
книги из ГПНТБ / Лоповок Т.С. Волнистость поверхности и ее измерение
.pdfу (х+ т ) — ординаты профилограммы в выбранной системе координат; ту — математическое ожидание профилограммы в выбранной системе координат.
'Корреляционная функция позволяет выявить окрытую пе риодичность профиля поверхности. Так, на рис. 17* показаны
две профилограммы, |
снятые с одинаковыми |
вертикальными |
||
и горизонтальными |
увеличениями (в |
2000 и 20 раз) с фре |
||
зерованной и точеной |
поверхностей, |
мало |
отличающихся |
|
друг от друга по внешнему виду и значениям |
Ra — средней |
|||
арифметической высоты |
неровностей**. Однако корреляцион- |
Рис. 18. Профилограмма поверхности (а) и ее нормированная корреляционная функция (б)
ные преобразования этих профилей выявили ах резкое раз
личие, показав, что один из них |
(фрезерование) |
может |
быть |
||||
отнесен к разряду случайных, а |
другой (точение) |
— к |
раз |
||||
ряду |
периодических. |
|
|
|
|
|
|
Вместо корреляционной функции К(х |
)часто |
пользуются |
|||||
нормированной корреляционной |
функцией |
р(т ) |
(рис. 18): |
||||
|
|
р(т) = К(г) |
|
|
|
|
|
где |
D — дисперсия |
D |
при т =0 |
р(т ) = 1. |
|
||
профиля; |
|
||||||
На практике при |
вычислении корреляционной |
функции |
интеграл в формуле (6) заменяют конечной суммой и кор реляционную функцию определяют поформуле
Яу(т ) = тЬг'і*1 ^ -УсрШх+ т ) - у с р ] , |
(7) |
причем I и х выражают в интервалах Д х, на которые раз-
*Из материалов доктора-инженера 3. Хельдта (ГДР, Карл-Маркс- Штадт. Высшая техническая школа).
**См. ГОСТ 2789—59.
деляется профнлограмма по оси абсцисс для расчета корре ляционной функции.
•Структурную формулу корреляционной функции 'профи
ля, содержащего систематическую и случайную |
составляю |
|
щие, запишем следующим образом*. |
|
|
ад«яР |
Ь)+кУ (%)=±11А*СО8Ц-Т+к, (т). |
(8) |
Отсюда следует, что .коррелограмма** профиля, содержа щего систематическую ур (х) и случайную yv (х) составляю-
Рис. 19. Разделение профилограммы и коррелограммы профи ля на составляющие:
а — профнлограмма и коррелограмма профиля; б— профнлограмма н кор релограмма систематической составляющей профиля; в — профнлограмма и коррелограмма случайной составляющей профиля
щие, в свою очередь состоит из коррелограммы систематиче ской К? (т) и коррелограммы случайной /Ст (т) составляю щих (рис. 19) исследуемого профиля.
*Формула выведена на основании математических преобразований, выполненных в работе [9].
**Коррелограмма — графическое изображение корреляционной функ^
ции.
62
• В составе корреляционной функции систематической |
со |
|
ставляющей профиля остаются те же гармоники, что |
и в |
|
профиле поверхности, |
но амплитуды их изменяются. Так |
как |
амплитуды гармоник |
профиля при расчете корреляционной |
функции возводятся в квадрат, то большие амплитуды |
уве |
||
личиваются в соответственно |
большее число раз, чем малые, |
||
т. е. ікоррелограмма |
выделяет |
более мощные гармоники |
про |
филя и затушевывает |
слабые. |
|
|
Корреляционная функция систематической составляющей профиля является четной, поэтому членов с синусами не со держит, а аппроксимируется только суммой косинусоид. По этому можно записать.
