
книги из ГПНТБ / Локальные методы анализа материалов
..pdf32. |
К р и ш т а л |
|
М. А., К о р в а ч е в |
В. Д. В |
сб. «Вопросы ме |
||||||||||||||||
талловедения и прочности металлов и сплавов», |
вып. 3. |
Приокское |
|||||||||||||||||||
книжное изд-во, 1968, с. 74 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
33. |
К р н ш т а л |
|
М. А., К и с е л е в |
В. Ю., Ш е і'і н д л и н |
Б. |
Е. |
|||||||||||||||
Журнал |
прикладной |
|
спектроскопии, |
1969, т. 11, № |
1, с. 5. |
|
|
|
|||||||||||||
34. |
К у д е л я |
Е. С. Автоматическая |
сварка, |
1951, № 3, с. 2. |
|
||||||||||||||||
35. |
К о р о л е в |
Н. В. и др. В сб. «Новые методы |
испытания ме |
||||||||||||||||||
таллов». Металлургнздат, |
1963, с. 138. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
36. |
Г а л о я н |
А. А., |
К о р о л е в |
Н. В. ДАН |
АрмССР, |
1963, |
|||||||||||||||
т. 37, № 4, с. 217. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
37. |
К о р о л е в |
|
Н. В. и др. |
В |
сб. |
«Металловедение |
титана». |
||||||||||||||
Изд-во |
«Наука», |
1964, с. 117. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
38. |
Г е н к и и А. Д., |
|
К о р о л е в |
|
Н. В. Геология |
рудных место |
|||||||||||||||
рождений, 1961, № 5, с. 64. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
39. |
De s c a m p |
|
J. Recherche Aeronautique, 1953, № 32, p. 39. |
|
|||||||||||||||||
40. |
H и к и ф о р о в а Е. Ф., |
Т а р а с е |
н к о А. Я. Вестник ВНИИ |
||||||||||||||||||
железнодорожного транспорта, |
1964, № 8, с. 43. |
- |
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||
41. |
Н и к и ф о р о в а |
Е. Ф. Журнал |
прикладной |
спектроскопии, |
|||||||||||||||||
1968, т. 8, № 4, с. 574. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
42. |
Ж у к о в |
А. А. |
Литейное |
производство, |
1958, |
№ |
|
12, |
с. |
29. |
|||||||||||
43. |
Ж у к о в |
А. |
А. Литейное |
производство, |
1959, |
№ |
1, |
с. |
36. |
||||||||||||
44. |
К р н ш т а л |
|
М. А. и др. Литейное |
производство, |
|
1960, № 2 , |
|||||||||||||||
с. 28. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
45. |
Р и к м а н |
Э. П. и др: В сб. «Вопросы |
металловедения |
и |
|||||||||||||||||
прочности металлов |
|
и сплавов», Тула, |
Приокское |
изд-во, 1968, с. 182. |
|||||||||||||||||
46. |
К о к о р а |
А. Н., Р и к м а н |
Э. П. Физика |
и химия |
обработ |
||||||||||||||||
ки материалов, 1968, № 1, с. 11. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
47. |
В о д о в а т о в Ф. ф . |
В |
сб. «Технология |
легких |
|
сплавов», |
|||||||||||||||
(ВИЛС), вып. 5. Изд. ВИЛ С, 1966, с. 13. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
48. |
М а л и н о ч к а |
Я- Н. и |
др. Литейное |
|
производство, |
1963, |
|||||||||||||||
№ 1, с. 22. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
49. |
Ж у к о в |
А. А. Литейное |
производство, |
1965, № 11, с. 28. |
|
||||||||||||||||
50. |
Ж у к о в |
А. А. и др. В сб. «Повышение |
производительности |
||||||||||||||||||
труда в литейном производстве (труды XXII Всесоюзной |
|
конферен |
|||||||||||||||||||
ции литейщиков), |
ч. I . Изд. НИИМаш, |
1969, с. 353. |
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||||
51. Д е м ь я н |
