
Лабы 3 Семестр / 0207 Маликов Отчет Лабораторная работа №14
.docxМИНОБРНАУКИ РОССИИ
Санкт-Петербургский государственный
электротехнический университет
«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)
Кафедра физики
ОТЧЕТ
по лабораторной работе №14
ИССЛЕДОВАНИЕ ВНУТРЕННЕГО ФОТОЭФФЕКТА
Выполнил: Маликов Б.И.
Группа № 0207
Преподаватель: Мазуренко В.С.
Вопросы |
Задачи ИДЗ |
Даты коллоквиума |
Итог |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
||||||||||
|
||||||||||
|
||||||||||
|
Санкт-Петербург
2021
ЦЕЛЬ РАБОТЫ
Изучение зависимости фототока в сернистом свинце от напряжения и освещенности.
ПРИБОРЫ И ПРИНАДЛЕЖНОСТИ
ФС – фотосопротивление (типа ФС – Al); PU – вольтметр; РА – микроамперметр; R – реостат; SЭ эталонная лампа накаливания. Фотосопротивление и лампа установлены на оптической скамье.
Объектом исследования является фотосопротивление (рис. 14.3) – тонкий слой 1 полупроводникового материала, нанесенный на изолирующую пластинку 2. На краях слоя расположены электроды 3. Вся конструкция монтируется в пластмассовый корпус 4.
ОСНОВНЫЕ ТЕОРЕТИЧЕСКИЕ ПОЛОЖЕНИЯ
Явление уменьшения электрического сопротивления вещества под действием излучения было открыто в 1873 г. Его причиной является перераспределение электронов по энергетическим состояниям в полупроводниках и диэлектриках, происходящее под действием света, которое впоследствии было названо внутренним фотоэффектом.
Для полупроводников удельная электропроводность определяется соотношением:
Величина фотопроводимости собственных полупроводников определяется выражением:
В результате количество вышедших фотоэлектронов dNe оказывается пропорциональной количеству фотонов dNф, падающих на поверхность металла в течение времени dt:
Освещенность E, определяемая как количество энергии, падающей на единицу площади поверхности S, при облучении монохроматическим светом, пропорциональна потоку dNФ/dt фотонов:
Отсюда интенсивность фотогенерации:
Характеристиками фотосопротивления являются интегральная чувствительность, зависимость чувствительности от длины волны падающего излучения (спектральная характеристика) и от освещенности (световая характеристика), рабочее напряжение, темновое сопротивление.
Величина фототока зависит не только от лучистого потока, но и от приложенного напряжения U, поэтому при задании чувствительности необходимо пользоваться понятием удельной чувствительности:
Зависимость фототока от освещенности может быть представлена как:
Логарифмируя полученное выражение придем к линейной зависимости:
ОБРАБОТКА РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ
1. Построим графики зависимости темнового тока IT и фототока IФ от напряжения U на фотосопротивлении для двух значений освещенности E1 и E2 для расстояний r1 = 20см и r2 = 10см (графики расположим на одном чертеже):
2. Построим графики зависимости фототока IФ от освещенности E для двух значений напряжения U (10 и 15 В):
2.1 Вычислим значение освещенности E для каждого из значений r:
По
формуле: E
=
, где
J
= 25 [лм].
Таким образом:
E1
=
=
2500 [лк]
E2
=
=
1111 [лк]
E3
=
=
625 [лк]
E4
=
=
400 [лк]
E5
=
=
278 [лк]
E6
=
=
204 [лк]
E7
=
=
156 [лк]
Табл. 1
E1, лк |
E2, лк |
E3, лк |
E4, лк |
E5, лк |
E6, лк |
E7, лк |
2500 |
1111 |
625 |
400 |
278 |
204 |
156 |
2.2 Построим график зависимости I(E):
3. Вычислим удельную чувствительность фотосопротивления U = IФ/SEU при рабочем напряжении U =15В для двух расстояний от фоторезистра до источника r = rmin и r r = rmax. Площадь сечения полупроводникового слоя S = 96мм2:
По
формуле: ГU
=
.
Таким образом:
ГUmin
=
= 15 [
ГUmax
=
= 53,4 [
4.
