Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Кристаллизация тугоплавких металлов из газовой фазы

..pdf
Скачиваний:
20
Добавлен:
22.10.2023
Размер:
10.69 Mб
Скачать

Аналогичная зависимость текстуры пленок от температуры подложки наблюдается и при осаждении вольфрама [91J, сте­ пень совершенства текстуры которого более высокая, чем в пленках молибдена. В соответствующей температурной области

текстура [ 1 0 0]

вольфрама выражена сильнее, чем в молибдене.

 

 

 

 

 

 

 

 

Степень

совершенства

тек­

 

 

 

 

 

 

 

 

стуры

[ 1 0 0]

в

 

молибдено­

 

 

 

 

 

 

 

 

вых и вольфрамовых

плен­

 

 

 

 

 

 

 

 

ках

увеличивается с ростом

 

 

 

 

 

 

 

 

температуры

подложки.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

В

молибдене,

получен­

 

 

 

 

 

 

 

 

ном при температуре

1 1 0 0

 

 

 

 

 

 

 

 

1200° С,

наблюдается

тек­

 

 

 

 

 

 

 

 

стура [610], которая веро­

 

 

 

 

 

 

 

 

ятно, существует лишь в по­

 

 

 

 

 

 

 

 

верхностных слоях, так как

 

 

 

 

 

 

 

 

рентгенографические

иссле­

 

 

 

 

 

 

 

 

дования

обнаруживают

в

 

 

 

 

 

 

 

 

пленках

текстуры

[ 1 0 0]

 

 

 

 

 

 

 

 

[91].

Условия

возникнове­

 

 

 

 

 

 

 

 

ния

и

существования

тек­

 

 

 

 

 

 

 

 

стуры

[610]

не

выяснены.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Вопросы

формирования

 

 

 

 

 

 

 

 

текстуры

в

молибдене

и

 

 

 

 

 

 

 

 

вольфраме рассматривались

 

 

 

 

 

 

 

 

также в работах [296, 356,

 

 

 

 

 

 

 

 

369,

370]. В молибденовых

 

 

 

 

 

 

 

 

слоях толщиной 0,25 мм,

 

 

 

 

 

 

 

 

осажденных

на

плоских и

 

 

 

 

 

 

 

 

цилиндрических

 

поверхно­

 

 

 

 

 

 

 

 

стях молибдена водородным

 

 

 

 

 

 

 

 

восстановлением

гексафто­

 

 

 

 

 

 

 

 

рида

молибдена

(700—

Р и с. 5.27.

Электронограммы

от по­

900° С)

 

и

высокотемпера­

верхности

молибдена,

полученного

турным

пиролизом

пента­

восстановлением

МоС15

при

различ­

хлорида

молибдена ( 1 1 0 0

ной температуре

подложки, °С:

1500° С) рентгенографически

 

а — 750; б

— 850; в

— 1000;

г — 1150.

 

обнаружены

 

аксиальные

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

текстуры

[ 1 1 1]

и

[1 0 0].

 

При водородном восстановлении

гексахлорида

вольфрама

[356]

получены

слои

вольфрама

с текстурами

[111], [100] и

[ПО]

(общее давление

 

1 мм рт. ст.).

При этом с увеличением

температуры

подложки

наблюдается

тенденция

к

усилению

текстуры [ПО].

 

 

 

 

 

369,

370],

что методом водо­

Хадсон и Янг установили [296,

родного восстановления гексахлорида вольфрама можно с вы­ сокой воспроизводимостью изготовлять эмиттеры любой слож­ ной формы с четкой текстурой [ПО]. Полученные ими резуль-

210

СО

SJ

К

i=2

VO

СО

Н

Результаты осаждения вольфрама из его гексахлорида [296]