ч у к А. С. и др. В сб. «Методы |
эмиссионного ло |
|||||||||||||||||||
кального'и микроспектралыюго анализа». Изд. ЛДНТП, |
1964, с. 33. |
||||||||||||||||||||
52. |
Сб. «Физические методы анализа следов |
элементов» |
(пе- |
||||||||||||||||||
рев. с англ.). Изд-во «Мир», 1967. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||
53. |
A h e a r n |
A. J. |
Mass-spectrometric |
analysis of |
Solids, |
1966. |
|||||||||||||||
54. |
Ч у п а х и и |
|
H . С. и др. ЖАХ, 1969, т. 24, № 3, с. 352. |
|
|||||||||||||||||
55. |
Ч у п а х и н |
|
1-І. С. и др. ДАН |
СССР, |
|
1969, т. |
184, |
№ |
6, |
||||||||||||
с. 1372. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
56. |
D e m p s t e r |
|
A. J. Rev. Sci. Instr., 1936, |
v. 7, |
p. |
46. |
|
|
|||||||||||||
57. |
С л и в к о в |
И. Н. |
и др. Электрический |
|
пробой |
и |
разряд в |
||||||||||||||
вакууме. Атомиздат, 1966. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||
58. |
G r a n b e r g |
|
L. J. Appl. Phys., |
1952, v. 23, № |
4, p. 518. |
|
|
||||||||||||||
59. |
В о у 1 е |
W. |
S. J. Appl. Phys., 1955, v. 26, |
p. 720. |
|
|
|
||||||||||||||
60. |
П и в о в а р |
|
Л. И., Г о р д и е н к о |
В. И. ЖТФ, 1963, № 7 |
|||||||||||||||||
с. 908. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
61. |
G o l d m a n |
|
М., |
G o l d m a n |
A. |
J. |
Phys. |
(Paris), |
1963, |
||||||||||||
v. 24, № 5, p. 303. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
62. |
D e g e e t e r |
|
D. I . J. Appl. Phys., |
1963, v. 34, № |
4, p. 919. |
|
|||||||||||||||
63. |
L i t t l e R. P. J. Appl. Phys., |
1963, v. 34, № |
8, |
p. 2430. |
|
|
|||||||||||||||
5Q |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
64. |
А 1 р е г t |
D., L е е D. A., L у m а п Е. М. J. Vacuum. Technol.. |
|||||||||
1964, v. 1, № 2, p. 35. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
65. |
В г о d i e |
I . J. Appl. Phys., |
1964, v. 35, № 8, p. 2324. |
|
|
||||||
66. |
И о и о в 1-І. И. ЖТФ, 1960, № 30, с. 561. |
|
|
|
|||||||
67. |
П и в о в а р |
Л. И , |
Г о р д и е н к о В. И. ЖТФ, 1962, № |
32, |
|||||||
с. 1230. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
68. |
B r a d l e y |
R. С. J. Appl. Phys., 1962, v. 33, p. 880. |
|
|
|||||||
69. |
F r a r i s e n J. Z. Naturforsch., 1963, Bd 18, H. 3, S. 397. |
|
|||||||||
70. |
W o o Is t o n |
J. |
R. and |
H o n i g |
R. E. Rev. Sci. Instr., 1964, |
||||||
v. 35, p. 69. |
|
|
|
|
H о n і g R. E. 12-th Annual Conferen |
||||||
71. |
W о о 1 s t о n J. R. and |
||||||||||
ce on Mass Spectrometry, 1964, p. 57. |
|
|
|
|
|
||||||
72. |
Р и к Г. P. |
Масс-спектроскопня. Гостехтеоретиздат, 1953. |
|||||||||
73. |
S t e p h e n s , |
Phys. Rev., |
1934, v. 45, p. 123. |
|
|
|
|||||
74. |
M a t t a u c h |
J., |
H e r z o g |
R. Z. Phyz., |
1934, Bd 89, |
№ |
12, |
||||
S. 786. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
75. |
M a t t a u c h |
J. Phys. Rev., |
1936, v. 50, № 7, p. 617. |
|
|
||||||
76. |
Ч у n a x и и |
M . С. и др. ЖАХ, 1963, т. 18, p. 618. |
|
|
|||||||
77. |
K a w a n o |
H. |
Bull. |
Chem. |
Soc. |
Japan, |
1964, v. 37, |
№ |
5, |
p.697.
78.Полупроводниковые соединения AIUBV. Под ред. P. Виллардсона и X. Геринга. Изд-во «Металлургия», 1967.
