Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Чесноков, Б. В. Относительный возраст минеральных индивидов и агрегатов

.pdf
Скачиваний:
4
Добавлен:
19.10.2023
Размер:
4.92 Mб
Скачать

на главном круге. Проекции ребер, генерируемых гранями би­ пирамиды е, расположатся на соответствующих дугах.

Ин д у к ци о н н ые гр а и и располагаются между индукци­ онными ребрами. Они нередко бывают плоские, как обычные хорошо образованные грани кристалла. Наиболее совершенные индукционные грани дают четкие сиг-

фическая проекция

возможных на нем

пых

характеристик

индукционных ребер

(II)

индукционной

штри­

 

 

 

ховки.

 

 

 

 

 

I — ширина гребня; h —

 

 

 

высота

гребня;

S — ши­

 

 

 

рина индукционной гра­

 

 

 

ни; а — угол при верши­

 

 

 

 

не гребня

 

При гониометрическом измерении индукционных поверхно­

стей установлено

три главных типа

индукционных граней [85,

33,

18].

типа имеют достаточно сложные

кристалло­

 

Грани первого

графические символы. Грани второго типа обладают простыми символами. Индукционные грани третьего типа являются отпе­ чатками на данном кристалле индукционных граней второго типа соседнего кристалла. Эти грани также имеют сложные символы.

П с е в д о г р а н и состоят из системы индукционных граней, пересекающихся в параллельных ребрах. Все индукционные гра­ ни псевдограни относятся к одной кристаллографической зоне, осью которой является линия, параллельная индукционным ребрам и ребру срастания. На оптическом гониометре псевдо­ грань дает прямую световую полосу (луч), вдоль которой рас­ положены более яркие сигналы, соответствующие наиболее хорошо образованным индукционным граням.

Число псевдограней на кристалле равно числу пар граней данного и соседнего кристалла, находившихся в соприкосновении

2* 19

I

друг с другом при совместном росте (т. е. числу ребер сраста­ ния). Если огранение кристалла в течение роста меняется, то и число псевдограней на нем будет другим: одни псевдограни мо­ гут исчезать, а другие — появляться.

Одна грань кристалла может образовывать сколько угодно псевдограней, в частности, если она растет совместно с боль­ шим количеством меньших кристаллов (см. рис. 2, представим, что грань кристалла А, растет совместно с множеством кристал­ лов типа Б). Количественное изучение индукционной штриховки можно выполнить следующим образом.

Индукционная штриховка представляет собой чередование «гребней» и «впадин» (см. рис. 2 и рис. 4).

Пусть а — длина какого-либо интервала профиля псевдогра­ ни (мм), п — число гребней в интервале, а — средний угол при вершине гребней на данном интервале (измеряется на гониомет­ ре и берется, естественно, с определенной погрешностью). Тог­ да основные характеристики штриховки определяются так:

число граней в интервале 2-п,

ширина гребня (мм) /= — ,

п

высота гребня (мм)

1г= -------------

 

 

 

 

 

а

 

 

 

 

tg —

 

 

 

 

 

s

2

ширина грани (мм)

S =

----------

 

 

 

 

2/i

si n —

 

граней

 

 

2

 

 

2п

 

частота штриховки------

 

f —

— ,

 

 

мм

 

 

а

 

резкость штриховки Z=

'1 = -------

 

 

/

2

а

 

 

 

 

 

t g -

 

Таким же способом можно дать количественную характери­

стику любой линейной

штриховке

на кристаллах (например,

комбинационной или двойниковой).

Частота индукционной штриховки на неизмененной псевдо­ грани очень высока — до 1000 и более граней (или ребер) на миллиметр профиля псевдограни. Резкость индукционной штри­ ховки показывает, насколько отклоняются индукционные грани от усредненной поверхности псевдограии.

Псевдограни без индукционной штриховки наблюдались в

.некоторых закономерных сростках кристаллов [67]. Но и в та- :ких случаях гладкими бывают только некоторые псевдограни.

•Псевдограни без штриховки нетипичны. Даже в параллельных сростках кристаллов одного вещества имеется четкая индукци­

онная штриховка.

