- •1. Цели и задачи энтропийного подхода при анализе микро- и наноразмерных структур
- •3.5.2. Формальное представление технических объектов и технологии их создания
- •2. Показатели качества технологий на микроскопическом уровне рассмотрения
- •3 Показатели качества технологий на макроскопическом уровне рассмотрения
- •5. Показатели качества реальных микро- и нанотехнологий
- •6. Информационный потенциал и информационный дефицит технологии
- •3.5.7. Информационный запас качества и его взаимосвязь со сроком службы изделия
- •6. Процесс создания микроструктур в рамках представлений алгоритмической энтропии
5. Показатели качества реальных микро- и нанотехнологий
Ввиду сложности определения параметра Ni прямыми теоретическими (конструктором изделия) и экспериментальными методами, проведем его оценку на основе использования традиционных производственных показателей. Из всей совокупности последних, в качестве параметра, определяющего взаимосвязь между параметрами Ht и Hi, уместно рассматривать вероятность выхода годных изделий. Представляется очевидным, что, в первом приближении, вероятность выхода годных изделий P зависит от соотношения между избирательностью технологии t и избирательностью i , заложенной конструктором изделия для безусловного (P=1) достижения функционального качества устройства (на практике, как правило, выполняется условие: t < i ):
|
|
|
(8) |
С учетом выражения (4) и (8) для необходимой энтропии единичного размещения hi, при условии i >> 1 (что имеет место для случаев микро- и нанотехнологий), имеем:
|
|
|
(9) |
В таблице 3 представлены значения параметров i и hi, в зависимости от уровня технологии и вероятности выхода годных устройств, при значении параметра m=100.
Таблица 3.
Зависимость избирательности и энтропии единичного размещения hi от уровня технологии и вероятности выхода годных устройств (при m=100).
|
№
|
Уровень технологии |
Пока- затель |
Вероятность выхода годных устройств | ||||
|
10-3 |
10-2 |
10-1 |
0,5 |
1,0 | |||
|
|
Перспективный (нано-: t = 1010) |
hi |
1,5 10-12 |
1,4 10-11 |
1,3 10-10 |
6,2 10-10 |
1,2 10-9 |
|
i |
1013 |
1012 |
1011 |
2 . 1010 |
1010 | ||
|
2 |
Высокий (микро-: t = 108) |
hi |
1,3 10-10 |
1,2 10-9 |
1,1 10-8 |
5,2 10-8 |
10-7 |
|
i |
1011 |
1010 |
109 |
2 10-8 |
10-8 | ||
Согласно данным таблицы 3.8 следует, что достижение приемлемой в промышленной практике эффективности производства (Р > 0,1) возможно для изделий с показателями i 1011 и 109, соответственно для перспективного и высокого уровней технологии.
В таблице 4 представлены значения Ni в зависимости от объема и вероятности выхода годных устройств, полученные на основании данных табл. 3.
Таблица 4
Зависимость количества реализаций Ni от физического объема и вероятности выхода годных устройств (при m= 100).
|
№ |
Уровень технологии |
Объем мкм3 |
Вероятность выхода годных устройств | ||||
|
10-3 |
10-2 |
10-1 |
0,5 |
1,0 | |||
|
1 |
Перспективный (нанотехнологии: t = 1010) |
1 |
31 |
(14) |
(130) |
(620) |
(103 ) |
|
10-3 |
1,00 |
1,03 |
1,34 |
4,23 |
15,8 | ||
|
10-6 |
1,00 |
1,00 |
1,00 |
1,00 |
1,00 | ||
|
2 |
Высокий (микротехнологии: t = 108) |
1 |
(130) |
(103 ) |
(104 ) |
(5 .104 ) |
(105 ) |
|
10-3 |
1,34 |
15,8 |
(11) |
(52) |
(102 ) | ||
|
10-6 |
1,00 |
1,00 |
1,02 |
1,12 |
1,26 | ||
Примечание: запись вида (14) означает, что lgNi = 14.
Наличие в таблице 3.9 значений Ni близких единице свидетельствует о том, что для данных позиций конструктором закладывается, а технологу необходимо реализовать (при приемлемой вероятности выхода годных изделий) практически вырожденные конструкции, которым соответствуют единичные реализация размещения атомов. В то же время следует отметить, что для современных устройств (V > 1 мкм3) количество реализаций Ni при P > 0,1 достигает значений Ni >10130.
В свете вышеизложенного, весьма важным моментом является установление взаимосвязи между сложностью изделий (закладываемой конструктором на этапе проектирования) и возможностью их практической реализации технологом. Указанная взаимосвязь может быть установлена на основании выражений (7) ,(8) и (9) в виде:
|
|
|
(10) |
Последнее
выражение устанавливает эффективность
согласования конструкторских решений
(параметр - С)
с технологическими возможностями
изготовления (параметр - К)
устройств, для типичных производственных
ситуаций, удовлетворяющих условию:
(Это
условие позволяет обеспечить нормировку
параметраP
в виде: 0 <
P<
1. При выполнении условия
,имеет
место тривиальный результат:P
= 1!).