|
Я р ( т ) ~ 0 ,5 |
2 |
Л ^ ^ - т , |
(9) |
где Л І и |
Tt—амплитуда |
и |
шаг і-й систематической |
состав |
ляющей |
профиля. |
|
|
|
В связи с тем, что корреляционное преобразование четко |
||||
выделяет |
самую мощную |
гармонику, формула может быть |
||
упрощена: |
|
2я |
|
|
|
|
|
|
|
|
/ С р ( т ) « 0 , 5 Л 2 с о 5 ^ - т , |
(Ю) |
где Л р и Т р —-амплитуда и шаг более -мощной гармоники. Наиболее приемлемым выражением для Ку (т) является,
как определено в работе [7], выражение DT е - а * т а — один из нескольких вариантов математических формул, ко торые могут быть использованы для аппроксимации коррелограммы.
Тогда полное выражение для коррелограммы профиля поверхности будет следующим:
tf(T)«0,54gcos |
T^x+Dye |
, |
(11) |
где Dy—-дисперсия случайной составляющей |
профиля; |
||
при т = 0 |
K(0)=^-+Dy. |
|
(12) |
Ю. Р. Витеабергом с помощью корреляционного преобра зования разделены систематические и случайные составляю щие профилей поверхностей, обработанных различными ме тодами.
К основным характеристикам* систематической составля ющей были отнесены R а о —среднее арифметическое откло-
* Характеристика с индексом Р определяет систематическую, с индек сом у — случайную составляющие.
нание, Тр —шаг неровностей, Ср — коэффициент, |
зависящий |
||||
от формы .периодически располож-енных неровностей. |
|
||||
Характеристика Ra$ |
определяет положение |
точек |
про |
||
филя по высоте и рассчитывается |
по формуле |
|
|
|
|
|
V |
К р ( 0 ) |
|
|
|
причем К(, .(0) измеряется |
непосредственно на |
коррелограм- |
|||
ме (см. рис. 19). С р ^коэффициент, зависящий |
от |
формы |
пе |
риодически расположенных неровностей. Например, для си
нусоидального профиля Ср ='1,і22, |
для треугольного С р = |
= 1,15; для прямоугольного С р =1,0 |
и т. д. |
Шаг 7р также измеряется на коррелограмме. Для повы |
|
шения точности определения шага |
рекомендуется измерять |
его последовательно между соседними периодически распо
ложенными |
неровностями коррелограммы |
и |
брать |
среднее |
|
знамение. |
|
|
|
|
|
К основным характеристикам случайной |
составляющей, |
||||
имеющей |
нормальное |
распределение*, |
|
были |
отнесены |
Ray—среднее |
арифметическое отклонение |
и |
Ту |
—средний |
|
шаг неровностей. |
|
|
|
|
|
Характеристика Ray |
определяет рассеивание точек про |
||||
филя по высоте и определяется по формуле |
|
|
|
1,25
причем Ку (0) измеряется на коррелограмме (см. рис. 19). Средний шаг Ту определяется следующим образом. На ветви коррелограммы, характеризующей случайную часть профиля, выбирают точку Р, измеряют К? (т Р ) И Тр и Ту
вычисляют по формуле
Коэффициент случайности у также входит в систему ос новных корреляционных характеристик профиля 'поверхно сти.
Разделение .профиля поверхности на систематическую и случайную составляющие (на основе корреляцишных преоб-
* Д л я поверхностей, обработанных шлифованием, точением, фрезеро ванием, обкатыванием и некоторыми другими методами, закон распределе ния случайной составляющей близок к нормальному.
разованнн) отражает технологическую природу возникнове ния неровностей и может служить основой для решения ряда исследовательских задач в основном технологического харак тера.
