Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Шефтель И.Т. Терморезисторы. Электропроводность 3[[i]]d[[ i]]-окислов. Параметры, характеристики и области применения

.pdf
Скачиваний:
62
Добавлен:
25.10.2023
Размер:
17.29 Mб
Скачать

40

МЕХАНИЗМ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ 3<*-ОКИСЛОВ

[ГЛ. I

Т а б л и ц а 5 Примеры полупроводников о регулируемой валентностью

Химическая

Химическая

Валентпое со­

формула сое­

стояние катиона

> формула

динения, со-

металла с пере­

основного

J держащего

менной валент­

материала

легирующей

ностью в основ­

 

катион

ном материале

 

 

до легирования

Валентность катиона в Тип кристал­

результате лической легирования структуры

NiO

LiaO

N i 2

+

 

N i 3 1 "

Каменная

СоО

LiaO

С о 2 +

 

C o s + ,

соль

 

 

MnS

LiaS

М п а

+

M n s

+

 

Са'ПОз

L a 2 0 3

'№+

 

T i 3 +

 

Перовскит

SrTiOa

La 2 Os

 

 

 

T i 8

+

 

ВаТЮз

La 2 Os

T i 4 +

 

 

T i s +

 

 

 

 

 

 

 

 

СаМпОз

L a 2 0 a

Ми*+

M n 3

+

 

LaMnOs

S r O

M n s

+

 

 

 

L a F e O s

S r O

F e 3 +

 

F e 1 +

 

Z n F e 2 0 4

TiOa

F e 3

+

 

F e 2 +

Шпинель

M g F e 3 0 4

TiOa

Fe 3 +

 

F e 2

+

 

N i F e 2 0 4

TiOa

F e s +

 

F e 2

+

 

C o F e 2 0 4

TiOa

F e 8

+

 

F e 2

+

 

F e a 0 3

TiOa

F e 3

+

 

F e 2

+

Гематит

F e 2 0 3

SnOa

F e 3

+

 

F e a +

 

F e 2 0 3

W 0 3

F e 3 ¥

 

F e 2 +

 

S n O i

SbaOs

 

 

 

S n 3 +

Рутил

TiOa

TaaOs

T i 4 +

 

 

T } 3 +

 

 

 

 

 

 

 

 

M g W 0 4

CraOs

W « +

 

 

 

Вольфра­

 

 

 

 

 

 

 

мит

Примечание. Подчеркнут

в

 

основном

материале катион,

который замещается легирующей добавкой.

§ 1Л1

МЕХАНИЗМ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ ЗЛ-ОКИСЛОВ

41

находятся в соотношении 1 : 1 . Таким образом, формулу смешанного кристалла (1 х) F e 3 0 4 + х Z n C r a 0 4 мож­ но представить в виде

 

0 t g i 4 5 6 7

 

B 9 I O t l

 

 

 

 

 

 

 

 

JSl.-L

 

 

 

 

 

 

 

ч

Т

 

Рис. 7.

Температурные

зависимости

удельного

сопротивления

сме­

шанных

кристаллов в системе

F e s 0

4 — ZnCr2 C>4

при

различном

со­

 

держании

Z n C r 2

0 4

мол.%).

 

 

 

1 — 25;

2 — 5 0

; з

60;

4

100 [21].

 

 

содержании M g C r 2

0 4 50 мол.%.

Для

объяснения

та­

кого поведения в [21] предполагается, что при содержании

M g C r 2 0 4 в

смешанном

кристалле до

50 мол.% катионы

M g 2 + и Сг3 +

заполняют

только октаэдры,

замещая в них

соответствующее

количество ионов

F e 2 +

и F e 3 + .