ѳ е ‘э и Х Л н в я я ao H o d -аиэі/'б вѴ охіча v i o g v d

Преимущественная о р и е н т а ц и я

%‘ и н н э Ѵ ж в э о

*ф Ч ю о н а и х и э ф ф в

W W ‘ЭМЖОІГ - V on у о а о н э н д и і г о м

BH ВНѴВЭО BHHtnifOX

ad E U а А \ / г н ЗИНЭШОНІООЭ 0OH4LTOW

3dBU я Л\/ІЭ

ЗИНЭШОНІООЭ 30HW0J-V

ь ) г

‘ adB ii а д \ й о х э в с і

и м ж /Cdxo-AV E d X x E d a n w a x

■нгт

‘ B w s d g

 

у r m { z vto

‘х в и а о іг э А

хічнчігвк

• doH H d u гіэ

* ж и о ц

 

n n w / e w o

‘ х к и а о іго Л

х н н ч іг е ю

-doH ийи гн

, ж > х о ц

Эо ‘ИНЖ01Г

-Ѵои-одо B d X i B d a n w a x

I O I O O N O O N ( N C O ( N - ' I O C O O N O C ^ C 4

l O c O C O o O G O i O O u O i O O O O c O O O G i O O i O j

ПО[ПО[ПО[ПО[ПО[ПО[ ПО[ПО[ПО[ [100][100][110]]]Поликристаллический]Поликристаллический[100]]]]1110]]]]Поликристаллический

rh

г^сОСМоОСОЬ-С^^СОС^ОГ^СОЮСООіСЧО счеасО’- н - Ф О '^ о о ^ с м с о с о е о с о с ч ю

Th

ѵс

ю —<о о со со — LOcoot''-h--<MC4t->^oc4

СОООГ--Г--ОСЧСОО — — ’t ю ю - о t-- о

с ч с о о о о - ^ о о — о — щ о vo r-> о ю о СМСОСОСОООСО»—ООО—'ООС^СЧІСОГ-іООО

^- - . - ^ — СМСМСМСМСМСМС^еОСЧСЧСМСЧ^СО

^ОСМООСЧООСОтЬСЧСОС^ОСОЮ --

< м с с а з і с ^ с о с о с о с м с о с о ю с о с ^ а > т ь г - ь >

с ч ’а> ^ ’^ • ' ^ ' = h c o c o c o c o c o c o c o c o c o i n c o < M

—<

CM

N C O O O O O c O O M O f M T f - W C O ^ T t O i O

Ю О П М С ^ С ^ ^ О О С О С О О О - н О - 1— C O t N N ^

СЧСЧСМСЧСМСЧСМ — ‘ CMCOCMCOCOCMCMCM

о ю о о о о о о ю о ю ю ю ю о о о о

l O W m i O W ^ i O C N C M l O N N h M O W l O i n COQOOOOOCCOOOOOOcOOOOOOOOOoOCOOOOOt--

O O O I C O O O O O O O O O O O O C M O

O O C O G O lO ’T 4 , ^ 0 0 ' T ' T ' t C O O O c O O O - - N O

о о о ю ю ю ю о о ю ю ю ю ю ю с о ю ю ю о о - --------- <o<*---------- ----------с о "

o o o o o o o o o o o o o o o o o o

o o o o o o o o o o o o

o o o o o o

ю ю ю ю ю о ю о о о ю

о о о о о о о

СО ■—«СМ —1»—<CM ’—1(M(M —<О ’—i

—1’—<—' —<

о

о

-и S

К

S

«ч <и

П

о

о.

К с

Со, О

14* 211

таты представлены в табл. 5.22. Наилучшими условиями для получения вольфрамовых эмиттеров с текстурой [ПО] авторы считают следующие:

Температура подложки........................

1100—1150 °С

Скорость потока х л о р а ........................

115—135

см3/мин

Скорость потока водорода....................

140—160

см3/мин

Температура стружки фторидиоло воль­

830—875

°С

фрама ...................................................

При температуре подложки 800° С в ниобии и в тантале реа­

лизуется четкая текстура [ПО]. При

температуре 850—950°С

наблюдается смешанная текстура [110] +[111]. С повышением температуры подложки до 900—1000°С в слоях возникает пре­

имущественная

ориентация

в направлении

[111].

В области

1000—1050°С

наблюдается

смешанная текстура [111] + [100].