П с е в д о р е б р а в виде ломаных линий отделяют псевдо­ грани друг от друга; при этом далеко не все индукционные реб­

20

ра соседних псевдограней сходятся к одной точке псевдоребра (рис. 5). Из всех индукционных форм псевдоребра обладают на­ ибольшим морфологическим непостоянством, но пока они мало изучены.

И н д у к ц и о н н ы е г р а н и ц ы — это области контакта кри­ сталлов по индукционным поверхностям. В эти области, кроме псевдограней, псевдоребер и ребер срастания, входят и части пространства между указанными формами соседних кристаллов.

В благоприятных случаях псевдограни кристаллов плотно примыкают одна к другой и находятся в таких же отношениях, как медаль к своему отпечатку [42]. Такие фигуры называются антисимметричными [89], они состоят из совместимо анти­ равных частей (рис. 6).

Рис.

5. Проекция

на

одну пло­

Рис.

6.

Индукционные

границы

скость

пяти

псевдограней

кристал­

между

кристаллами

А

и Б

ла квасцов.

Вторая

слева

псевдо­

а — совершенная

граница;

б — несо­

грань

без индукционной

штриховки

вершенная

граница;

1—3 — участки-

 

 

 

 

 

 

разной

степени

несовершенства: а\—

й2 —выходы ребер срастания

Если меньший кристалл при совместном росте соприкасает­ ся только с одной гранью большого кристалла (см. рис. 2). то ребра срастания образуют замкнутый контур, лежащий в плос­

кости грани большого кристалла. Этот контур

(внешнюю индук­

ционную границу) А. Е. Ферсман называет

и е р о г л и ф о м..

Внутри сростка иероглиф образуется каждой замкнутой систе­ мой индукционных ребер, параллельных грани большого кри­ сталла. Анализ формы иероглифа (например, у ихтиоглиптов. кварца в письменном граните) позволяет определить характерограничения меньшего кристалла на всех стадиях его роста [63,. 65, 3].

Кристаллы в искусственных сростках различных солей, вы­ ращенных в растворах, также граничат друг с другом по индук­ ционным поверхностям (квасцы, медный купорос и т. д.). Это относится и к кристаллам органических веществ, например са­ хара.

Отличий в строении индукционных форм у минералов и ис-

21

кусственных кристаллов не найдено. Индукционные формы на кристаллах образуются тогда, когда скорость роста каждой из пересекающихся друг с другом гранен не равна нулю.

МЕХАНИЗМ ОБРАЗОВАНИЯ ИНДУКЦИОННЫХ ФОРМ НА КРИСТАЛЛАХ

Индукционные формы кристаллов отличаются прежде всего ритмичностью скульптуры псевдограней, выражающейся в чере­ довании гребней и впадин. Причину ритмичности следует искать в особенностях механизма роста граней кристаллов.

Н е з а к о н о м е р н ы е с р о с т к и к р и с т а л л о в . Много­ численные наблюдения над природными и синтетическими кри­ сталлами подтверждают теорию роста граней путем тангенци­ ального разрастания плоских или спиральных слоев.

С целью установления связи особенностей послойного роста граней с деталями индукционных форм нами был поставлен ряд опытов по выращиванию кристаллов и сростков алюмока­ лиевых квасцов (из водного раствора).

При слабых пересыщениях, создаваемых медленным испаре­ нием раствора при 18°С, наблюдался рост граней {111} спи­

ральными

слоями

(рис.

7,

а). Когда пересыщение

было значи­

 

 

 

 

 

тельным (быстрое охлаждение

 

 

 

 

 

раствора), слои роста на гра­

 

 

 

 

 

нях {111} были плоскими (рис.

 

 

 

 

 

7, б). Подобная

зависимость

 

 

 

 

 

характера слоев роста от пере­

 

 

 

 

 

сыщения наблюдалась

и ра­

 

 

 

 

 

нее [29].

 

 

 

 

 

 

 

 

Ни в одном из многих де-

 

5 мм

 

 

 

сятков сростков

нами

не на­

 

 

 

 

 

блюдалось

зарождения

новых

Рис. 7. Слои роста

на грани

(111)

слоев в области индукционных

кристаллов

алюмокалиевых

квасцов,

границ (ребер срастания).

