ФОЭ / Titul_PZ

Приложение №3

МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ

«САМАРСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ АЭРОКОСМИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ имени академика С.П. КОРОЛЕВА»

(НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ)

Кафедра «Наноинженерия»

ТЕХНИЧЕСКИЙ ОТЧЕТ

по практическому занятию № 1

«МЕТОДЫ И ПОДХОДЫ СТАТИСТИЧЕСКОЙ ФИЗИКИ, ИСПОЛЬЗУЕМЫЕ ПРИ ПРОВЕДЕНИИ АНАЛИЗА

МИКРО- И НАНОСТРУКТУР»

(дисциплина «Физические основы электроники»)

Выполнил:

ст. гр 527

Иванов И.И.

Дата представления отчета: 18.10.2012

Принял:

доцент каф. «Наноинженерия»

Саноян А.Г.

Дата защиты: «_______» ______________ 2012 г.