Легко

видеть, что

тогда

состав F e 3 0 4 : M g C r 2 0 4

= 1 i 1

можно

представить

формулой

 

 

 

 

 

F e 3 + [ F e ^ M g ^ C r ^ l O r

 

(1.9)

42

МЕХАНИЗМ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ 3<г-0КИСЛ0В

[ГЛ. I

иэлектропроводность, обусловленная «перескоками»

электронов между

октаэдрическими ионами F e 2 +

и F e 3 + ,

не имеет места. В

рамках таких предположений

остается

непонятной высокая проводимость составов со значитель­ ным количеством ионов M g и Сг. Например, при содержа­ нии M g C r 2 0 4 — 40 мол.% р 2 0 составляет всего 4 ом-см,

Рис. 8. Температурные зависимости удельного сопротивления сме­ шанных кристаллов в системе F e 3 0 4 MgCr 2 C4 при различном со­ держании MgCraC>4 (в мол.%).

1 — 0 (Fe.O.); 2 — 1; Я

5,4; & — 8,6;

5 — 25,5; е — 39,4; 7 49,4; s — 55;

9 — 66,5;

10

— 80; 11 — 90;

12 — 100

(MgCr.O,)

[21].

хотя процессы

электронного

обмена

между

F e 2 + и F e s +

уже сильно затруднены. Более того, состав, содержа­ щий эквимолярные количества F e 8 0 4 и M g C r 2 0 4 , в ко­ тором, по предположению Вервея, в октаэдрах^вообще

нет F e 8 + ,

имеет

р 2 0

всего

— 2 - Ю 2

ом'см.

В работе [21]

предполагается,

что

при

содержании более

50 мол.%

M g C r 2 0 4

в смешанном кристалле

ионы

M g 2 +

частично

§ 1.4] МЕХАНИЗМ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ Зй-ОКИСЛОВ 43

размещаются в тетраэдрах, что приводит к возникновению в тетра-позилиях разновалентных катионов железа (Fe2 + и F e s + ) , реакции электронного обмена между которы­ ми обуславливают электропроводность таких составов. Однако если эти процессы могут приводить к значитель­ ной проводимости, то почему они не имеют места в других соединениях? Естественно, что для ответа на эти вопросы прежде всего необходимо иметь~"объективные~данные о расположении и валентных состояниях катионов, а также о фактическом содержании кислорода'в исследуемых сое­ динениях.

Термический синтез твердых растворов в рассмотрен­ ных системах окислов весьма сложен. Для обеспечения необходимого стехиометрического соотношения 'между металлами и кислородом (Ме 3 0 4 ) приходится применять

обжиг в газовой среде определенного состава

(включающей

С 0 2 , N 2 ) , чтобы иметь необходимое парциальное'давление

кислорода. Несмотря на эти затруднения,

Вервей [43]

применяет рассмотренные материалы, синтезированные на основе принципа разбавления, для изготовления термо­ резисторов.

Примеси в решетках окислов, приготовленных рас­ смотренными способами, оказывают существенно мень­ шее (но все же заметное) влияние на электропроводность в сравнении с элементарными полупроводниками (герма­ ний, кремний). Это влияние проявляется после установки химического равновесия между образцом и газовой ат­ мосферой во время термообработки, причем может происхо­ дить частичное восстановление или окисление материала. Кроме того, случайные примеси могут нейтрализовать или усиливать влияние легирующей добавки, а также оказывать блокирующий эффект, если они не причастны

кэлектронной перезарядке катионов основного вещества.

Внастоящее время для изготовления терморезисторов широко используются системы ""относительно плохо про­ водящих Зй-окислов, между которыми ~при'~термическом синтезе образуется химическое соединение с высокой электропроводностью. При изменении соотношения со­ ставляющих компонент образуется ряд твердых~раство- Г>ов или механические смеси "хорошо и~плохо"~проводя-

щих очттсчоч, что позволяет

получить "серии материалов

с различными величинами

проводимости.

44

МЕХАНИЗМ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ Зй-ОКИСЛОВ

[ГЛ. I

В качестве примера можно привести системы

окислов

СиО — М п 3 0 4 — 0 2 и СоО — М п 3 0 4 — 0 2

[44, 45]. Под­

робно

эти материалы рассматриваются в

главах

I I I — V .

