
МИНОБРНАУКИ РОССИИ
Санкт-Петербургский государственный
электротехнический университет
«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)
Кафедра теоретических основ электротехники
отчет
по лабораторной работе №3
по дисциплине «Теоретические основы электротехники»
Тема: Исследование свободных процессов в электрических цепях
Студент гр. 0207 |
|
Маликов Б.И. |
Преподаватель |
|
Яшкардин Р.В. |
Санкт-Петербург
2022
ЦЕЛЬ РАБОТЫ
Целью данной лабораторной работы является изучение связи между видом свободного процесса в электрической цепи и расположением ее собственных частот (корней характеристического уравнения) на комплексной плоскости, так же целью данной работы является экспериментальное определение собственных частот и добротности RLC-контура по осциллограммам.
ОСНОВНЫЕ ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
Рис. 1 – Схемы цепей, представленные в данной работе
Задачей выполнения данной лабораторной работы является изучения свободных процессов в цепях, схемы которых изображены на рис. 1. Как можно заметить, в каждой из цепей содержится источник импульсов тока i0(t), заряжающих конденсатор C. Стоит уточнить, что разрядка конденсатора происходит в паузах между импульсами, и тогда цепь находится в свободном режиме, так как в момент пауз i0 = 0 (т.е отсутствуют какие-либо импульсы). Так же, для изучения свободных процессов в данных цепях используется осциллограф, при этом, исследуется осциллограмма напряжения на выводах элементов.
Система линейных дифференциальных уравнений служит для описания поведения линейных цепей. Стоит заметить, что вид свободного процесса в цепи напрямую зависит от собственных частот цепи – pk (корней характеристического уравнения).
Собственные частоты цепи рассчитываются путем приравнивания входной проводимости к нулю, то есть находятся путем решения уравнения: Y(p) = 0.
Приведем примеры:
Порядок в цепи зависит от количества L и C элементов.
1) Так, схема рис. 1, а, относится к цепи первого порядка. Тогда, входная проводимость:
Y(p)
= pC
+
Приравняем к нулю и получим p1:
pC
+
= 0
=> p1
= - a
= -
2) Схема рис. 1, б, относится к цепи второго порядка. Тогда, данная цепь будет обладать двумя собственными частотами (p1 и p2). Найдем данные значения.
Входная
проводимость:
Y(p)
= pC
+
Приравнивая к нулю, получим: pC + = 0 =>
=>
p1,2
=
-
±
,
где
a
=
,
=
3) Схема рис. 1, в, соответствует цепи третьего порядка. Найдем входную проводимость, приравняем к нулю и найдем собственные частоты цепи (p1, p2 и p3).
Входная
проводимость: Y(p)
= pC
+
+
Приравняем к нулю: pC + + = 0 => p1 = - a = - ,
p2,3
=
-
±
, где
a
=
Для цепи первого порядка (рис. 1, а) свободный процесс описывается так:
То есть, как можно заметить, свободный процесс описывается затухающей экспонентой. При этом, описание свободного процесса в цепи 1-го порядка может быть получено и без составления системы диф. уравнений цепи. Для этого достаточно найти τ – постоянную времени.
Так же, в данном уравнении: u – напряжение на каком-либо элементе цепи, t – время; α – постоянная затухания и A – постоянная интегрирования.
Перейдем к рассмотрению цепи второго порядка. В данном случае, имеются два значения собственных частот: p1 и p2. Собственные частоты могут быть как вещественными, так и комплексно-сопряженными. Если рассматривается случай простых вещественных частот, то:
p1 = -a1 и p2 = -a2
Тогда, в этом случае, свободный процесс описывается следующим образом:
При этом, такой свободный процесс называется апериодическим, так как в описании процесса отсутствуют sin или cos.
Изобразим временную диаграмму для свободного процесса в цепи первого порядка (рис. 2, а) и для свободного процесса второго порядка (рис. 2, б):
Рис.2 – Временные диаграммы свободных процессов
Так же, рассмотрим случай комплексно-сопряженных собственных частот:
p1,2 = -a ± j
Тогда, свободный процесс:
В данном случае, свободный процесс является колебательным, так как в его описании содержится cos.
