Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Лоповок Т.С. Волнистость поверхности и ее измерение

.pdf
Скачиваний:
32
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
9.38 Mб
Скачать

у (х+ т ) — ординаты профилограммы в выбранной системе координат; ту — математическое ожидание профилограммы в выбранной системе координат.

'Корреляционная функция позволяет выявить окрытую пе­ риодичность профиля поверхности. Так, на рис. 17* показаны

две профилограммы,

снятые с одинаковыми

вертикальными

и горизонтальными

увеличениями (в

2000 и 20 раз) с фре­

зерованной и точеной

поверхностей,

мало

отличающихся

друг от друга по внешнему виду и значениям

Ra — средней

арифметической высоты

неровностей**. Однако корреляцион-

Рис. 18. Профилограмма поверхности (а) и ее нормированная корреляционная функция (б)

ные преобразования этих профилей выявили ах резкое раз­

личие, показав, что один из них

(фрезерование)

может

быть

отнесен к разряду случайных, а

другой (точение)

— к

раз­

ряду

периодических.

 

 

 

 

 

 

Вместо корреляционной функции К(х

)часто

пользуются

нормированной корреляционной

функцией

р(т )

(рис. 18):

 

 

р(т) = К(г)

 

 

 

 

 

где

D — дисперсия

D

при т =0

р(т ) = 1.

 

профиля;

 

На практике при

вычислении корреляционной

функции

интеграл в формуле (6) заменяют конечной суммой и кор­ реляционную функцию определяют поформуле

Яу(т ) = тЬг'і*1 ^ -УсрШх+ т ) - у с р ] ,

(7)

причем I и х выражают в интервалах Д х, на которые раз-

*Из материалов доктора-инженера 3. Хельдта (ГДР, Карл-Маркс- Штадт. Высшая техническая школа).

**См. ГОСТ 2789—59.

деляется профнлограмма по оси абсцисс для расчета корре­ ляционной функции.

•Структурную формулу корреляционной функции 'профи­

ля, содержащего систематическую и случайную

составляю­

щие, запишем следующим образом*.

 

ад«яР

Ь)+кУ (%)=±11А*СО8Ц-Т+к, (т).

(8)

Отсюда следует, что .коррелограмма** профиля, содержа­ щего систематическую ур (х) и случайную yv (х) составляю-

Рис. 19. Разделение профилограммы и коррелограммы профи­ ля на составляющие:

а — профнлограмма и коррелограмма профиля; б— профнлограмма н кор­ релограмма систематической составляющей профиля; в — профнлограмма и коррелограмма случайной составляющей профиля

щие, в свою очередь состоит из коррелограммы систематиче­ ской К? (т) и коррелограммы случайной /Ст (т) составляю­ щих (рис. 19) исследуемого профиля.

*Формула выведена на основании математических преобразований, выполненных в работе [9].

**Коррелограмма — графическое изображение корреляционной функ^

ции.

62

• В составе корреляционной функции систематической

со­

ставляющей профиля остаются те же гармоники, что

и в

профиле поверхности,

но амплитуды их изменяются. Так

как

амплитуды гармоник

профиля при расчете корреляционной

функции возводятся в квадрат, то большие амплитуды

уве­

личиваются в соответственно

большее число раз, чем малые,

т. е. ікоррелограмма

выделяет

более мощные гармоники

про­

филя и затушевывает

слабые.

 

 

Корреляционная функция систематической составляющей профиля является четной, поэтому членов с синусами не со­ держит, а аппроксимируется только суммой косинусоид. По­ этому можно записать.

 

Я р ( т ) ~ 0 ,5

2

Л ^ ^ - т ,

(9)

где Л І и

Tt—амплитуда

и

шаг і-й систематической

состав­

ляющей

профиля.

 

 

 

В связи с тем, что корреляционное преобразование четко

выделяет

самую мощную

гармонику, формула может быть

упрощена:

 

 

 

 

 

 

 

/ С р ( т ) « 0 , 5 Л 2 с о 5 ^ - т ,

(Ю)

где Л р и Т р -амплитуда и шаг более -мощной гармоники. Наиболее приемлемым выражением для Ку (т) является,

как определено в работе [7], выражение DT е - а * т а — один из нескольких вариантов математических формул, ко­ торые могут быть использованы для аппроксимации коррелограммы.

Тогда полное выражение для коррелограммы профиля поверхности будет следующим:

tf(T)«0,54gcos

T^x+Dye

,

(11)

где Dy—-дисперсия случайной составляющей

профиля;

при т = 0

K(0)=^-+Dy.

