книги из ГПНТБ / Лоповок Т.С. Волнистость поверхности и ее измерение

0,00002

0,00008

0,0003

0,001

0,005

0,015

0,00003

0,0001

0,0005

0,002

0,008

0,020

0,00005

0,0002

0,0008

0,003

0,010

0,030

В приложении

к стандарту

отмечается, что для особо

точ­

ных поверхностей

вращения

(какими,

например, являются

беговые дорожки

подшипников

качения)

целесообразно

оце­

нивать волнистость по средней высоте.

характеризуется как

структура

поверхности

2-го порядка,

имеющая периодический характер.

Стандарт отводит

.волнистости

столь же

важную роль,

предлагается для оценки волнистости и шероховатости.

Кри­

терии разделены на два вида

(физические — табл.

1 и

ста­

тистические — табл. 2) и три подвида

(общие

—

совместно

оценивающие

волнистость

и

шероховатость,

оценивающие

только волнистость или только

шероховатость).

Физические

критерии

определяются

по профилограмме.

Они представляют собой величины, не требующие

(или почти

не требующие)

вычислений. К ним относятся

максимальные

и средние арифметические

высоты

(или амплитуды)

и

шаги

(или частоты) волнистости и шероховатости.

Статистические критерии определяются как по профило­

грамме, так и по показывающим

электрическим

приборам.

лений: относительную

опорную длину

профиля (отношение

в процентах суммы

длин отрезков,

отсекаемых на вы­

нат— через нулевое значение оцениваемой

длины

профило-

граммы.

На

рис. 13, а представлена

профилограмма,

на

которой

можно

определить:

высоту общего профиля Pf

(таїбл. 1) и

процент

несущий

части

профиля поверхности (ТР)С

(табл. 2).

до са­

Р% определяется как расстояние

от самой высокой

мой низкой точки профилограм.мы. Учитывая масштаб

(дан в

левом

верхнем углу рис. 13, а),

а также то, что

(YP)mia=0,

числовое значение по профилограмме определим как

^ = ( і / я ) ш а х = 5 , 2 5

MKM.

(Тр)с

определяется по формуле

(ТР)С

= !°°'І? (LP

) , .

L ,-=l

с

Для глубины разреза

С =1,25 мкм (Тя)і,25

= 22,7%

Mi

Mi

мам

4 - І

гнил і

=:

-<

L

<:

/?

р

і

20

\ 1Ш ЛІМІ Мій М И І М Й тії «Ивь. ( Ц „ту ПГі вві

їв,

Рис. 13. Профнлограммы

поверхности:

с .

г — з а п и с а н н ы е

без

фильтрации;

б — з а п и с а н н а я

с фильтрацией

Н И Ж Н И Х

частот;

в.

д — записанные

с фильтрацией

верхних частот

тости W, средний шаг волнистости

Aw

(табл.

1)

и

процент

несущей части

профиля

волнистости

(Tvcjc

(табл.

2).

Wt

и W т а х

определяются

с учетом масштаба

величинами

Wt=

(Ктл-)тах —3,9

МКМ; її7тах

= 3,5

MKM; W И Лцг

вычисля­

ются как средние значения из всех

W£

н Лц/г

на

всей

длине

{Tw)c

определяется по

формуле

100'="

(7V)C

= ^ 2 {Lwv

.

Для

глубины

разреза

С=1,( 25 мкм

(7V)i.25 =41,2%.

На рис. 13, в

представлена профилограмма, полученная с

можно' определить общую высоту шероховатости Rt

, мак­

симальную высоту шероховатости RmaK,

среднюю высоту

ше­

роховатости R, средний шаг шероховатости An

(табл.

1) и

процент

несущей части

профиля

шероховатости

{TR)C

(табл. 2):

# < = і ( У л ) І п а х = 4

мкм; Яшах = 2,5 мкм;

R

и AR

вы­

числяются

как средние

значения

из всех

Ri

и

{Ав){;

( T r ) c определяется по формуле

(Тк)с

~

2 (LR)t

.

Для

глубины

разреза

С =1,25 .мкм

(7>)i,25=35,8%.

На

рис. 13, г

представлена

профилограмма, полученная

отклонение

общего профиля

от средней линии

Ра

(табл. 2);

Dm— средняя линия

(прямая, параллельная

оси

деляется равенством

сумм

заштрихованных (S3 ) и неза-

штрихованных

(5Н З ) площадей, т. е.

і =і

і=л

На

профилограмме

Рр = 9

мкм, Pa=Q,7 мкм.

На

рис. 13,

д представлена профилограмма, полученная

шероховатости

Rp

и среднее арифметическое

отклонение

шероховатости

от средней

линии профиля

Ra

(табл.

2):

Rp=

15 мкм и Ra=4,6

мкм.

значения Wp

Wa по

Аналогично

определяются

и

про­

филограмме, полученной с фильтрацией нижних частот.

Во французском стандарте Е 05—015 подчеркивается, что

ни один из приведенных критериев не является

основным, и

что

в каждом

отдельном случае надлежит

выбирать крите­