Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Полупроводниковые детекторы в дозиметрии ионизирующих излучений

..pdf
Скачиваний:
38
Добавлен:
20.10.2023
Размер:
7.88 Mб
Скачать

ростъ счета шумовых импульсов (лсч. ш), в свою очередь, зави­ сит от порога дискриминации в соответствии с уравнением [116J

Дсч.ш

1 ехр

L

( J f i . V I

(4.42)

 

2л.т„

2

VЕш) .

 

где tu — постоянная

времени измерительном схемы.

 

Рабочее напряжение (Up) выбирают из условия максималь­

ного отношения сигнала к шуму

с учетом (4.42). Обычно Uр.

выбирают на участке насыщения

тока

/т (см. рис.

4.5,6). Для

рассмотренных в § 4.3 типов ППД ІІѴ> 20 в. Дозовая чувстви­ тельность нелинейно уменьшается с ростом порога дискримина­ ции. При толщине обедненного слоя, превышающей максималь­ ный пробег электронов, образующихся при облучении у-кван- тамн, для определения дозовой чувствительности пригодна сле­ дующая приближенная формула [99]:

«с/-р = («сч.о/Р) (1 — Ел/Ем),

(4.43)

где Печ. о — скорость счета при нулевом пороге дискриминации в соответствии с формулой (1.56); псч — скорость счета при за­ данном уровне дискриминации; Е,л и £ м — уровень дискримина­ ции, кэв, и максимальная энергия комптоновскнх электвонов соответственно.

Рентген-амперная характеристика

В токовом режиме работы ППД линейность между измеряе­ мым током /„ и мощностью дозы Р может нарушаться из-за нелинейной зависимости от Ра или от /„. В первом случае появление нелинейности возможно только при средней концент­ рации неравновесных носителей, сравнимой с концентрацией основных. Ограничимся определением только отношения Д/г//г б зависимости от мощности дозы Р. В 1 см3 полупроводника при мощности дозы Р с учетом (2.1) средняя концентрация избыточных электронов равна

 

 

 

 

Ап =

(Р/со) ту,

 

 

 

(4.44)

где т — время

существования

электрона

в

чувствительном

объеме,

сек-,

у — плотность,

г/см3; Р — мощность дозы, рад/сект.

При диодном включении ППД для генерационной компонен­

ты тока

/ф т =

7 ’др, для

диффузионной компоненты

т « т п.

При

вентильном

включении т ~ т

л .

Для кремния

согласно

(4.44) при

у= 2,3 г/см3,

со = 3,5 эв.

 

 

 

 

 

 

 

 

A/isi =

6’25' 10^ 100'23

_

45151013Рт электрон/(см3-сек).

(4.45)

Концентрация электронов п

(электрон/см3)

в детекторе с рп

(ом-см) равна

[50]

 

 

5,3-10і5

 

 

 

 

 

 

 

 

п =

 

 

 

(4.46)

 

 

 

 

 

 

 

Ря

 

 

 

 

90

Полагая, что линейность будет иметь место при А/г/д^б, ис­ пользуя уравнения (4.45) и (4.46), определяем мощность дозы, соответствующую этому неравенству:

(4.47) В соответствии с этой формулой минимальное значение Р& бу­

дет у рі—/г-детектора, включенного по вентильной

схеме.

Принимая р„=50 000 ом-см, 6= 0,1 и т„ = 10~4-ь 10~3 сек,

полу­

чаем Рб=о,і^2,5ч-25 рад/сек.

 

Интересно отметить, что при рі—и-детекторе минималь­ ную мощность дозы, при которой нарушается линейность, мож­ но оценить не только по формуле (4.47), но и измеряя отноше­ ние фототока Іф к объемной генерационной составляющей /г темнового тока /т, так как /ф//г~Д п/п.