79.Б е й н о н Д. Масс-спектрометрия и ее применение в орга нической химии. Изд-во «Мир», 1964.
80. |
Н і с k a m |
W. М. and |
S w e e n e y |
G. G. Rev. |
Sci. Instr., |
||||||
1963, v. 34, p. 783. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
81. |
W a l l a c e |
R. and |
R o b o z |
J. Annual Conference on |
Mass |
||||||
Spectrometry, |
1963, p. 79. |
|
|
|
|
|
|
|
|||
82. |
H i c k |
a m |
W. M . and |
S w e e n e y |
G. G. |
Annual |
Conference |
||||
on Mass Spectrometry, 1963, p. 57. |
|
|
|
|
|
||||||
83. |
F l e t c h e r |
W. Mass |
Spectrometry |
Conference, |
1962, |
p. 79. |
|||||
84. |
Г л а в и и Г. Г. и др. ФТТ, 1965, № 7, с. 513. |
|
|
||||||||
85. |
A h e a r n |
A. J. J. |
Appl. Phys., 1961, v. 32, p. 1197. |
|
|||||||
86. |
H о d g s о n F. |
N . |
Tech. |
Documentary |
Report |
No. |
ASD— |
||||
TDR—63—383. |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
87. |
I n g r a m |
M . |
G. |
J. |
Chem. Phys. 22, |
1954, v. 22, |
№ 7, |
p.1279.
88.К e s s 1 e г Т. a. H і с к a m W. M . Annual Conference on Mass Spectrometry, 1965, p. 90.
89.В і e m a n n К. a. M с С 1 о s к e у J. A. J. Am. Chem. Soc, 1962, v. 84, p. 2005.
90. Ч у n a x и н M . С. и др. ДА Н СССР, 1964, т. 158, № 3, с. 689.
Раздел 11
Лазерный
микроанализ
Г л а в а 1
Лазеры и эффекты, сопутствующие взаимодействию лазерного излучения с веществом
Крупнейшим открытием последнего десятилетия на шего века являются лазеры *. Явление усиления электро магнитных колебаний оптического диапазона при помо щи индуцированного излучения атомов и молекул лежит в основе работы лазеров [1]. Лазерное излучение так же, как и искру, в последние годы с успехом используют для аналитических целей, в частности в локальном ана лизе.
Понятие лазерного микроанализа включает фокуси рование лазерного излучения в исследуемую зону с по следующей регистрацией параметров образующейся микроплазмы аналитическими приборами.
Метод проектирования на щель оптического спектро графа микроплазмы, полученной при помощи «лазерного микроскопа» с последующей регистрацией оптического спектра пробы, носит название лазерного спектрального анализа. Основы лазерного микроанализа по оптическим спектрам подробно описаны в работе [39].
' Регистрация ионов микропробы датчиками масс-спек трометра в вакуумной измерительной камере с последу ющим разложением на масс-спектры и их идентификаци ей называется лазерным масс-спектральным анализом.
* Термин «лазер» образован из начальных букв слов следующего английского - выражения: light amplification by stimulated emission of radiation, что в русском переводе означает: «усиление света с по мощью индуцированного излучения». В отечественной литературе принято также обозначение лазеров буквами ОКГ (оптические кван товые генераторы).
Лазеры и лазерный микроскоп
Резонаторы и режим свободной генерации
Важнейшей неотъемлемой частью любого оптическо
го квантового генератора |
является резонатор. Оптиче |
||||
ским |
резонатором |
лазера |
будем |
называть |
систему из |
двух |
обращенных |
друг' к другу |
отражающих |
поверхно |
стей, между которыми располагается активное вещество генераторов (например, кристалл рубина).