При таком подходе к нормированию профилей поверхно
стен должны |
быть существенно изменены сложившиеся к на |
|||||||
стоящему |
времени представления |
о |
неровностях |
поверхно |
||||
сти. Причем |
не имеет принципиального |
значения, |
будет ли |
|||||
случайная |
составляющая названа |
шероховатостью, |
а |
перио |
||||
дическая |
составляющая—волнистостью. |
Это |
обстоятельство |
|||||
должно быть |
принято во внимание, |
однако не может |
рас |
|||||
сматриваться |
как непреодолимое |
препятствие. |
Значительно |
большим препятствием является пока чрезвычайно сложный математический аппарат, который нужно применить для на
хождения |
корреляционной |
функции. |
Для |
получения |
одной |
|
к-оррелограммы осуществляют около |
10 000 |
операций*. |
Кро |
|||
ме того, необходимо определить интервал |
Ах для |
ра*зличных |
||||
профилей поверхностей, поскольку при различных |
значениях |
|||||
А х для |
одной и той же |
профнлограммы |
корреляционные |
функции различны. Существующие рекомендации, устанавли вающие, что А х должно быть выбрано от-і_до -L- макси мального шага учитываемых неровностей, нельзя считать до статочно четкими.
В силу изложенного выше -можно сделать вывод о пер спективности (особенно в технологическом аспекте) разде ления профиля поверхности на случайную и систематиче скую составляющие. Вопрос о нормировании неровностей по верхности в соответствии с указанным делением является преждевременным и в настоящее время не .может быть решен положительно прежде всего из-за большого объема необхо димых вычислений.
Применение гармонического разложения (тригонометрических рядов Фурье) для анализа профилей поверхностей
Одним из методов анализа профилей обработанных по верхностей является их гармоническое разложение с по мощью тригонометрических рядов Фурье. Гармонический ана лиз позволяет получить спектр (разложение на гармониче-
* Коррелограммы рассчитывают и строят с помощью ЭВМ и специаль ных вычислительных машин — корреляторов.
окне составляющие) профиля и определить наличие в нем тех или иных гармоник*.
На рис. 20 представлен профиль и спектр исследуемойповерхности [12]. Разложение искомого профиля на девять первых гармоник позволило определить, что в нем отсутству ют гармоники от 3-й до 7-й, а амплитудные и фазовые харак теристики полученных гармоник дали дополнительную инфор мацию об исследуемом профиле.
- \0 |
|
J |
у л |
А |
5 — |
|
|
0,5 |
|
|
|
|
|
|
|
0 |
|
|
|
|
|
|
|
-0,5 |
|
|
|
|
|
|
|
-1,0 |
|
|
|
|
|
|
|
-15 |
|
|
|
|
|
|
X |
-2.0 |
|
* |
|
|
|
|
1і 2т |
|
|
|
|
|
|
||
|
|
if |
|
|
|
|
|
Рис. 20. |
Профиль и спектр профиля шлифованной поверхности: |
||||||
J — исходный |
профиль; 2— 1-я |
гармоника; .?—2-я |
гармоника; |
•/—8-я |
гармоника; |
J—9-я |
|
|
гармоника; 6 — суммарная |
кривая |
|
|
|
||
Сведения такого характера в зависимости |
от поставлен |
||||||
ной задачи |
либо могут |
быть положены |
в -основу |
анализа |
точ |
ности технологического процесса, определяемого причі-шами,. имеющими периодический характер**, либо могут являться основой для определения функциональных характеристик по верхности, особенно ее виброактивности.
В работе И. В. Дунина-Барковского [12]*** были проана лизированы возможности гармонического анализа для оцен ки профиля поверхности. С этой целью было проведено разло жение профилей поверхностей деталей, типичных для маши ностроения и приборостроения (штанги штангенциркуля, экс-
* См. также стр. 15—16 ** Такие работы являются частью работ по компенсации технологиче
ских погрешностей обработки, которые ведутся в Московском стапкоинструмеитальиом институте под руководством докт. техн. наук засл. деятеля науки и техники РСФСР проф. Б. С. Балакшнна, а также докт. техн. наук проф. С. С. Волосова.
*** Автор данной и ряда других работ докт. техн. наук проф. И. В. Ду- нин-Барковскнй возглавляет ряд направлений исследовании (в том числе и рассматриваемое) в области качества обработанных поперхностей.
