
книги из ГПНТБ / Кристаллизация тугоплавких металлов из газовой фазы
..pdfАналогичная зависимость текстуры пленок от температуры подложки наблюдается и при осаждении вольфрама [91J, сте пень совершенства текстуры которого более высокая, чем в пленках молибдена. В соответствующей температурной области
текстура [ 1 0 0] |
вольфрама выражена сильнее, чем в молибдене. |
||||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
Степень |
совершенства |
тек |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
стуры |
[ 1 0 0] |
в |
|
молибдено |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
вых и вольфрамовых |
плен |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
ках |
увеличивается с ростом |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
температуры |
подложки. |
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
В |
молибдене, |
получен |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
ном при температуре |
1 1 0 0— |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
1200° С, |
наблюдается |
тек |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
стура [610], которая веро |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
ятно, существует лишь в по |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
верхностных слоях, так как |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
рентгенографические |
иссле |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
дования |
обнаруживают |
в |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
пленках |
текстуры |
[ 1 0 0] |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
[91]. |
Условия |
возникнове |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
ния |
и |
существования |
тек |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
стуры |
[610] |
не |
выяснены. |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Вопросы |
формирования |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
текстуры |
в |
молибдене |
и |
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
вольфраме рассматривались |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
также в работах [296, 356, |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
369, |
370]. В молибденовых |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
слоях толщиной 0,25 мм, |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
осажденных |
на |
плоских и |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
цилиндрических |
|
поверхно |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
стях молибдена водородным |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
восстановлением |
гексафто |
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
рида |
молибдена |
(700— |
|||||||
Р и с. 5.27. |
Электронограммы |
от по |
900° С) |
|
и |
высокотемпера |
|||||||||||
верхности |
молибдена, |
полученного |
турным |
пиролизом |
пента |
||||||||||||
восстановлением |
МоС15 |
при |
различ |
хлорида |
молибдена ( 1 1 0 0— |
||||||||||||
ной температуре |
подложки, °С: |
1500° С) рентгенографически |
|||||||||||||||
|
а — 750; б |
— 850; в |
— 1000; |
г — 1150. |
|||||||||||||
|
обнаружены |
|
аксиальные |
||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
текстуры |
[ 1 1 1] |
и |
[1 0 0]. |
|
|||||
При водородном восстановлении |
гексахлорида |
вольфрама |
|||||||||||||||
[356] |
получены |
слои |
вольфрама |
с текстурами |
[111], [100] и |
||||||||||||
[ПО] |
(общее давление |
|
1 мм рт. ст.). |
При этом с увеличением |
|||||||||||||