 

(12)

Ю. Р. Витеабергом с помощью корреляционного преобра­ зования разделены систематические и случайные составляю­ щие профилей поверхностей, обработанных различными ме­ тодами.

К основным характеристикам* систематической составля­ ющей были отнесены R а о —среднее арифметическое откло-

* Характеристика с индексом Р определяет систематическую, с индек­ сом у — случайную составляющие.

нание, Тр —шаг неровностей, Ср коэффициент,

зависящий

от формы .периодически располож-енных неровностей.

 

Характеристика Ra$

определяет положение

точек

про­

филя по высоте и рассчитывается

по формуле

 

 

 

 

V

К р ( 0 )

 

 

 

причем К(, .(0) измеряется

непосредственно на

коррелограм-

ме (см. рис. 19). С р ^коэффициент, зависящий

от

формы

пе­

риодически расположенных неровностей. Например, для си­

нусоидального профиля Ср ='1,і22,

для треугольного С р =

= 1,15; для прямоугольного С р =1,0

и т. д.

Шаг 7р также измеряется на коррелограмме. Для повы­

шения точности определения шага

рекомендуется измерять

его последовательно между соседними периодически распо­

ложенными

неровностями коррелограммы

и

брать

среднее

знамение.

 

 

 

 

 

К основным характеристикам случайной

составляющей,

имеющей

нормальное

распределение*,

 

были

отнесены

Ray—среднее

арифметическое отклонение

и

Ту

—средний

шаг неровностей.

 

 

 

 

Характеристика Ray

определяет рассеивание точек про­

филя по высоте и определяется по формуле

 

 

 

1,25

причем Ку (0) измеряется на коррелограмме (см. рис. 19). Средний шаг Ту определяется следующим образом. На ветви коррелограммы, характеризующей случайную часть профиля, выбирают точку Р, измеряют К? (т Р ) И Тр и Ту

вычисляют по формуле

Коэффициент случайности у также входит в систему ос­ новных корреляционных характеристик профиля 'поверхно­ сти.

Разделение .профиля поверхности на систематическую и случайную составляющие (на основе корреляцишных преоб-

* Д л я поверхностей, обработанных шлифованием, точением, фрезеро­ ванием, обкатыванием и некоторыми другими методами, закон распределе­ ния случайной составляющей близок к нормальному.

разованнн) отражает технологическую природу возникнове­ ния неровностей и может служить основой для решения ряда исследовательских задач в основном технологического харак­ тера.

При таком подходе к нормированию профилей поверхно­

стен должны

быть существенно изменены сложившиеся к на­

стоящему

времени представления

о

неровностях

поверхно­

сти. Причем

не имеет принципиального

значения,

будет ли

случайная

составляющая названа

шероховатостью,

а

перио­

дическая

составляющая—волнистостью.

Это

обстоятельство

должно быть

принято во внимание,

однако не может

рас­

сматриваться

как непреодолимое

препятствие.

Значительно

большим препятствием является пока чрезвычайно сложный математический аппарат, который нужно применить для на­

хождения

корреляционной

функции.

Для

получения

одной

к-оррелограммы осуществляют около

10 000

операций*.

Кро­

ме того, необходимо определить интервал

Ах для

ра*зличных

профилей поверхностей, поскольку при различных

значениях

А х для

одной и той же

профнлограммы

корреляционные

функции различны. Существующие рекомендации, устанавли­ вающие, что А х должно быть выбрано от-і_до -L- макси­ мального шага учитываемых неровностей, нельзя считать до­ статочно четкими.

В силу изложенного выше -можно сделать вывод о пер­ спективности (особенно в технологическом аспекте) разде­ ления профиля поверхности на случайную и систематиче­ скую составляющие. Вопрос о нормировании неровностей по­ верхности в соответствии с указанным делением является преждевременным и в настоящее время не .может быть решен положительно прежде всего из-за большого объема необхо­ димых вычислений.

Применение гармонического разложения (тригонометрических рядов Фурье) для анализа профилей поверхностей

Одним из методов анализа профилей обработанных по­ верхностей является их гармоническое разложение с по­ мощью тригонометрических рядов Фурье. Гармонический ана­ лиз позволяет получить спектр (разложение на гармониче-

* Коррелограммы рассчитывают и строят с помощью ЭВМ и специаль­ ных вычислительных машин — корреляторов.

окне составляющие) профиля и определить наличие в нем тех или иных гармоник*.