центрикового валика токарио-винторезного |
станка, |
коленча |
||||||||||
того |
вала, поршневого пальца и т. д.). |
|
|
|
|
|
||||||
Спектры профилей поверхностей были представлены по |
||||||||||||
лигонами спектральных |
распределений |
дисперсий |
(рис. |
21) |
||||||||
для деталей, поверхности |
которых обработаны |
шлифованием. |
||||||||||
Профилогр.ам-мы с этих поверхностей были сняты на дли |
||||||||||||
не 2,5 |
мм. По оси абсцисс откладывали |
«условные |
частоты» |
|||||||||
со , определяемые |
отношением |
основного шага |
профиля |
BQ |
||||||||
к шагу В,,, где п—порядковый |
номер гармоники. По оси |
ор |
||||||||||
динат |
откладывали |
|
относительные квадраты |
амплитуд |
гар |
|||||||
моник в 'процентном |
отношении: |
|
|
|
|
|
|
|
||||
где |
А п |
— амплитуда |
я-й |
гармоники; |
Нсл{ |
— среднее |
квадрати- |
|||||
ческое |
отклонение |
точек |
профиля от его средней линии |
|||||||||
(Нс.к |
в математическом |
отношении |
представляет собой |
дис |
||||||||
персию |
профиля). |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
На |
рис. 21 можно отметить одну |
особенность — почти |
все |
приведенные 'спектры профилей имеют пики, т. е. содержат доминирующие гармоники, которые попадают в область низ ких частот, характеризующую волнистость. Определение до-л минирующей гармоники представляет значительный интерес, \ поскольку она во многих случаях оказывает определяющее : влияние на функционирование деталей.
Реальный профиль не может быть выражен конечной сум мой гармоник, поскольку, помимо полигармонической части в реальном профиле присутствует и случайная составляющая.
Поэтому разложение в ряд конечных гармоник является при- , ближенным представлением реального профиля. Применение ' гармонического разложения с помощью тригонометрических рядов Фурье для выражения реального профиля целесооб разно только тогда-, когда случайная составляющая профиля мала, т. е. для таких профилей, которые можно охарактери зовать как периодические (см. также.табл. 4).
•Вследствие, промежуточного |
положения |
волнистости |
(между отклонениями формы и шероховатостью) |
она в од |
ном случае будет характеризоваться высокочастотными гар мониками профиля, в другом —низкочастотными.
В первом случае гармоническому разложению подверга
ется профиль |
поперечного |
сечения цилиндрической детали |
||
или ирофіилограмма, снятая на |
всей длине детали. При этом |
|||
первые |
номера |
гармоник |
будут |
характеризовать отклонения |
формы, |
а последующие, |
более |
высокочастотные, — волнис |
|
тость (см. стр. |
16). |
|
|
s
Рис. 21. Полигоны спектральных распределений дисперсий профилей поверхностей
Во втором случае гармоническому разложению подверга ется профилогра.мма, снятая с небольшого участка поверх ности. При этом первые (низкочастотные) -номера гармоник характеризуют волнистость, а последующие, более высоко частотные, — шероховатость. В данном случае вопрос о вы боре основной гармоники еще не решен: определить ее пе риод длиной отрезка, на котором снималась профилограміма, определить период визуально по ирофилограмме, а затем уточнить при помощи периодограмманализа, как предла гается в работе [12], или исходить из каких-то других пред посылок. Решение этого вопроса потребует дополнительных исследований.
Несмотря на это уже сейчас можно говорить о том, что
гармонический анализ профилей |
поверхностей с |
помощью |
||
тригонометрических рядов Фурье |
является одним |
из наибо-г |
||
, лее |
эффективных инструментов как для определения |
нали |
||
чия |
в .профиле поверхности тех или иных гармоник |
(и, в |
част |
|
ности, тех, которые характеризуют волнистость), |
так и |
для |
выявления доминирующей гармоники профиля. Особо нужно подчеркнуть принципиальную возможность стандартизации волнистости с помощью тригонометрических рядов Фурье. Поскольку причины возникновения волнистости (как было показано выше) носят систематический характер, то для ее математического выражения наиболее пригоден аппарат гар монического анализа, с помощью которого возможно норми ровать волнистость определенными номерами гармоник спек тра профиля*.