температуры |
подложки |
наблюдается |
тенденция |
к |
усилению |
||||||||||||
текстуры [ПО]. |
|
|
|
|
|
369, |
370], |
что методом водо |
|||||||||
Хадсон и Янг установили [296, |
родного восстановления гексахлорида вольфрама можно с вы сокой воспроизводимостью изготовлять эмиттеры любой слож ной формы с четкой текстурой [ПО]. Полученные ими резуль-
210
СО
SJ
К
i=2
VO
СО
Н
Результаты осаждения вольфрама из его гексахлорида [296]
ѳ е ‘э и Х Л н в я я ao H o d -аиэі/'б вѴ охіча v i o g v d
Преимущественная о р и е н т а ц и я
%‘ и н н э Ѵ ж в э о
*ф Ч ю о н а и х и э ф ф в
W W ‘ЭМЖОІГ - V on у о а о н э н д и і г о м
BH ВНѴВЭО BHHtnifOX
ad E U а А \ / г н ЗИНЭШОНІООЭ 0OH4LTOW
3dBU я Л\/ІЭ
ЗИНЭШОНІООЭ 30HW0J-V
ь ) г
‘ adB ii а д \ й о х э в с і
и м ж /Cdxo-AV E d X x E d a n w a x
■нгт |
‘ B w s d g |
|
у r m { z vto |
‘х в и а о іг э А |
хічнчігвк |
• doH H d u гіэ |
* ж и о ц |
|
n n w / e w o |
‘ х к и а о іго Л |
х н н ч іг е ю |
-doH ийи гн |
, ж > х о ц |
Эо ‘ИНЖ01Г
-Ѵои-одо B d X i B d a n w a x
I O I O O N O O N ( N C O ( N - ' I O C O O N O C ^ C 4
l O c O C O o O G O i O O u O i O O O O c O O O G i O O i O j
ПО[ПО[ПО[ПО[ПО[ПО[ ПО[ПО[ПО[ [100][100][110]]]Поликристаллический]Поликристаллический[100]]]]1110]]]]Поликристаллический
rh
г^сОСМоОСОЬ-С^^СОС^ОГ^СОЮСООіСЧО счеасО’- н - Ф О '^ о о ^ с м с о с о е о с о с ч ю
Th
ѵс
ю —<о о со со — LOcoot''-h--<MC4t->^oc4
СОООГ--Г--ОСЧСОО — — ’t ю ю - о t-- о
с ч с о о о о - ^ о о — о — щ о vo r-> о ю о СМСОСОСОООСО»—ООО—'ООС^СЧІСОГ-іООО
^- - . - ^ — СМСМСМСМСМСМС^еОСЧСЧСМСЧ^СО
^ОСМООСЧООСОтЬСЧСОС^ОСОЮ --
< м с с а з і с ^ с о с о с о с м с о с о ю с о с ^ а > т ь г - ь >
с ч ’а> ^ ’^ • ' ^ ' = h c o c o c o c o c o c o c o c o c o i n c o < M |
|
—< |
CM |
N C O O O O O c O O M O f M T f - W C O ^ T t O i O
Ю О П М С ^ С ^ ^ О О С О С О О О - н О - 1— C O t N N ^
СЧСЧСМСЧСМСЧСМ — ‘ CMCOCMCOCOCMCMCM
о ю о о о о о о ю о ю ю ю ю о о о о
l O W m i O W ^ i O C N C M l O N N h M O W l O i n COQOOOOOCCOOOOOOcOOOOOOOOOoOCOOOOOt--
O O O I C O O O O O O O O O O O O C M O
O O C O G O lO ’T 4 , ^ 0 0 ' T ' T ' t C O O O c O O O - - N O
о о о ю ю ю ю о о ю ю ю ю ю ю с о ю ю ю о о - --------- <o<*---------- ----------с о "
o o o o o o o o o o o o o o o o o o
o o o o o o o o o o o o |
o o o o o o |
|
ю ю ю ю ю о ю о о о ю |
о о о о о о о |
|
СО ■—«СМ —1»—<CM ’—1(M(M —<О ’—i |
—1’—<—' —< |
о
о
-и S
К
S
«ч <и
П
о
о.
К с
Со, О
14* 211
таты представлены в табл. 5.22. Наилучшими условиями для получения вольфрамовых эмиттеров с текстурой [ПО] авторы считают следующие:
Температура подложки........................ |
1100—1150 °С |
|
Скорость потока х л о р а ........................ |
115—135 |
см3/мин |
Скорость потока водорода.................... |
140—160 |
см3/мин |
Температура стружки фторидиоло воль |
830—875 |
°С |
фрама ................................................... |
||
При температуре подложки 800° С в ниобии и в тантале реа |
||
лизуется четкая текстура [ПО]. При |
температуре 850—950°С |
наблюдается смешанная текстура [110] +[111]. С повышением температуры подложки до 900—1000°С в слоях возникает пре
имущественная |
ориентация |
в направлении |
[111]. |
В области |
1000—1050°С |
наблюдается |
смешанная текстура [111] + [100]. |
||
Дальнейшее увеличение температуры подложки до |
1100° С при |
|||
водит к появлению текстуры |
[ 10 0]. Данные |
рентгенографиче |
ского анализа показывают, что при температуре 1200—1500°С слои имеют четкую аксиальную текстуру [ 1 0 0] [91].
