Добавил:
Адепт твердотельной электроники, последователь учений Михайлова Н.И. Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Лабы 3 Семестр / 0207 Маликов Отчет Лабораторная работа №14

.docx
Скачиваний:
3
Добавлен:
21.06.2024
Размер:
114.26 Кб
Скачать

МИНОБРНАУКИ РОССИИ

Санкт-Петербургский государственный

электротехнический университет

«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)

Кафедра физики

ОТЧЕТ

по лабораторной работе №14

ИССЛЕДОВАНИЕ ВНУТРЕННЕГО ФОТОЭФФЕКТА

Выполнил: Маликов Б.И.

Группа № 0207

Преподаватель: Мазуренко В.С.

Вопросы

Задачи ИДЗ

Даты коллоквиума

Итог

Санкт-Петербург

2021

ЦЕЛЬ РАБОТЫ

Изучение зависимости фототока в сернистом свинце от напряжения и освещенности.

ПРИБОРЫ И ПРИНАДЛЕЖНОСТИ

ФС – фотосопротивление (типа ФС – Al); PU – вольтметр; РА – микроамперметр; R – реостат; SЭ эталонная лампа накаливания. Фотосопротивление и лампа установлены на оптической скамье.

Объектом исследования является фотосопротивление (рис. 14.3) – тонкий слой 1 полупроводникового материала, нанесенный на изолирующую пластинку 2. На краях слоя расположены электроды 3. Вся конструкция монтируется в пластмассовый корпус 4.

ОСНОВНЫЕ ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ПОЛОЖЕНИЯ

Явление уменьшения электрического сопротивления вещества под действием излучения было открыто в 1873 г. Его причиной является перераспределение электронов по энергетическим состояниям в полупроводниках и диэлектриках, происходящее под действием света, которое впоследствии было названо внутренним фотоэффектом.

Для полупроводников удельная электропроводность определяется соотношением:

Величина фотопроводимости собственных полупроводников определяется выражением:

В результате количество вышедших фотоэлектронов dNe оказывается пропорциональной количеству фотонов dNф, падающих на поверхность металла в течение времени dt:

Освещенность E, определяемая как количество энергии, падающей на единицу площади поверхности S, при облучении монохроматическим светом, пропорциональна потоку dNФ/dt фотонов:

Отсюда интенсивность фотогенерации:

Характеристиками фотосопротивления являются интегральная чувствительность, зависимость чувствительности от длины волны падающего излучения (спектральная характеристика) и от освещенности (световая характеристика), рабочее напряжение, темновое сопротивление.

Величина фототока зависит не только от лучистого потока, но и от приложенного напряжения U, поэтому при задании чувствительности необходимо пользоваться понятием удельной чувствительности:

Зависимость фототока от освещенности может быть представлена как:

Логарифмируя полученное выражение придем к линейной зависимости:

ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ

1. Построим графики зависимости темнового тока IT и фототока IФ от напряжения U на фотосопротивлении для двух значений освещенности E1 и E2 для расстояний r1 = 20см и r2 = 10см (графики расположим на одном чертеже):

2. Построим графики зависимости фототока IФ от освещенности E для двух значений напряжения U (10 и 15 В):

2.1 Вычислим значение освещенности E для каждого из значений r:

По формуле: E = , где J = 25 [лм].

Таким образом:

E1 = = 2500 [лк]

E2 = = 1111 [лк]

E3 = = 625 [лк]

E4 = = 400 [лк]

E5 = = 278 [лк]

E6 = = 204 [лк]

E7 = = 156 [лк]

Табл. 1

E1, лк

E2, лк

E3­, лк

E4, лк

E5, лк

E6, лк

E7, лк

2500

1111

625

400

278

204

156

2.2 Построим график зависимости I(E):

3. Вычислим удельную чувствительность фотосопротивления U = IФ/SEU при рабочем напряжении U =15В для двух расстояний от фоторезистра до источника r = rmin и r r = rmax. Площадь сечения полупроводникового слоя S = 96мм2:

По формуле: ГU = .

