С.-Петербург, ул. Проф. Попова, 5
1.3. Порядок выполнения работы
1. Получить инструктаж по технике безопасности от руководителя работы.
2. Ознакомиться с установкой термического окисления, её описанием и техническими характеристиками.
3. Получить от руководителя работы задание на режимы термического окисления пластин кремния (температура, время, виды окислителя, расходы газов).
4. Проверить температуру в рабочей зоне установки с помощью термопары и температуру воды в водяной бане с помощью термометра.
5. Установить начальные расходы газов в соответствии с заданным режимом окисления с помощью соответствующих вентилей и ротаметров (по указанию руководителя).
6. Подготовить контрольные пластины кремния для окисления. Поместить пластины в пазы кварцевой лодочки.
7. Вдвинуть лодочку с пластинами в рабочую зону установки с помощью автоматического загрузчика или вручную.
8. Провести процесс термического окисления в соответствии с заданными режимами.
9. По окончании процесса выдвинуть лодочку с окисленными пластинами кремния из печи, установить заглушку на кварцевую трубу.
10. Переложить окисленные пластины из кварцевой лодочки в тару.
11. Измерить толщину оксида на нескольких окисленных пластинах. Оценить наблюдаемый разброс толщин.
12. Рассчитать толщину оксидного слоя для проведенного заданного режима термического окисления в соответствии с формулами (1.1) (1.5).
13. Сравнить результаты расчета с экспериментальными данными.
1.4. Отчет о работе
Отчет о работе должен содержать:
1. Краткие сведения о методах и о механизме термического окисления кремния.
2. Схему установки термического окисления; её описание и технические характеристики.
3. Краткое описание методики измерения толщины термического оксида.
4. Результаты измерений и расчеты толщин оксида для заданного режима термического окисления.
5. Выводы по работе.
1.5. Контрольные вопросы
1. Приведите виды окислителей и механизм термического окисления кремния.
2. Опишите кинетику термического окисления.
3. Укажите способы увеличения скорости термического окисления.
4. Укажите способы улучшения качества термического оксида.
5. Приведите основные параметры термического оксида и опишите методики их контроля.
Список рекомендуемой литературы
Королёв М. А., Крупкина Т. Ю., Ревелева М. А. Технология, конструкции и методы моделирования кремниевых интегральных схем. М.: Бином, 2009. С. 5890.
Технология СБИС / под ред. С. Зи. М.: Мир, 1986. Кн. 1. Гл. 4. С. 174226.
Окисление. Диффузия. Эпитаксия / под ред. Р. Бургера и Р. Донована. М.: Мир, 1969. С. 13185.
Лабораторная работа 2
ДИФФУЗИОННОЕ ЛЕГИРОВАНИЕ
Цель работы: изучение технологии получения легированных слоев кремния методом диффузии легирующих примесей из жидких и из твердых источников; исследование параметров полученных диффузионных слоев.
2.1. Общие сведения
В планарной технологии ИМС диффузия легирующих примесей применяется для создания локальных областей и легированных слоев n- и p-типа проводимости с заданным распределением примеси по глубине. Диффузионные слои используются при формирования активных и пассивных элементов ИМС для изоляции их друг от друга, подлегирования омических контактов, создания скрытых легированных слоев. Основными параметрами диффузионных слоев являются поверхностное (слоевое) сопротивление, глубина pn-перехода и поверхностная концентрация легирующей примеси.
К процессу диффузионного легирования и параметрам диффузионных слоев предъявляются следующие требования:
процесс диффузионного легирования должен обеспечивать воспроизводимое получение легированных слоев кремния с требуемыми параметрами (слоевое сопротивление, глубина, поверхностная концентрация);
диффузионные слои должны быть однородными по слоевому поверхностному) сопротивлению с разбросом, не превышающим 10 %;
диффузионные слои должны быть однородными по глубине с разбросом, не превышающим 10 %;
диффузионные слои должны иметь заданную поверхностную концентрацию с разбросом по пластине не более 20 %.
Поверхностное сопротивление диффузионных слоев Rs определяется четырёхзондовым методом:
Rs = /ln2·V23/I14,
где V23 падение напряжения между центральными зондами 2 и 3, I14 ток между крайними зондами 1 и 4. Глубина залегания pn-перехода xj определяется методом окрашивания косых, или шар-шлифов. Поверхностная концентрация легирующей примеси Cs определяется по расчетным зависимостям Cs от средней проводимости слоя s = 1/(Rsxj) при различных значениях
о
бъёмной
концентрации примеси Сb
кривым Ирвина (рис. 2.1). В случае диффузии
из бесконечного источника (стадия
загонки) берутся кривые для
erfс-распределения,
а в случае диффузии из ограниченного
источника (стадия разгонки)
кривые для гауссовского распределения.
О
Рис. 2.1. Зависимость поверхностной концентрации от проводимости диффузионных слоев: 1, 2 – p-тип; 3, 4 – n-тип; 1, 3 – erfc-распределение;
2, 4 – распределение Гаусса
бъёмная концентрация примеси Сb определяется по удельному сопротивлению (рис.2.2): Cb = 1/(e), где e заряд электрона, подвижность носителей заряда, зависящая от концентрации примеси и типа проводимости.