Основным назначением резонатора является осущест вление обратной положительной связи за счет возвраще ния некоторой части распространяющегося между отра
жающими поверхностями излучения обратно |
в среду. |
|
Как известно из принципа работы |
лазера [2], |
активная |
среда, находясь в неравновесном |
состоянии, |
способна |
усиливать многократно проходящее через нее излучение. Процесс усиления тесно связан с направленностью из лучения. Наибольшее число раз через активную среду пройдут лишь те лучи, которые распространяются под очень небольшими углами к оси резонатора. Они в ос новном и будут определять выходную мощность. Лучи, идущие под большими углами к оси резонатора, при каждом отражении от зеркала будут все сильнее откло няться от оси и выходить через боковые поверхности ак тивной среды, не получив достаточного усиления, мощ ность их будет незначительной. Таким образом, резона тор выполняет в лазере важнейшие функции, определяя как само существование генерации, так и основные свой ства выходящего излучения. Наиболее широко использу ется резонатор с плоскими зеркалами, преимуществом
которого является простота в изготовлении.
Однако временное распределение излучения, выходя щего из резонатора с плоскими зеркалами характеризу ется хаотичностью и состоит из нескольких сот коротких импульсов длительностью около 2 мксе,к. Интервалы между всплесками могут быть порядка 5—10 мксек (рис. 20). Полная длительность импульса излучения со ставляет 0,5—1,0 мсек.
Хаотичность пульсаций лазера и очевидное отсут ствие их повторяемости, по-видимому, вызваны различ ными факторами. Одним из этих факторов является не однородное возбуждение активной среды. В связи с этим вынужденное излучение развивается в каждой части ак-
ТЇІВНОГО элемента с различной скоростью и не одновре менно. Временное распределение излучения лазера су щественно зависит и от конфигурации резонатора. Вооб ще нерегулярный сигнал получается в системах с раз личной добротностью для многих возможных типов коле баний, что имеет место в генераторах с резонаторами из
1 1 1 1 |
м м |
м м |
M i l |
1 |
1 1 |
Г " n i l |
M i l |
1 |
1 1 1 1 |
1 1 |
1 1 1 1 1 |
1 г I I |
I I 1 1 |
і і і і |
і і 11 |
I t |
1 |
1 1 І 1 1 1 1 I 1 |
1 |
I 1 1 1 |
1 1 |
1 |
|
11 |
0JU |
|
|
|
u |
|
|
|
|
u |
|
|
|
|
|
|
|
j |
. |
|
|
|
і |
Рис. 20. Осциллограмма излучения рубинового лазера в резо наторе с плоскими зеркалами (1 деление — 5 мксек)
плоских зеркал. В этом случае одновременно возникает небольшое число поперечных типов колебаний, с течени ем времени одни типы сменяются другими. Регулярный выходной сигнал может, наблюдаться, если в системе воз можно возбуждение только одного типа колебаний или большого числа типов колебаний с примерно одинаковы ми добротностями.
Условия для возникновения большого числа типов ко лебаний с мало различающимися добротностями наибо лее благоприятны в резонаторах, образованных сфериче скими зеркалами, или в конфокальных резонаторах.
Конфокальный резонатор может быть образован сфе рическими или параболическими зеркалами. Сфериче ские зеркала должны иметь одинаковую кривизну и сов падающие фокусы.
Врезонаторе со сферическими конфокальными зер калами существуют те же нормальные типы колебаний, что и в плоскопараллельном резонаторе. Однако поверх ности зеркал в конфокальном резонаторе являются по верхностями равных фаз, т. е. распределение фазы по по верхности зеркала однородно. Электромагнитное поле значительно сильнее сконцентрировано у оси отражателя
ипадает на краях до меньшей величины, чем в резонато ре с плоскими зеркалами.
Вработах [3, 4] рассмотрен более упорядоченный режим временного распределения в лазере на рубине
.с конфокальными резонаторами. В работе [5] также со общается о получении регулярного временного распре деления излучения лазера на неодимовом стекле с резо натором из сферических зеркал при различных расстоя ниях между ними. В работе показано, что периодический режим временного распределения зависит от расстояния между зеркалами и расположения их относительно гене рирующего стержня.
Во всех экспериментально исследованных случаях импульс генерации состоял из регулярно следующих друг за другом пичков одинаковой формы.
Работа лазера
в режиме модулированной добротности
Описанное выше временное распределение излучения в плоском и конфокальном резонаторах соответствует так называемому режиму свободной генерации. Однако, используя те же резонаторы, на выходе из оптического квантового генератора можно получить всего один им пульс.
Одним из методов получения моноимпульса является режим с модуляцией добротности резонатора.