Их электропроводность, по-видимому, обусловлена реак­ циями электронного обмена между разновалентными ка­ тионами марганца, а также кобальта, образующимися в материале при термическом синтезе. Так как число таких

ионов того

же порядка, что и содержание

основных ка­

тионов

в

решетке (—102 1

— 10 2 2 см~ъ),

то случайные

примеси

и

отклонения от

стехиометрического состава

оказывают сравнительно небольшое влияние на прово­ димость. Это позволяет воспроизводимым ,образом синте­ зировать полупроводниковые материалы с требующейся величиной электропроводности.

Последний способ близок к методам контролируемой валентности и разбавления. Однако в этом случае нет необходимости легировать материал малыми количества­ ми специально выбранных добавок для получения необ­ ходимой величины а. Кроме того, методика термического синтеза значительно проще в сравнении с ранее рассмот­ ренными примерами, так как обжиг проводится в воздуш­ ной атмосфере при температурах, не превышающих 1200-1300 °С.

Г Л А В А I I

ФЕНОМЕНОЛОГИЧЕСКАЯ ТЕОРИЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ ЗЯ-ОКИСЛОВ

§ 2.1. Энергетический спектр валентных электронов в Зй-окислах в рдмках представлений

«механизма перескоков»

Модельные представления о возможном механизме проводимости в Зй-окислах, несмотря на их примитивность, оказались весьма полезными для дальнейших исследова­ ний в этом направлении. В рамках феноменологической теории такие исследования в основном были направлены на изучение энергетического спектра Зй-окислов, возмож­ ного вида зависимостей электропроводности от темпе­ ратуры и концентрации примесей в материале, а также механизма переноса носителей заряда.

Знание энергетического спектра валентных электро­ нов имеет первостепенное значение для разработки пред­ ставлений о механизме проводимости в 3<2-окислах. Так как многие исследователи, изучавшие электрические свой­ ства оксидных полупроводников, практически исполь­ зовавшихся для разработки терморезисторов, исходили из представления о носителях заряда, локализованных на катионах, ниже кратко рассматриваются идеи о характере энергетического спектра валентных электронов в Зй-окис- лах, вытекающие из «локализованной» модели. Эти идеи основывались на том экспериментальном факте, что, как уже указывалось, многие стехиометрические Зй-окислы являются по своим электрическим свойствам диэлектри­ ками или. полупроводниками, а не металлами. Кроме того, при концентрациях примесей в таких соединениях до десятков атомных процентов характер температурные

46

ТЕОРИЯ

ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ

ЗсМШИСЛОВ

[ГЛ. I I

зависимостей

электропроводности

остается «полупровод­

никовым».

 

 

 

Наиболее последовательно методы расчета энерге­ тического спектра электронов в Зй-окислах были разра­ ботаны Морином t28], ван Хаутеном [46, 47] и Джонкером [47, 48], развившими идеи де Бура и Вервея [31]. Они детально рассмотрены в обширных работах [28, 47] полуобзорного характера.

Чистые стехиометрические окислы Т Ю 2

с конфигура­

цией 3d0, а также C u 2 0 и ZnO с конфигурацией 3d10

(табл. 4)

имеют

высокое удельное сопротивление,

что

согласу­

ется с

представлениями зонной теории,» так как

Зй-зона

в этих соединениях должна быть свободной или полностью заполненной. Что касается окислов других Зй-металлов, то Морин [28] приводит ряд доводов в пользу уменьшения ширины Зй-зоны в этих соединениях с увеличением поряд­ кового номера катиона (рассматриваются окислы типа МехО,, с различпым числом Зй-электронов на катионах, исходя из предположения чисто ионной связи). Обра­ зование локализованных состояний связывается с узостью Зй-зоны в переходных металлах (например, в N i она со­ ставляет 2,8 эв, в то время как ширина 4$-зоны — 10 эв)-

ВЗй-окислах можно ожидать еще большего сужения

Зй-зоны из-за увеличения расстояния между катионами и уменьшения перекрытия Зй-волновых функций, что должно приводить к росту эффективной массы и умень­ шению подвижности носителей заряда.

