Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Салли И.В. Углерод на поверхности растворов внедрения

.pdf
Скачиваний:
10
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
6.86 Mб
Скачать

должно способствовать улучшению механических ха­ рактеристик материала.

Основой исследуемых сплавов были электролитический никель и кобальт. В качестве второго компонента приме­ нялся цейлонский графит. Выплавка сплавов производи­

лась в

вакууме. Расплав выдерживался при

Т яз

1600° С

 

 

 

в

течение 30 мин,

а

затем

 

 

 

без нарушения вакуума выли­

 

 

 

вался в

медную изложницу.

 

 

 

В

процессе

работы

 

вакуум

 

 

 

поддерживался

в

пределах

 

 

 

ІО-2 — 5 ■ 10~2 мм

pm.

cm.

 

 

 

 

Таким способом были заго­

 

 

 

товлены сплавы

с различным

 

 

 

содержанием

углерода,

соот­

 

 

 

ветствующем всему интервалу

 

 

 

концентраций, в пределах ко­

 

 

 

торого наблюдается

темпера­

Рис. 9.

Диаграмма Ni — С (а) и

турная

зависимость

 

раство­

начальный

участок диаграммы

римости

углерода в

матрице.

Со—С (б)„ Штриховой линией

Скорость охлаждения распла­

показано

магнитное превраще­

ние.

 

 

ва в изложнице

была

доста­

деление

 

точной,

чтобы

подавить

вы­

свободного углерода

внутри

матрицы.

Не

было

также обнаружено следов карбида и кобальта. Следова­ тельно, исходным материалом для дальнейших исследова­ ний был однородный пересыщенный твердый раствор уг­ лерода в никеле и кобальте.

1. Условия образоваиия и структура пленок углерода выделения

Образование графита в Ni—С и Со—С и сплавах сопря­ жено с большим увеличением объема. Поэтому выделение графита должно происходить прежде всего на готовых по­ верхностях раздела. Немаловажную роль в этом процессе играет и то обстоятельство, что на поверхности отсутствует лимитирующее звено [11], каким является отвод атомов матрицы от фронта кристаллизации зародыша новой фазы.

После нагрева в вакууме до области однофазного состоя­ ния и последующего охлаждения полированная поверхность образцов Ni—С и Со—С сплавов покрывается графитной пленкой (рис. 10). Для достоверности были проведены рент-

20

Рис. 10. Выделение графита на поверхности:

а — N i— С (0,31%

С)

сплап,

Т =

1100° С,

т = 30

мин,

б — Со—С

(0,37% С) сплав,

Г =

1150° С,

т

= 3 0 мин.

Скорость

охлаждения и =

= 30 град/мин (X

200).

 

 

 

 

 

гено- и электронографическне исследования, которые под­ твердили ее графитную природу.

Результаты опыта не дают однозначного ответа на во­ прос, в какой период термообработки происходит выделе­ ние графита на поверхности. Поэтому были поставлены дополнительные эксперименты. Образцы после изотермиче­ ской выдержки при температуре однофазного состояния подвергались закалке. Закалочной жидкостью служила ртуть. Во избежание амальгирования образцы помещались

Рис. И . Поверхность сплавов после 30-ыинутной выдержки в области однофазного состояния и последующей закалки в ртути:

а — N1 — С (0,31% С) сплав; 6 •= Со — С (0,37% С) сплав (X 200).

21

в тонкостенные металлические цилиндры. Все операции осу­ ществлялись без нарушения вакуума. Результаты опытов (рис. 11) показывают, что поверхность образцов после за­ калки совершенно свободна от выделений графита. Этот факт был подтвержден и данными электронномикроскопиче­ ских исследований.

Таким образом, процесс поверхностной графитизации Ni—С и Со—С сплавов идет путем возникновения и роста зародышей графита при охлаждении, в результате которого растворимость углерода в твердом растворе уменьшается. Если бы графит образовывался в процессе изотермической выдержки при температуре однофазного состояния, то, очевидно, последующая закалка зафиксировала бы его при­ сутствие. Наконец, данный вывод был подтвержден непо­ средственными наблюдениями за состоянием поверхности с помощью высокотемпературного металломикроскопа.

22

Проведенные опыты свидетельствуют о том, что графит не может образоваться в процессе изотермической выдержки при температуре однофазного состояния. Однако они не отрицают возможности его образования, когда изотермиче­ ский отпуск производится в области двухфазного состояния. На рис. 12 и 13 приведены микрофотографии поверхности

сплавов, предварительно закаленных, а затем отпущенных при различных температурах. Температуры отпуска для сплавов указанного состава были ниже температур одно­ фазного состояния. Из рис. 12 и 13 видно, что поверхност­ ная пленка, образовавшаяся при отпуске, имеет иной вид, чем у медленно охлажденных сплавов (см. рис. 10). Прежде всего различие проявляется в том, что эти пленки очень тонкие. Об этом свидетельствует визуальное наблюдение за их цветом — при незначительной толщине они имеют желтоватый оттенок (прозрачные). Не наблюдается также

23

характерный для графитных покрытий медленно охлажден­ ных сплавов рельеф. По-видимому, при отжиге пересыще­ ние раствора ликвидируется за счет образования огромного числа центров графитизации.