Дальнейшее увеличение температуры подложки до

1100° С при­

водит к появлению текстуры

[ 10 0]. Данные

рентгенографиче­

ского анализа показывают, что при температуре 1200—1500°С слои имеют четкую аксиальную текстуру [ 1 0 0] [91].

По данным работы [356] в слоях ниобия, полученных водо­ родным восстановлением пентахлорида металла при темпера­ туре 800—1200°С, наблюдаются текстуры [ПО] и [100] с пре­ обладанием ориентации [ 1 0 0].

Получить текстурированные осадки рения при термическом разложении не удалось. Отжиг таких слоев ведет к появлению очень слабо выраженной текстуры [356].

Таким образом, данные многих авторов свидетельствуют о том, что изменением температуры подложки, т. е. изменением пересыщения паров металла, в процессе водородного восста­ новления хлоридов могут быть получены слои Mo, W, Nb, Та, имеющие совершенные аксиальные текстуры [1 1 0 ], [ 1 0 0]

и [ 1 1 1].

Состав газовой фазы. Приводимые разными авторами дан­ ные о температурных условиях получения определенных тек­ стур зачастую несколько различаются. Вероятно, это обуслов­ лено неучтенным влиянием дополнительных факторов и прежде Нсего влиянием общего давления в системе и соотношения дав­ ления водорода и парциального давления хлорида металла в

газовой фазе.

 

 

Г Так, Хадсон и Янг [296] проводили исследования при общем

давлении в реакторе 5 мм рт. ст.,

а Шрофф [356]— при давле­

нии 1 мм рт. ст. Авторы работы

[91]

осаждали металл при

общем давлении от 1 0 до 1 0 0 мм рт. ст.

и обнаружили, что пре­

имущественная ориентация в пленках в значительной мере за­

висит от давления в реакционном

объеме.

При

осаждении

мо­

либдена в области существования

текстур

[ 1 1 1]

и [ 1 0 0]

(тем­

пература

подложки 800° С) повышение

давления

от

20

до

60 мм рт.

ст. приводит к преобладанию

текстуры

[ 1 0 0],

при

212

большем давлении ( — 1 0 0 мм рт. ст.) образуется только тек­ стура [ 1 0 0].

Большое влияние на тип преимущественной ориентации ока­ зывает соотношение парциальных давлений водорода и паров

хлорида металла. В работе

[91]

исследования

выполнены

при высоких соотношениях

(что

способствует

увеличению

выхода металла), в то время как в других работах использова­ ны малые соотношения. Низкая температура и малые соотно­ шения парциальных давлений способствуют развитию тексту­ ры [ПО], высокая температура и высокие мольные соотноше­ ния благоприятствуют появлению текстуры [100] [296]. Присут­ ствие значительных количеств низших хлоридов в газовой фазе не оказывает существенного влияния на направление осей преимущественной ориентации [296].

Водородное восстановление фторидов металлов. Большинст­ во эмиттеров для термоэмиссионных преобразователей к насто­ ящему времени изготовлены водородным восстановлением гек­ сафторида вольфрама [296, 293, 369]. Как известно, осаждение может быть проведено как при атмосферном, так и при пони­ женном давлениях, поэтому целесообразно рассмотреть основ­ ные закономерности каждого из этих процессов.

Атмосферное давление. Влияние параметров процесса (тем­ пературы, состава газовой фазы, скорости потока) на формиро­ вание текстуры в вольфраме при осаждении его в условиях атмосферного давления (760 мм рт. ст.) подробно рассмотрены в работе [263]. Исходные компоненты были тщательно очище­ ны: водород от кислорода и азота, гексафторид вольфрама от оксифторидов вольфрама. Осаждение велось на внутреннюю поверхность медной трубки, по длине которой состав газовой фазы изменялся в процессе осаждения. Авторы наблюдали в

начале

зоны

аксиальную текстуру [ 1 0 0],

а в конце — тексту­

ру [ H l ] .

5.28 приведена зависимость

критического парци­

На

рис.