На рис. 20 представлен профиль и спектр исследуемойповерхности [12]. Разложение искомого профиля на девять первых гармоник позволило определить, что в нем отсутству­ ют гармоники от 3-й до 7-й, а амплитудные и фазовые харак­ теристики полученных гармоник дали дополнительную инфор­ мацию об исследуемом профиле.

- \0

 

J

у л

А

5

 

 

0,5

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

-0,5

 

 

 

 

 

 

 

-1,0

 

 

 

 

 

 

 

-15

 

 

 

 

 

 

X

-2.0

 

*

 

 

 

 

1і 2т

 

 

 

 

 

 

 

 

if

 

 

 

 

Рис. 20.

Профиль и спектр профиля шлифованной поверхности:

J — исходный

профиль; 2— 1-я

гармоника; .?—2-я

гармоника;

•/—8-я

гармоника;

J—9-я

 

гармоника; 6 — суммарная

кривая

 

 

 

Сведения такого характера в зависимости

от поставлен­

ной задачи

либо могут

быть положены

в -основу

анализа

точ­

ности технологического процесса, определяемого причі-шами,. имеющими периодический характер**, либо могут являться основой для определения функциональных характеристик по­ верхности, особенно ее виброактивности.

В работе И. В. Дунина-Барковского [12]*** были проана­ лизированы возможности гармонического анализа для оцен­ ки профиля поверхности. С этой целью было проведено разло­ жение профилей поверхностей деталей, типичных для маши­ ностроения и приборостроения (штанги штангенциркуля, экс-

* См. также стр. 15—16 ** Такие работы являются частью работ по компенсации технологиче­

ских погрешностей обработки, которые ведутся в Московском стапкоинструмеитальиом институте под руководством докт. техн. наук засл. деятеля науки и техники РСФСР проф. Б. С. Балакшнна, а также докт. техн. наук проф. С. С. Волосова.

*** Автор данной и ряда других работ докт. техн. наук проф. И. В. Ду- нин-Барковскнй возглавляет ряд направлений исследовании (в том числе и рассматриваемое) в области качества обработанных поперхностей.

центрикового валика токарио-винторезного

станка,

коленча­

того

вала, поршневого пальца и т. д.).

 

 

 

 

 

Спектры профилей поверхностей были представлены по­

лигонами спектральных

распределений

дисперсий

(рис.

21)

для деталей, поверхности

которых обработаны

шлифованием.

Профилогр.ам-мы с этих поверхностей были сняты на дли­

не 2,5

мм. По оси абсцисс откладывали

«условные

частоты»

со , определяемые

отношением

основного шага

профиля

BQ

к шагу В,,, где п—порядковый

номер гармоники. По оси

ор­

динат

откладывали

 

относительные квадраты

амплитуд

гар­

моник в 'процентном

отношении:

 

 

 

 

 

 

 

где

А п

— амплитуда

я-й

гармоники;

Нсл{

— среднее

квадрати-

ческое

отклонение

точек

профиля от его средней линии

(Нс.к

в математическом

отношении

представляет собой

дис­

персию

профиля).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

На

рис. 21 можно отметить одну

особенность — почти

все

приведенные 'спектры профилей имеют пики, т. е. содержат доминирующие гармоники, которые попадают в область низ­ ких частот, характеризующую волнистость. Определение до-л минирующей гармоники представляет значительный интерес, \ поскольку она во многих случаях оказывает определяющее : влияние на функционирование деталей.

Реальный профиль не может быть выражен конечной сум­ мой гармоник, поскольку, помимо полигармонической части в реальном профиле присутствует и случайная составляющая.

Поэтому разложение в ряд конечных гармоник является при- , ближенным представлением реального профиля. Применение ' гармонического разложения с помощью тригонометрических рядов Фурье для выражения реального профиля целесооб­ разно только тогда-, когда случайная составляющая профиля мала, т. е. для таких профилей, которые можно охарактери­ зовать как периодические (см. также.табл. 4).

•Вследствие, промежуточного

положения

волнистости

(между отклонениями формы и шероховатостью)

она в од­

ном случае будет характеризоваться высокочастотными гар­ мониками профиля, в другом —низкочастотными.

В первом случае гармоническому разложению подверга­

ется профиль

поперечного

сечения цилиндрической детали

или ирофіилограмма, снятая на

всей длине детали. При этом

первые

номера

гармоник

будут

характеризовать отклонения

формы,

а последующие,

более

высокочастотные, — волнис­

тость (см. стр.

16).

