Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Теплофизика и термодинамика [сборник статей]

..pdf
Скачиваний:
14
Добавлен:
19.10.2023
Размер:
4.15 Mб
Скачать

1 — 1 >0: 2 — 5,0; 3 — 10,0; 4 — 15,0 бар. Точки — экспери­ ментальные результаты. Рассчитано по формуле (13) — сплош­ ная линия-, по (14) — штриховые', по (19) — крестик.

зависит от температуры и давления, в то время как ехр

в интервале 2 °С изменяется более чем на два порядка. Темпера­ турная зависимость т -1 = JXV по формуле (13) для диэтилового эфира при р '= 5,0 бар и лс = 0,25 приведена на рис. 4 (постоянную А (N) находили из экспериментальной кривой). Видно, что фор­

мула (13) непригодна для описания частоты инициированного зародышеобразования, поскольку не определяет наклон экспери­ ментальных кривых.

Можно добиться удовлетворительного описания эксперимен­ тальной зависимости А от температуры и давления, сохранив экспоненциальную зависимость, в показатель которой входит работа W (T , N ) по (11), если вместо 1 /k T ввести параметр (3=?Н/&Т,

имеющий смысл модуля распределения, отвечающего более высо­ кой, температуре

 

А (Т, N )= B exp [ - $ W (T , N)],

(14)

где В

зависит от

свойств жидкости, характеристик

излучения

и находится из опыта. Параметр |3 можно подобрать,

используя

экспериментальные кривые.

по экспериментальным

изобарам

Значения В и р,

найденные

р '= 5,0

бар для диэтилового

эфира

и

4,9

бар для

н. гексана

и н. пентана, следующие:

 

 

 

 

 

 

 

 

х

В ,

сек~ *

(3, эв—1

 

 

Диэтиловый эфир . . .

0,25

 

1,24

0,75

 

 

н. Г ек сан .......................

0,25

1,59

0,90

 

 

н. П ентан .......................

0,25

1,78

0,85

 

Используя эти параметры, строим зависимости х~г (Т) по фор­ муле (14) для диэтилового эфира по изобарам 1,0; 10,0; 15,0 бар

2*

19

(см. рис. 4). Видно удовлетворительное согласие эксперименталь­ ных и рассчитанных значений частоты инициированного зародышеобразования.

Но этот случай не относится к «чисто» ионной теории. Полу­ чаются значения |3, соответствующие очень высокой эффективной температуре k T ~ 1/р. Такую температуру может иметь в жидкости

подсистема микрообъемов,

из которых образуется пузырек пара.

Таким образом, чтобы согласовать с опытом представления

ионной теории, необходимо

ввести понятие о горячих областях,

т. е. основное представление тепловой теории.

Опишем наблюдаемую в опыте частоту инициированного зародышеобразования J v полагая с самого начала, что закритический

пузырек возникает в области существенной локализации энергии. Сохраним представление о первичных докритических заряженных пузырьках, благодаря которым уменьшается устойчивость си­ стемы.

Будем исходить из следующей модели [29]. Система в целом -не догрета до температуры, при которой частота зародышеобразо-

.вания заметно отличается от нуля. При прохождении ионизирую­ щей частицы в жидкости с некоторой вероятностью возникают области избыточной энергии, содержащие скопления ионов. За счет флуктуаций в релаксирующей подсистеме и кулоновского взаимодействия образуются способные к росту пузырьки закритических размеров (относительно невозмущенной жидкости). Когда

возникает заряженный

пузырек

с избыточной энергией Z, то ее

-можно считать суммой

двух

величин: эффективно запасенной

в «пичке» кулоновской энергии

% и флуктуационной части (Z— %).

Примем гауссовское распределение для первоначальных заряжен­

ных пузырьков

 

ф IX (Т, N)] = А ехр [—а2 (х — Хо)21 •

(15)

Здесь fa (т>Ю — среднее значение х-

в статистической

Вероятности флуктуации придадим обычный

термодинамике вид

 

ф [Z — х] = ■В ехр [—р (Z — х)1.