-спиральные слои;

б - -треугольные

ОбыЧНО СЛОИ ЗарОЖДЭЛИСЬ НЭ

 

плоские слои

 

 

грани или же в области обыч­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ных ребер

кристаллов и, рас­

пространяясь тангенциально, достигали ребер срастания. В об­ ласти ребер срастания, таким образом, встречались слои, рас­ пространяющиеся по граням соседних кристаллов.

Аналогичная картина наблюдалась и на гранях кристаллов минералов. Во всех многочисленных сростках кристаллов из разнообразных месторождений слои роста не зарождались в об­ ласти ребер срастания. Как и в случае с квасцами, в области ребер срастания встречались слои, распространявшиеся по гра­ ням соседних кристаллов.

Отсутствие зарождения новых слоев роста в зоне ребер срас­ тания в закономерных сростках кристаллов объясняется следу-

22

гощими причинами. Область ребра срастания, как правило, на­ ходится во входящем углу, образованном гранями соседних кри­

сталлов.

В этой

области затруднен доступ свежих порций

питающего

раствора.

Здесь

 

 

также

труднее

рассеивается

 

 

тепло,

выделяемое

при

кри­

 

 

сталлизации.

Таким образом,

 

 

в области ребра срастания пе­

 

 

риодически встречаются

слои

 

 

роста,

распространяющиеся по

 

 

граням

соседних

кристаллов.

 

 

Это

и

следует

считать

глав­

 

 

ной

причиной

формирования

 

 

ритмически-ступенчатого рель­

 

 

ефа (индукционной штрихов­

 

 

ки)

псевдограней.

 

индук­

 

 

Схема

образования

 

 

ционных

граней

 

следующая *

 

 

(рис. 8 ).

1 и 2

одновременно

ных граней на совместно растущих

Слои

кристаллах А и Б.

 

достигли

ребра

срастания В

1—8 — слон роста; аб,

бв, вг, гд — индук­

точке а.

В результате на тор­

ционные

грани

 

 

цах слоев возникли индукцион-

.ные грани аб, относящиеся к первому типу. Такие грани обла­ дают, как отмечалось выше, сложными кристаллографическими

•символами. Грани аб — своеобразные поверхности столкнове­ ния слоев 1 и 2.

После слоев 1 и 2 к ребру срастания подошел слой 3 и то­ рец его примкнул к свободной поверхности слоя 2, представлен­ ной обычной поверхностью грани (с простым символом) кри­ сталла Б. Индукционная грань бв для кристалла Б является гранью второго типа (простой символ), а для кристалла А — гранью третьего типа (грань — отпечаток, со сложным симво­ лом) .

Индукционные грани вг для обоих кристаллов являются снова гранями первого типа.

Индукционная грань гд для кристалла А — грань второго типа, а для кристалла Б — третьего.

Слои 7 и 8 достигнут ребра срастания одновременно и снова образуют индукционные грани первого типа.

Исходя из предложенной модели механизма образования индукционных граней можно определить ширину 5 индукцион­ ной грани аб (рис. 9)

К

* Для составления ее использована схема, ранее предложенная В. Г.

Лазаренковым [33].

23

где л — толщина одного из тангенциальных слоев роста; а — угол между плоскостью слоя и индукционной гранью.

Такие индукционные грани, ширина которых соизмерима с толщиной слоев роста (до 0,001 мм и менее), наблюдались нами в большом количестве как на кристаллах минералов, так и на выращенных из раствора кристаллах солей. Эти наблюдения по-

 

 

 

 

 

 

 

 

зволяют также предполагать, что

 

 

 

 

 

 

 

 

ширина таких индукционных гра-

 

 

 

 

 

 

 

 

ней не зависит прямо от общих

 

 

 

 

 

 

 

 

размеров кристаллов.

 

 

ин­

 

 

 

 

 

 

 

 

Большинство

«широких»

 

 

 

 

 

 

 

 

дукционных граней возникает за.