По данным работы [356] в слоях ниобия, полученных водо родным восстановлением пентахлорида металла при темпера туре 800—1200°С, наблюдаются текстуры [ПО] и [100] с пре обладанием ориентации [ 1 0 0].
Получить текстурированные осадки рения при термическом разложении не удалось. Отжиг таких слоев ведет к появлению очень слабо выраженной текстуры [356].
Таким образом, данные многих авторов свидетельствуют о том, что изменением температуры подложки, т. е. изменением пересыщения паров металла, в процессе водородного восста новления хлоридов могут быть получены слои Mo, W, Nb, Та, имеющие совершенные аксиальные текстуры [1 1 0 ], [ 1 0 0]
и [ 1 1 1].
Состав газовой фазы. Приводимые разными авторами дан ные о температурных условиях получения определенных тек стур зачастую несколько различаются. Вероятно, это обуслов лено неучтенным влиянием дополнительных факторов и прежде Нсего влиянием общего давления в системе и соотношения дав ления водорода и парциального давления хлорида металла в
газовой фазе. |
|
|
Г Так, Хадсон и Янг [296] проводили исследования при общем |
||
давлении в реакторе 5 мм рт. ст., |
а Шрофф [356]— при давле |
|
нии 1 мм рт. ст. Авторы работы |
[91] |
осаждали металл при |
общем давлении от 1 0 до 1 0 0 мм рт. ст. |
и обнаружили, что пре |
имущественная ориентация в пленках в значительной мере за
висит от давления в реакционном |
объеме. |
При |
осаждении |
мо |
|||
либдена в области существования |
текстур |
[ 1 1 1] |
и [ 1 0 0] |
(тем |
|||
пература |
подложки 800° С) повышение |
давления |
от |
20 |
до |
||
60 мм рт. |
ст. приводит к преобладанию |
текстуры |
[ 1 0 0], |
при |
212
большем давлении ( — 1 0 0 мм рт. ст.) образуется только тек стура [ 1 0 0].
Большое влияние на тип преимущественной ориентации ока зывает соотношение парциальных давлений водорода и паров
хлорида металла. В работе |
[91] |
исследования |
выполнены |
при высоких соотношениях |
(что |
способствует |
увеличению |
выхода металла), в то время как в других работах использова ны малые соотношения. Низкая температура и малые соотно шения парциальных давлений способствуют развитию тексту ры [ПО], высокая температура и высокие мольные соотноше ния благоприятствуют появлению текстуры [100] [296]. Присут ствие значительных количеств низших хлоридов в газовой фазе не оказывает существенного влияния на направление осей преимущественной ориентации [296].
Водородное восстановление фторидов металлов. Большинст во эмиттеров для термоэмиссионных преобразователей к насто ящему времени изготовлены водородным восстановлением гек сафторида вольфрама [296, 293, 369]. Как известно, осаждение может быть проведено как при атмосферном, так и при пони женном давлениях, поэтому целесообразно рассмотреть основ ные закономерности каждого из этих процессов.
