- •1.Введение. Предмет дисциплины, цель изучения, основные определения
- •2.Металлы и сплавы, общие сведения. Строение металлов.
- •3.Электрофизические характеристики металлов.
- •4.Проводимость жидкостей и электролитов. Жидкости.
- •5.Классификация материалов.
- •6.Виды химической связи.
- •7.Строение реальных металлов, диффузионные процессы в металле, кристаллизация металлов.
- •8.Конструкционные стали.
- •12.Испытания конструкционных металлов. Микроскопический анализ.
- •13.Механические свойства материалов и методы их определения.
- •14.Метод Бринелля.
- •15.Метод Роквелла.
- •16.Метод Виккерса.
- •18.Метод Шора.
- •19.Испытание на усталость.
- •20.Испытание на ползучесть.
- •21.Определение ударной вязкости.
- •22. Порог хладноломкости. Определение трещиностойкости.
- •23.Электротехнические материалы, классификация и область применения.
- •24.Особенности зонно-энергетической структуры металлов.
- •25.Физическая природа электропроводности металлов
- •26.Факторы, влияющие на удельное сопротивление металлов
- •27.Электрические свойства металлических сплавов
- •28.Сопротивление проводников на высоких частотах
- •29.Электрофизические свойства тонких металлических пленок
- •31.Классификация проводниковых материалов по функциональному значению.
- •32.Контактные материалы
- •37.Криопроводники.
- •39.Магнитные материалы. Общие сведения о магнетизме
- •40.Классификация веществ по магнитным свойствам
- •41.Техническая кривая намагничивания
- •42.Петля гистерезиса
- •43.Магнитная проницаемость
- •44. Магнитострикция.
- •45. Намагничивание переменным полем.
- •46. Классификация магнитных материалов.
- •48. Магнитомягкие материалы.
- •49. Магнитомягкие высокочастотные материалы
- •50. Магнитотвердые материалы
- •51. Магнитные материалы специального назначения. Ферриты и металлические сплавы с ппг.
- •52. Ферриты для устройств свч.
- •53. Цилиндрические магнитные домены
- •54. Диэлектрики. Поляризация диэлектриков
- •55. Электропроводность диэлектриков. Особенности электропроводности диэлектриков.
- •56. Электропроводность твердых диэлектриков
- •57. Поверхностная электропроводность твердых диэлектриков.
- •58. Электропроводность жидких диэлектриков
- •59. Электропроводность газов.
- •60. Диэлектрические потери.
- •61. Пробой диэлектриков. Основные понятия.
- •62. Пробой твердых диэлектриков
- •63. Электроизоляционные материалы. Высоко полимерные твердые материалы.
- •64. Синтетические лаки, эмали и компаунды.
- •65. Бумаги и картоны
- •66. Слоистые пластмассы – материалы для печатных плат.
- •67. Слюдяные материалы
- •68. Электроизоляционная керамика
- •69. Активные диэлектрики
- •70. Пьезоэлектрики
- •71. Пироэлектрики
- •72. Электреты
- •73. Материалы для твердотельных лазеров
- •74. Жидкие кристаллы
- •75. Полупроводниковые материалы.
- •76. Электропроводность полупроводников.
- •77. Собственные и примесные полупроводники. Основные и не основные носители заряда.
- •78. Основные характеристики и свойства полупроводниковых материалов.
- •79. Конецентрация носителей заряда.
- •80. Подвижность носителей тока.
- •81. Теплопроводность полупроводников.
- •82. Зависимость концентрации носителей заряда от температуры. Элементы статистики электронов.
- •83. Фотопроводимость.
53. Цилиндрические магнитные домены
Образование цилиндрических магнитных доменов происходит в тонких магнитных пленках, под которыми понимают слои ферромагнитных и ферримагнитных веществ толщиной порядка микрона и менее. Особенностью тонких пленок является то, что при малой толщине их (h << а,b) направление легкого намагничивания оказывается расположенным в плоскости пленки. Образуются плоские домены.
Для очень тонких пленок характерна однодоменная структура, для пленок толщиной свыше 10'3 — 10'2 мм - многодоменная, состоящая из длинных узких доменов (шириной от долей мкм до нескольких мкм), намагниченных в противоположных направлениях. Под воздействием внешнего поля вся система полос может перемещаться и поворачиваться, и ее используют как управляемую дифракционную решетку для света и ближайшего диапазона волн электромагнитного спектра.