Если же рассматривать вещественные кратные собственные частоты, получим:
p1 = p2 = -a
Свободный процесс в этом случае:
Изобразим временную диаграмму для данных процессов:
Рис. 3 – Временные диаграммы свободных процессов в случае a -комплексно-сопряженных собственных частот и б - вещественных кратных собственных частот
Стоит заметить, что постоянную затухания можно найти следующим образом (рис. 2, а):
a
=
Так
же, можно найти
=
,
проведя
касательную, как изображено на рис. 2,
а.
При этом, собственная частота цепи:
p
= -a
= -
В случае рис. 3, в, собственные частоты:
p1,2
= -a
± j
= -a
± j
В случае рис. 3, г, собственные частоты цепи:
p1
= p2
= -a
= -
Определимся с добротностью последовательного RLC - контура:
Q =
=
=
0
=
При этом, 0 = - частота незатухающих колебаний в идеальном контуре.
Также, собственные частоты последовательного RLC - контура можно записать следующим образом:
p1,2
= -
Стоит заметить, что при Q < 0,5 - апериодический режим, Q = 0,5 – критический режим, Q > 0,5 – колебательный режим, а Q → ∞ – незатухающий колебательный режим.
При Q > 10 с высокой степенью точности можно считать:
p1,2
= -
Тогда, формула добротности:
Q =
=
=
Учитывая отношение напряжений за n периодов колебаний:
Q =
=
=
Обработка результатов измерений
1. Исследование свободных процессов в цепи первого порядка.
Рис. 1 – Схема цепи первого порядка
C = 0,02 [мкФ], R = 5 [кОм], Tc = 1,2 [мс], источником тока i0(t является генератор импульсов:
Рис. 2 – Выставленные параметры осциллографа.
Рис. 3 – Осциллограмма при исследовании свободных процессов в цепи первого порядка.
Вычислим собственную частоту цепи теоретически:
p
=
=
=
=
-10000
Определим собственную частоту цепи по осциллограмме:
Рис. 4 – Определение собственой частоты при исследовании свободных процессов в цепи первого порядка.
p
=
-α
=
-
= -
= -10181
Таким образом, теоретически рассчитанная собственная частота цепи приблизительно равна собственной частоте цепи, найденной по осциллограмме.
Определим свободный процесс
UC(t) = Ae-10000t
Отобразим диаграмму расположения собственных частот на комплексной плоскости:
Рис. 5 - Диаграмма расположения собственных частот при исследовании свободных процессов в цепи первого порядка на комплексной плоскости.
Ответы на вопросы
1. Каким аналитическим выражением описывается осциллографируемый процесс?
Ответ:
Осциллографируемый процесс описывается выражением UC(t) = Ae-10000t
2. Соответствует ли найденная собственная частота теоретическому расчету, выполненному согласно (3.1)?
Ответ:
Найденная собственная частота приблизительно равна частоте, найденной теоретически, а именно, теоретически получили: p = -10000, практически: p = -10181.
2. Исследование свободных процессов в цепи второго порядка
Рис. 6 – Схема цепи второго порядка.
С = 0,02 [мкФ], L = 25 [мГн], R1 изменяется в зависимости от эксперимента.
2.1. Снятие осциллограммы процесса при R1 = 0,5 [кОм] (колебательный режим):
Рис. 7 – Осциллограмма при исследование свободных процессов в цепи второго порядка (R1 = 0,5 [кОм]).
Вычислим собственные частоты цепи теоретически:
p1,2
=
±
=
±
=
-10000 ± j∙43589
Вычислим собственные частоты цепи по осциллограмме:
Рис. 8 - Определение собственой частоты при исследовании свободных процессов в цепи второго порядка (R1 = 0,5 [кОм]).