Обращают на себя внимание два факта: 1) повышение температуры отпуска для Ni—С сплавов приводит к нару-

Рис. 14. Различные формы графит­ ных кристаллов на поверхности медленно охлажденных Ni—С сплавов:

а и б — крупные полиэдры; в — столб­ чатые кристаллы (X 10 000).

шению однородности пленок на различных зернах, а в Со—С сплавах наблюдается противоположный процесс; 2) в Ni—С сплавах имеют место выделения на границах зе­ рен, тогда как Со—С сплавы почти свободны от них. Та­ ким образом, появление покрытий на поверхности Ni—С

иСо—С сплавов при термообработке в вакууме является следствием распада пересыщенного раствора углерода в Ni

иСо.

Уже внешний вид пленок, полученных при медленном охлаждении от высоких температур и при отпуске, говорит

24

о том, что они по структуре

могут сильно отличаться

(см. рис. 10, 12 и 13).

 

 

Для определения структуры пленок были проведены

электронномнкроскопические

и

электронографрческие

исследования. Особенностью нашей методики изучения строе­ ния и структуры, выделившейся из твердого раствора плен­ ки, является то, что предметом исследования были не реп­ лики, а сами пленки [41]. После соответствующей термо-

Рис. 15. Структура пленок, отпущенных при

Т =

500° С в течение

10 мин сплавов:

 

 

а — С о - С (0,40% С) (X 3000); б — N i - C (0,31%

С) (X

10 000).

обработки отделение пленок осуществлялось либо элект­ ролитическим растворением металла в электролите Попо­ вой, либо механически с помощью желатины. В первом случае поверхность образца перед отделением насекалась на квадраты. Пленки оказываются прочными и устойчивыми при промывке и непосредственном воздействии электронного луча.

- Результаты электронномикроскопического исследования пленок, полученных при медленном охлаждении сплавов от высоких температур, показали, что они состоят из гра­ фитных кристаллов различной толщины и формы (рис. 14). Кристаллиты в значительной степени отличаются по толщи­ не. Аналогичная форма графитных кристаллов наблюдает­

ся и в Со—С сплавах.

 

структуры пленок,

На рис. 15 представлены типичные

образовавшихся в результате

отпуска

закаленных

Ni—С

и Со—С сплавов. На них отчетливо видны границы

зерен

матрицы; неодинаковый вид

пленки на соседних

зернах

25

свидетельствует о том, что кристаллиты матрицы выходят на плоскость шлифа различными гранями. Использование боль­ ших увеличений не позволяет однозначно утверждать, что пленка состоит из маленьких кристаллов.

Результаты электронографического исследования пле­ нок, полученных при охлаждении от температуры однофаз­ ного равновесия, представлены на рис. 16. Электронограммы снимались при перпендикулярном расположении предмет-

Рис. 16. Электронограммы пленки Ni—С (0,31% С) сплава = 1100° С, 15 мин, я = 120 град/мин) от от­ дельного кристалла (я) и нескольких кристаллитов (б).

ной сетки электронному лучу. Сопоставление этих точечных электронограмм с полем индексов базиса обратной решетки в гексагональной системе позволило установить, что реф­ лексы получены при отражении от плоскостей (100), (ПО), (112) и (200). Межслоевые расстояния, рассчитанные по электронограмме, совпали с табличными данными для гек­ сагонального графита. Таким образом, было установлено, что пленка на поверхности Ni—С и Со—С сплавов, охлаж­ денных от температуры однофазного состояния, состоит из графитных кристалликов.

Электронографическому исследованию подвергались так­ же тонкие пленки, появившиеся на поверхности в резуль­ тате отпуска закаленных сплавов. Варьировалась как тем­ пература отпуска, так и время изотермической выдержки. Электронограммы и их микрофотометрические кривые, по­ лученные на микрофотометре МФ-4 с логарифмической при­ ставкой и самозаписывающим устройством, приведены на рис. 17—20. При сопоставлении электронограмм пленок углерода, образовавшихся при отпуске, с электронограм-

Рис. 17. Электронограммы и их микрофотометрические кривые для пленок Ni—С (0,45% С) сплава, отпущенного в течение 10 мин при температуре:

а — 350° С, б — 400° С, а — 500° С и г — 650° С.

>

Рис. 18. Электронограммы и их микрофотометрические кривые пленок Со — С (0,55% С) сплава, отпущенного в течение 10 мин при температу­ ре:

о — 350° С,- б — 400° С, в ^ 500° С и г » 650° С.

Рис. 19. Электронограммы и их микрофотометрические кривые пленок Ni—С (0,45% С) сплава, отпущенного при Т — 400° С в течение:

а — 4 ч, б — 8 ч и б — 12 ч.

мами графита, полученного при медленном охлаждении, легко обнаружить, что на первых из них появились допол­ нительные дифракционные кольца. Кроме того, эти кольца являются сплошными. Расшифровка электронограмм по­ казала, что дополнительные дифракционные кольца пред­ ставляют собой первый и второй порядки отражения от

29

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