При работе обычного лазера излучение начинается до окончания накачки. Это обстоятельство мешает переводу большей части активных частиц в возбужденное состоя ние. Однако есть возможность обеспечить такое состоя ние рабочего вещества, при котором почти все его актив ные частицы будут находиться в возбужденном состоя нии. Это состояние может возникнуть еще до наступле ния генерации. Следовательно, для достижения таких условий необходимо исключить генерацию до тех пор, пока не кончился процесс накачки.
В работающих системах для получения моноимпуль сов между стержнем лазера и одним из зеркал помеща ют оптический затвор. В момент накачки, когда импульс ная лампа-вспышка включена, затвор не пропускает све та к зеркалу и отражения не происходит. И хотя очень большое число частиц активного вещества переведено в возбужденное состояние, генерация не возникает. Когда процесс накачки заканчивается и число возбужденных ионов достигает максимума, затвор быстро открывается. Вслед за этим в стержне мгновенно возникает генерация. Вся энергия, запасенная в возбужденных ионах актив-
ного вещества, освобождается в одном гигантском им пульсе-взрыве. Длительность такого импульса составля ет около Ю - 8 сек, и мощность сфокусированного излуче ния достигает 10" вт/см2. На рис. 21 показан импульс, полученный при модулировании добротности резонатора.
Однако энергия в импульсе на выходе из лазера не возрастает, а даже уменьшается вследствие дополнитель-
900
О |
0,2 |
ОМ |
0,6 |
0,8 |
1,0 |
I.Z |
>j |
|
|
|
Врепя ,пксек |
|
|
|
|
Рис. 21. Осциллограмма |
моиокмпульса (режим |
модуля |
|||||
|
ции |
добротности |
резонатора) |
|
|
||
ных потерь, вносимых в резонатор |
затвором. Возрастает |
только мощность.
Принцип действия затвора иначе можно рассматри вать с точки зрения внесения им переменных потерь в ре зонатор, что приводит к изменению добротности резона тора. Именно по этой причине лазеры, излучающие ко роткие и мощные моноимпульсы, называют генераторами с переменной или модулированной добротностью. По скольку добротность обычно обозначается Q, то рассмат риваемые лазеры называются иногда лазерами с Q-моду- ляцией. Наконец, имея в виду огромную мощность излу чаемых импульсов, их называют также генераторами гигантских импульсов.
В настоящее время в качестве затворов используют различные устройства, действие которых основано на механ-ических, акустико-оптических или фотохимических эффектах прерывания света [6] .
Лазерный микроскоп
Во всех лазерных микроанализаторах существует си стема визуального наблюдения за взаимодействием ла зерного излучения с поверхностью исследуемого мате-
риала. Соединение внешней энергетической оптической системы, через которую проходит луч лазера, с наблю дательной системой принято называть лазерным микроскопом. Таким образом, при помощи лазерного микроско па можно не только фокусировать на изучаемую поверх ность луч лазера, но и одновременно наблюдать и из мерять облученную зону.
3
Рис. 22. Схема лазерных микроскопов:
/ — лазер; 2 — образец; 3—осветитель; 4, 5 — зеркала
Схемы лазерного микроскопа для оптического эмис сионного спектрального и масс-спектрального анализа несколько различаются в связи со спецификой методов, но принцип работ один и тот же. На рис. 22 представле ны схемы лазерных микроскопов для спектрального и масс-спектрального анализов.
Как указывалось выше, оптические квантовые генера торы излучают в очень небольшом телесном угле, т. е. ла зеры можно рассматривать как источники почти парал лельных лучей с малой расходимостью.
Однако с удалением от резонатора расходимость све тового луча увеличивается. Уменьшить расходимость в этом случае нам поможет фокусирующая система ла зерного микроскопа. Рассмотрим, какой наименьший диаметр фокального пятна мы сможем получить, фоку сируя луч рубинового лазера с длиной волны %=0,7 мкм на излучаемую поверхность.