Особый интерес представляют монокристаллические пленки некоторых ферритов с одноосной магнитной анизотропией, под которыми понимают материалы, имеющие лишь одну ось легкого намагничивания. Если плоскость пленки перпендикулярна оси легкого намагничивания, то в отсутствие внешнего поля пленка обладает лабиринтной доменной структурой, т.е. вследствие одноосной анизотропии образуются домены с противоположным направлением спонтанной намагниченности (светлые и темные места на рис. 23,6). Внешнее поле, перпендикулярное плоскости пленки, изменяет геометрию доменной структуры. По мере увеличения напряженности поля сначала происходит разрыв лабиринтной структуры, домены принимают форму гантелей, а затем образуются цилиндрические магнитные домены (ЦМД), или «магнитные пузырьки» (рис. 23, в) При дальнейшем увеличении напряженности поля диаметр ЦМД постепенно уменьшается и при некотором значении Н вся пленка намагничивается однородно, т.е. цилиндрические домены исчезают. Отсюда следует, что ЦМД существуют только в определенном диапазоне значений напряженности поля НВНЕШ.
Для
качественного объяснения причин
образования ЦМД можно провести формальную
аналогию между каплей жидкости,
находящейся на твердой подложке, и
доменами- На каплю действует два рода
сил: сила тяжести, под действием которой
капля растекается по поверхности, и
силы поверхностного натяжения,
стремящиеся придать капле форму сферы.
На домен в отсутствие внешнего поля
НВНЕШ. действуют также два рода сил:
силы магнитостатического происхождения,
стремящиеся растянуть домен, и силы,
связанные с наличием энергии доменной
стенки, стремящиеся сжать домен.
Количественно в отсутствие поля это
приводит к «растеканию» домена по
поверхности с образованием лабиринтной
структуры. Если создать поле НВНЕШ., то
возникает третья сила, связанная с
взаимодействием домена с внешним полем.
Эта сила действует по направлению
нормали к поверхности, т.е. сжимает
домен. При достаточно большом значении
напряженности поля НВНЕШ, образуется
ЦМД.
Впервые ЦМД были обнаружены в ортоферритах, обладающих орторомбичсской структурой (иска-женной структурой типа перовскита) и имеющих химический состав МеFеОз, где Ме - трехвалентный ион иттрия или редкоземельного элемента. В дальнейшем устойчивые цилиндрические магнитные домены были получены в ферритах со структурой граната, гексаферритах и некоторых металлических магнитных пленках.
Линейные размеры ЦМД в ортоферритах составляют десятки или даже сотни микрометров, а в пленках феррогранатах – единицы микрометров.
Цилиндрические магнитные домены, существующие в определенном интервале Н, представляют большой интерес при создании логических и запоминающих устройств. При этом значению «1» соответствует наличие домена в определенной точке информационной среды, а значению «0» - его отсутствие. Если в плоскости пленки создать неоднородное магнитное поле, то можно наблюдать перемещение ЦМД под действием этого поля. Высокой подвижностью доменных границ характеризуются ортоферриты (Г = VГ/Н = 10-2-10-1 м2/(А•с)).
В настоящее время разработаны способы, позволяющие генерировать домены, управлять их перемещением, фиксировать их наличие или отсутствие в заданной точке (т.е. считывать информацию). Управление дискретным перемещением ЦМД в заданном направлении осуществляется с помощью магнитостатических ловушек. Распространенным способом создания таких ловушек является нанесение пермаллоевых аппликаций определенной конфигурации на поверхность ферритовой пленки.
Изменяя направление управляющего поля, действующего в плоскости пленки, можно изменять полярность магнитных зарядов на элементах аппликации. На рис. 24 полярность полюсов условно обозначена символами «+» и « – » ; предполагается, что цилиндрические домены выходят на поверхность пленки своими отрицательными полюсами, т.е. притягиваются к положительным магнитным зарядам на элементах аппликаций. При коммутации поля НУПР происходит переход ЦМД с одной аппликации на другую.
Считывание информации может быть осуществлено, например, с помощью датчиков Холла или магниторезисторов. В холловском датчике индуцируется э.д.с. под действием магнитного поля домена, а в магниторезисторах используется эффект изменения электрического сопротивления материала в магнитном поле.
Устройство на ЦМД характеризуется большой информационной емкостью и малой потребляемой мощностью.
