Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Мухин Е.Я. Кристаллизация стекол и методы ее предупреждения

.pdf
Скачиваний:
9
Добавлен:
30.10.2023
Размер:
20.2 Mб
Скачать

заны все три установки, состоящие из поляризационного микроскопа и одного из трех перечисленных аппаратов.

Для обычной стереофотосъемки существуют специальные приспо­ собления и фотоаппараты. Для стереоскопического микрофотогра­ фирования мы использовали бинокулярную лупу и производили

съемку объекта сперва через один окуляр (правый или левый), а

Фиг. 145. Установка для микрофотосъемки! с фото­ аппаратом «Киев».

затем через второй. С этой целью был применен фотоаппарат

«Киев» со специальным приспособлением для возможности съемок под микроскопом.

На фиг. 146 показана вся установка, с помощью которой произ­ водилось стереоскопическое микрофотографирование. С полученных негативов обычным путем изготовляли отпечатки, стараясь, чтобы

они по возможности были одинаковой плотности.

Затем производили монтаж стереоскопической пары следующим образом: фотографии, полученные при съемке с правого и левого

121

Фиг. 146. Установка для стереомикрофото- ■съемюи.

Фиг. 147.' Стереосиимок.

122

окуляров бинокулярной лупы, накладывали друг на друга до совпа­ дения изображений снятого на них объекта. После этого: их обрезали для получения двух одинаковых прямоугольных снимков нужного размера (приблизительно 6X6 см).

Эти два снимка наклеивали на плотную бумагу (фиг. 147). Фо­

тографии наклеивали в таком положении, при котором наблюдался

Фиг. 148. Стереоскоп.

наилучший стереоэффект. Правильность наклейки проверялась с по­ мощью стереоскопа (фиг. 148).

При рассматривании в стереоскоп обе половины стереоснимков должны быть хорошо и одинаково освещены.

Метод стереоскопического микрофотографирования может быть с успехом применен не только при изучении кристаллизации стекол, но и при исследовании других явлений, например пузырности, обра­ зования налетов, процессов стеклообразования и т. п.

КРИСТАЛЛИЧЕСКИЕ ФАЗЫ, ВЫДЕЛЯЮЩИЕСЯ В ОПТИЧЕСКИХ СТЕКЛАХ

Формы кристаллических образований, выделяющихся в процес­ се расстекловывания, бывают различны. При малых вязкостях и медленной кристаллизации получаются относительно; крупные, хо­ рошо ограненные кристаллы, что, например, наблюдаем в некоторых

многобариевых стеклах (фиг. 163—171, 183—185). При сравнительно малых вязкостях и большой скорости кристаллизации возникают скелетные формы. В качестве примера можно привести кристалли­ зацию тридимита в оптическом стекле типа крона (фиг. 151). При больших вязкостях выделяются сферолиты, т. е. кристаллические образования, имеющие форму шара (фиг. 190), наблюдаемые в мас­ се стекла.

При возникновении тонкой кристаллической пленки на поверх­

ности стекла кристаллические образования имеют форму не шара, а плоского диска (т. е. «дисколита»). Бывает и промежуточное между

123

дисколитом и сферолитом кристаллическое образование,— полусфе­ ролит.

После занесения внутрь стекломассы кристаллы могут менять свою первоначальную форму, например, «скелеты» — в правильно ограненные кристаллы, мелкие скелетные формы и кристаллы могут

явиться началом образования сферолитов.

В результате исследований физико-химическим и кристалло­

оптическим методами было установлено, что при кристаллизации

оптических стекол выделяются фазы следующих составов: 1) SiO2 в виде кварца, тридимита и кристобалита.

а) Кварц. Гексагональные дипирамиды и комбинация гекса­

гональной

призмы

с гексагональной дипирамидой.

Оптический

знак

«-[-», Ng= 1,553,

Nv—1,544 (фиг. 149, 150).

 

б)

Тридимит.

Скелетные формы: кристаллы в. виде треуголь­

ных

и шестиугольных пластинок. Двупреломление

слабое. 7Vg=

= 1,473,

1,469 (фиг.

151—157).

 

в)

Кристобалит.

Иглы, скелетные формы и сферолиты, име­

ющие слабое двойное лучепреломление и положительное удлинение

1,487, #Р= 1,484 (фиг. 158—162).

2)А120з—к о р у н д. Тригональная сингония, треугольные и ше­

стиугольные пластинки (фиг. 163) Ng = 1,768, Np= 1,760. Оптический знак минус.

3)SbmOn — окисел сурьмы. Шестиугольные пластинки с

высоким показателем преломления. Оптический знак минус. N=

=~2,0 (фиг. 164—168).

4)ВаО ■ 2SiO2—дисиликат бария. Хорошо образованные

кристаллы ромбической сингонии и скелетные формы, обладающие довольно сильным двойным лучепреломлением N'g= 1,621, ЛС,..= 1,612,

Nv= 1,597 (фиг. 169—182). ВаО • 2SiO2 образует непрерывный ряд смешанных кристаллов с 2ВаО ■ 3SiO2; оптические свойства непре­ рывно меняются с составом.

5) 2ВаО • 3SiO2 — дибарийтрисиликат. Ромбическая сингония. Пластинки, имеющие форму ромбов со сравнительно вы­

соким двойным лучепреломлением. Ne= 1,645,

1,625, Np= 1,620

(фиг.

183—188) 2ВаО • 3SiO2 образует непрерывный ряд твердых

растворов с ВаО • 2SiO2; оптические свойства

их непрерывно ме­

няются с составом.

Ромбическая синго­

6)

ВаО • SiO2—м етасиликат бария.

ния.

Зерна и игольчатые агрегаты. Двупреломление слабое, Ns =

=1,678, 1,674, NP= 1,673 (фиг. 189).

7)Смешанные кристаллы калиевых и бариевых силикатов. Ске­

летные образования и сферолиты с высоким двойным лучепрелом­ лением, А<1,595 (фиг. 190—191).

8)Силикаты свинца. Выделяются в виде дипирамид, призм и игл с высоким показателем преломления и значительным двупрелом­ лением. Наиболее высоким показателем преломления обладают си­

ликаты типа

тРЬО • nSiO2 (1,97—2,20).

Силикаты

типа mR20 •

• nPbOpSiO2

обладают более низким

показателем

преломления

(фиг. 192—202).

 

 

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