Положительным фактором гармонического разложения является также значительно меньший объем вычислительных операций, чем, например, при корреляционных преобразова ниях. Специально разработанные технические приемы и осо бенно гармонические анализаторы** значительно облегчают задачу гармонического .разложения.
Применение спектральных плотностей для анализа профилей поверхностей
Спектральная плотность S(co) (в некоторых источниках называется также спектром мощностей или опектром энер гии) — это функция, описывающая распределение диспер-
* Нормирование циклических погрешностей с помощью определенных номеров гармоник было осуществлено в проекте нового стандарта «Пере дачи зубчатые, цилиндрические. Допуски».
** О гармонических анализаторах см. стр. 17—18.
сии неровностей |
по |
частотам. Она |
находится |
в тесной |
связи |
|
с корреляционной функцией -Ку(т): |
|
|
|
|||
5 ( c o ) = ^ - + f |
Kv(i)cosaxdx, |
|
( І З ) |
|||
где со —частоты |
неровностей. |
|
|
|
||
Для профиля |
поверхности у{х), |
выраженного суммой си |
||||
стематической |
г/р |
{х) и случайной уу (х) |
составляющих, |
|||
спектральная плотность |
также выражается |
суммой |
спект |
ральных плотностей ее систематической и случайной состав ляющих:
S(cu)=Sp(co)+ST((u).
Теоретически спектральная плотность систематической со
ставляющей представляет собой беаконе'чно высокие |
|
и бес |
|||||||||||||
конечно |
узкие пики |
в точках |
с абсциссами со = |
со;. Практи |
|||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
чески вместо |
бесконечных |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
пиков |
будут |
пики |
конеч |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
ной |
высоты |
|
и |
ширины, |
|||
|
|
|
А , |
|
|
|
|
возвышающиеся |
на |
спек |
|||||
|
|
к |
|
|
|
|
трограмме*. |
|
Спектраль |
||||||
|
|
|
« и м |
|
|
ная |
плотность |
несет |
до |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
полнительную |
|
информа |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
цию |
о |
частотном |
|
составе |
|||
|
|
|
\ і |
/ |
\ |
г Ч |
- |
спектра |
профиля |
|
поверх |
||||
|
|
|
ности, которая |
отсутству |
|||||||||||
|
|
|
\ г / |
\ У т - * " \ |
|||||||||||
|
|
|
ет в корреляционной |
фун |
|||||||||||
|
|
|
со |
|
со —»• |
кции. |
|
|
|
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
На |
рис. 22 |
показаны |
|||||
Р И С . |
22. |
Коррелограмма |
н |
спектрограм |
коррелограмма и спектро |
||||||||||
|
ма |
профиля |
поверхности |
|
грамма |
одного |
и того же |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
профиля |
поверхности. |
||||||
Спектрограмма имеет доминирующее значение (пику) |
|
для ча |
|||||||||||||
стоты со, соответствующей шагу периодической |
|
составляю |
|||||||||||||
щей |
Я , определенной |
с помощью |
коррелограммы. |
Выше |
(см. рис. 17) были показаны коррелограммы и спектрограммы фрезерованной и точеной поверхностей, причем доминирую щая частота фрезерованной поверхности соответствует «сред нему» значению шага неровностей, характерного для «клас сической» волнистости — 1,57 мм, а точеной — малому значе нию шага неровностей ~ 0,1 мм, что, по всей вероятности, со ответствует подаче резца иа один оборот детали.
* Спектрограмма — графическое изображение спектральной плотно
сти.