Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Полупроводниковые детекторы в дозиметрии ионизирующих излучений

..pdf
Скачиваний:
38
Добавлен:
20.10.2023
Размер:
7.88 Mб
Скачать

ления сцинтиллятора Csl (TI) /гсц=1,79, следовательно, коэф­ фициент преломления материала оптического контакта комби­ нированного детектора по формуле (5.6) должен составлять 1,8—1,9. К сожалению, материалы с таким высоким коэффи­ циентом преломления обладают обычно малой прозрачностью, химической нестабильностью н прочими недостатками (см., например, работу [184]), в частности, вызывают ухудшение параметров фотоэлемента [180, 181]. Поэтому в качестве про­ межуточных материалов используют вещества с коэффициентом преломления 1,4—1,5, не изменяющие характеристик фотоэле­ мента. Это накладывает дополнительные ограничения на выбор материала оптического контакта. Так, иммерсионная жидкость типа дау-корнинг, оптический лак хисол 20-20 вызывают разру­ шение чувствительной поверхности поверхностно-барьерных кремниевых фотодиодов. Силиконовое масло, часто применяе­ мое как материал оптического контакта, также может привести к увеличению тока утечки при обратном смещении [180] у фотоэлементов и фотодиодов с близколежащими к поверхности р — /г-переходами. Поэтому в случаях, когда к надежности конструкции детекторов и стабильности в работе предъявля­ ются повышенные требования, между сцинтиллятором и фото­ элементом оставляют тонкий воздушный зазор. Однако при этом величина g существенно уменьшается; степень уменьшения зависит от геометрических параметров детектора.

Лучшим материалом оптического контакта, нейтральным к поверхности фотоэлементов, считаются кремнийорганические компаунды [180]. Их можно также использовать как эффектив­ ный отражающий и конструкционный материал. Из отечествен­

ных типов

рекомендуется

применять

в качестве

защитных,

отражающих и оптических

материалов

кремнийорганические

компаунды

КЛ-16, КЛТ-30,

КЛ-4 соответственно

на основе

синтетического каучука марки СКТН-4 с отвердевателями типа К-1, К-2 [130].

Компаунд КЛТ-30 (компаунд КЛ-4 с добавкой окиси тита­ на) является хорошим отражателем. Коэффициент отражения

увеличивается с ростом толщины dK компаунда

и при

с?к^0 ,5 мм достигает постоянного значения. Характер

отраже­

ния компаунда: диффузный, зеркальный, промежуточный опре­ деляется в основном профилем формирующей поверхности. В частности, поверхность компаунда, образующаяся при залив­

ке на неполированный сцинтиллятор Csl (Т1),

имеет

практи­

чески диффузное отражение

с цОт = 0,9—0,95 и Цот не

изменя­

ется после облучения рентгеновским излучением

(£эф= Ю кэв)

дозами до 3- 10е р.

перед обычными

отражающими

Преимущество компаунда

материалами (MgO, фторопласт, специальные белые краски) —

упрощение

технологии изготовления

комбинированных детек­

торов при

одновременном обеспечении

герметизации изделий.

ПО

 

 

Применение кремнийорганических компаундов не только упро­ щает конструкцию, но и повышает стабильность работы детек­ торов [181].

§ 5.4. ДОЗИМЕТРИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ КОМБИНИРОВАННЫХ ДЕТЕКТОРОВ C sI(T I)+ Si, CsI(TI)+GaA s

Зависимость фототока от мощности дозы излучения

Фототок комбинированного детектора линейно зависит от мощности дозы излучения в том случае, если световой выход сцинтиллятора линеен с мощностью дозы и линейно преобразо­ вание сцинтилляционного свечения в электрический сигнал. Условия последнего рассмотрены в гл. 4.

Минимальная измеряемая величина мощности дозы Р ком­ бинированным детектором определяется флуктуациями темно­ вого тока детектора. Так как этот ток весьма мал (см. § 2), то практически Рмим ограничивается чувствительностью существую­ щих измерителей токов с низким входным сопротивлением (для сохранения условий линейности /ф= /(Р )).