 

 

s

Рис. 21. Полигоны спектральных распределений дисперсий профилей поверхностей

Во втором случае гармоническому разложению подверга­ ется профилогра.мма, снятая с небольшого участка поверх­ ности. При этом первые (низкочастотные) -номера гармоник характеризуют волнистость, а последующие, более высоко­ частотные, — шероховатость. В данном случае вопрос о вы­ боре основной гармоники еще не решен: определить ее пе­ риод длиной отрезка, на котором снималась профилограміма, определить период визуально по ирофилограмме, а затем уточнить при помощи периодограмманализа, как предла­ гается в работе [12], или исходить из каких-то других пред­ посылок. Решение этого вопроса потребует дополнительных исследований.

Несмотря на это уже сейчас можно говорить о том, что

гармонический анализ профилей

поверхностей с

помощью

тригонометрических рядов Фурье

является одним

из наибо-г

, лее

эффективных инструментов как для определения

нали­

чия

в .профиле поверхности тех или иных гармоник

(и, в

част­

ности, тех, которые характеризуют волнистость),

так и

для

выявления доминирующей гармоники профиля. Особо нужно подчеркнуть принципиальную возможность стандартизации волнистости с помощью тригонометрических рядов Фурье. Поскольку причины возникновения волнистости (как было показано выше) носят систематический характер, то для ее математического выражения наиболее пригоден аппарат гар­ монического анализа, с помощью которого возможно норми­ ровать волнистость определенными номерами гармоник спек­ тра профиля*.

Положительным фактором гармонического разложения является также значительно меньший объем вычислительных операций, чем, например, при корреляционных преобразова­ ниях. Специально разработанные технические приемы и осо­ бенно гармонические анализаторы** значительно облегчают задачу гармонического .разложения.

Применение спектральных плотностей для анализа профилей поверхностей

Спектральная плотность S(co) (в некоторых источниках называется также спектром мощностей или опектром энер­ гии) — это функция, описывающая распределение диспер-

* Нормирование циклических погрешностей с помощью определенных номеров гармоник было осуществлено в проекте нового стандарта «Пере­ дачи зубчатые, цилиндрические. Допуски».

** О гармонических анализаторах см. стр. 17—18.

сии неровностей

по

частотам. Она

находится

в тесной

связи

с корреляционной функцией -Ку(т):

 

 

 

5 ( c o ) = ^ - + f

Kv(i)cosaxdx,

 

( І З )

где со —частоты

неровностей.

 

 

 

Для профиля

поверхности у{х),

выраженного суммой си­

стематической

г/р

{х) и случайной уу (х)

составляющих,

спектральная плотность

также выражается

суммой

спект­

ральных плотностей ее систематической и случайной состав­ ляющих:

S(cu)=Sp(co)+ST((u).

Теоретически спектральная плотность систематической со­

ставляющей представляет собой беаконе'чно высокие

 

и бес­

конечно

узкие пики

в точках

с абсциссами со =

со;. Практи­

 

 

 

 

 

 

 

 

чески вместо

бесконечных

 

 

 

 

 

 

 

 

пиков

будут

пики

конеч­

 

 

 

 

 

 

 

 

ной

высоты

 

и

ширины,

 

 

 

А ,

 

 

 

 

возвышающиеся

на

спек­

 

 

к

 

 

 

 

трограмме*.

 

Спектраль­

 

 

 

« и м

 

 

ная

плотность

несет

до­

 

 

 

 

 

 

 

 

полнительную

 

информа­

 

 

 

 

 

 

 

 

цию

о

частотном

 

составе

 

 

 

\ і

/

\

г Ч

-

спектра

профиля

 

поверх­

 

 

 

ности, которая

отсутству­

 

 

 

\ г /

\ У т - * " \

 

 

 

ет в корреляционной

фун­

 

 

 

со

 

со —»•

кции.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

На

рис. 22

показаны

Р И С .

22.

Коррелограмма

н

спектрограм­

коррелограмма и спектро­

 

ма

профиля

поверхности

 

грамма

одного

и того же

 

 

 

 

 

 

 

 

профиля

поверхности.

Спектрограмма имеет доминирующее значение (пику)

 

для ча­

стоты со, соответствующей шагу периодической

 

составляю­

щей

Я , определенной

с помощью

коррелограммы.

Выше

(см. рис. 17) были показаны коррелограммы и спектрограммы фрезерованной и точеной поверхностей, причем доминирую­ щая частота фрезерованной поверхности соответствует «сред­ нему» значению шага неровностей, характерного для «клас­ сической» волнистости — 1,57 мм, а точеной — малому значе­ нию шага неровностей ~ 0,1 мм, что, по всей вероятности, со­ ответствует подаче резца иа один оборот детали.

* Спектрограмма — графическое изображение спектральной плотно­

сти.

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