Добавил:
Адепт твердотельной электроники, последователь учений Михайлова Н.И. Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Лабы / Лаба 3 / ФТТ Лаба 3 Отчет.docx
Скачиваний:
14
Добавлен:
21.06.2024
Размер:
3.48 Mб
Скачать

МИНОБРНАУКИ РОССИИ

Санкт-Петербургский государственный

электротехнический университет

«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)

Кафедра фотоники

отчет

по лабораторной работе №3

по дисциплине «Физика твердого тела»

Тема: Исследование температурной зависимости электропроводности полупроводников

Вариант №7

Студент гр. 0207 _________________ Маликов Б.И.

Преподаватель _________________ Пухова В.М.

Санкт-Петербург

2022

ЦЕЛЬ РАБОТЫ

Целью работы является изучение механизмов рассеяния носителей заряда в полупроводниках, определяющие температурную зависимость подвижности электронов. Расчет зависимости электропроводности полупроводников от температуры.

ОСНОВНЫЕ ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

Физическая система может находиться в двух состояниях – состоянии статического (термодинамического) равновесия и неравновесном состоянии. Явления, возникающие в системе при отклонении ее от равновесия, называются кинетическими явлениями или явлениями переноса. Явления переноса обусловлены направленным движением носителей заряда под действием внешних и внутренних полей. К ним относятся электропроводность, теплопроводность, термоэлектрические, гальваномагнитные, термомагнитные явления. Основным методом теоретического описания кинетических эффектов является метод кинетического уравнения Больцмана.

Зависимость проводимости от температуры определяется температурными зависимостями концентрации и подвижности. Для невырожденных и собственных полупроводников концентрация носителей зависит от температуры и других внешних воздействий. Если температура постоянна и никакие поля на полупроводник не воздействуют, то такое состояние, как было указано выше, называется термодинамически равновесным. Такие носители заряда получили название равновесных. Концентрации свободных равновесных носителей заряда в полупроводнике (электронов в зоне проводимости и дырок в валентной зоне) определяются эффективной плотностью энергетических состояний в разрешенных зонах и их фактическим заполнением.

На рисунке 1 приведена температурная зависимость концентрации носителей заряда для нескольких образцов с разной концентрацией примеси в полупроводнике n - типа. Поскольку в двух температурных областях зависимость носит экспоненциальный характер, эти кривые принято строить в спрямляющих координатах.

Рис. 1 - Температурная зависимость концентрации носителей заряда для нескольких образцов

Зависимость в общем виде имеет три участка:

• Область I – примесной проводимости (ионизации примеси);

• Область II – истощения примеси;

• Область III – собственной проводимости.

На первом участке при повышении температуры начинается ионизация донорных атомов и электроны с примесных уровней переходят в зону проводимости. Чем выше температура, тем больше концентрация свободных электронов в зоне проводимости. При определенной температуре все донорные атомы оказываются ионизированными.

На втором участке повышение температуры не приводит к росту концентрации свободных носителей, поскольку тепловая энергия kT > △Ed, но еще недостаточна для возбуждения значительной собственной проводимости – нарушения ковалентных связей полупроводника и перехода электронов из валентной зоны в зону проводимости. При температуре, называемой собственной, на третьем участке 3 концентрация электронов, приобретающих энергию, достаточную для перехода из валентной зоны в зону проводимости, превышает концентрацию имеющихся в ней электронов, обусловленных ионизацией донорной примеси. При температурах, больших собственной, в полупроводнике наблюдается собственная проводимость. Из рисунка 1 также видно, что чем выше концентрация примеси, тем выше концентрация электронов на первом и втором участках и тем больше значения температур, соответствующих началу истощения примеси и собственной проводимости. Уменьшение наклона прямой при возрастании концентрации примеси при низких температурах обусловлено тем, что при достаточно высокой концентрации примеси дискретный примесный уровень размывается в зону и расстояние от верхнего уровня этой зоны до Ec уменьшается. Это означает вырождение электронного газа в полупроводнике.

На рисунке 2 приведена температурная зависимость подвижности. При низких температурах доминирует примесное рассеяние, при высоких – тепловое:

Рис. 2 - Температурная зависимость подвижности

Перейдем к рассмотрению температурной зависимости электропроводности. Видно, что в любом случае зависимость подвижности от температуры носит степенной характер. Поэтому из сравнения температурных зависимостей концентрации и подвижности следует, что характер зависимости определяется подвижностью лишь в том случае, если концентрация носителей заряда не зависит от температуры (в области насыщенной примесной проводимости). В области же низких температур, где концентрация экспоненциально меняется с температурой, именно она определяет температурную зависимость электропроводности (рис.3):

Рис. 3 - Температурная зависимость электропроводности

В случае рассеяния носителей заряда на акустических колебаниях кристаллической решетки:

(1)

При рассеянии на ионах примеси подвижность записывается в виде:

(2)

При рассеянии носителей на нейтральных примесях, выражение для подвижности определяется формулой:

(3)

Данные для выполнения лабораторной работы

Табл. 1

Исходные данные

Материал

Примесь

Тип

Концентрация,

см-3

Температура, К

Кремний Si

Индий In

Акцептор

Na0 = 6∙1016

420

k = 1,38∙10-23 [Дж/К] = 8,617∙10-5 [эВ]

m = 9,1∙10-31 [кг]

mn = 0,33∙m [кг]

mp = 0,81∙m [кг]

h = 6,63∙10-34 [Дж∙с]