Верхний предел измеряемых мощностей доз ограничивается эффектами «насыщения» сцинтиллятора, т. е. нарушением ли­ нейной зависимости между мощностью дозы и интенсивностью люминесценции, влиянием радиационных эффектов и допусти­ мой мощностью рассеивания фотоэлементов. Этот предел тем выше, чем меньше эффективность и объем используемого сцин­ тиллятора.

Оценим чувствительность комбинированных детекторов. Для удобства сравнения с экспериментом расчет проведен для де­ тектора, состоящего из монокристалла Csl (Т1) размером 10X10X4 мм и арсенидгаллиевого фотоэлемента, на который

воздействует

рентгеновское

излучение

с

эффектной энергией

100 кэв.

Материал

оптического контакта — силиконовое масло,

специальный

отражатель

отсутствует.

При этом УСц = 0,4

сж3,

линейный

коэффициент поглощения у-излучения с £ѵ =100

кэв

цг —8,7 см-1

[185]

и энергия, поглощаемая

сцинтиллятором при

мощности

экспозиционной

дозы

1 р/мин

(87,7 эрг/мин погло­

щается

в

1 а воздуха),

раина

£ п = 60,3

эрг/сек=60,3- ІО-7

вт.

Для

монокристаллов

Csl (Т1)

примем г| = 6%. У

рассматри­

ваемого

комбинированного

детектора

5ф=1 сж2;

50 = 3,6

см2,

ап=0,38

 

[6]

и,

следовательно,

ап(5ф/50) =0,107,

учитывая,

что отражение света в детекторе плохое, примем Лот= 0,5. Для этого случая |, определенное по формуле (5.6), составляет около 20%, т. е. фотоэлемент получает 0,4% энергии излучения, поглощенной в сцинтилляторе, — 0,724-ІО-4 мет. Чувствитель­ ность арсенидгаллиевого элемента в максимуме спектральной чувствительности можно считать равной 400 мка/мвт, а глубину расположения перехода rf=l мкм.

Предполагая, что все сцинтилляционные фотоны имеют энер­ гию, соответствующую максимуму спектра излучения Csl (Т1) = 5600 Â), в соответствии с кривой 6 на рис. 5.1 получаем чувствительность фотоэлемента 270 мка/мв. Таким образом,.

Іф/Ряі 1,9510_s а/(рIмин).

Т а б л и ц а 5.1 Экспериментальные данные о чувствительности комбинирова иных детекторов

 

 

 

Ч у в с т в и т е л ь н о с т ь ,

 

Т и п п о л у п р о в о д н и к о в о го

Р а зм е р

 

а - м и н Ц р - с м 2)

 

эл е м е н та ; р а зм е р ы , мм

с ц и н т и л л я т о р а

б ез с ц и н т и л ­

СО с ц н н т н л -

 

 

C s l ( Т І ) , мм

 

 

 

л я т о р а /ф

л н т о р о м /фсЦ

Й|)/Й|ГСЦ

Кремниевый ФКД-3; 20x10x4

1,1.10-»

ю — 7

90

20X10X0,8

ЮХЮХ4

0,9-10-в

4,8-10-8

53

Арсенид галлиевый

ФГМ-2: 10хЮ хО,8

025 Х4

0 ,7 -10-ю

4,5-10-8

640

Селеновый, ГОИ;

025X1

 

 

 

 

В табл. 5.1 приведены сравнительные экспериментальные данные о чувствительности комбинированных детекторов к рентгеновскому излучению с £ Эф=100 кэв по току короткого замыкания. Чувствительность детекторов рассчитана на 1 см2 рабочей поверхности фотоэлемента. Материал оптического кон­ такта— силиконовое масло, специальный отражатель отсут­ ствует.