Атмосферное давление. Влияние параметров процесса (тем пературы, состава газовой фазы, скорости потока) на формиро вание текстуры в вольфраме при осаждении его в условиях атмосферного давления (760 мм рт. ст.) подробно рассмотрены в работе [263]. Исходные компоненты были тщательно очище ны: водород от кислорода и азота, гексафторид вольфрама от оксифторидов вольфрама. Осаждение велось на внутреннюю поверхность медной трубки, по длине которой состав газовой фазы изменялся в процессе осаждения. Авторы наблюдали в
начале |
зоны |
аксиальную текстуру [ 1 0 0], |
а в конце — тексту |
ру [ H l ] . |
5.28 приведена зависимость |
критического парци |
|
На |
рис. |
ального давления Ркр11Т гексафторида вольфрама, при котором наблюдается переход от текстуры [ 1 0 0] к текстуре [ 1 1 1], от условий осаждения. Из графиков следует, что увеличение тем
пературы осаждения приводит |
к увеличению Р„рит и текстура |
|
[ 1 1 1] может быть получена в |
более широкой области давле |
|
ний Pw f 6. |
Обогащение смеси |
фторидом приводит к уменьше |
нию Р Крит |
и при P h 2/Pw f6< 9 |
переход от текстуры [100] к |
текстуре [111] не наблюдается. Текстуре [100] часто сопутст
вует текстура |
[310], |
а текстуре |
[ i l l ] текстура [112]. |
Увеличе |
|||
ние скорости |
потока |
благоприятствует |
образованию |
тексту |
|||
ры [ 1 0 0]. |
|
|
|
|
|
|
|
Таким образом, полученные результаты кратко можно сфор |
|||||||
мулировать |
следующим |
образом |
[263]. |
В слоях вольфрама в |
|||
зависимости |
от условий |
осаждения появляются текстуры [1 0 0] |
и [ 1 1 1]. Увеличение температуры осаждения (в интервале400—
213
600°С), уменьшение скорости потока и увеличение соотноше
ния Р н /lPwFr, |
благоприятствуют |
образованию текстуры |
[ 1 1 1]. |
Шрофф [356], получивший слои вольфрама тем же методом |
|||
при атмосферном давлении, обнаружил, что в бедных |
смесях |
||
{Pb.J P wfs>3) |
предпочтительной является ориентация |
[ 1 0 0]. |
|
Такая же текстура наблюдается |
и при T,H2/T>wpe< 3 в области |
||
500—800° С. Отсутствие текстуры |
[111] вызвано, вероятно, тем, |
Рис . 5.28. Влияние температуры осаждения и скорости потока на критиче ское давление Р„рЯт перехода [100]->[111] при различном парциальном дав лении WF6, мм рт. ст.\
|
|
/ — 30; 2 — 50; 3 — 76. |
что |
использовались |
смеси, слишком обогащенные гексафтори |
дом, |
что должно |
способствовать подавлению текстуры [ 1 1 1]. |
В работе [355] изучение текстур было |
проведено в интервале |
|||||
значений отношения P -r J P w f h |
о т |
6 |
до |
80, однако, |
авторам |
не |
удалось обнаружить текстуру |
[ 1 1 |
1], |
возможно, по |
причине |
не |
достаточной очистки исходных продуктов или вследствие влия ния каких-либо других факторов.
Авторам работы [263] наблюдать появление текстуры [ПО] не удалось. Невозможность создания слоев вольфрама с тек стурой [ПО] при водородном восстановлении его гексафторида отмечается и в работе [296].
Однако использование обогащенных смесей позволило полу чить слои вольфрама с ориентацией [ПО] при температуре 950—1100°С [356], что представляет исключительный интерес как с практической, так и с теоретической точек зрения, по скольку до этой работы в литературе не было сообщений о воз можности получения вольфрама с текстурой [ПО] при водо
родном восстановлении гексафторида вольфрама. |
оказывают |
|||
Большое влияние на |
формирование |
текстуры |
||
газообразные примеси (азот, |
двуокись |
углерода, |
пары воды |
|
и др.), присутствующие |
в |
газовой фазе |
[263]. Наличие этих |
примесей, а также осаждение вольфрама из неочищенных ком понентов сдвигает область существования текстуры [ 1 0 0] в
214
сторону более высоких парциальных давлений гексафторида вольфрама. Такой же эффект вызывает разбавление рабочей смеси аргоном (до 50%) [263].
Пониженное давление. Изучению закономерностей формиро вания текстур в слоях вольфрама, полученных водородным вос становлением \ѴТб при низких давлениях, посвящена работа [320]. Осаждение вольфрама производилось с целью улучше ния эмиссионных свойств поверхностей, которые предполага лось использовать в качестве катодов термоэмиссионных преоб разователей. Эксперименты проводились при общем давлении 76—600 мм рт. ст. В этих условиях большое влияние на тексту ру вольфрама оказывают температура, общее давление, соотно шение Рц2/Рлѵр6 в смеси, скорость осаждения и материал под
ложки. При давлении 230 мм рт. ст. реализуются |
две преиму |
||||
щественные ориентации: [100] при |
Рц 2 |
/ P \ y f 6<30 |
и [ 1 1 1] при |
||
Я н г//Ѵ к 6>30. Наибольшая степень |
совершенства |
текстуры |
|||
[100] достигается |
при температуре |
600° С, а текстуры |
[111] — |
||
при 750° С. Менее |
существенным |
параметром является ско |
рость осаждения. Однако в работе [320] отмечается, что более
высокие |
скорости благоприятствуют формированию тексту |
ры [ 1 0 0] |
и при высоких скоростях даже в очень бедных смесях |
(Ph 2APw f, > 60) образуется только текстура [1 0 0].