В образовании фокального пятна участвует дифрак ция, увеличивая его размер. Освещенное лучом лазера место на поверхности мишени окружено большим числом
темных и светлых дифракционных колец. Согласно рас четам [7], диаметр пятна, ограниченного первым ди фракционным кольцом, будет равен:
|
d = |
2-о,б |
п;и, |
|
|
Я—длина волны мкм; |
|
|
|
|
|
U— апертурный угол, равный отношению |
диаметра |
||||
фокусирующей линзы к удвоенному фокусному |
|||||
расстоянию. |
|
|
|
|
|
Так, например, при апертуре, равной 0,65, луч может |
|||||
быть сфокусирован |
в |
фокальное |
пятно |
диаметром |
|
1,3 мкм. При таком диаметре облученной зоны |
плотность |
||||
излучения 1 лазера может достигнуть |
101 2 вт/см2. |
||||
Для лазеров, работающих в режиме свободной гене |
|||||
рации с пичковым временным распределением |
излучения, |
||||
плотность мощности |
составляет |
106—108 вт/см2 при дли |
тельности импульса 0,5—5 мсек. Мощность, выделяемая лазерами с модуляцией добротности, соответствует ин тервалу 107—10" вт/см2 при длительности импульса 30—100 нсек.
При микроанализе можно применять, кроме спе циально разработанных лазерных устройств, маломощ ные универсальные лазерные установки. В табл. 1 приве дены некоторые данные используемых в микроанализе лазерных микроскопов, выпускаемых промышленностью.
ТАБЛИЦА 1. Д А Н Н Ы Е Л А З Е Р Н Ы Х М И К Р О С К О П О В . И С П О Л Ь З У Е М Ы Х В Л А З Е Р Н О М М И К Р О А Н А Л И З Е
Тип лазерной |
Д л и н а |
Энергия |
|
выхода, О х л а ж д е н и е |
|||
установки |
волны, мкм, |
||
|
|
дж |
Р а с х о |
Длитель |
ность |
|
димость, |
импуль |
мин |
са, мсек | |
Раздан |
0,69 |
2 |
Водяное |
— |
1 |
СУ-1 |
0,69 |
< 1 |
Воздушное |
20 |
1 |
|
0,69 |
|
|
|
5 |
к-зм |
0,69 |
<1,5 |
|
15 |
1-5 |
LMA-1' |
1,06 |
0,2 |
» |
10 |
1 |
МСЛ-2 |
1,06 |
0,4 |
Водяное |
15 |
0,75 |
1 В технической |
литературе также употребляется выражение |
||||
«плотность |
мощности». |
|
|
|
О механизме взаимодействия излучения лазера с веществом
Режим свободной генерации
Рассмотрим теперь, как действуют на материалы мощные световые пучки, получаемые от лазеров, рабо тающих в режиме свободной генерации.
Оптические свойства [8] металлов удовлетворитель но описываются моделью свободных электронов. Сог ласно этой модели, не отраженный от поверхности ме талла свет практически полностью поглощается. Погло щение происходит по закону Бугера—Ламберта:
(б — коэффициент поглощения; / и /о — плотность све тового потока на расстоянии х от облученной поверхно сти и в падающем пучке соответственно). Толщина слоя, в котором поглощается излучение: 1/6= 104— 105 см~1.
Для полупроводниковых же материалов поглощение света зависит от соотношения энергии кванта hv и ши рины зоны запрещенных энергий АЕ. Если hv<.AE, то в идеальном полупроводниковом кристалле поглощение определяется свободными носителями и составляет не
значительную величину |
(—0,1—0,01 см~1 при |
комнат |
ной температуре). Если |
hv>AE, то основное |
поглоще |
ние связано с переходами электронов из валентной зоны в зону проводимости.
Поглощение |
в этом случае может достигать |
104— |
105 слН [9]. |
|
|
Поглощение |
света, как в случае металлов, так |
и в |
случае полупроводников приводит прежде всего к повы шению температуры Те газа валентных электронов. На гревание решетки происходит в результате обмена энер гии между электронами и решеткой. Время передачи энергии решетке электронным газом, нагретым излуче
нием, составляет Ю - 1 1 сек. |
|
|
Поскольку в слое толщиной Ю - 4 — Ю - 5 см |
электрон |
|
ный газ нагревается за время действия |
лазерного пика |
|
Ю - 5 — Ю - 6 сек, то разность температур |
между |
электрон |
ным газом и решеткой в этом слое принимает стацио нарное значение.
С.повышением температуры поверхности материала отражательная способность уменьшается и вся погло щенная энергия переходит в тепло.