• Расхождение между расчетной и экспериментальной величи­ нами чувствительности невелико (в пределах одного порядка величины) и может быть отнесено за счет неопределенности некоторых взятых для расчета величин (цот, £ф и др.).

Ход с жесткостью

Ход с жесткостью сцинтиллятора Csl (Т1) изучен [186], ход с жесткостью кремниевых и арсенидгаллиевых фотоэлементов рассмотрен в гл. 4. Все три энергетические зависимости (ком­ бинированного детектора, сцинтиллятора и фотоэлемента) описываются одним уравнением (1.51). Поэтому для анализа кривой энергетической чувствительности комбинированного детектора необходимо установить вклад, вносимый сцинтилля­ тором и фотоэлементом.

При этом имеется два крайних случая: а) сцинтиллятор, достаточно толстый, т. е. поглощает все падающее на него из­ лучение и б) сцинтиллятор достаточно тонкий, т. е. поглощает незначительную часть излучения.

В первом

случае ход с жесткостью определяется ходом с

жесткостью

сцинтилляторов, во втором — фотоэлемента. На

112

рис. 5.3 приведен ход с жесткостью комбинированного детекто­ ра с различной толщиной сцинтиллятора Csl (Т1), а также толщина Csl (TL), обеспечивающая поглощение 90% монохро­ матического излучения заданной энергии. Все кривые, за ис­ ключением кривой гіоц=0,5 мм, соответствуют первому случаю.

Рис.

Ö.3.

Зависимость

чувствительности

комбинированного

детектора

Si + Csl (TI)

от энергетического

состава рентгенов­

ского

излучения при

различной толщине сцинтиллятора {мм),

указанной у кривых;

кривая А — толщина

Csl

(Т1), при кото­

рой поглощается

90% монохроматического

излучения.

Это подтверждается экспериментами, где сцинтиллятор и фото­

элемент

разделены

длинным световодом

[187]. Поэтому

при

с?сц^2 мм ход с жесткостью

детекторов

Csl (Tl)+GaAs

[188]

и Csl (TI) +Si

[189] имеет аналогичный характер.

 

 

Уменьшить

энергетическую

зависимость

чувствительности

комбинированного

детектора

можно следующими

способами.

а.

Подбором

толщины

сцинтиллятора. Так,

для сцинтилля­

тора Csl (Т1) толщиной 3 мм

ход с жесткостью

в диапазоне

энергий от 60 до 125 кэв не превышает ±10%

[190].

 

 

ИЗ

б. Применением метода отношения двух сигналов (см. гл. 7). в. Применением классического метода компенсации допол­

нительными фильтрами.

Инерционность детекторов

Инерционность комбинированных детекторов определяется временем высвечивания сцинтиллятора и инерционностью фото­ элементов. Время высвечивания основной компоненты сцинтил­ ляций составляет, по разным данным, т=0,5-М,1 мксек [191].

По абсолютной величине интенсивность и длительность фос­ форесценции (после свечения) меняется от кристалла к кри­ сталлу. Во многих случаях оказывается достаточным отбор сцинтилляторов комбинированного детектора по визуальной оценке послесвечения по сравнению с эталоном при облучении рентгеновским или уизлучением дозой 200—250 р. При этой ток комбинированного детектора, обусловленный послесвече­ нием, может быть снижен до 1—2% тока сигнала в диапазоне мощностей доз от 1 до 100 р/мин.

Кинетика фототока полупроводникового элемента при воз­ действии свечения сцинтиллятора определяется теми же соотно­ шениями, что и описанными в § 4.5. Разница состоит лишь в том, что все фотоны поглощаются в узком поверхностном слое детектора толщиной в несколько микрон. Из-за этого уменьша­ ется время собирания неосновных носителей к р — «-переходу, т. е. уменьшается инерционность полупроводникового прибора [37].

Достаточно малая инерционность комбинированных детекто­ ров, основанных на сочетании Si + CsI (Т1), позволяет, напри­ мер, определить с их помощью длительность мнкросекундных импульсов бетатронного излучения [140].