Высокая степень преимущественной ориентации может быть получена при осаждении вольфрама на различные подложки — W, Мо, Та, Си. Тщательная полировка поверхности и очистка ее от загрязнений обеспечивает получение слоев с высокой сте пенью совершенства текстуры.
При относительно высоком давлении закономерности обра
зования |
текстур такие же, как и при давлении 230 мм рт. ст. |
|
Однако при более низких давлениях |
(<70 мм рт. ст.) отмечено |
|
образование только текстуры [ 1 0 0] |
и соотношение Рц 2 /Р\vf |
|
в газовой |
фазе уже не является |
контролирующим факто |
ром [320].
Таким образом, в слоях вольфрама, полученных при пони женном давлении, закономерности развития текстуры в основ
ном такие же, как и в слоях, |
полученных при |
атмосферном |
давлении. Высокие отношения |
Р ц 2ІР\ѵтн, высокая |
температура |
и низкие скорости осаждения |
благоприятствуют |
образованию |
текстуры [ 1 1 1], в то время как при высоких скоростях осажде ния, пониженной температуре и малых отношениях преимуще ственно образуется текстура [ 1 0 0].
Текстуры в сплавах тугоплавких металлов
Методы кристаллизации из газовой фазы эффективны для получения высокоориентированных сплавов тугоплавких ме таллов. Однако число исследований в этом направлении пока невелико. В слоях сплавов тугоплавких металлов Mo, W, Nb,
215
полученных совместным водородным восстановлением хлоридов соответствующих металлов, в зависимости от условий осажде ния могут быть реализованы четкие аксиальные текстуры [ 1 1 1,. 100, ПО] различной степени совершенства [109]. Закономерно сти развития текстуры в сплавах такие же, как и в чистых ме таллах [91]. Изменение концентрации сплава при постоянной температуре не приводит к изменению осей преимущественной ориентации. Очень хорошее совпадение данных рентгенографи ческих исследований свидетельствует о наличии текстуры не только в поверхностном слое, но и объеме всего сплава.
Высокая степень совершенства текстуры может быть достиг нута в сплавах, полученных и другими методами осаждения из газовой фазы, например совместным термическим разложением карбонилов тугоплавких металлов [93]. В качестве примера можно привести сплав Мо — 30 вес. % W, имеющий аксиальнуютекстуру [100] очень высокой степени совершенства [93].
Механизмы образования текстур
Представления о механизме и кинетике процессов текстурообразования при росте кристаллов являются в настоящее время наиболее слабо разработанными. Несмотря на большое число исследований единого объяснения возникновения и развития текстур не существует, а многие особенности процесса текстурообразования остаются еще не выясненными. В наибольшей степени это относится к процессам кристаллизации из газовой фазы.
При объяснении образования текстур в металлических слоях в основном исходят из факта изменения скоростей роста различных граней кристалла с изменением условий кристалли зации. Предполагают, что анизотропия определяет текстуру.
Изменение скоростей роста различных граней с изменением пересыщения можно объяснить на основе модели двумерногозародыша. Согласно классической теории кристаллообразова ния, развитой в работах [210, 214, 335], скорость роста грани является суммой скоростей образования двумерных зародышей и тангенциального пх роста. Модель двумерного зародыша до статочно оправдана в тех случаях, когда скорость процесса кристаллизации определяетсяобразованием двумерных заро дышей. При этом скорость роста грани пропорциональна скоро сти образования двумерных зародышей
J = zN exp (— WhklfkT),
где 2 — частота столкновений частиц, образующих кристаллы с определенным участком решетки на данной кристаллографи
ческой |
плоскости; N — число мест решетки, принимающих уча |
стие в |
образовании зародышей; Whhi— работа образования |
двумерного зародыша.