α = , где △t = T, тогда, получим:
α
=
=
= 11857
p1,2 = -a ± j = -a ± j = -11857 ± j∙39250
Таким образом, теоретически рассчитанные собственные частоты цепи приблизительно равны собственным частотам цепи, найденным по осциллограмме.
Определим свободный процесс:
UR(t) = A1e-10000tcos(43589t) + A2 e-10000tsin(43589t)
Отобразим диаграмму расположения собственных частот на комплексной плоскости:
Рис. 9 - Диаграмма расположения собственных частот при исследовании свободных процессов в цепи второго порядка на комплексной плоскости
(R1 = 0,5 [кОм]).
Вычислим добротность контура теоретически:
Q
=
=
=
2,24
Вычислим добротность контура по осциллограмме:
Q
=
=
=
=
= 1,66, добротность
соответствует колебательному режиму
(Q
> 0,5).
2.2. Снятие осциллограммы процесса при R1 = 3 [кОм] (апериодический режим):
Рис. 10 – Осциллограмма при исследование свободных процессов в цепи второго порядка (R1 = 3 [кОм]).
Вычислим собственные частоты цепи теоретически:
p1,2
=
±
=
±
= - 60000 ± 40000
Вычислим собственные частоты цепи по осциллограмме:
Рис. 11 - Определение собственой частоты при исследовании свободных процессов в цепи второго порядка (R1 = 3 [кОм]).
p1
= -
= -
= -16667
p2
= -
= -
= -50000
Определим свободный процесс:
UR(t) = A1e-20000t + A2e-100000t
Отобразим диаграмму расположения собственных частот на комплексной плоскости:
Рис. 12 - Диаграмма расположения собственных частот при исследовании свободных процессов в цепи второго порядка на комплексной плоскости
(R1 = 3 [кОм]).
2.3. Снятие осциллограммы процесса при R1 = RКР = 1,6 [кОм] (критический режим):
Рис. 13 – Осциллограмма при исследование свободных процессов в цепи второго порядка (R1 = RКР = 1,6 [кОм]).
Вычислим собственные частоты цепи теоретически:
p1
= p2
= - α
=
=
= -3,2∙104
Вычислим собственные частоты цепи по осциллограмме:
Рис. 14 - Определение собственой частоты при исследовании свободных процессов в цепи второго порядка (R1 = RКР = 1,6 [кОм]).
p1
=
p2
= - α =
=
= -3,3∙104
Таким образом, теоретически рассчитанные собственные частоты цепи приблизительно равны собственным частотам цепи, найденным по осциллограмме.
Определим свободный процесс:
UR(t) = A1e-32000t + A2te-32000t
Отобразим диаграмму расположения собственных частот на комплексной плоскости:
Рис. 15 - Диаграмма расположения собственных частот при исследовании свободных процессов в цепи второго порядка на комплексной плоскости
(R1 = RКР = 1,6 [кОм]).
2.3. Снятие осциллограммы процесса при R1 = 0 (незатухающий режим):
Рис. 16 – Осциллограмма при исследование свободных процессов в цепи второго порядка (R1 = 0).
Вычислим собственные частоты цепи теоретически:
p1,2
= ± jω
= ± j
= ±
= ± j44721
Вычислим собственные частоты цепи по осциллограмме:
Рис. 17 - Определение собственой частоты при исследовании свободных процессов в цепи второго порядка (R1 = 0).
p1,2
= ± jω
= ± j
=
= ±j41888
Таким образом, теоретически рассчитанные собственные частоты цепи приблизительно равны собственным частотам цепи, найденным по осциллограмме.
Определим свободный процесс:
UR(t) = A1cos(44721t)
Отобразим диаграмму расположения собственных частот на комплексной плоскости:
Рис. 18 - Диаграмма расположения собственных частот при исследовании свободных процессов в цепи второго порядка на комплексной плоскости
(R1 = 0).
Вычислим добротность контура:
Рис. 19 - Определение добротности при исследовании свободных процессов в цепи второго порядка (R1 = 0).
Q
=
=
= 6,84