(16)

(А, В, а и Р — постоянные величины).

Появление пузырька связано с двумя независимыми вероят­ ностями. Учет вклада первоначальных микропузырьков с различ­

ной избыточной энергией

приводит к следующей

функции

распределения

 

 

 

z

(17)

/(Z) = |<р (х)Ф(2—%)d%.

о

20

Частота появления закритических

пузырьков

 

 

Л (Т , Л ) -

f

f(Z)dZ.

(18)

 

 

ДФ(гг)

 

Интегрирование (18) дает следующую функцию распределения:

Г, (Т. N) ех р ( - W

+ [£ )■ (erf [а (Ь + £ . )

+

+ erf

a W — 2а2

J + C [l - erf (а№)].

(19)

 

 

t

 

 

 

Здесь erf (t) = — ^

(’ e~q*p* dp\ С — постоянная; Н7=ДФ (r2)—%0.

1Л*

Й

 

 

 

Основное отличие описанной модели от представлений, при­ нятых в [29], заключается в предположении наличия заряжен­ ных микропузырьков с эффективно запасенной энергией %0, за среднее значение которой примем АФ(гх).

В выражении (19) параметры а, р, С при феноменологическом

подходе найти

непосредственно

не

представляется возможным.

Их определяли

из опытной зависимости т-1 (Т).

В дальнейшем эти

значения параметров использованы для расчета

частоты иниции­

рованного зародышеобразования

при

различных давлениях и тем­

пературах.

Найденные из опыта при р' = 5,0 бар и х = 0,25 значения параметров а, р, С для диэтилового эфира равны 1,13; 0,75 эв-1;

0,62 сект1, соответственно. С использованием

этих

параметров

по формуле (19)

рассчитаны частоты т-1 =

JxV

для

диэтилового

эфира по трем

изобарам:

1,0; 10,0;

15,0

бар.

Согласие с экспе­

риментом, как и в случае

расчетов

по (14), вполне

удовлетвори­

тельное.

 

 

 

 

 

 

Формула (14) является асимптотическим случаем функции (19), если в качестве распределения первоначальных заряженных ми­ кропузырьков взять 6-функцию. Этот случай соответствует малым дисперсиям нормального распределения [15].

Сопоставление с экспериментом феноменологических теорий инициирования, учитывающих вклад электростатической энергии ионов, приводит к выводу, что основным процессом в иницииро­ ванном зародышеобразовании является возникновение горячих микрообластей по следу ионизирующей частицы. Ионы могут

способствовать

зарождению

новой фазы при условии попадания

их в области

с существенно

более высокой температурой. Роль

ионов, вероятно, сводится к образованию в жидкости слабых мест (дефектов), которые облегчают возникновение закритического пузырька.

21

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Л И Т Е Р А Т У Р А

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1.

М.

V o l m e r .

 

Kinetik

 

der

Phasenbildung.

Dresden — Leipzig,

1939.

2.

W.

D o r i n g .

Z. phys. Chem.,

1937, 36,

371; 38, 292.

 

 

12,

525.

 

3.

Я.

Б. З е л ь д о в и ч .

Ж.

эксперим. и теор. физ.,

1942,

Изд-во

4.

Я.

И. Ф р е н к е л ь .

Собрание

 

избранных

трудов,

 

III.

М.,

5.

АН СССР,

1959.

физ.

хим.,

1960, 34,

92.

 

 

 

 

 

 

 

 

Ю.

М. К а г а н .

Ж.

Ф.

Л о м а н о в .

Ж.

экспе­

6.

Г.

Д. Б л и н о в ,

Ю.

С.

К р е с т н и к о в ,

М.

7.

рим. и теор. физ., 1956, 31, 762.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D. A. G l a s e r .

Phys. Rev., 1954, 91, 762.

361.

 

 

 

 

 

 

8.

D. A. G l a s e r . Suppl. Nuovo Cim.,

1954,

11,

 

М. Г о р б у н к о в ,

9.

Ю.

А. А л е к с а н д р о в ,

Г.

С.