Пространственная чувствительность .

С увеличением энергии излучения зависимость от ориента­ ции комбинированного детектора уменьшается так же, как у ППД.

Детектор на основе сочетания сцинтиллятор — световод — фо­ тоэлемент [180, 187] позволяет снизить зависимость чувствитель­ ности от ориентации в пучке излучения до 2—3% при воздей­ ствии рентгеновского излучения средних энергий (ДЭф = 30-^ -М50 кэв). Это особенно существенно при фантомных измере­ ниях в клинических условиях.

§ 5.5. ДРУГИЕ ТИПЫ КОМБИНИРОВАННЫХ ДЕТЕКТОРОВ

Кроме рассмотренных

детекторов

C sI(Tl)+Si;

Csl (TI) +

-)-GaAs, которые уже

применяют

в опытно-промышленной

аппаратуре [см. гл. 8], в литературе

описаны другие

комбини­

114

рованные детекторы, используемые главным образом как лабо­ раторные образцы [175, 180, 192—210]. Наиболее широкое распространение получили детекторы на основе CdS-фотосопро- тивлений, селеновых фотоэлементов и кремниевых фотодиодов.

Сочетание

CdS-фотосопротивления

со

сцинтилляторами

CsI (Т1) и Nal (Т1)

применяли

для

регистрации

у-излучения

е0Со в диапазоне мощностей доз

Р = 0,05—1 р/мин

[207], “ ‘Ra

в диапазоне R—0,5-1-14 мкр/сек

[199], сочетание CdS со сцин-

тилляционной

пластмассой использовалось

для

регистрации

рентгеновского и у-излучений Н0Со в диапазоне

Р = 2-^2000

р/ч

[203]. Сочетание

CdS + CsI (Т1) и CdS + KI (Т1)

применяли

как

детектор тормозного

излучения

бетатрона

с

£ макс= 30

Мэв

(Я<4,15 рад/мин)

[194].

 

проводили

 

детектирова­

Комбинацией

Se + CdS-ZnS (Ag)

 

ние рентгеновского

излучения в

диапазоне

Р=5~-1000 р/мин

[200], а сочетанием Se + пластмассовый сцинтиллятор — снятие дозных распределений вокруг источника 60Со высокой актив­ ности (900 кюри) [201]. Селеновый фотоэлемент в сочетании со сцинтилляторами Csl (Т1) и KI (Т1) применялся для измерения мощности дозы у-излучения 60Со и тормозного излучения бета­ трона [194].

Малоииерционные детекторы на основе сочетания сцинтил­

ляторов

Csl (TI),

Nal (Т1)

и

пластического

сцинтиллятора

(Ямаі;с= 4800 А) с

кремниевыми

фотодиодами,

работающие в

режиме

смещения

(напряжение

смещения несколько десятков

вольт),

успешно

использовали

для спектрометрии а-частиц,

протонов и у-излучения [178,

180, 196—198, 202,

206].

Г Л А В А 6

ВЛИЯНИЕ ВНЕШНИХ ФАКТОРОВ НА ДОЗИМЕТРИЧЕСКИЕ

ХАРАКТЕРИСТИКИ

§ 6.1. ИЗМЕНЕНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК И ПАРАМЕТРОВ ПОД ВОЗДЕЙСТВИЕМ ИЗЛУЧЕНИЯ

К числу внешних факторов, приводящих к изменению дози­ метрических характеристик (в первую очередь чувствитель­ ности), относится фотонное излучение, температура, магнитные поля. Характеристики детекторов изменяются также в процессе хранения.

В зависимости от функционального назначения прибора ис­ пользуемый в нем ППД подвергается облучению экспозицион­ ными дозами, ориентировочные значения которых за год экс­ плуатации приведены в табл. 6.1.