ального давления Ркр11Т гексафторида вольфрама, при котором наблюдается переход от текстуры [ 1 0 0] к текстуре [ 1 1 1], от условий осаждения. Из графиков следует, что увеличение тем­

пературы осаждения приводит

к увеличению Р„рит и текстура

[ 1 1 1] может быть получена в

более широкой области давле­

ний Pw f 6.

Обогащение смеси

фторидом приводит к уменьше­

нию Р Крит

и при P h 2/Pw f6< 9

переход от текстуры [100] к

текстуре [111] не наблюдается. Текстуре [100] часто сопутст­

вует текстура

[310],

а текстуре

[ i l l ] текстура [112].

Увеличе­

ние скорости

потока

благоприятствует

образованию

тексту­

ры [ 1 0 0].

 

 

 

 

 

 

 

Таким образом, полученные результаты кратко можно сфор­

мулировать

следующим

образом

[263].

В слоях вольфрама в

зависимости

от условий

осаждения появляются текстуры [1 0 0]

и [ 1 1 1]. Увеличение температуры осаждения (в интервале400—

213

600°С), уменьшение скорости потока и увеличение соотноше­

ния Р н /lPwFr,

благоприятствуют

образованию текстуры

[ 1 1 1].

Шрофф [356], получивший слои вольфрама тем же методом

при атмосферном давлении, обнаружил, что в бедных

смесях

{Pb.J P wfs>3)

предпочтительной является ориентация

[ 1 0 0].

Такая же текстура наблюдается

и при T,H2/T>wpe< 3 в области

500—800° С. Отсутствие текстуры

[111] вызвано, вероятно, тем,

Рис . 5.28. Влияние температуры осаждения и скорости потока на критиче­ ское давление Р„рЯт перехода [100]->[111] при различном парциальном дав­ лении WF6, мм рт. ст.\

 

 

/ — 30; 2 — 50; 3 — 76.

что

использовались

смеси, слишком обогащенные гексафтори­

дом,

что должно

способствовать подавлению текстуры [ 1 1 1].

В работе [355] изучение текстур было

проведено в интервале

значений отношения P -r J P w f h

о т

6

до

80, однако,

авторам

не

удалось обнаружить текстуру

[ 1 1

1],

возможно, по

причине

не­

достаточной очистки исходных продуктов или вследствие влия­ ния каких-либо других факторов.

Авторам работы [263] наблюдать появление текстуры [ПО] не удалось. Невозможность создания слоев вольфрама с тек­ стурой [ПО] при водородном восстановлении его гексафторида отмечается и в работе [296].

Однако использование обогащенных смесей позволило полу­ чить слои вольфрама с ориентацией [ПО] при температуре 950—1100°С [356], что представляет исключительный интерес как с практической, так и с теоретической точек зрения, по­ скольку до этой работы в литературе не было сообщений о воз­ можности получения вольфрама с текстурой [ПО] при водо­

родном восстановлении гексафторида вольфрама.

оказывают

Большое влияние на

формирование

текстуры

газообразные примеси (азот,

двуокись

углерода,

пары воды

и др.), присутствующие

в

газовой фазе

[263]. Наличие этих

примесей, а также осаждение вольфрама из неочищенных ком­ понентов сдвигает область существования текстуры [ 1 0 0] в

214

сторону более высоких парциальных давлений гексафторида вольфрама. Такой же эффект вызывает разбавление рабочей смеси аргоном (до 50%) [263].

Пониженное давление. Изучению закономерностей формиро­ вания текстур в слоях вольфрама, полученных водородным вос­ становлением \ѴТб при низких давлениях, посвящена работа [320]. Осаждение вольфрама производилось с целью улучше­ ния эмиссионных свойств поверхностей, которые предполага­ лось использовать в качестве катодов термоэмиссионных преоб­ разователей. Эксперименты проводились при общем давлении 76—600 мм рт. ст. В этих условиях большое влияние на тексту­ ру вольфрама оказывают температура, общее давление, соотно­ шение Рц2/Рлѵр6 в смеси, скорость осаждения и материал под­