При вентильном включении детектора, в соответствии с урав­

нением

(4.23), отношение Ін/Р уменьшается с увеличением Р,

если R H ^ O . Д л я определения

мощности дозы, при которой это

уменьшение по сравнению со значением I J P при Р-+-0 не пре­

вышает

заданную погрешность бв, воспользуемся разложением

в ряд уравнения (4.23)

 

 

 

А|, = (1+Ян/Яо)Л. +

/ о - / н - £ М / § + . . .

(4.48)

При

/?,і/ІІ/ ^ 0/0<1 искомое

значение Р (обозначим

его Ям)

определяется из условия, что отношение удвоенного значения

второй составляющей (4.48) к первой не

должно превышать

выбранного значения б„:

 

Р м < - ^ - ( / + д 0/ а д

(4.49)

где аф— Іф/Р — чувствительность детектора

в области линейной

зависимости Іф от Р.

 

Определенная таким образом величина Рм меньше истин­ ного значения■не более чем вдвое, что вполне пригодно для практических расчетов. По сравнению с приводимым в работе [1344 уравнение (4.49) позволяет определять Ям при любых значениях 6„, а не только при би = 5%.

При оценке Рм по формуле (4.49) с учетом сопротивлений базы и контактов RK их значения необходимо прибавлять к сопротивлению Ro, так как при токе Іф на них создается на­

пряжение, смещающее р—я-переход

в прямом

направлении.

При Ru и /?н=0 мощность дозы Р м при би=0,1

можно опреде­

лить из следующего уравнения [135j :

 

 

e°--p-dö -L Р

 

(4.50)

A k T

10nd0(ü

 

В диффузионных детекторах R Ö имеет значение только при скоростях генерации свыше ІО18 пар/см3. Экспериментальные данные о зависимости /„ от Р приведены в [9, 136—1391.

91

Для расширения пределов линейности между /п п Р в вен­ тильном режиме необходимо уменьшать сопротивление измери­ тельного прибора, что приводит к снижению его чувствитель­ ности.

В счетном режиме линейная зависимость между числом им­ пульсов и мощностью дозы Р нарушается из-за наложения импульсов (см. раздел 1.4).

Зависимость чувствительности от ориентации в пучке

В условиях электронного равновесия чувствительность как в токовом, так и в счетном режимах приблизительно одинаково зависит от ориентации в пучке излучения. Рассмотрим эту зави-

Рис.

4.8. З ави си м о сть /ф

от

угла

поворота 0:

/ — расчетное

значение;

2 — ФЭП

на

основе

GaAs; £ ^ ” 30 к э е ,

3

и

4 — ФЭП на

основе

Si;

Е у

=30

и 100 к э в .

симость на примере работающего в токовом режиме ППД квад­ ратной формы со стороной di (рис. 4.8), расположенного в па­ раллельном пучке излучения, с размерами, превышающими d{.

Если толщина чувствительного слоя Lr<^.d, а угол 0<9О° или 270°<Ѳ<360° (обычно Ѳ=ё80° Ѳ>280°), то получим

/ф* = cosO

(4.51)

 

1 — ехр (— М х )

9 2

где /ф, —Iф//ф0 — фототок, нормированный к его значению

(/ф0)

при угле 0= 0°.

 

 

При сильном поглощении излучения в детекторе

 

p2L,0§>l)

уравнению (4.51)

соответствует полуокружность /

на рис.

4.8. При слабом

поглощении (p,zL,.-<l; рДі-СІ)

ток

детектора не зависит от ориентации в пучке излучения, и урав­ нению (4.51) соответствует полуокружность 5 на рис. 4.8.

Если угол 0= 90° или 0= 270°, ток Iф,

равен

 

Л . = Lr f 1~ - хр

L

(4.52)

dx[l - e x p ( - p rL„)]

 

Очевидно, при углах 90Р>Ѳ >270° для учета ослабления в базо­ вом слое, толщиной do (см. рис. 4.8) в числитель формулы (4.51) необходимо ввести множитель ехр (—pzdo/cosQ) .

