Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Левитин И.Б. Инфракрасная техника

.pdf
Скачиваний:
49
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
8.16 Mб
Скачать

деление температур в виде изотерм, выделенных на термо­

грамме— смотри

рис. 67, а на цветной вклейке (все бе­

лые участки на

термограмме соответствуют поверхностям

с температурой

32 °С). В камере может

осуществляться

также цветная

запись изотерм, пример

которой показан

на рис. 67, б; для этого используются 8 цветных светофильт­ ров, которые автоматически вводятся один за другим пе­ ред камерой с пленкой 35 мм после каждой экспозиции изо­ бражения.

Инфракрасные микропиро­ метры. Приборы этого класса

предназначаются для

некон­

тактных

измерений

темпера­

турных полей объектов

чрез­

вычайно

малых

размеров,

в первую

очередь

изделий--

микроэлектроники.

В

каче­

стве примеров таких изделий можно привести некоторые интегральные схемы, площадь поверхности которых доходит до 1 мм2 , причем на ней раз­ мещаются десятки диодов, транзисторов, резисторов и т. д., а электрические соеди­ нения представляют собой тончайшие пленки шириной

внесколько микрон. Для Рис. 68. Оптическая схема

выполнения

измерений

та­

микропирометра фирмы Barnes

кого

рода

прибор

должен

 

 

иметь

очень

высокую

разрешающую

способность, по­

рядка

20—100 мкм.

Иными

словами,

в микропирометре

должна использоваться оптика, подобная применяемой в микроскопах. При этом оптика микропирометра должна быть обязательно отражательной, с постоянным (как у микроскопов) фокусным расстоянием; при наблюдении объекта фокусировка осуществляется регулированием рас­ стояния между объектом и объективом прибора.

В настоящее время описано [33, 53 ] несколько конструк­ ций подобных приборов. Микропирометр состоит из двух основных блоков: оптического блока (инфракрасного мик­ роскопа) и электронного блока (усилителей, индикатора,

139

устройств контроля). Примером конструкции такого рода может служить микропирометр американской фирмы Bar­ nes, оптическая схема которого показана на рис. 68. Опти­ ческий блок имеет два канала — инфракрасный и визу­ альный. Инфракрасный канал содержит обычные элементы инфракрасного пирометра: зеркальный объектив 11, моду­ лятор 9, приемник излучений 8. Визуальный канал содер­ жит германиевое зеркало 10, отражающее видимые излу­ чения в сторону окуляра 4 и пропускающее инфракрасные излучения в сторону приемника <5. В визуальном канале имеется также оптика для освещения объекта — малень­ кая лампочка 6, теплопоглощающее зеркало 7, ахроматиче­ ский конденсор 5, отклоняющие зеркала 1 и 2, а также координатная сетка 3 с перекрестием нитей, определяющая место наблюдаемого микроучастка.

Для определения опорной разности температур имеется эталонный источник излучений (малогабаритное черное тело), оптический сигнал от которого периодически вво­ дится зеркальным модулятором 9.

В микропирометре Barnes используются два приемника излучений: либо гипериммерсионный полупроводниковый болометр, либо фоторезистор InSb, охлаждаемый жидким азотом (77 К). Площадь чувствительной площадки в опи­ сываемом микропирометре Barnes ап = 0,5 х 0,5 мм2 . В микропирометрах используются также фоторезисторы из PbS, охлаждаемые твердой углекислотой, с а„ = 0,1 х X 0,1 мм2 и темновым сопротивлением около 1 МОм [53], a также из германия, легированного золотом (Ge : Au) и

охлаждаемого жидким азотом и

легированного рутыо

(Ge : Hg) и охлаждаемого жидким

водородом [53].

Сканирование по объекту в некоторых приборах осу­ ществляется установленным перед объективом качающимся плоским зеркалом, поворачивающимся на небольшой угол (порядка 3°) и совершающим просмотр вдоль строки; про­ смотр по кадру создается более медленным перемещением всего объекта (интегральной схемы и т. п.) в перпендику­ лярном направлении. В микропирометре Barnes имеется сравнительно простое устройство для ручного микромет­ рического перемещения объекта по двум координатам.

Электронный блок содержит схемы для усиления и фор­ мирования сигнала, идущего с выхода приемника. Инди­ каторное устройство дает яркостную картину или кривые температурных профилей по отдельным строкам.