 

 

 

 

 

 

 

 

счет

«объединения»

узких

пер­

 

 

 

 

 

 

 

 

вичных индукционных граней при

 

 

 

 

 

 

 

 

перестройке

(перекристаллиза­

 

 

 

 

 

 

 

 

ции)

индукционных

 

поверхно'-

 

 

 

 

 

 

 

 

стей.

Кроме

того, при

невнима­

 

 

 

 

 

 

 

 

тельном

осмотре

кристалла

за

 

 

 

 

 

 

 

 

«широкую» индукционную грань

 

 

 

 

 

 

 

 

можно принять группу узких пер­

Рис.

9. Ширина

индукционной

вичных

индукционных

граней,,

близких по ориентации.

 

 

грани

на

кристаллах

А

и

Б.

сростков,

ав — индукционная грань

ширины

5;

Изучение

многих

 

К — толщина

тангенциального слоя

на

кристаллов

квасцов

позволило,

кристалле А;

и

а — угол

между

плос­

костью

слоя

индукционной

гранью

установить зависимость символов

образуемого

 

 

 

 

 

индукционных граней от угла а,

гранями кристаллов с

усредненной

поверхностью

псевдограни. Если а<45°, то на псевдограни данного кристалла многочисленны индукционные грани с теми же символами, что и

у грани

кристалла

(рис.

 

 

 

 

 

 

 

10, а, кристалл А).

Ког­

 

 

 

 

 

 

 

да а>45°,

символы

ин­

 

 

 

 

 

 

 

дукционных граней

отли­

 

 

 

 

 

 

 

чаются

от символа

грани

 

 

 

 

 

 

 

кристалла

(рис.

10,

а,

 

 

 

 

 

 

 

кристалл Б). Если а<45°

 

 

 

 

 

 

 

для обоих кристаллов, то

 

 

 

 

 

 

 

на той и

другой псевдо­

 

 

 

 

 

 

 

грани нет или очень мало

 

 

 

 

 

 

 

индукционных

граней

с

 

Рис. 10. Зависимость

характера

индук­

символами

граней

крис­ ционных граней

и б)

от

угла

наклона

таллов

(рис.

10, б).

 

 

а

псевдограни

к

граням

кристаллов

Когда

профиль

псев­

А

и Б

 

 

 

 

 

дограни

изогнут так,

что

 

 

 

 

 

 

 

по мере приближения к ребру срастания угол а меняется от малых значений до 45° и более, индукционные грани с символом растущей грани кристалла, обильные в начале интервала, ис­ чезают в его конце.

24

Чем больше отличается угол а от 45°, тем менее совершенна; штриховка на псевдогранях: индукционные ребра искривляют­ ся, параллельность их нарушается.

При постоянной скорости роста граней кристаллов угол а не изменяется. Это же будет наблюдаться и в случае, когда ско­ рости роста граней будут меняться синхронно, а соотношение скоростей роста при этом сохранится прежним.

На морфологию псевдограней весьма существенно влияет гидродинамическое состояние питающего раствора [76], что бы­ ло установлено при выращивании сростков кристаллов квасцов.

Гидродинамические

условия

за­

давались

характером

перемеши­

вания

раствора

во

время

роста

кристаллов. Перемешивание ра­

створа производилось вращением

сростка кристаллов на кристал-

лоносце

со

скоростью

10

и

100 см/сек. В последнем случае

вращение

периодически

(период

около

1 сек) менялось на обрат­

ное и

сопровождалось

обратно-

поступательным движением

сро­

стка вдоль оси

вращения

с

ам­

плитудой 5 см. Сростки выращи­

вались также и без искусственно­

го перемешивания раствора. Они

находились в таких

случаях

на

дне кристаллизатора.

Во

всех

Рис. 11. Характер индукционных:

случаях

в

качестве

 

зароды­

границ (1, 2) совместного роста

шей использовались сростки кри­

кристаллов А и Б

при

разном

гидродинамическом

режиме пита­

сталлов

(индивиды до 2—5 мм в

ющего раствора: а — в «спокой­

поперечнике), выросшие

на

дне

ном»

растворе, б — в энергично

кристаллизатора

без

перемеши­

перемешиваемом растворе

вания

раствора.