ложки. При давлении 230 мм рт. ст. реализуются

две преиму­

щественные ориентации: [100] при

Рц 2

/ P \ y f 6<30

и [ 1 1 1] при

Я н г//Ѵ к 6>30. Наибольшая степень

совершенства

текстуры

[100] достигается

при температуре

600° С, а текстуры

[111] —

при 750° С. Менее

существенным

параметром является ско­

рость осаждения. Однако в работе [320] отмечается, что более

высокие

скорости благоприятствуют формированию тексту­

ры [ 1 0 0]

и при высоких скоростях даже в очень бедных смесях

(Ph 2APw f, > 60) образуется только текстура [1 0 0].

Высокая степень преимущественной ориентации может быть получена при осаждении вольфрама на различные подложки — W, Мо, Та, Си. Тщательная полировка поверхности и очистка ее от загрязнений обеспечивает получение слоев с высокой сте­ пенью совершенства текстуры.

При относительно высоком давлении закономерности обра­

зования

текстур такие же, как и при давлении 230 мм рт. ст.

Однако при более низких давлениях

(<70 мм рт. ст.) отмечено

образование только текстуры [ 1 0 0]

и соотношение Рц 2 \vf

в газовой

фазе уже не является

контролирующим факто­

ром [320].

Таким образом, в слоях вольфрама, полученных при пони­ женном давлении, закономерности развития текстуры в основ­

ном такие же, как и в слоях,

полученных при

атмосферном

давлении. Высокие отношения

Р ц 2ІР\ѵтн, высокая

температура

и низкие скорости осаждения

благоприятствуют

образованию

текстуры [ 1 1 1], в то время как при высоких скоростях осажде­ ния, пониженной температуре и малых отношениях преимуще­ ственно образуется текстура [ 1 0 0].

Текстуры в сплавах тугоплавких металлов

Методы кристаллизации из газовой фазы эффективны для получения высокоориентированных сплавов тугоплавких ме­ таллов. Однако число исследований в этом направлении пока невелико. В слоях сплавов тугоплавких металлов Mo, W, Nb,

215

полученных совместным водородным восстановлением хлоридов соответствующих металлов, в зависимости от условий осажде­ ния могут быть реализованы четкие аксиальные текстуры [ 1 1 1,. 100, ПО] различной степени совершенства [109]. Закономерно­ сти развития текстуры в сплавах такие же, как и в чистых ме­ таллах [91]. Изменение концентрации сплава при постоянной температуре не приводит к изменению осей преимущественной ориентации. Очень хорошее совпадение данных рентгенографи­ ческих исследований свидетельствует о наличии текстуры не только в поверхностном слое, но и объеме всего сплава.

Высокая степень совершенства текстуры может быть достиг­ нута в сплавах, полученных и другими методами осаждения из газовой фазы, например совместным термическим разложением карбонилов тугоплавких металлов [93]. В качестве примера можно привести сплав Мо — 30 вес. % W, имеющий аксиальнуютекстуру [100] очень высокой степени совершенства [93].

Механизмы образования текстур

Представления о механизме и кинетике процессов текстурообразования при росте кристаллов являются в настоящее время наиболее слабо разработанными. Несмотря на большое число исследований единого объяснения возникновения и развития текстур не существует, а многие особенности процесса текстурообразования остаются еще не выясненными. В наибольшей степени это относится к процессам кристаллизации из газовой фазы.

При объяснении образования текстур в металлических слоях в основном исходят из факта изменения скоростей роста различных граней кристалла с изменением условий кристалли­ зации. Предполагают, что анизотропия определяет текстуру.

Изменение скоростей роста различных граней с изменением пересыщения можно объяснить на основе модели двумерногозародыша. Согласно классической теории кристаллообразова­ ния, развитой в работах [210, 214, 335], скорость роста грани является суммой скоростей образования двумерных зародышей и тангенциального пх роста. Модель двумерного зародыша до­ статочно оправдана в тех случаях, когда скорость процесса кристаллизации определяетсяобразованием двумерных заро­ дышей. При этом скорость роста грани пропорциональна скоро­ сти образования двумерных зародышей

J = zN exp (— WhklfkT),

где 2 — частота столкновений частиц, образующих кристаллы с определенным участком решетки на данной кристаллографи­

ческой

плоскости; N — число мест решетки, принимающих уча­

стие в

образовании зародышей; Whhi— работа образования

двумерного зародыша.