140

 

В [53] приведены основные положения теории

инфракрасного

микропирометра и некоторые данные о нем, приводимые ниже.

 

Прибор используется при температурах,

близких к комнатной

= 300 К), и его чувствительность определяется

разностью тем­

ператур

(ДТ')э, необходимой для

получения

на выходе

прибора

сигнала,

равного уровню шума при полосе пропускания A/j = 1 Гц

для

объекта с Т = 300 К и коэффициентом

излучения

поверхно­

сти

е =

1. При этом

 

 

 

 

 

 

 

kx (anAf) 1/2

 

 

 

 

 

 

( А Г ) , =

 

 

 

 

 

 

 

дТ,

шА

 

 

 

 

 

 

 

г=зоок

 

 

 

 

В этой формуле ап — площадь

чувствительного

элемента при­

емника, см2 ; Д£ — ширина полосы пропускания прибора,

Гц; Dx

детектирующая способность приемника при длине

волны

в мак­

симуме,

с м - Г ц 1 ' 2 - В т - 1 ; со — телесный угол

(поле

зрения)

объек­

тива, ср; кг — коэффициент эффективности системы; А0 — разре­ шаемая площадь объекта, см2 ; дЦдТ — частная производная по температуре от энергетической яркости черного тела с учетом спектральной чувствительности приемника и спектральных харак­ теристик оптики, причем

ÔL_

 

dLj(%, 300К)

^

дТ

•5 (Х)та

дТ

 

где S (к) — спектральная чувствительность приемника и оптики; S (^)max — спектральная чувствительность при длине волны в мак­ симуме; дЬ^ (КТ)/дТ — частная производная спектральной плотно­

сти энергетической яркости черного тела, В т - с р ' - с м - 2 - м к м ' - К - Коэффициент эффективности /гх с учетом потерь в оптической системе, уменьшения сигнала при отражении, шумов усилитель­

ного тракта и других видов потерь составляет 4,5.

 

 

 

 

 

 

Таблица 24

Увеличе­

( Д Г ) г

в -С

 

Л и н е й н о е

разрешение ДАТ

 

 

 

в мкм

 

 

ние объек­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

тива

болометр

InSb

G e l H g

болометр

InSb

Ge 1 H g

 

15

0,25

0,25

0,015

51

43 '

53

36

0,426

0,426

0,025

24

19,4

25

52

0,535

0,535

0,032

17,3

14

18

74

1,05

1,05

0,063

14,5

11

15

Линейное разрешение объектива определяется отношением размера чувствительной площадки приемника к увеличению и

141

дифракцией. С хорошим приближением линейное разрешение Л/Ѵ

можно найти

по формуле:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ДЛ/ =

0

+ A-,

 

Х

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2 sin и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где

 

— ширина части

объекта,

изображение

которой

совпадает

с размерами

приемника

излучений; X — длина

 

волны

регистрируе­

 

 

 

 

 

 

 

мого

 

излучения;

sin

и — числовая

 

 

 

 

 

 

 

апертура объектива (к — апертуриый

 

 

 

 

 

 

 

угол);

feo ä

1 — постоянная.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

В

табл.

24

приведены

данные

 

 

 

 

 

 

 

о

значениях

(АТ)Э

п

линейном

раз­

 

 

 

 

 

 

 

решении

АЛ? для некоторых

объек­

 

 

 

 

 

 

 

тивов

с

различными

 

приемниками

 

 

 

 

 

 

 

излучений.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Уравнение,

 

описывающее

 

дей­

 

 

 

 

 

 

 

ствие микропирометра

[53],

выведено

 

 

 

 

 

 

 

на основе двух положений радиаци­

 

 

 

 

 

 

 

онной

пирометрии:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в

 

1.

Энергетическая

яркость

Lt -

 

 

 

 

 

 

 

плоскости изображения

в

системе

 

 

 

 

 

 

 

с

отражающей

или

преломляющей

 

 

 

 

 

 

 

оптикой

выражается

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

L i

=

ß L o

6

+ ( l - ß ) L°,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где

L 0 6

и

— энергетические

яр­

 

 

 

 

 

 

 

кости

исследуемого

объекта

п чер­

 

 

 

 

 

 

 

ного тела при температуре

отражаю­

 

 

 

 

 

 

 

щей

(или

преломляющей)

 

оптики;

 

 

 

 

 

 

 

ß — коэффициент

ослабления

излу­

 

 

 

 

 

 

 

чения

оптической

системой.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

щий

2.

