Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
ФОЭ / Informacionnye.doc
Скачиваний:
28
Добавлен:
16.03.2015
Размер:
550.4 Кб
Скачать

5. Показатели качества реальных микро- и нанотехнологий

Ввиду сложности определения параметра Ni прямыми теоретическими (конструктором изделия) и экспериментальными методами, проведем его оценку на основе использования традиционных производственных показателей. Из всей совокупности последних, в качестве параметра, определяющего взаимосвязь между параметрами Ht и Hi, уместно рассматривать вероятность выхода годных изделий. Представляется очевидным, что, в первом приближении, вероятность выхода годных изделий P зависит от соотношения между избирательностью технологии t и избирательностью i , заложенной конструктором изделия для безусловного (P=1) достижения функционального качества устройства (на практике, как правило, выполняется условие: t < i ):

.

(8)

С учетом выражения (4) и (8) для необходимой энтропии единичного размещения hi, при условии i >> 1 (что имеет место для случаев микро- и нанотехнологий), имеем:

(9)

В таблице 3 представлены значения параметров i и hi, в зависимости от уровня технологии и вероятности выхода годных устройств, при значении параметра m=100.

Таблица 3.

Зависимость избирательности и энтропии единичного размещения hi от уровня технологии и вероятности выхода годных устройств (при m=100).

Уровень технологии

Пока-

затель

Вероятность выхода годных устройств

10-3

10-2

10-1

0,5

1,0

Перспективный

(нано-:  t = 1010)

hi

1,5 10-12

1,4 10-11

1,3 10-10

6,2 10-10

1,2 10-9

i

1013

1012

1011

2 . 1010

1010

2

Высокий

(микро-:  t = 108)

hi

1,3 10-10

1,2 10-9

1,1 10-8

5,2 10-8

10-7

i

1011

1010

109

2 10-8

10-8

Согласно данным таблицы 3.8 следует, что достижение приемлемой в промышленной практике эффективности производства (Р > 0,1) возможно для изделий с показателями i  1011 и 109, соответственно для перспективного и высокого уровней технологии.

В таблице 4 представлены значения Ni в зависимости от объема и вероятности выхода годных устройств, полученные на основании данных табл. 3.

Таблица 4

Зависимость количества реализаций Ni от физического объема и вероятности выхода годных устройств (при m= 100).

Уровень

технологии

Объем

мкм3

Вероятность выхода годных устройств

10-3

10-2

10-1

0,5

1,0

1

Перспективный

(нанотехнологии:

t = 1010)

1

31

(14)

(130)

(620)

(103 )

10-3

1,00

1,03

1,34

4,23

15,8

10-6

1,00

1,00

1,00

1,00

1,00

2

Высокий

(микротехнологии:

t = 108)

1

(130)

(103 )

(104 )

(5 .104 )

(105 )

10-3

1,34

15,8

(11)

(52)

(102 )

10-6

1,00

1,00

1,02

1,12

1,26

Примечание: запись вида (14) означает, что lgNi = 14.

Наличие в таблице 3.9 значений Ni близких единице свидетельствует о том, что для данных позиций конструктором закладывается, а технологу необходимо реализовать (при приемлемой вероятности выхода годных изделий) практически вырожденные конструкции, которым соответствуют единичные реализация размещения атомов. В то же время следует отметить, что для современных устройств (V > 1 мкм3) количество реализаций Ni при P > 0,1 достигает значений Ni >10130.

В свете вышеизложенного, весьма важным моментом является установление взаимосвязи между сложностью изделий (закладываемой конструктором на этапе проектирования) и возможностью их практической реализации технологом. Указанная взаимосвязь может быть установлена на основании выражений (7) ,(8) и (9) в виде:

(10)

Последнее выражение устанавливает эффективность согласования конструкторских решений (параметр - С) с технологическими возможностями изготовления (параметр - К) устройств, для типичных производственных ситуаций, удовлетворяющих условию: (Это условие позволяет обеспечить нормировку параметраP в виде: 0 < P< 1. При выполнении условия ,имеет место тривиальный результат:P = 1!).