2 1 6

Согласно Пангарову [335], текстура образуется в результа­ те возникновения и последующего преимущественного роста (на индифферентной подложке) двумерных зародышей тех граней, работа образования которых минимальна. Осью текстуры при этом является направление, перпендикулярное к грани с наи­ меньшей работой образования на ней двумерного зародыша. Расчеты показывают, что в случае металлов с о. ц. к. решеткой работа образования двумерных зародышей уменьшается в по­ следовательности (222), (112), (ПО). В соответствии с этим из­ меняется и вероятность образования двумерных зародышей, а значит, и скорость роста различных граней, если кинетика про­ цесса кристаллизации определяется образованием данных заро­ дышей.

В работе [79] вычислена вероятность образования двумер­ ных зародышей на гранях (1 1 1) и (1 0 0) свинца при кристалли­ зации его из расплава. В случае малых переохлаждений ( усло­ вия, близкие к равномерным) грани ( 1 1 1) растут медленно и определяют габитус кристалла. При больших переохлаждениях наибольшей относительной скоростью роста обладают грани с

наиболее

плотной

упаковкой атомов, (например, грани

( 1 1 1) для

г. ц. к.

решетки) которые определяют текстуру

в слое.

 

 

Таким образом, работа образования двумерных зародышей для различных граней может изменяться с изменением условий кристаллизации (точнее, величины пересыщения). В разных условиях одни и те же грани кристалла могут быть как наибо­ лее медленно растущими, определяющими огранку кристаллов, так и имеющими наибольшую относительную скорость роста и, следовательно, определяющими направление преимущественной ориентации. Сопоставление энергии образования зародышей на гранях кристаллов для различного типа кристаллических реше­ ток позволяет связать экспериментально наблюдаемые преиму­

щественные

ориентации с

анизотропией строения

кристал­

лов

[79, 335].

 

 

скорости

роста плотноупакован­

Анализ результирующей

ной

плоскости (векторной

суммы нормальной и тангенциаль­

ной

составляющих

скорости) и учет симметрии решетки кри­

сталла позволили

предложить

последовательность

изменения

направлений

преимущественного

роста

кристаллов

с о. ц. к.

решеткой [79].

Направления преимущественного роста кристаллов одинако­ вы при очень малых (близких к условиям равновесия) и очень больших пересыщениях (ПО), а при промежуточных пересыще­ ниях они изменяются по двум независимым ветвям стереогра­

фического треугольника [100] и [111]. Учитывая тот факт,

что

в работе [7 9 ] при выводе приведенных выше результатов

ис­

пользованы лишь кристаллографические особенности кинетики кристаллизации, представляется возможным в общих чертах

217

распространить такой подход к текстурообразованию и на про­ цессы кристаллизации из газовой фазы.

Следует отметить, что рассмотренный механизм возникнове­ ния и развития текстуры не требует привлечения дислокационцой теории для объяснения процесса кристаллообразования.

Однако наличие дислокаций, как и некоторых других де­ фектов, способствует кристаллизации даже в тех случаях, когда вероятность флуктуационного образования двумерных зароды­ шей ничтожно мала (область малых пересыщений).

Для металлов с о. ц. к. решеткой соотношение между сковостями роста различных граней кристалла можно представить ■следующим образом:

А2— грани Ѵ(по) <[ Ѵ(2оо), А х—-грани \\т ) = V$2 \)

^(ізо>>

 

А 0 грань Н(222) — макс,

скорость.

 

При кристаллизации из газовой фазы эти соотношения су­

щественно

зависят от условий осаждения.