Таким образом:

ГUmin = = 15 [

ГUmax = = 53,4 [

4. Cоздадим выборку параметра γ и найти по этой выборке объема N = 3, 4 или 5 значение γ = с P = 95%. Очевидные промахи из таблицы исключим:

По формуле: γ = -

4.1 Для U = 10 В:

γ1 = - = 0,542

γ2 = - = 0,581

γ3 = - = 0,624

γ4 = - = 0,595

γ5 = - = 0,705

γ6 = - = 0,836

4.2 Для U = 15 В:

γ1 = - = 0,542

γ2 = - = 0,588

γ3 = - = 0,611

γ4 = - = 0,645

γ5 = - = 0,605

γ6 = - = 0,577

4.3 Для U = 10 В:

4.3.1 Упорядочим выборку в порядке возрастания, промахи не учитываются:

γ = {0,542; 0,581; 0,595; 0,624}

4.3.2 Рассчитаем среднее выборочное значение:

= 0,586

4.3.3 Рассчитаем СКО среднего:

S γ - = = 0,017

4.3.4 Определим случайную погрешность по коэффициенту Стьюдента при N=4 и P=95%: tp,N=3,2 – по таблице;

= tp,N∙ SF => = 0,0544

4.3.5 Вычислим Ѳ𝛾:

Ѳ𝛾 = 0,593∙( ∙|ln | + |ln |) = 0,022

4.3.6 Рассчитаем полную погрешность результатов измерений, при Ѳ𝛾=0,022:

= => =0,06

4.3.7 Запишем результат измерений в округлённой форме:

γ = 0,59 ± 0,06

4.4 Для U = 15 В:

4.4.1 Упорядочим выборку в порядке возрастания, промахи не учитываются:

γ = {0,542; 0,577; 0,588; 0,605; 0,611}

4.4.2 Рассчитаем среднее выборочное значение:

= 0,585

4.4.3 Рассчитаем СКО среднего:

S γ - = = 0,081

4.4.4 Определим случайную погрешность по коэффициенту Стьюдента при N=5 и P=95%: tp,N=2,8 – по таблице;

= tp,N∙ SF => = 0,227

4.4.5 Рассчитаем полную погрешность результатов измерений, при Ѳ𝛾=0,022:

= => =0,228

4.4.6 Запишем результат измерений в округлённой форме:

γ = 0,6 ± 0,2

5. По полученным значениям построим таблицу:

Для U = 10 В:

r0 = rmax = 40 см

IФ0 = IФmin = 8 мкА

𝛾

Ѳ𝛾

r, см

r/r0

ln r/r0

IФ, мкА

IФ/IФ0

ln IФ/IФ0

1

10

0,25

1,386

36

4,5

1,504

0,542

0,022

2

15

0,375

0,981

25

3,125

1,139

0,581

3

20

0,5

0,693

19

2,375

0,865

0,624

4

25

0,625

0,470

14

1,75

0,559

0,595

5

30

0,75

0,288

12

1,5

0,405

0,705

6

35

0,875

0,134

10

1,25

0,223

0,836

7

40

1

0

8

1

0

-

Для U = 10 В:

r0 = rmax = 40 см

IФ0 = IФmin = 12 мкА

𝛾

Ѳ𝛾

r, см

r/r0

ln r/r0

IФ, мкА

IФ/IФ0

ln IФ/IФ0

1

10

0,25

1,386

54

4,5

1,504

0,542

0,022

2

15

0,375

0,981

38

3,167

1,153

0,588

3

20

0,5

0,693

28

2,333

0,847

0,611

4

25

0,625

0,470

22

1,833

0,606

0,645

5

30

0,75

0,288

17

1,417

0,349

0,605

6

35

0,875

0,134

14

1,167

0,154

0,577

7

40

1

0

12

1

0

-

ВЫВОД

В ходе данной лабораторной работы были получены данные, на основании которых удалось построить графики зависимости темнового тока IT и фототока IФ от напряжения U на фотосопротивлении для двух значений освещенности и графики зависимости фототока IФ от освещенности E для двух значений напряжения.

При этом, были вычислены значения удельной чувствительности фотосопротивления: (ГUmin = 15 [ , ГUmax = 53,4 [ ).

Также, анализируя полученные значения 𝛾: для U = 10 В - γ = 0,59 ± 0,06; для U = 15 В - γ = 0,6 ± 0,2, делаем вывод, что значения приблизительно равны, что говорит о верности проведения данной лабораторной работы.