Пересыщение

 

испарением

раствора

при этом

создавалось

медленным

при 18°С.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

На рис. 11 схематически показаны индукционные границы,, степень сложности которых можно определить по формуле

 

 

L

 

 

где L — длина индукционной границы (12);

 

 

I — длина прямой

(12).

 

 

значение-

Чем сложнее профиль псевдограни, тем больше

данного коэффициента

(о>1).

Если псевдогрань

плоская, то-

L = l и о= 1.

 

что при «спокойном» росте фор­

Опыты показали (таблица),

мируются сложные псевдограни

(о>1, см. рис. 11,

а).

Чем ин-

25

тенсивнее перемешивание, тем более простым становится про- ■филь псевдограии. В гидродинамически напряженной обстановке (активное перемешивание) усредненная поверхность псевдогра­ ни близйа к плоскости (ц=1, см. рис. 11, б).

Условия роста и индукционные формы

Пересыщение....................

начало

Телшература

конец

'Скорость вращения . . .

Время р о ст а ....................

Скорость роста гранен

( П 1 ) ............................

Коэффициент v ................

 

 

 

Таблица

 

 

Опыты

 

Единицы

 

 

 

измерения

1

2

3

 

Испарение

Испарение

Охлаждение

°с

18/18

20/20

50/20

см/сек

0

10

100

ч

720

6,5

1,5

мм/ч

0,014

0,023

1,0

 

1,2—1,5

1

1

При активном перемешивании раствора индукционная штри­ ховка становится менее совершенной, а ассортимент символов индукционных граней становится значительно беднее. При «спо­ койном» росте квасцов образуются индукционные грани с раз­ нообразными символами. В сростках, росших в перемешиваемом растворе, преобладали только немногие формы в виде индукци­ онных граней: {100}, {ПО}, {111}, {441} и {221}. Габитусной формой кристаллов во всех опытах была {111}.

На рис. 11, а видно, что профиль псевдограни имеет ступен­ чатую форму. Каждая «ступенька» профиля соответствует более или менее плоскому участку поверхности псевдограни. Следует отметить, что такие участки покрыты индукционной штриховкой. Некоторые из них несут сотни и тысячи узких индукционных граней.

Подобные усложнения профиля псевдограней вызваны раз-

.личной скоростью роста соседних кристаллов. Причиной коле­ баний скоростей роста кристаллов являются изменения условий питания.

Как известно, в «спокойном» растворе около растущего кри­ сталла возникает система струй раствора, называемых концен­ трационными потоками. Вблизи поверхности сростков кристал-

.лов ход этих струй очень сложен. При медленном движении (слабое испарение раствора и медленный рост кристаллов)

•сложной системы таких струй соседние грани кристаллов ста­ вятся на довольно значительные промежутки времени в разные условия питания. Флуктуации в системе концентрационных струй вызывают периодическое изменение скоростей роста гра­ ней, что сказывается в усложнении формы псевдограией.

26

В активно и беспорядочно перемешиваемом растворе усло­ вия питания всех граней сростка кристаллов в среднем одина­ ковы. Кристаллы вырастают симметричными, а индукционные границы между ними становятся прямолинейными.

Таким образом, в рельефе псевдограней отражается ритмич­ ность формирования слоев роста (в виде индукционной штри­ ховки) и ритмичность изменения условий питания соседних гра­ ней, обусловленная макроявлениями динамики питающей среды (в виде усложнений общего профиля псевдограни). Кроме то­ го, необходимо учитывать и возможность периодического изме­ нения скоростей роста граней в силу других причин (периоди­ ческое изменение степени дефектности граней в процессе роста и пр.).

Как будет показано ниже, способность индукционных форм на кристаллах минералов «запоминать» особенности гидродина­ мики питающих растворов может иметь и прикладное значение.

Под действием раствора, законсервированного в виде пленки ло индукционной границе, идет перестройка (перекристаллиза­ ция) индукционных форм [18]:

1)рельеф индукционной поверхности выравнивается;

2)уменьшается число индукционных граней;

3)часть граней со сложными символами исчезает, заменя­ ясь гранями с простыми символами;

4)в некоторых местах нарушается антиравенство соприка­ сающихся псевдограней.