Так, в работе Г220]

показано,

что наименьшей скоростью

при

росте

вольфрама,

осаждаемого из его гексафторида на монокристалле вольфрама, ■обладает грань (200) (ТП= 200°С, T>h 2/-Pw f 6;=3). Вследствие этого при росте формируется одна из огранок куба: двугранная призма на грани (1 1 0 ); трехгранная пирамида на грани (2 2 2); увеличение стороны куба на грани (200). При этом подчерки­ вается, что кристаллы вольфрама образовались в результате

конкурентного

роста

закритических

зародышей. При других

условиях

осаждения

(7=400-^-600° С,

Pk J P w y «=8) наиболее

медленно

растущей

является

грань

(2 2 2), что способствует

формированию

текстуры (111).

Изменение соотношения скоро­

стей роста различных граней авторы работ [220, 263] связы­ вают с различием адсорбционной способности граней по отно­ шению к водороду и гексафториду.

Таким образом, модель двумерных зародышей позволяет объяснить хотя бы качественно некоторые особенности текстурообразования.

Многие авторы [58, 211, 244] склонны считать, что кинети­ ка процесса образования зародышей в многокомпонентной си­ стеме при кристаллизации из газовой фазы с участием химиче­ ской реакции хорошо может быть описана с позиций классиче­ ской теории зародышеобразования. Эта теория достаточно пол­ но изложена во многих монографиях и обзорах [210, 214, 367].

Необходимо, однако, отметить особенности процесса кри­ сталлизации из газовой фазы, обусловливающие значительные отклонения от классической теории.

Если процесс кристаллизации протекает в условиях очень больших пересыщений, когда критический размер зародыша со­ ставляет один-два атома (что часто имеет место при кристалли­ зации из газовой фазы [130, 219]), применение термодинами­

218

ческой теории неправомерно, ибо термодинамические величины теряют смысл для комплексов, состоящих из одного-двух атомов.

Последовательная теория роста кристаллов в таких процес­ сах должна быть чисто кинетической [216]. По мере увеличе­ ния пересыщения растущая грань становится шероховатой в атомном масштабе (при малых пересыщениях она атомноглад­ кая), причем шероховатость — явление кинетическое, она отсут­ ствует при равновесных условиях. Верхняя граница пересыще­ ния для того, чтобы грань стала шероховатой, оценена сле­ дующим образом [216]: разность химических потенциалов пара и кристалла в этих условиях

Др > nEsJ 2,

где п — число ближайших соседей атома в решетке; Ess— энер­ гия одной связи в кристалле. Оцененная максимальная вели­ чина пересыщения для металлов с о. ц. к. решеткой имеет зна­ чения 1 0 2 0 .

Если же на поверхности имеется адсорбированный слой, в

котором также возникают связи между частицами,

истинное

значение критического пересыщения должно быть

еще мень­

ше [216].

возникно­

Таким образом, пересыщения, необходимые для

вения шероховатости, невелики. Поэтому в большинстве слу­ чаев процессы роста кристаллов при кристаллизации из газо­ вой фазы, характеризуемые очень большими пересыщениями, должны описываться кинетической, а не термодинамической теорией.

Рост кристаллов на шероховатой поверхности осуществ­ ляется посредством нормального (а не тангенциального) меха­ низма роста. При этом кристалл ограняется округлыми поверх­ ностями, форма которых зависит от характеристик окружающей среды, распределения температуры и других факторов. Каче­ ственные выводы кинетической теории изложены в обзорной работе Чернова [216], там же обсуждаются основные трудно­ сти теории и современное ее состояние.

Проведение количественного сравнения результатов расче­ тов, исходя из кинетической теории, с экспериментальными дан­ ными в настоящее время не представляется возможным, так как в связи с трудностью учета коллективного взаимодействия ре­ шены лишь задачи для частных случаев [216].

Но даже применение классической термодинамической тео­ рии к процессам кристаллизации из газовой фазы вызывает принципиальные трудности, связанные с определением величины

свободной

энергии фазового превращения на единицу

объема

и понятия

«пересыщение». Для различно протекающих

процес­

сов кристаллизации с участием химической реакции предло­ жены расчетные формулы, позволяющие провести оценку пере­

219