
- •ПРЕДИСЛОВИЕ
- •Задача 1
- •Решение
- •Задача 2
- •Решение
- •Задача 3
- •Решение
- •Задача 4
- •Решение
- •Задача 5
- •Решение
- •Задача 6
- •Решение
- •Задача 7
- •Решение
- •Задача 8
- •Решение
- •Задача 9
- •Решение
- •Задача 10
- •Решение
- •2. СВОЙСТВА МОП-СТРУКТУР
- •Задача 11
- •Решение
- •Задача 12
- •Решение
- •Задача 13
- •Решение
- •Задача 14
- •Решение
- •Задача 15
- •Решение
- •Задача 16
- •Решение
- •Задача 17
- •Решение
- •Задача 18
- •Решение
- •3. ДИОДЫ И СВОЙСТВА P-N ПЕРЕХОДОВ
- •Задача 19
- •Решение
- •Задача 20
- •Решение
- •Задача 21
- •Решение
- •Задача 22
- •Решение
- •Задача 23
- •Решение
- •Задача 24
- •Решение
- •Задача 25
- •Решение
- •Задача 26
- •Решение
- •Задача 27
- •Решение
- •Задача 28
- •Решение
- •Решение
- •Задача 30
- •Решение
- •Задача 31
- •Решение
- •Задача 32
- •Решение
- •Задача 33
- •Решение
- •Задача 34
- •Решение
- •Задача 35
- •Решение
- •Задача 36
- •Решение
- •5. ПРИЛОЖЕНИЯ. ПАРАМЕТРЫ, КОНСТАНТЫ, ТИПИЧНЫЕ ЗНАЧЕНИЯ
- •Список рекомендуемой литературы
- •Содержание

Решение
Концентрации электронов и дырок у границы раздела как функ-
ции потенциала у поверхности ϕs имеют вид (см. задачу 10): |
|
|||
n(ϕs ) = NC exp[−(EC |
− EF |
− qϕs ) / kT ] (ni2 / N A )exp(ϕs ϕt ) |
; |
(13.1) |
p(ϕs ) = NV exp[−(EF |
− EV |
+qϕs ) / kT] NA exp(−ϕs ϕt ). |
|
(13.2) |
Из условий задачи приравниваем концентрации |
|
|
||
а) n(ϕs) = p(ϕs); |
б) n(ϕs) = NA, |
|
|
и находим из условия (а) поверхностный потенциал, при котором концентрации электронов и дырок равны
ϕmg = ϕF ≡ ϕt ln[NA/ni]. |
(13.3) |
Этот потенциал часто называют потенциалом середины зоны (midgap potential), поскольку уровень Ферми у поверхности находится в этом случае в середине запрещенной зоны кремния.
Из условия (б) находим поверхностный потенциал, соответст-
вующий началу сильной инверсии (SPICE параметр PHI) |
|
ϕth = 2ϕF ≡ 2ϕt ln[NA/ni]. |
(13.4) |
в). Теперь, используя полученное ранее выражение для затвор- |
|
ного напряжения, получаем соответственно: |
|
напряжение середины зоны (midgap voltage) |
|
Vmg ≡ Vg(ϕF) = ϕms + ϕF + [qNAW(ϕF) - Qot]/C0; |
(13.5) |
пороговое напряжения (threshold voltage, SPICE параметр VTO) |
|
Vt ≡ Vg(2ϕF) = ϕms + 2ϕF + [qNAW(2ϕF) - Qot]/C0. |
(13.6) |
г). Полный заряд в кремнии равен нулю, если поверхностный потенциал равен нули и края зон кремния не изогнуты (условие "плоских зон"). Подставляя ϕs =0 в (12.4) получаем выражение для
напряжения плоских зон VFB (flatband voltage) |
|
VFB ≡ Vg(0) = ϕms - Qot/C0. |
(13.7) |
Задача 14
Пользуясь результатами задач 12 и 13, получить выражение для поверхностной плотности электронов в инверсионном слое МОПтранзистора с p-подложкой как функцию напряжения на затворе и порогового напряжения.
а). Рассчитайте поверхностную концентрацию носителей в инверсионном слое, если пороговое напряжение Vt =1 В, напряжение на затворе Vg =3 В, а толщина оксида равна 20 нм. Сравните ее с
16