ε0 = 0,885∙10-11 [Ф/м]

q = 1,6∙10-19 [Кл]

ga = 4

Ea0 = 0,16 [эВ]

Eg(0) = 1,170 [эВ]

α = 4,73∙10-4 [эВ/К]

β = 636

Обработка результатов измерений

1. Решение уравнения электронейтральности. Построение графика температурной зависимости химического потенциала при различных значениях примеси:

1.1 Вывод уравнения температурной зависимости химического потенциала:

Зависимость ширины запрещенной зоны от температуры:

Зависимость предела валентной зоны полупроводника от температуры:

Зависимость «дна» зоны проводимости полупроводника от температуры:

Зависимость энергии активации от температуры:

Зависимость концентрации в зоне проводимости от температуры:

Зависимость концентрации в валентной зоне от температуры:

Зависимость концентрации дырок от температуры:

Зависимость концентрации электронов от температуры:

Зависимость концентрации ионизированных акцепторов:

Уравнение электронейтральности:

Зависимость химического потенциала от температуры:

Рис. 4 – График температурной зависимости химического потенциала

2. Расчет температурных зависимостей концентраций электронов, дырок, ионизированных и нейтральных примесей:

Зависимость концентрации электронов от температуры:

Зависимость концентрации дырок от температуры:

Зависимость концентрации ионизированных примесей:

Зависимость концентрации нейтральных примесей:

Рис. 5 – Концентрация ионизированных и нейтральных примесей при Na = 1016-3]

Рис. 5 – Концентрация ионизированных и нейтральных примесей при Na = 1019 -3]

Рис. 5 – Концентрация при Na = 1022-3]

Рис. 6 – График концентрации дырок от температуры при различных Na

Рис. 7 – График концентрации электронов от температуры при различных Na

3. Расчет и построение температурной зависимости подвижности электронов и дырок, отвечающих различным механизмам рассеяния по формулам. Расчет температурной зависимость результирующей подвижности:

3.1 Для электронов:

Формула эмпиричиской зависимости:

С учетом рассеяния на ионах:

С учетом рассеяния на нейтральных примесях:

Результирующая зависимость:

Рис. 8 - Графики температурной зависимости подвижности электронов, отвечающих различным механизмам рассеяния

Рис. 9- Графики температурной зависимости результирующей подвижности электронов

3.2 Для дырок:

Формула эмпиричиской зависимости:

С учетом рассеяния на ионах:

С учетом рассеяния на нейтральных примесях:

Результирующая зависимость:

Рис. 10 - Графики температурной зависимости подвижности дырок, отвечающих различным механизмам рассеяния

Рис. 11 - Графики температурной зависимости результирующей подвижности электронов

4. Расчет температурной зависимости проводимости заданного полупроводника:

Рис. 12 - Графики температурной зависимости проводимости при различных Na

ВЫВОД

Анализируя график температурной зависимости химического потенциала (рис. 4), делаем вывод, что с повышением температуры значение химического потенциала возрастает. С повышением температуры примесь истощается, при этом, стоит заметить, что при повышении концентрации примеси зона полного истощения смещается в высокотемпературную зону. Таким образом, при повышении температуры, то есть, при истощении примеси полупроводник становится собственным.

Также, анализируя температурные зависимости концентраций электронов, дырок, ионизированных и нейтральных примесей (рис. 5 – рис. 7), делаем вывод, что концентрация электронов, дырок, ионизированных и нейтральных примесей зависит от температуры – с увеличением температуры увеличивается. Также, температурная зависимость в высокой степени зависит от концентрации примеси.

Анализируя графики температурной зависимости подвижности электронов и дырок, отвечающих различным механизмам рассеяния (рис. 8 – рис. 11), делаем вывод, что подвижность носителей заряда в полупроводнике становится значительно меньшей при высокой концентрации примесей. В этом случае при сравнительно низких температурах преобладает рассеяние носителей заряда на примесях, находящихся в ионизированном и нейтральном состоянии. При высоких температурах преобладает рассеяние на тепловых колебаниях атомов, подвижность снижается.

Также, анализируя график температурной зависимости проводимости при различных Na (рис. 12), делаем вывод, что для примесного полупроводника характерны три области: область собственной проводимости, область истощения примеси и область примесной проводимости. При повышении концентрации примеси, тем выше проходит граница области истощения примеси, при этом, температура перехода от примесной проводимости к собственной смещается в сторону более высоких температур.

Примесная проводимость в области низких температур (область примесной проводимости) возрастает с увеличением температуры за счет увеличения концентрации носителей заряда (электронов и дырок).

В области истощения примеси электропроводность примесного полупроводника слабо зависит от температуры, так как примесные уровни энергии полностью истощены, а для перехода валентных электронов из валентной зоны в зону проводимости недостаточно энергии тепловых колебаний узлов решетки.

В области высоких температур (собственной проводимости) электроны интенсивно переходят из валентной зоны в зону проводимости, скорость генерации пар электрон – дырка возрастает.

Соседние файлы в папке Лаба 3