Отмечается увеличение ширины индукционных граней по мере удаления от ребра срастания в глубь сростка. В. Г. Лазаренков [33] считает эту картину первичной, вызванной падением

пересыщения во время роста. В наших опытах это наблюдалось на любой стадии роста кристаллов квасцов — как при постоян­ ном, так и при снижающемся пересыщении.

На рис. 12 показана поверхность псевдограни кристалла квасцов, росшего при постоянном пересыщении без перемеши­

вания раствора

(см. таблицу, опыт 1). Вблизи ребра срастания

,аб индукционная штриховка весьма тонкая

и четкая.

Ширина

индукционных

граней здесь около

0,005—0,001 мм

и менее.

По направлению от ребра срастания

вниз

(в глубь

сростка)

штриховка становится реже за счет большей ширины индук­ ционных граней. На расстоянии 2—4 мм от ребра срастания ши­ рина индукционных граней доходит иногда до 0,5 мм и более.

Такую картину можно наблюдать в любой момент роста кристаллов, периодически извлекая сростки из кристаллизато­ ра. Следовательно, тонкая индукционная штриховка образуется в течение всего периода роста. Одновременно вслед за этим идет по направлению от более ранних (центральных) частей сростка к периферии «волна» перестройки (перекристаллизации) индук­ ционных форм. В глубоких частях сростка на псевдограиях сохраняются реликты первичной индукционной штриховки (уча-

27

стки в н г). В этих местах, по-видимому,

было более тесное срас­

тание противоположных

псевдограней. Такие участки с релик­

 

 

 

товой

штриховкой за­

 

 

 

метно

 

возвышаются

 

 

 

над соседними. Найде­

 

 

 

ны реликтовые участки

 

 

 

и на псевдогранях ми­

 

 

 

нералов,

 

например

 

 

 

кварца.

 

интенсивная

 

 

 

Более

 

 

 

перестройка

индукци­

 

 

 

онных форм идет

при

 

 

 

выращивании

сростков

 

 

 

в горячем растворе или

 

 

 

при интенсивном

пере­

 

 

 

мешивании

раствора.

Рис. 12. Индукционная

штриховка на

В таких случаях плен­

ка раствора,

сохраняю­

псевдограни

медленно росшего кристалла

щегося

в

области ин­

алюмокалиевых квасцов

 

дукционных

границ,

аб — профиль

грани (II1);

в и г- ■реликтовые

 

участки

 

оказывается толще, чем

 

 

 

обычно. Вблизи

ребра

срастания сохраняется лишь очень узкая, до 0,1 мм, зона тон­

кой первичной штриховки.

Поверхность

псевдограней неред­

ко сильно «оплывает».

индукционные

грани, возникающие

Новые, более широкие

при перестройке индукционных поверхностей, стремятся занять касательное положение к усредненной поверхности псевдограней в данном месте. Поскольку усредненная поверхность псевдогра­ ней на спокойно растущих кристаллах очень сложная (см. рпс. 11, а), набор символов новых индукционных граней в таких слу­ чаях обширен. На почти плоских псевдогранях, возникающих при росте в гидродинамически напряженной среде (см. рис. 11г б), возникают «бедные» (с точки зрения обилия символов) на­ боры новых индукционных граней.

Более широкие грани, образующиеся при перестройке пер­ вичных индукционных форм, следует также называть индукци­ онными. До последнего времени они в основном и являлись объ­ ектом исследования. Провести резкую границу между первич­ ными и новыми индукционными гранями нельзя; особенно эта относится к кристаллам минералов.

Поскольку многие минералы менее растворимы, чем соли,, подобные квасцам, первичная картина индукционных форм на кристаллах минералов может весьма хорошо сохраниться. Это — обычное явление на кристаллах кварца. Для отличия первич­ ных индукционных граней от новых в дальнейшем, по-видимому, окажутся плодотворными комплексные исследования индук­ ционной штриховки и микрозональности кристаллов.

28

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