 

 

 

 

Т а б л и ц а

6.1

Параметры излучения и допустимые изменения чувствительности дозиметров,

используемых в рентгено-диагностике и лучевой терапии

 

 

 

 

 

 

£

, К З в

Д о п у с т и м о е

 

 

 

V

 

 

 

 

 

изм енение

О б л а с т ь п р и м е н е н и я

° э . Р

Я д.Р / .И Ц И

 

 

 

 

ч у в с т в и т е л ь ­

д о зи м е тр а

 

 

 

 

 

м ак с и м а л ь н а я

эф ф ективн ая

н о сти

м е ж д у

 

 

 

пов е р к ам и

Рентгенотерапия

2-10«

10«

100

30

 

 

 

 

2-105

300

250

120

О“о

в

год

 

 

 

 

 

Гамматерапия °°Со

5-105

500

1,2-10з

1,2-103

 

 

 

Дозиметр-свидетель 2 -ІО7

100

30-103

15-Юз

296

в месяц

бетатрона

 

 

 

 

 

 

 

Рентгенодиагности-

2-10*

5000

150

60

5 96

в

год

к а

 

 

 

 

 

 

 

Согласно приведенным данным, детектор можно считать пригодным для применения в универсальных дозиметрах, если его чувствительность изменяется не более чем на 5% в год при дозе 0,2 Мрад.

1.16

Рентгеновское излучение

Энергия рентгеновского излучения, применяемого в рентге­ нотерапии (см. табл. 6.1), меньше или незначительно превышает пороговую энергию (£л)п (см. гл. 2, § 6). Поэтому основные изменения свойств ППД относятся к поверхностно-радиацион­ ным эффектам. При больших мощностях доз необходимо учи­ тывать и радиационно-стимулированную диффузию [2111. Из радиационно-поверхностных эффектов большую группу состав­ ляют эффекты, происходящие в результате действия внешней ионизированной среды. К этим эффектам наиболее чувстви­ тельны приборы, с р — «-переходом.

Согласно

простейшей модели [212], оседание положитель­

ных ионов на

боковой поверхности ППД с р — «-переходом

приводит к появлению инверсионного слой в р-области и обога­ щенного— в «-области. Отрицательные ионы на поверхности вызывают противоположные изменения проводимости: инверсия

в

«-области,

обогащение в p-области: Эти

процессы приводят

к

увеличению

площади р — «-перехода,

а следовательно, и

темнового обратного тока Д. Изменение Д экспериментально наблюдали у полупроводниковых приборов (транзисторов, дио­ дов) при облучении экспозиционными дозами ІО3—ІО5 р, обычно еще недостаточными для появления существенных объемных радиационных дефектов [22, 212, 213].

Исследования показали, что р і — «-детекторы, не имею­ щие на боковых поверхностях специальных защитных покрытий,

очень

чувствительны к действию рентгеновского

излучения

[130].

 

 

р і — «-детекторов

происходит

При диодном включении

существенное

увеличение

темнового тока

/т.

(рис. 6.1). До

начала

облучения темновой обратный ток

 

 

2 мка. При

включении рентгеновского

аппарата

происходит

мгновенное

 

 

Д

 

поглощен­

увеличение

0 на величину

пропорциональную

 

 

Д =

 

0=

 

ной энергии в объеме детектора. В ходе облучения фототок Д,;

оставался

постоянным,

а темновой ток

увеличивался в не­

Д.

/ ф

 

сколько сот раз при экспозиционных дозах, на два, три порядка

меньших,

чем для диодов и

транзисторов.

Это обусловлено

 

Д. о

выхода

р і — «-

существенно большей площадью

бокового

перехода

по сравнению с площадью р — «-перехода

указанных

полупроводниковых приборов и большим удельным сопротивле­ нием кремния в р і — «-детекторах.