По мере увеличения порядкового номера Зй-металлов их ионные радиусы, как правило, уменьшаются, что указывает на преобладание влияния притяжения ядра над взаимным отталкиванием электронов и на постепен­ ное сжатие электронного облака. Морин полагал, что в связи с этим образование Зй-зоны следует ожидать в начале переходного ряда. На основании анализа электри­ ческих свойств он пришел к выводу о возможном обра­

зовании

3<2-зоны в окислахТтитана:

T i 0 2 , T i 2 0 3 (конфи­

гурация

d1) и T i O (конфигурация

d2 ), а также ванадия

V~2 03 (конфигурация d2), но уже в

окислах хрома она,

но мнению Морина, становится столь узкой, что говорить о ее ширине не имеет смысла.

Если исходить из представления о локализованных энергетических уровнях и приписать каждому иону,

§ 2.1]

СПЕКТР ЭНЕРГИЙ ВАЛЕНТНЫХ ЭЛЕКТРОНОВ

><\

находящемуся в определенном валентном состоянии, не­ которую энергию, то можно, как это показал Морин [28], построить схему энергетических уровней валентных электронов Зй-окисла, позднее уточненную ваи Хаутеиом [46]. При этом учитываются следующие вклады в энергию каждого валентного состояния иона:

1)потенциалы ионизации (или сродство к электрону);

2)потенциалы Маделунга;

3)энергия поляризации решетки избыточным электро­ ном или дыркой, локализованными на катионе;

4)энергия стабилизации кристаллическим полем."] Наиболее существенными (— 10—50 эв) являются

первый и второй члены, третий — обычно в несколько раз меньше, а четвертый — 1 эв или менее. Строгость такого подхода вызывает сомнение, так как сравнительно малые энергии (—0,1 эв) вычисляются как разности очень больших величин.

Ван Хаутен и Джонкер [47] указывают на опреде­ ленное значение энергии упругого взаимодействия, воз­ никающего вследствие искажения решетки из-за разницы в размерах различных ионов, а также одного и того же иона, но в различных валентных состояниях. Однако этим членом в расчетах пренебрегается, так как о нем мало что известно. Поправку на поляризацию решетки они делают правильнее Морина, который просто делил рассчитанные значения энергий на величину диэлектри­ ческой проницаемости среды е. Вряд ли такой метод оправдан, так как потенциалы ионизации или сродство к электрону являются индивидуальными свойствами свободных ионов, и их нельзя делить на е.

Рассмотрим кратко основные идеи расчета на примере

закиси никеля

N i O , легированной литием.

Детальнее

электрические

свойства

этого соединения обсуждают­

ся в § 2.5. На закиси никеля

было проведено

значитель­

ное число исследований

в

надежде, следуя

Морину,

найти экспериментальное подтверждение основных идей

механизма перескоков. Следует уже

здесь указать,

что

экспериментальные данные

последних

лет, начиная с

Я . М. Ксендзова [49], В. П

. Жузе и

А

. И. Шелыха

[50],

однако, привели к серьезным сомнениям в отношении существования перескокового механизма электропровод­ ности в закиси никеля.