Лучистый

поток

Ф п ,

 

падаю­

 

 

 

 

 

 

 

на

приемник,

пропорционален

 

 

 

 

 

 

 

энергетической

яркости

L[

в плос­

 

 

 

 

 

 

 

кости

изображения,

площади

при­

 

 

 

 

 

 

 

емника ап

и

телесному

углу

а>1 об­

 

 

 

 

 

 

 

разующей

изображение

 

системы

Рис.

69.

К

расчету лучи­

(рис.

69).

Здесь

 

1 — объектив,

2 —

стого

потока,

падающего

апертурная диафрагма, 3

—приемник

на

приемник

в микропиро­

излучений,

4 — верхняя

 

полость,

 

 

 

метре

 

 

5

— модулятор,

 

6 — нижняя

по­

 

 

 

 

 

 

 

лость.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Если все элементы микропирометра имеют одинаковую темпе­

ратуру, то

его уравнение имеет

вид:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Г де

k

=р\

 

CÛJ;

Е — напряжение

на

выходе

приемника,

В;

S —

вольтовая

чувствительность

приемника,

В - В т - 1

;

е г — коэффи­

циент

излучения

исследуемого

объекта;

р 3

— коэффициент

отра­

жения зеркал; L 0 6 — энергетическая яркость исследуемого объекта;

£ф _

энергетическая яркость фона

(окружающих

тел). Из

уравне­

ния следует,

что сигнал

на выходе приемника пропорционален раз-

142

до 100 линий и более; оптическое увеличение 7,6 — 14; глубина резкости + 20 мкм.

На рис. 70 показаны термограмма (а) и обычная микро­ фотография (б) (при увеличении 10х ) транзистора 5—А, рассеивающего мощность 2 Вт, а на рис. 71 — термограмма

(а) и обычная микрофотография (б) (при увеличении 50х ) интегральной схемы с поверхностью 1 X 1 мм2 . Белые об­ ласти на термограммах показывают участки с наибольшим излучением. Если известны коэффициенты излучения эле­ ментов объекта, то при использовании серой шкалы могут быть определены значения температуры в отдельных точ­ ках.

27. Приборы со сканированием электронным лучом (инфракрасный видикон] [52]

Телевизионная передающая трубка типа видикон, схема которой показана на рис. 72, имеет чувствительную к ин­ фракрасным излучениям поверхность (мишень) 4 в виде тонкой полупроводниковой пленки 3 с высоким темновым сопротивлением, нанесенной на полупрозрачной проводя­ щей подложке 2 и на прозрачном окне из сапфира /. На про­ тивоположном конце трубки находится катод — электрон­ ная пушка 7, испускающая пучок электронов (электронный луч) со сравнительно небольшой скоростью. Электроны, возвращающиеся с мишени 4, попадают в коллектор 6 (электронный умножитель, основанный на вторичной эмис­ сии), расположенный коаксиально с пушкой. Фокусировка электронного луча осуществляется осевым магнитным по­ лем, создаваемым катушкой 9, внутри которой располо­ жена трубка. Отклонение луча при сканировании мишени создается системой отклоняющих колец 5 и 8, образующих поле, перпендикулярное к лучу.

Инфракрасный видикон действует так: вначале, когда трубка находится в темноте, малый элемент чувствитель­ ного слоя, на который попадает в данный момент электрон­ ный луч, под его воздействием получает нарастающий отрицательный заряд, уравнивающийся с потенциалом катода (электронной пушки). Электроны с получившего отрицательный заряд элемента'полупроводниковой поверх­ ности возвращаются обратио^и собираются коллектором умножителя. Как только в процессе сканирования элек-

144

тронный луч смещается с данного элемента чувствительного слоя, темновой ток, протекающий между проводящей под­

ложкой, находящейся под положительным

потенциалом,

и поверхность чувствительного слоя, создает

положитель­

ный заряд поверхности.

 

Положительная подзарядка элемента слоя продолжается до тех пор, пока электронный луч не вернется в процессе

сканирования

следующего кадра снова к этому элементу,

в результате

 

чего он снова приобретает потенциал катода.