П
Рис. 2.2. Зависимость удельного сопротивления от объёмной концентрации примеси
роцесс диффузии легирующих примесей в кремний может проводиться из жидких, твердых или газообразных источников. В качестве основных легирующих примесей в кремнии используются элементы V (донорные примеси: P, As, Sb) и III (акцепторные примеси: B, Al) групп таблицы Менделеева. В промышленной технологии из-за высокой токсичности практически всех газообразных соединений этих элементов используют жидкие и твердые источники примесей легирующих примесей. Для обеспечения высокой производительности процесс диффузии проводится по методу открытой трубы (в потоке газа-носителя). В качестве жидких источников используются BBr3
(tкип = 90 С), PCl3 (tкип = 75 C). В качестве твердых источников используют пластины нитрида бора BN или пластины на основе компонента SiP2O7.
С
хема
установки для диффузионного легирования
из жидкого источника показана на
рис. 2.3. Установка представляет собой
проточный кварцевый реактор 1,
находящийся внутри термической печи
2. Пары диффузанта подаются в реактор
газом-носителем N2,
пропущенным через барботер 3,
заполненный жидким диффузантом BBr3
или PCl3
и помещенный внутрь термостабилизатора
4. В остальном схема аналогична установке
термического окисления (см. рис.1.1).
Рис. 2.3. Схема установки диффузионного легирования
из жидкого источника
В реакционную зону подаётся также сухой кислород. В горячей рабочей зоне установки при температурах диффузии 900...1000 С происходят следующие химические реакции:
окисление паров диффузанта:
4BBr3 + 3O2 2B2O3 + 3Br2;
окисление поверхности кремния:
Si + O2 SiO2;
образование боросиликатного стекла на поверхности кремния:
mSiO2 + nB2O3 mSiO2·nB2O3.
На границе раздела стекла с кремнием идет реакция восстановления примеси из оксида бора:
2B2O3 + Si 3SiO2 + 4B.
Из примесно-силикатного стекла легирующая примесь диффундирует в кремний. Слой стекла является не только источником примеси, но также предохраняет поверхность кремния от эррозии и служит геттером для загрязняющих быстродиффундирующих примесей.
В
случае проведения диффузии из твердых
источников их располагают между
рабочими кремниевыми пластинами на той
же кварцевой лодочке. Расстояние между
пластиной и источником должно быть не
более 2
(где D
коэффициент диффузии примеси в газовой
фазе,
время диффузии) и составляет, обычно,
3...5 мм. Диаметр планарного источника
должен быть не меньше диаметра рабочих
кремниевых пластин.
Планарный источник из нитрида бора требует предварительной активационной термообработки в сухом кислороде для образования на поверхности легируемых пластин оксидного слоя:
4BN + 7O2 2B2O3 + 4NO2.
Планарный фосфорный источник активации не требует, так как разлагается с выделением Р2O5. В присутствии сухого кислорода на поверхности легируемых пластин идут реакции окисления кремния:
Si + O2 SiO2
и образования примесно-силикатного стекла:
mP2O5 + nSiO2 mP2O5·nSiO2,
из которого и осуществляется диффузия примеси.
Диффузионное легирование в планарной технологии обычно проводят в две стадии. Первая стадия диффузионная загонка из примесно-силикат-ного стекла соответствует диффузии из неограниченного (постоянного) источника:
C(x,) = Cповerfc[x/(2 )], (2.1)
где Спов поверхностная концентрация легирующей примеси, которая на стадии загонки обычно поддерживается на уровне предельной растворимости Cs; x глубина; D коэффициент диффузии (D = D0exp(E/kT), D0 предэкспоненциальный множитель, E энергия активации, T – абсолютная температура, k –постоянная Больцмана (k = 8.62·10–5 эВ/K)); время диффузии. Параметры основных легирующих примесей в кремнии приведены в табл. 2.1.
Вторая стадия диффузионная разгонка проводится после удаления источника примеси – примесно-силикатного стекла, как правило, при более высоких температурах и длительностях. На этой стадии распределение примеси соответствует случаю диффузии из ограниченного источника
С(x,) = Q/ ·exp[x2/(4D)] (2.2)
где Q количество примеси в слое после первой стадии:
Q
=
. (2.3)
Таблица 2.1
Примесь |
Коэффициент диффузии |
Предельная растворимость при t = 1000...1200 С |
|
D0, см2/с |
E, эВ |
Сs, см–3 |
|
B |
25 |
3,51 |
(4,0...5,5)·1020 |
Al |
4,8 |
3,36 |
(1,8...2,1) ·1019 |
P |
10,5 |
3,69 |
(1,0...1,5) ·1021 |
As |
68,6 |
4,23 |
(1,5...2,0) ·1021 |
Sb |
12,9 |
3,98 |
(4,0...6,0) ·1019 |
Вторую стадию диффузии обычно совмещают с процессом термического окисления (см. лаб. раб. 1). Изменением режимов проведения первой и второй стадий диффузии можно получить заданные параметры диффузионных слоев.