48

ТЕОРИЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТИ ЭсКЖИСЛОВ

1ГЛ. I I

По Морину [28], ван Хаутепу и Джонкеру [46, 47] носители заряда в N i O могут возникать в результате ряда реакций электронного обмена, которые символи­ чески можно представить в виде следующих уравнений:

а)

О 2 - (2ре)

+

Ш 2 + (3d8 )

-+0~ (2р5)

+

N i +

(3d0 ),

 

 

б)

N i 2 + (3d8 )

+ N i a +

(3d8 ) - > N i 3 +

(3d7 )

+

N i + (3df l ),

 

в)

{ N i } N i 3 +

(3d7 ) + N i a +

(3d8 ) - ^ { N i } N i 2 + (3d8 ) +

N i 3

+

(3d7 ),

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(2.1)

r) L i + N i 3 + ( 3 d 7 ) + N i 2 + ( 3 d 8 ) - ^ L i + N i 2 + ( 3 d 8 ) +

N i 3 +

 

(3d7 ).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Эти

реакции

 

обозначают:

a) — образование

дырки

в

2р-зоне и электрона на 3d-ypoBHHx; б) — образование

пары

электрон—дырка

на Sd-уровнях; в) — захват

электрона

акцептором,

связанным

с вакантным

местом

{ N i } в

под-

решетке ионов

N i 2 + с образованием дырки на 3d-ypoBHflx;

г) — захват

электрона

акцептором,

связанным

с

L i + ,

с образованием

дырки

на

3d-ypoBHHX.

 

 

 

 

 

Энергетический расчет ведется путем последователь­ ного учета вышеуказанных вкладов в энергию каждого валентного состояния иона. Такой метод не учитыва­ ет ширины 2р-зоны и фактически дает расстояние между уровнями никеля и серединой этой зоны. Он не дает также Удовлетворительного согласия между результатами рас­

чета

и

экспериментального определения расстояния Еа

между

акцепторными уровнями L i + , N i 2 + и уровнями

N i 2 +

(рис. 9), которое, судя по данным измерений термо-

э.д.с-, равно 0,035 эв. В работе [47] предполагается, что это расхождение связано с тем, что ионы N i + и N i 3 + раз­ делены только анионами О 2 - . Вследствие этого при расчете

энергии взаимодействия

между L i + и Ш 3 + в соответ­

ствии с выражением Е =

е2/гг (где г — кратчайшее рас­

стояние между ионами), для е нужно брать значительно

большую

величину

в

сравнении

с

макроскопическим

значением

е для N i O .

 

 

 

 

Схема

энергетических уровней

для

N i O по ван

Хау -

тену [46] приведена на

рис. 9. Расстояние между

сере­

диной 2р-зоны и

заполненными

Ш2 + -уровнями

равно

5,3 эв, а между Ш 2 + - и свободными Ш+ -уровнями состав­ ляет — 5,4 эв. Более точный метод расчета и учет влияния

§ 2.1]

СПЕКТР ЭНЕРГИЙ ВАЛЕНТНЫХ ЭЛЕКТРОНОВ

49

кристаллического поля привел в сравнении с методом Морина [28] к существенно новым результатам. Расчет методом Морина для вышеуказанных энергий дает, со­ ответственно, 0,25 и 1,75 эв (при е == 12). Полученные данные указывают на низкую вероятность осуществления реакций (2.1а) и (2.16), в связи с чем по ван Хаутену зона кислорода практически не участвует в проводимости

-г—г—Яда 0г-(2Р<9

~' (запа/фв'ниая)

Рис. 9. Схема энергетических уровней N i O , ^предложенная ван Хаутеном [46].J

N i O . Moринпредполагал, что даже небольшое количество дырок в широкой 2р-зоне в связи с их высокой подвиж­ ностью может быть существенным для механизма про­ водимости.

Для ряда соединений нет необходимости

рассчитывать

всю схему энергетических уровней, как

это делается

для N i O . Сюда относятся те случаи, когда

ясно, между

какими катионами осуществляются реакции электрон­ ного обмена. Для них существенно оценить величину энергетического промежутка (играющего роль запрещен­

ной

зоны

в

случае

обычных полупроводников) между

наиболее

высоким из

заполненных

и наиболее

низким

из

свободных

уровней энергии.

Изучение

процесса

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