Экспериментальные значения Іф, для ФЭП на основе крем­ ния (L,.=0,1 мм, G!I = 10 мм) приведены на рис. 4.8 при эффек­ тивных энергиях рентгеновского излучения Е:|ф=100 кэа (кри­ вая 4) и ЕОф = 30 кзв (кривая 3). Результаты этих измерений удовлетворительно согласуются с расчетом по (4.51) и (4.52). Отклонения на 10—20% обусловлены токосъемными контактами. С увеличением энергии (Еу >100 кэв) наблюдается различие между расчетом и экспериментом из-за нарушения электронного равновесия. Влияние базы в этом случае во многом подобно рассмотренным ранее изменениям / ф от толщины дополнитель­ ного фильтра. Например, при Еу =1,25 Мэв и 0=180° в крем­ ниевых ФЭП величина Іф, =1,3.

Изотропность ППД достигается приданием им цилиндриче­ ской формы при изготовлении [79] или соответствующей ориен­ тацией отдельных детекторов в радиационном датчике при мон­ таже [137J. Например, в работе [137] ФЭП на основе кремния располагались тыльными поверхностями друг к другу. Данные о пространственной чувствительности некоторых типов ППД приведены в работах _[7, 138, 139].

Ход с жесткостью

В токовом режиме работы ППД в пределах линейности рентген-амперной характеристики зависимость дозовой чувстви­ тельности (/„/Я) от энергии квантов Еу такая же, как и дозо­ вой чувствительности по фототоку (Іф/Р). Согласно (4.36),. фототок 7ф пропорционален мощности дозы (поглощенной энер­ гии) только в том случае, когда толщина чувствительного объема ие зависит от энергии Еу. В этом случае ход с жест­ костью ППД с р—/і-переходом определяется энергетическим изменением отношения коэффициентов ослабления и истинного

поглощения

воздуха

и материала детектора и рассчитывается

по формуле

(1.47).

Если толщина L,. зависит от энергии излу­

чения (практически

при Е у<і30 кэв), то необходимо учпты-

93

вать зависимость

/ф от

|лг

в соответствии с уравнениями

(4.36)

и

(4.37).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

На рис. 4.9 приведены расчетные значения хода с жесткостью

(/ф/Ра),

полученные

в

соответствии с

уравнениями

(1-47)

и

(4.35),

такой

же геометрии

детектора

п

его ориентации

в

пучке,

как показано

на

рис.

4.1. Отношения

/ф/Рэ иормиро-

 

Рис.

4.9.

Х о д

с

ж есткостью

при

измерении

 

 

 

 

 

 

 

 

 

тока

У,|,:

 

 

 

 

 

 

 

1~3 — П П Д

на основе

G aAs

при

 

=0;

10 н 100 м к м ;

 

 

 

4. 5,

7 и 5 — П П Д

на

основе

Si при

Lf > равном 0;

0,1:

 

 

 

1

н

10 м м ; 6 Lf

=0,1

м м ,

гім =*0,1

м м \ 9 — опытные

зн а ­

 

 

 

чения

/ф /Я э

при Lr =0,06

м м \

10,

11-

■изменения ^фП/^э

 

 

 

 

 

 

н эффективности ііі при Е Д

 

 

 

 

 

ваны к его значению при Еу =1

Мэв. Кривые 1 и 4 на рис. 4.9

рассчитаны

для

тонкого

и кривая 8 — для

толстого

детекторов

соответственно

(L,—>-0, L,—s-oo).

 

 

 

 

 

 

 

 

Существенно меньший ход с жесткостью у ППД на основе

кремния

по

сравнению

с детекторами

на основе

GaAs

(см.

рис. 4.9)

обусловлен

различием

 

их

атомных

номеров

(ZSi=14;

ZGaAs= 31).