1

2

3

1500В

Рис. 72. Схема инфракрасного видикона

При инфракрасном облучении мишени элемент ее по­ верхности, имеющий более высокую энергетическую ос­ вещенность, благодаря проводимости фотослоя успевает зарядиться до более высокого положительного потенциала за время, пока электронный луч, сканирующий мишень, вернется к этому элементу (за время кадра). Следовательно, когда электронный луч проходит по этому элементу и воз­ вращает его к равновесию (к потенциалу катода), в луче компенсируется за счет положительного заряда элемента большее число электронов и меньшее число электронов возвращается к коллектору. Таким образом, ток коллек­ тора, изменяющийся при сканировании мишени, будет зависеть в каждый момент от энергетической освещенности того элемента мишени, который сканируется в этот момент; при этом меньшие значения тока коллектора будут

145

соответствовать большим освещенностям, а большие — меньшим освещенностям. Ток коллектора является видео­ сигналом, создающим после усиления на экране ЭЛТ ви­ димое изображение, соответствующее инфракрасному изо­ бражению наблюдаемого объекта, сфокусированному на

поверхности

чувствительного

полупроводникового

 

слоя.

Основным

элементом трубки является чувствительная

к инфракрасным

излучениям

мишень—фоторезистивный

 

 

 

 

слой, который, как сказано

 

 

 

 

выше,

должен

обладать

 

 

 

 

высоким удельным

 

сопро­

 

 

 

 

тивлением,

необходимым

 

 

 

 

для операции запоминания

 

 

 

 

информации;

 

он

должен

 

 

 

 

иметь p v Ä; 1010

Ом-см. Ми­

 

 

 

 

шени

для

инфракрасных

 

 

 

 

видиконов

изготовляются

 

 

 

 

напылением

 

в

вакууме

 

 

 

 

слоя из РЬО

с

центрами

 

 

 

iß мкм

активации

из

 

PbS.

При

 

 

 

этом окись свинца увеличи­

Рис. 73.

Спектральное распреде­

вает

энергию

 

ионизации

ление

чувствительности инфра­

PbS;

кроме

того,

в

слое

красного

видикона

возникают барьеры в форме

 

 

 

 

р—«-переходов.

 

 

 

Спектральное

распределение

чувствительности

инфра­

красного видикона, показанное на рис. 73, определяется главным образом чувствительностью РЬО и имеет макси­ мум в видимой части спектра. Однако имеется и второй, меньший максимум около 2,1 мкм, определяемый чувстви­ тельностью PbS; он и используется для получения инфра­ красного изображения объектов, нагретых до 150° С и выше, по их собственному излучению.

В настоящее время ведутся разработки мозаичных по­ лупроводниковых систем, которые должны заменить ви­ дикон в камере для получения инфракрасного изображе­ ния. Так, в США фирмой «Вестингауз электрик» [17] из­ готовлено воспринимающее устройство, представляющее, тонкую кремниевую пластинку площадью 6,4 см2 , состоя-"' щую из 2500 элементарных микроплощадочек, включаемых попеременно по сигналам простого логического счетного устройства. Каждый отдельный элемент собран на трех­ слойном фототранзисторе, управляющем протекающим че- 4

146

рез него током. Ток в свою очередь модулируется инфра­ красным излучением, падающим на каждый элемент. Вы­ ходной сигнал каждого элемента усиливается видеоусили­ телем и подается на экран ЭЛТ. Предполагается, что в даль­ нейшем на площадке таких же размеров будет размещаться до 40 тысяч чувствительных элементов мозаики, что будет соответствовать разложению кадра на 200 строк.

28. Приборы со сканированием световым пучком (термикон) [33]

Термикон представляет собой инфракрасный преобра­ зователь изображения — вакуумную трубку, схема ко­ торой показана на рис. 74. Внутри трубки расположен фо-

Рис.

74.

Схема

термикоыа

 

токатод — очень тонкая

пленка

П,

покрытая

с одной сто­

роны поглощающим

инфракрасные

излучения слоем, а

с другой — специальным фотоэлектрическим

эмиттирую-

щим электроны слоем, интенсивность эмиссии которого зависит от температуры.

Объектив 01, направляет инфракрасные излучения от наблюдаемого объекта через прозрачное для них окно трубки на поглощающую поверхность пленки Я , в плоско­ сти которой создается тепловое изображение объекта.

147

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