Рассмотрим влияние условий облучения и свойств внешней средьіі на приращение темнового тока Ді (Ді= Д — Д. о). Умень­ шение давления воздуха приводит к снижению скорости роста Ді и при давлении 10_3 мм рт. ст. Ді = 0 даже при мощности экспозиционной дозы 500 р/мин. Если р — г—-«-детектор помес­ тить в силиконовое масло, предварительно обезгаженное при 10~3 мм рт. ст., или нанести обезгаженные кремнийорганические

117

компаунды типа КЛ-4 с добавкой MgO, то также создаются условия, при которых темновой ток не изменяется.

Изучая кинетику изменения темнового тока, можно сделать следующие выводы.

1.Первоначальные значения тока /т восстанавливают

через 16—20 ч после облучения. В р і — /г-детекторах, так же как и в транзисторах и диодах, наблюдается [212] «эффект памяти» (ускоренный рост / т при повторных облучениях).

Р

Рис. 6.1. Изменения токов /,1н+ / т и / т р і — л-детектора (0 — время выключения рентгеновского аппарата).

2. Скорость роста темнового тока (/'ті) на линейном участке зависимости /т от дозы D3 (см. рис. 6.1) при постоянной мощ­ ности дозы равна

/;, = ат1ІУ1’5,

(6.1)

где аті — коэффициент пропорциональности.

3.Время спада / ті до нуля практически не зависит от того, находится детектор под напряжением или нет.

4.Скорость увеличения тока /ц повышается с ростом мощ­

ности экспозиционной дозы. Форма кривых / Т1 —f(t) при постоянной мощности экспозиционной дозы зависит от напря­ жения смещения U. В области (/< 5 0 в отчетливо проявляется 5-образность этой зависимости. Ход кривых спада /ті удовлет­ ворительно аппроксимируется гиперболическими зависимостями, что свидетельствует о нелинейном характере рекомбинации осевших на поверхности ионов.

5. Отношение между временами роста тока Іт\ до одного и того же значения на линейном участке его зависимости от дозы при нахождении детектора в азоте, кислороде и воздухе при нормальном давлении составляет 1,7:1, 2:1, т. е. /ті быстрее всего увеличивается в воздухе.

118

6. Скорость роста тока /ті при постоянной мощности экспо­ зиционной дозы не зависит от энергии квантов излучения.

Последнее свойство ценно с точки зрения использования рассмотренных изменений /ті в дозиметрии излучении. Однако для решения этого вопроса требуются дальнейшие исследова­ ния, так как скорость роста /ті зависит от мощности дозы и различна у однотипных детекторов.

Рис. 6.2. Изменения свойств поверхностно-барьерных ППД:

1—2 — предельны е изменения / к> 3 детекторов (образцы 1 и

2); 3 — образец

3, об ­

лучение при пониж енном и нормальном давлении воздуха:

4—7 — ф орма

кривых

тока / Кі з и нап ряж ен ия

Ux х

детектора

1 в н ачале облучения

(кривые

4, 6)

и

при /=1800 м и н

(кривые

5, 7).

 

 

 

При фотовольтаическом включении

большие

изменения 7 к.а

наблюдаются у поверхностно-барьерных детекторов.

 

На рис. 6.2 показано

изменение тока /*. 3

при облучении

детекторов AuSi-типа, изготовленных из кремния марки КЭМ, рентгеновским излучением (^эф= 10,5 кэв\ Рэ=7-104 р/мин). Изменяется не только среднее значение тока /к. 3) но и форма кривой зависимости /к. 3 и Дх.х от времени при возбуждении •пульсирующим излучением (рис. 6.2, кривые 4 7). При боль­ ших дозах появляется отрицательный импульс тока в конце импульса излучения (рис. 6.2, кривая 5). Это обусловлено, по-видимому, образованием многочисленных уровней прилипа­ ния и превращением омического тыльного контакта в выпрям­

ляющий.

При пониженном

давлении

уменьшение

тока /к.3

(рис. 6.2, кривая 5)

происходит без существенных

изменений

форм кривых /к. з = /

(0 и UK.x= f (t). Это указывает на сущест­

венную

роль ионизированной

внешней

среды в

изменениях

свойств ППД этого типа.

 

 

 

Ш

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