Увеличение Lr

приводит

к росту

хода

•94

с жесткостью в области малых энергий (кривые 13 и 4—-7 на-. рис. 4.9). Значение Еу , при котором Іф/Рэ достигает максимума., увеличивается с ростом Lr (Еу —22 кэв при L,-, близкой к нулю,

по сравнению с Еу =50 кэв

при Lr=10 мм).

При

энергии

Еу ~40

кэв на ход с жесткостью влияет ослабление

излучения

в мертвом слое толщиной dM (см. рис. 4.1 и 4.9).

 

толщины

При

определении тока /ф

с

учетом зависимости

Ly эф от

скорости поверхностной

рекомбинации,

форма приве­

денных на рис. 4.9 кривых не претерпевает существенных изме­ нений при Еу >20 кэв, так как уменьшение фототока (на 20— 40%) из-за поверхностной рекомбинации происходит примерно одинаково при всех энергиях излучения. Характер изменения приведенных кривых при Еу <20 кэв подобен показанному на рис. 4.9 изменению хода с жесткостью при наличии мертвого слоя (фильтра). Он также зависит от геометрии ППД и ско­ рости поверхностной рекомбинации. С увеличением толщины Lr эти различия уменьшаются. Подробные данные приведены в ра­ боте [57].

Расчетные данные, приведенные на рис. 4.9, удовлетвори­ тельно согласуются с опытными данными, полученными следую­ щими авторами [7, 9, 57, 137, 139]. Для иллюстрации на рис. 4.9' (кривая 9) приведены экспериментальные значения Іф/Р0 для кремниевых солнечных элементов толщиной Lr—60 мкм. Резуль­ таты получены при рентгеновском излучении с эффективной энергией, равной половине максимального напряжения на трубке [141]. С увеличением однородности рентгеновского излу­ чения опытные данные лучше согласуются с расчетными.

Экспериментальные.данные по изменению хода с жесткостью- у рі—п-детекторов и ФЭП с помощью фильтров приведены в работах [7, 9, 137].

Ход с жесткостью рі—п-детектора при использовании схе­ мы амплитудно-временного преобразования и пороге дискрими­

нации

£ ^ > 0

показан на рис. 4.9 (кривые

10, 11) [117,

118].

В режиме счета числа импульсов ход с жесткостью крем­

ниевых

ППД,

рассчитанный в соответствии

с формулой

(1.56),.

приведен на рис. 4.10. Для сравнения с расчетными данными на этом же рисунке приведены результаты измерений для рі—/г-детектора толщиной L,-=l мм [9] и поверхностиобарьерного детектора с £,=0,3 мм [142].

Видно, что опытные данные не согласуются с расчетными. Это расхождение обусловлено в основном наличием порога дис­ криминации и отсутствием электронного равновесия. Кривая 7 на рис. 4:10 соответствует расчетному значению ходу с жест­ костью для детектора с тонким в отсутствие электронногоравновесия и при условии, что каждый неравновесный носитель тока в чувствительном слое, образованный быстрыми фото- и комптон-электронами с близлежащего . слоя детектора, будетзарегистрирован измерительной схемой. Расчет выполнен соглас-

95-

Рис. 4.10. Ход с жесткостью в счетном режиме:

•?—4 — расчетны е

значения

Лсч/ ^ э П П Д

на

основе

Si

при

Lr ,

равном 0;

0,1; 1

и

10 м м ; 7 — Lf —0

при

регистрации

каж дого

электрона;

опытные

данны е;

5 — П П Д

с пропорциональны м

усилением;

6' — р

— і — «-детектор

(dj ** 1 м м ,

£ д —50

я зе ); 8 и 9 р

— і — «-детектор при

Lr = 1.5 м м

и

s=60

и 200

кэв;

10— 12 — поверхностно-барьерны е при L r = 0 , 1 м м

и £ д =100";

200,

 

 

 

 

300

к э в соответственно.

