Контроль и диагностика / Lab2

Вопросы к лаб. работе 2. Билет №23

1. Тестовый контроль ОЗУ.

2. Функциональный УВВ (последовательный канал).

1. Тестирование ОЗУ. В отличие от ПЗУ содержимое ОЗУ не фиксировано. Имеются два основных типа ОЗУ:

   • статическое:

каждый бит записан в «запоми­нающий элемент», который сохраняет свое состояние до записи в него противоположного логического состоя­ния;

• динамическое:

обычно в динамическом ОЗУ бит хранится в виде заряда на емкости затвор — исток МОП-транзистора. Этот заряд исчезнет, если его периодически не восстанав­ливать в цикле регенерации. Для реге­нерации динамических ОЗУ в системе предусматрива­ются дополнительные цифровые схемы. Чтобы устранить этот недостаток, были разработаны микросхемы ОЗУ со встроенными схемами регенерации.

Для контроля ОЗУ существует несколько алгоритмов:

• шахматная доска – общая проверка ОЗУ:

Для проверки микросхем ОЗУ необходимо записать данные в каждую ячейку, а затем считать их. Если счи­танный из ячейки двоичный код совпадает с записанным, полагается, что ячейка исправна. Записываемые и счи­тываемые из ОЗУ коды называются ШАХМАТНОЙ ДОСКОЙ, так как в них логические состояния череду­ются, как черные и белые клетки на шахматной доске. Обычно для проверки применяются наборы 01010101 (55₁₆) и 10101010 (АА₁₆).

Во многих случаях вместо тест-наборов 55 и АА при­меняются более простые тест-наборы 00 и FF. Хотя шах­матные наборы и служат простым средством первона­чальной проверки микросхемы ОЗУ, они не являются исчерпывающим тестом.

• бегущая единица, ноль:

когда проверяется система с подозрением на отказ ОЗУ, то запускается более жесткий тест, который заключается в записи и последующем считывании кодов «шагающих единиц»:

0000 0000

0000 0001

0000 0010

0000 0100

0000 1000

0001 0000

0010 0000

0100 0000

1000 0000

Такой тест позволяет обнаруживать любую чувствительность соседних линий данных к перекрестным наведенным помехам, которые проявляются в 2-х соседних разрядах данных при считывании из проверяемой ячейки со­стояния 1.

В микросхеме ОЗУ линии, несущие информацию о данных и адресе, расположены очень близко друг к дру­гу, а внутренняя топология может вызвать эффект «чувствительности к наборам». Этот эффект, в котором конкретный двоичный код вызывает наводку на другие линии адреса и данных, часто не обнаруживается шах­матными кодами.

• тест адресных шин – проверка перекрестных помех по адресным линиям:

  • обнуляется вся память (во все ячейки ОЗУ записывается код 00)

  • записывается код FF по адресу 0001 и осуществляется проверка ячеек микросхемы на считывание кода 00

  • если тест проходит, первая ячейка сбрасывается на 00, код FF записывается только по адресу 0010 и все остальные ячейки вновь проверяются на считывание ко­да 00

  • если при считывании ячейка не дает результат 00, следует предположить «относящийся к адресу» отказ либо в самой микросхеме, либо во внешних линиях ши­ны адреса.

2. Тестирование устройств в/в. Передача информации вв/выв УВВ осуществляется при помощи интерфейсов.

Интерфейс – совокупность унифицированных аппаратных, программных и конструкторских средств, необходимых для реализации взаимодействия различных функциональных компонентов в системах, при условиях, предписанных стандартом и направленных на обеспечение информационной электрической и конструкторской совместимости компонентов.

Технический диагноз для КУВВ регистрируется:

1. визуально (для устройств отображения информации)

2. с помощью оператора (клавиатура)

3. КПА приема и передачи информации (панели вв/выв)

4. закольцевание канала ввода на канал вывода (некоторые БИС имеют внутреннюю обратную связь между входом и выходом программно реализуемую; пример: СБИС 1515хМ1-050. Контроллер мультиплексного последовательного канала ОРПС).

Вторая особенность: в них наиболее вероятны отказы из-за электрических перегрузок.