книги / Теория оптико-электронных следящих систем
..pdfлы, а также комбинацию из нескольких символов, т.е. печатать на одном месте несколько символов, но это сильно усложняет программы вывода на печать. На рис. 3.25 приведена распечатка многоуровневого нормального поля.
В другом методе многоуровневое поле выводится на перфокарты. Здесь полный диапазон яркостей разбивается на семь интервалов, Тминимальной яркости соответствует отсутствие пробивки, максимальной — шесть отверстий перфорации. Каждому элементу поля соответствует* опре деленный участок перфокарты. При большом размере поля оно выводится на несколько перфокарт, которые затем склеиваются и фотографируются. Полученное таким методом изображение двумерного поля приведено на рисх 3.26.
Рис. 3.27. Построение поля яркости в изометрии
Третий метод состоит в использовании графопостроителя для построе ния рисунка амплитуд поля в изометрии. Однако этот метод для оптиче ских полей используется довольно редко в связи со сложностью программ и менее наглядным представлением поля оптической яркости в виде прост ранственного рельефа. На рис. 3.27 представлено изображение двумерного поля яркости, полученное на графопостроителе.
Наиболее распространенным методом в настоящее время является печать двумерного поля на АЦПУ.
Таким образом, рассмотренные в этом разделе методы позволяют моде лировать любые флуктуации сигнала, встречающиеся при исследовании оптико-электронных систем.§
§ 3.6. Построение математической модели по экспериментальным данным
Оценки параметров модели. В предыдущих параграфах рассмотрено построение математических моделей оптико-электронных систем на основа нии известных принципов их функционирования. Таким образом строятся поэлементные функциональные модели. В практике часто бывают такие ситуации, когда функциональное устройство объекта неизвестно или очень сложно. В таких случаях объект рассматривают как ’’черный ящик”, у которого доступны наблюдению только входные и выходные сигналы. По результатам наблюдений этих сигналов нужно построить математиче-
251
скую модель объекта, т.е. дать его математическое описание, не касаясь механизма его функционирования. Кроме того, экспериментальные наблю дения над объектом нужно провести таким образом, чтобы при минимуме опытов получить максимум информации, т.е. описать объект с наименьшей возможной погрешностью,
Вкачестве объекта может быть использована поэлементная модель оптико-электронной системы. Тогда проводится так называемый математи ческий эксперимент для получения интересующих зависимостей.
Рассмотрим объект, выход которого зависит от ряда величин х г, ..., х п. Для оптико-электронных систем это могут быть коэффициенты усиления, постоянные времени, внешние возмущения. Выходной сигналу может быть выходным сигналом по угловой скорости, или быстродействием системы, или какой-либо другой физической величиной в зависимости от целей исследования.
Вдальнейшем переменные JC1S ..., хп будем называть входными контро лируемыми или независимыми переменными. Выходную переменную у будем называть зависимой переменной или выходом объекта, даже если она не обозначает буквально выход системы. В общем случае можно сказать, что между независимыми переменными и выходом объекта существует функциональная зависимость
у - Я * ), |
(3.6.1) |
где х = (д.1 , х2, ..., хп) т—вектор-столбец значений независимых переменных; т —символ транспонирования.
Зависимость у = у (х) неизвестна, ее нужно найти путем обработки экспе риментальных данных. Так как всякий эксперимент связан с появлением случайных ошибок, то при построении математической модели на основе экспериментальных данных необходимо использовать методы математиче ской статистики.
Наиболее часто при решении этой задачи применяют метод наименьших квадратов, позволяющий построить оптимальную модель объекта в смысле минимума ошибки оцениваемых параметров [84, 92]. Отметим, что экспе риментальные данные не могут дать ответ на вопрос о виде модели, поэтому математическая модель объекта обычно задается в виде полинома, вид которого выбирается из имеющихся физических представлений об объекте. Например, линейная модель имеет вид
у(а,х) = а0 +atx x + а2х 2 + ...+апхп , |
(3.6.2) |
где а/ являются неизвестными параметрами, оценки которых требуется найти путем обработки экспериментальных данных. В более сложных слу чаях используются квадратичные модели
y(af x) = а0 + ахх х +а2х 2 + ...+апх п + at i x \ +а22х 2 + ~ Л а ппх \ +
+ 0 12* 1*2 |
+013*1*3 + ... + 0fc*n-l* « , |
(3.6.3) |
где |
|
|
( л + 2)(л + 1 ) |
|
|
к = ------------------ |
. |
|
|
2 |
|
252
ных производных по параметрам а% и решения системы нормальных урав нений. В матричной форме с учетом (3.6.15) можно записать
SR |
= ( Y - F a ) \ Y - Fa). |
(3.6.29) |
Выражение (3.6.29) имеет единственный минимум при |
|
|
а = |
(FTF)~1F T Y, |
(3.6.30) |
что и является решением системы нормальных уравнений. Для существова ния решения необходимо существование обратной матрицы (FTF )~ 1, что имеет место, если матрица F TF не вырождена, т.е. ее определитель не ра вен нулю:
| F TF | Ф 0. |
(3.6.31) |
Для этого число опытов должно быть не менее к+ 1 . Матрица M = F TF на зывается информационной, а матрица С = М~Х- дисперсионной.
О ш и б к и о ц е н и в а н и я . Оценки а, рассчитанные по (3.6.30), от личаются от истинных значений коэффициентов, причем ошибка тем боль
ше, чем больше дисперсия наблюдений. Показателями точности оценок at и
величины у , рассчитанной по уравнению модели, являются дисперсии коэф фициентов о1, и дисперсия рассчитанного выхода а2 . Эти дисперсии зависят
не только от дисперсии ошибок наблюдений а2, но и от выбранной струк туры модели и точек постановки опытов, т.е. от матрицы F. При этом
предполагается, что значения контролируемых величин x t |
устанавливаются |
|||
точно, т.е. о2< а2 . |
|
|
|
|
Для определения этой зависимости найдем ковариационную матрицу |
||||
cov(a) = М{(£ |
- а){а - |
д ) т}. |
(3.6.32) |
|
Из (3.6.30), (3.6.26), (3.6.20) следуют выражения |
|
|||
а = |
CFT Y, |
|
|
(3.6.33) |
а = |
М{а) = CFTМ { ? ) = |
CFTY. |
(3.6.34) |
|
Используя (3.6.34), получаем |
|
|
||
М{(л - а ) ( а - а )т} = M{CFT( У - У )( Y - Y )TFCT) = |
|
|||
= CFTМ{( F - |
F )( У - |
Y ) T} F C \ |
(3.6.35) |
|
Вейлу (3.6.18), (3.6.25) имеем из (3.6.35) |
|
|||
cov ( а ) = CFTF C To2 . |
|
(3.6.36) |
||
Так как матрица F rF симметрическая, то |
|
|||
CFTFCT = (FTF y 1F TF (F TF y 1 = С 256