 

 

 

 

 

но методике, приведенной в работах [143, 144] для счетчиков Гейгера—Мюллера. Толщину мертвого слоя в расчете не учиты­ вали. Наличие порога дискриминации приводит к снижению п-сч/Рэ в первую очередь в области низких энергий [см. фор­ мулу (4.43) и кривые 8— 10 на рис. 4.10]. Форма кривых хода с жесткостью конкретных ППД имеет вид, промежуточный между двумя рассмотренными предельными случаями (см. рис. 4.10, кривая 6). Кроме того, необходимо учитывать и влия­ ние порога дискриминации (энергия Ел), приводящего к сниже­ нию дозовой чувствительности в первую очередь в области низ­ ких энергий.

При равных порогах дискриминации (кривые 9 и 11 на рис. 4.10) снижение пйЧ/Рэ тем больше, чем меньше толщина Ег детектора. Это обусловлено быстрым уменьшением чувстви­ тельности от слоев детектора, расположенных непосредственно вблизи обедненного слоя. Из рис. 4.10 видно, что выбором по­ рога дискриминации можно изменять ход с жесткостью.

Детальное рассмотрение хода с жесткостью ріп- и поверхностно-барьерных ППД приведено в работах [143, 144].

Временные характеристики

Инерционность детекторов с р—п-переходом определяется

временем

диффузии носителей заряда

от места

образования

к области объемного заряда

(тдаф), временем дрейфа (пролета)

носителей в поле этого заряда

(тдр) [145—147].

 

 

Время дрейфа носителей каждого знака в области объемного

заряда р—л-перехода шириной d(U) равно

 

 

 

Tap = d(U)/kE,

 

(4.53)

где k — средняя подвижность носителей

в_электрическом

поле

р—п-перехода со средней напряженностью Е.

 

 

У рассматриваемых ППД напряженность электрических по­

лей такая,

что подвижность не зависит от Е.

Поэтому

Гдр

рі—л-детекторов определяют по формуле (4.53) при подста­ новке d(U) =di и.Е—U/di, т. е.

(4.54)

Времена собирания дырок (Тлр, р) и электронов (Гдр. „) не­ одинаковы, отношение Гдр. та/Г др. v = kv/ k n.

В детекторе с р—л-переходом электрическое поле неодно­ родно, толщина обедненного слоя зависит от напряжения сме­ щения [см. уравнения (4.3), (4.4)]. За время собирания носите­ лей принимается время собирания 90% заряда [147].

Поскольку с ростом U увеличивается не только Е, но и тол­

щина обедненного слоя,

время собирания в асимметричном

р—л-переходе практически

не зависит от приложенного напря-

4 Зак. 211

97

жения и находится (в зависимости от типа детектора, проводи­ мости его базы и места поглощения у-кванта) в пределах

І.6р < 7\р < 4,8р

(4.55)

(р — в ком-см и Гдр — в нсек).

Таким образом, для уменьшения 7"Др необходимо выбирать материалы с низким р. Нижнее значение р ограничено ростом емкости детектора Сд, препятствующей быстрому нарастанию импульса на выходе детектора. Для снижения Сд быстродейст­ вующие ППД изготавливают сравнительно небольшой площади. Снижение ГДР может быть достигнуто и уменьшением толщины детектора до размеров, при которых обедненный слой занимает основной объем (средняя напряженность поля возрастает).

При охлаждении ППД до температуры жидкого азота в ре­ зультате увеличения подвижности Гдр снижается в несколько десятков раз (см. гл. 2).

Время диффузии носителей заряда от места образования к р—я-переходу определяется градиентами концентрации неос­ новных носителей в каждой из областей и коэффициентами их диффузии [22, 148].

Время нарастания и спада импульса тока на нагрузочном

резисторе

Ru

определяется

(см. рис. 4.4, а)

постоянной

вре­

мени р—я-перехода (т = Сд/?0), его базового

слоя (T5 = C5Rg),

величиной

последовательного

сопротивления

контактов

(Ru)

и постоянной

времени измерительной цепи тн= ДііСп (С„ — это

суммарная емкость цепей монтажа и измерительного прибора, Ят, — их сопротивление).