2 1 6
Согласно Пангарову [335], текстура образуется в результа те возникновения и последующего преимущественного роста (на индифферентной подложке) двумерных зародышей тех граней, работа образования которых минимальна. Осью текстуры при этом является направление, перпендикулярное к грани с наи меньшей работой образования на ней двумерного зародыша. Расчеты показывают, что в случае металлов с о. ц. к. решеткой работа образования двумерных зародышей уменьшается в по следовательности (222), (112), (ПО). В соответствии с этим из меняется и вероятность образования двумерных зародышей, а значит, и скорость роста различных граней, если кинетика про цесса кристаллизации определяется образованием данных заро дышей.
В работе [79] вычислена вероятность образования двумер ных зародышей на гранях (1 1 1) и (1 0 0) свинца при кристалли зации его из расплава. В случае малых переохлаждений ( усло вия, близкие к равномерным) грани ( 1 1 1) растут медленно и определяют габитус кристалла. При больших переохлаждениях наибольшей относительной скоростью роста обладают грани с
наиболее |
плотной |
упаковкой атомов, (например, грани |
( 1 1 1) для |
г. ц. к. |
решетки) которые определяют текстуру |
в слое. |
|
|
Таким образом, работа образования двумерных зародышей для различных граней может изменяться с изменением условий кристаллизации (точнее, величины пересыщения). В разных условиях одни и те же грани кристалла могут быть как наибо лее медленно растущими, определяющими огранку кристаллов, так и имеющими наибольшую относительную скорость роста и, следовательно, определяющими направление преимущественной ориентации. Сопоставление энергии образования зародышей на гранях кристаллов для различного типа кристаллических реше ток позволяет связать экспериментально наблюдаемые преиму
щественные |
ориентации с |
анизотропией строения |
кристал |
||||
лов |
[79, 335]. |
|
|
скорости |
роста плотноупакован |
||
Анализ результирующей |
|||||||
ной |
плоскости (векторной |
суммы нормальной и тангенциаль |
|||||
ной |
составляющих |
скорости) и учет симметрии решетки кри |
|||||
сталла позволили |
предложить |
последовательность |
изменения |
||||
направлений |
преимущественного |
роста |
кристаллов |
с о. ц. к. |
решеткой [79].
Направления преимущественного роста кристаллов одинако вы при очень малых (близких к условиям равновесия) и очень больших пересыщениях (ПО), а при промежуточных пересыще ниях они изменяются по двум независимым ветвям стереогра
фического треугольника [100] и [111]. Учитывая тот факт, |
что |
в работе [7 9 ] при выводе приведенных выше результатов |
ис |
пользованы лишь кристаллографические особенности кинетики кристаллизации, представляется возможным в общих чертах
217
распространить такой подход к текстурообразованию и на про цессы кристаллизации из газовой фазы.
Следует отметить, что рассмотренный механизм возникнове ния и развития текстуры не требует привлечения дислокационцой теории для объяснения процесса кристаллообразования.
Однако наличие дислокаций, как и некоторых других де фектов, способствует кристаллизации даже в тех случаях, когда вероятность флуктуационного образования двумерных зароды шей ничтожно мала (область малых пересыщений).