В о р о н о в ,

В.

 

 

Н. Б.

 

Д е л о н е ,

Ю.

И.

Н е ч а е в .

Пузырьковые камеры.

М., Госатом-

10.

издат,

1963.

 

 

Nuovo Cim.,

 

1954,

12,

250.

 

 

 

 

 

 

 

G.

M a r t e l l y .

 

 

 

1, 324.

 

 

 

11.

L.

B e r t a n z a ,

 

G.M a r t e l l y .

Там же, 1955,

 

 

 

12.

L.

B e r t a n z a , G.

M a r t e l l y ,

A. Z a c u 11 i.

Там же,

2, 487.

 

 

13.

L.

B e r t a n z a ,

 

G.M a r t e l l y ,

В. T a 11 i n i.

Там же, 1957,5, 940,

14.

C.

Do d d .

Progr. Nucl.

Phys.,

1956,

5,

 

142.

 

 

 

30, 610.

 

 

15.

Г.

A. A c ка рь я н .

Ж.

эксперим.

и теор.

физ., 1956,

 

 

16.

Г.

А. А с к а р ь я н.

Там же, 31,

897.

 

 

 

1957, 6,

925.

 

 

 

17.

С. H e n d e r s o n ,

G. К а 1 m u s. Nuovo Cim.,

 

 

 

18.

Т. J o h a n s s o n .

Arkiv. fys.,

1961,

19,

397.

1.

N. Y. — London,

Acad.

19.

Ch. P e y r o u .

Bubble and

Spark Chamber,

vol.

20.

Press.,

 

1967.

Nucl Instr. Methods, 1963, 22, 1.

 

 

 

 

 

 

 

A. G. T e n n e r .

 

32, 1567.

 

 

21.

П.

В. В а в и л о в . Ж.

эксперим.

и теор.

физ.,

1957,

 

 

22.

Ю.

М. К а г а н .

Докл. АН СССР, 1958,

119, 247.

 

 

 

 

 

 

 

23.

Д.

Б а гг.

Усп. физ. наук,

1961,

 

74,

675.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

24.

F.

S e i t z .

Phys.

Fluids,

1958,

1,

 

2.

Instr.,

1956, 27,

 

935.

 

 

 

25.

I.

P I ess,

R.

P l a n o .

Rev. Scient.

 

 

 

сред.

26.

Л.

Д. Л а н д а у ,

E.

M.

Л и ф ш и ц .

Электродинамика сплошных

27.

М., «Наука», 1957.

П.

С к р и п о в .

Приборы и техника эксперимента,

Е.

Н. С и н и ц ы н ,

В.

28.

1966,

4,

178.

 

В.

П.

С к р и п о в .

Укр. физ. ж.,

 

1967,

12,

99.

 

Е.

Н. С и н и ц ы н ,

 

 

29.

Е.

Н. С и н и ц ы н ,

В.

П.

С к р и п о в .

Ж.

физ. хим.,

 

1969,

43,

875.

30.

Р.

В a s s i, A. L о г i а,

I.

 

M a y e r ,

Р. M i t t n e r ,

I. S c o t on i,

Nuovo

31.

Cim.,

 

1956,

4,

491.

 

 

 

 

P.

B a s s i .

Там же,

1958,

10,

1148.

 

G.

B r a u t t i ,

M.

C e s c h i a .

 

32.

G.

K e s s e l e r , Ch.

S c h l i e r .

Nucl.

Instr. Methods,

 

1960,

7,

210.

 

33.

H.

M. К о ч а р я н ,

А.

 

С. А л е к с а н я н ,

Э.

 

 

Ц. Л е в о н я н ,

 

Л. П.

 

К и ш е н е в с к а я .

Докл. АН Арм. ССР,

1960, 30, 87.