Постоянная времени тс = СѴ,Яб не зависит от толщины базо­ вого слоя, так как с ее увеличением Сг, уменьшается, а Яо воз­ растает. Суммарная постоянная времени т0 определяется по эквивалентной схеме (см,- рис. 4.4), согласно которой увеличе­

ние тг, и RK способствует «затягиванию» фронта

импульса.

Постоянная времени тс при RK— 0 равна

(4-“>

*'= Ч с»+т^т)-

При включении ППД по диодной схеме и измерении на вы­ ходе числа импульсов отклонение считываемых импульсов от истинных определяется временем Гдр. Если на выходе изме­ ряется ток, отличие мгновенных значений тока от индуцирован­ ного числа неравновесных носителей определяется временами

Тдпф И Тс-

При включении по вентильной схеме постоянная времени определяется тс и тДПф.

Величина тока на выходе ППД определяется [37] из реше­ ния уравнения (4.23), которое для нестационарного режима

имеет вид

 

Іф й -Л е х р ( Д С - і) = - Д + С ,

(4.57,

98

где іф(і) — зависимость

фототока

от

времени;

Сэ —экви

валентная

емкость

на

выходе

детектора,

обычно

С ,» Сд>

Я, (RHЧ~

Rk)

■эквивалентное сопротивление

на

выходе

Ro + Rn Re Н- RK

 

 

 

 

 

 

 

 

детектора.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

В

соответствии с

уравнением

(4.57)

при

линейной

зависи­

мости

между током

и

мощностью

дозы

(U<^kT/е)

и

начале

отсчета времени t от момента прекращения действия излучения напряжение на нагрузке R„ равно

u(t) = и(^\

Ь

Г М

“ І ) +

 

 

+

т днф

Н

 

(4.58)

 

Т'Дііф

Тэ

т днф

/

 

где U — установившееся

значение напряжения

на нагрузке;

U(t) — мгновенное значение напряжения;

та =ЯЭС3— суммарная

постоянная времени

ППД

и измерительной цепи.

При работе в вентильном режиме поверхностно-барьерных

и ріп-детекторов

характер

изменения U[t)

определяется

Тднф, которое приближенно равно времени жизни неравновесных носителей (ICH—ІО-3 сек). У ФЭП тэ> тД11ф, тэ~ЯцСд. Сущест­ венную роль играют и уровни прилипания, захватывающие на ІО-3—ІО-4 сек до 20% носителей.

С помощью известных типов ППД без существенных ампли­ тудно-фазовых искажений удается регистрировать мгновенные значения мощности дозы у импульсных источников излучений с длительностью фронта нарастания импульса излучения по­ рядка ІО-9 сек. Скорость счета достигает ІО-7—ІО-8 имп/сек. Техника таких измерений и свойства используемых ППД по­ дробно рассмотрены в-работах [149, 153].

В заключение отметим возможность уменьшения постоян­ ной времени на выходе детектора введением корректирующей ДС-цепи [154], отрицательного сопротивления [155] и встреч­ ного включения детекторов [156].

§ 4.5. ДЕТЕКТОРЫ С УСИЛЕНИЕМ

Развитие полупроводниковой техники в последнее десяти­ летие позволило создать специально предназначенные для ра­ боты в режиме усиления ППД двух типов: с пропорциональным усилением [157] и детекторы, работающие в режиме пробоя р—л-перехода [158]. Первый ППД молено считать аналогом газового пропорционального счетчика, второй — счетчика Гей­ гера—Мюллера. Принцип работы обоих типов ППД основан на умножении числа неравновесных носителей в результате ударной ионизации. По сравнению с другими типами ППД ос­ новное преимущество пропорциональных детекторов заклю­

4* 99

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