Cоздадим
выборку параметра γ и найти по этой
выборке объема N = 3, 4 или 5 значение γ =
с P = 95%. Очевидные промахи из таблицы
исключим:
По
формуле: γ = -
4.1 Для U = 10 В:
γ1
= -
=
0,542
γ2
= -
=
0,581
γ3
= -
=
0,624
γ4
= -
=
0,595
γ5
= -
=
0,705
γ6
= -
=
0,836
4.2 Для U = 15 В:
γ1
= -
=
0,542
γ2
= -
=
0,588
γ3
= -
=
0,611
γ4
= -
=
0,645
γ5
= -
=
0,605
γ6
= -
=
0,577
4.3 Для U = 10 В:
4.3.1 Упорядочим выборку в порядке возрастания, промахи не учитываются:
γ = {0,542; 0,581; 0,595; 0,624}
4.3.2 Рассчитаем среднее выборочное значение:
= 0,586
4.3.3 Рассчитаем СКО среднего:
S
γ -
=
= 0,017
4.3.4 Определим случайную погрешность по коэффициенту Стьюдента при N=4 и P=95%: tp,N=3,2 – по таблице;
=
tp,N∙
SF
=>
=
0,0544
4.3.5 Вычислим Ѳ𝛾:
Ѳ𝛾
= 0,593∙(
∙|ln
|
+
|ln
|)
= 0,022
4.3.6 Рассчитаем полную погрешность результатов измерений, при Ѳ𝛾=0,022:
=
=>
=0,06
4.3.7 Запишем результат измерений в округлённой форме:
γ = 0,59 ± 0,06
4.4 Для U = 15 В:
4.4.1 Упорядочим выборку в порядке возрастания, промахи не учитываются:
γ = {0,542; 0,577; 0,588; 0,605; 0,611}
4.4.2 Рассчитаем среднее выборочное значение:
= 0,585
4.4.3 Рассчитаем СКО среднего:
S
γ -
=
= 0,081
4.4.4 Определим случайную погрешность по коэффициенту Стьюдента при N=5 и P=95%: tp,N=2,8 – по таблице;
= tp,N∙ SF => = 0,227
4.4.5 Рассчитаем полную погрешность результатов измерений, при Ѳ𝛾=0,022:
= => =0,228
4.4.6 Запишем результат измерений в округлённой форме:
γ = 0,6 ± 0,2
5. По полученным значениям построим таблицу:
Для U = 10 В:
№ |
r0 = rmax = 40 см |
IФ0 = IФmin = 8 мкА |
𝛾 |
Ѳ𝛾 |
|||||||
r, см |
r/r0 |
ln r/r0 |
IФ, мкА |
IФ/IФ0 |
ln IФ/IФ0 |
|
|
||||
1 |
10 |
0,25 |
1,386 |
36 |
4,5 |
1,504 |
0,542 |
0,022 |
|||
2 |
15 |
0,375 |
0,981 |
25 |
3,125 |
1,139 |
0,581 |
||||
3 |
20 |
0,5 |
0,693 |
19 |
2,375 |
0,865 |
0,624 |
||||
4 |
25 |
0,625 |
0,470 |
14 |
1,75 |
0,559 |
0,595 |
||||
5 |
30 |
0,75 |
0,288 |
12 |
1,5 |
0,405 |
0,705 |
||||
6 |
35 |
0,875 |
0,134 |
10 |
1,25 |
0,223 |
0,836 |
||||
7 |
40 |
1 |
0 |
8 |
1 |
0 |
- |
Для U = 10 В:
№ |
r0 = rmax = 40 см |
IФ0 = IФmin = 12 мкА |
𝛾 |
Ѳ𝛾 |
||||||
r, см |
r/r0 |
ln r/r0 |
IФ, мкА |
IФ/IФ0 |
ln IФ/IФ0 |
|
|
|||
1 |
10 |
0,25 |
1,386 |
54 |
4,5 |
1,504 |
0,542 |
0,022 |
||
2 |
15 |
0,375 |
0,981 |
38 |
3,167 |
1,153 |
0,588 |
|||
3 |
20 |
0,5 |
0,693 |
28 |
2,333 |
0,847 |
0,611 |
|||
4 |
25 |
0,625 |
0,470 |
22 |
1,833 |
0,606 |
0,645 |
|||
5 |
30 |
0,75 |
0,288 |
17 |
1,417 |
0,349 |
0,605 |
|||
6 |
35 |
0,875 |
0,134 |
14 |
1,167 |
0,154 |
0,577 |
|||
7 |
40 |
1 |
0 |
12 |
1 |
0 |
- |
ВЫВОД
В ходе данной лабораторной работы были получены данные, на основании которых удалось построить графики зависимости темнового тока IT и фототока IФ от напряжения U на фотосопротивлении для двух значений освещенности и графики зависимости фототока IФ от освещенности E для двух значений напряжения.
При этом, были вычислены значения удельной чувствительности фотосопротивления: (ГUmin = 15 [ , ГUmax = 53,4 [ ).
Также, анализируя полученные значения 𝛾: для U = 10 В - γ = 0,59 ± 0,06; для U = 15 В - γ = 0,6 ± 0,2, делаем вывод, что значения приблизительно равны, что говорит о верности проведения данной лабораторной работы.