Для металлов с о. ц. к. решеткой соотношение между сковостями роста различных граней кристалла можно представить ■следующим образом:
А2— грани Ѵ(по) <[ Ѵ(2оо), А х—-грани \\т ) = V$2 \) |
^(ізо>> |
|||
|
А 0 — грань Н(222) — макс, |
скорость. |
|
|
При кристаллизации из газовой фазы эти соотношения су |
||||
щественно |
зависят от условий осаждения. |
Так, в работе Г220] |
||
показано, |
что наименьшей скоростью |
при |
росте |
вольфрама, |
осаждаемого из его гексафторида на монокристалле вольфрама, ■обладает грань (200) (ТП= 200°С, T>h 2/-Pw f 6;=3). Вследствие этого при росте формируется одна из огранок куба: двугранная призма на грани (1 1 0 ); трехгранная пирамида на грани (2 2 2); увеличение стороны куба на грани (200). При этом подчерки вается, что кристаллы вольфрама образовались в результате
конкурентного |
роста |
закритических |
зародышей. При других |
||
условиях |
осаждения |
(7=400-^-600° С, |
Pk J P w y «=8) наиболее |
||
медленно |
растущей |
является |
грань |
(2 2 2), что способствует |
|
формированию |
текстуры (111). |
Изменение соотношения скоро |
стей роста различных граней авторы работ [220, 263] связы вают с различием адсорбционной способности граней по отно шению к водороду и гексафториду.
Таким образом, модель двумерных зародышей позволяет объяснить хотя бы качественно некоторые особенности текстурообразования.
Многие авторы [58, 211, 244] склонны считать, что кинети ка процесса образования зародышей в многокомпонентной си стеме при кристаллизации из газовой фазы с участием химиче ской реакции хорошо может быть описана с позиций классиче ской теории зародышеобразования. Эта теория достаточно пол но изложена во многих монографиях и обзорах [210, 214, 367].
Необходимо, однако, отметить особенности процесса кри сталлизации из газовой фазы, обусловливающие значительные отклонения от классической теории.
Если процесс кристаллизации протекает в условиях очень больших пересыщений, когда критический размер зародыша со ставляет один-два атома (что часто имеет место при кристалли зации из газовой фазы [130, 219]), применение термодинами
218
ческой теории неправомерно, ибо термодинамические величины теряют смысл для комплексов, состоящих из одного-двух атомов.
Последовательная теория роста кристаллов в таких процес сах должна быть чисто кинетической [216]. По мере увеличе ния пересыщения растущая грань становится шероховатой в атомном масштабе (при малых пересыщениях она атомноглад кая), причем шероховатость — явление кинетическое, она отсут ствует при равновесных условиях. Верхняя граница пересыще ния для того, чтобы грань стала шероховатой, оценена сле дующим образом [216]: разность химических потенциалов пара и кристалла в этих условиях
Др > nEsJ 2,
где п — число ближайших соседей атома в решетке; Ess— энер гия одной связи в кристалле. Оцененная максимальная вели чина пересыщения для металлов с о. ц. к. решеткой имеет зна чения 1 0 —2 0 .
Если же на поверхности имеется адсорбированный слой, в
котором также возникают связи между частицами, |
истинное |
значение критического пересыщения должно быть |
еще мень |
ше [216]. |
возникно |
Таким образом, пересыщения, необходимые для |
вения шероховатости, невелики. Поэтому в большинстве слу чаев процессы роста кристаллов при кристаллизации из газо вой фазы, характеризуемые очень большими пересыщениями, должны описываться кинетической, а не термодинамической теорией.
Рост кристаллов на шероховатой поверхности осуществ ляется посредством нормального (а не тангенциального) меха низма роста. При этом кристалл ограняется округлыми поверх ностями, форма которых зависит от характеристик окружающей среды, распределения температуры и других факторов. Каче ственные выводы кинетической теории изложены в обзорной работе Чернова [216], там же обсуждаются основные трудно сти теории и современное ее состояние.
Проведение количественного сравнения результатов расче тов, исходя из кинетической теории, с экспериментальными дан ными в настоящее время не представляется возможным, так как в связи с трудностью учета коллективного взаимодействия ре шены лишь задачи для частных случаев [216].
Но даже применение классической термодинамической тео рии к процессам кристаллизации из газовой фазы вызывает принципиальные трудности, связанные с определением величины
свободной |
энергии фазового превращения на единицу |
объема |
и понятия |
«пересыщение». Для различно протекающих |
процес |
сов кристаллизации с участием химической реакции предло жены расчетные формулы, позволяющие провести оценку пере
219