 

А К А Д Е М И Я Н А У К С С С Р

У Р А Л Ь С К И Й Н А У Ч Н Ы Й Ц Е Н Т Р

Теплофизика и термодинамика • 1974

УДК 535.361

Ю . Д. КОЛПАКОВ

КРИВЫЕ ПОСТОЯННОЙ ДИСПЕРСИИ РАССЕЯНИЯ В ОКРЕСТНОСТИ КРИТИЧЕСКОЙ ТОЧКИ

Накоплен содержательный материал по изучению критических явлений. Особенно много работ посвящено исследованию крити­ ческой опалесценции в расслаивающихся растворах [1—3]. Значи­ тельно меньше исследованы однокомпонентные системы жидкость — пар из-за трудностей технического характера. Однако системати­ зировать имеющиеся результаты не представляется возможным, так как не существует последовательной теории критической опалесценции. Положения теории Орнштейна — Цернике (ОЦ) не всегда согласуются с выводами большинства исследований. Кроме того, данные опытов в некоторых случаях невольно «подгоняются» к зависимостям, вытекающим из теории ОЦ. Например, из этой теории следует, что обратная величина приведенной интенсивно­ сти рассеянного света в зависимости от k%должна меняться ли­

нейно (прямые ОЦ): k = — sin — (0 — угол рассеяния). Угловой

%2

коэффициент прямых ОЦ практически постоянен и почти не за­ висит от температуры [4]. Опыт дает нелинейное изменение ука­ занной величины с явным загибом кривых вниз для малых углов рассеяния. Происходит также изменение углового коэффициента с температурой при удалении от критической точки. Авторы работ [1—3, 5—7] по-разному интерпретируют расхождение эксперимен­ тальных результатов с предсказанием теории ОЦ.

В работе [1] изучено рассеяние света системой 2,6-диметил- пиридин — вода критического состава вблизи нижней критической

температуры растворения. Указано, что теория ОЦ и Дебая

0

хорошо аппроксимируется только на небольшом интервале sin —Д

вблизи 0=90°. Существующие отклонения от теории вызывают сомнения в универсальности этой теории.

Макинтайр, Вимс и Грин [2] исследовали критическую опалес­ ценцию растворов полистирола в циклогексане. Замечено искрив-

23

ление прямолинейных участков и развитие явного отклонения прямых вниз для малых углов рассеяния при подходе к крити­ ческой точке. Они считают, что это происходит из-за недостаточ­ ной очистки весьма концентрированных растворов полимера.

В работе [5] исследовано рассеяние света шестифтористой серой в окрестности критической точки. Дано заключение, что наклон прямых ОЦ увеличивается с приближением к критической температуре. Наблюдаемая картина интерпретируется как отступ­ ление от теории ОЦ. Это может быть связано с тем, что при выводе формулы ОЦ используется асимптотический вид корреля­ ционной функции g(r), не пригодный для описания состояний со

слабо развитыми флуктуациями.

Као и Чу [3] изучали критическую опалесценцию растворов парафинов в (3, p'-дихлордиэтиловом эфире. Они объясняют заги­ бы вниз кривых рассеяния для малых углов и в небольшом удале­ нии от критической температуры расслаивания (ДТ^ОД0) допол­ нительным рассеянием от частиц .пыли, присутствующих в раст­ воре, и примесью паразитного света. Количественный анализ ре­ зультатов не проводится.

В то же время Томас и Шмидт [6] при изучении рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами в аргоне в окрестности критической точки получили линейную зависимость обратной ве­ личины интенсивности рассеяния от параметра k2.* Это совпадает

с предсказаниями теории ОЦ. Тем не менее результаты их опы­ тов не дают полной уверенности в универсальной справедливости этой теории.

Детальный анализ применимости теории ОЦ проведен в рабо­ те т - Сделан вывод, что, вероятно, эта теория незаконна в кри­ тической точке трехмерной системы и неудовлетворительна вблйзи нее. Исправленная формула для рассеяния [7] приводит к очень громоздким и сложным расчетам. Определение поправочного мно­ жителя г| к показателю степени в формуле рассеяния через кри­ тические индексы малонадежно и требует дополнительных сведе­ ний о температурной зависимости сжимаемости и радиуса корре­ ляции исследуемого вещества.

В работе [8] предложена формула, устанавливающая связь

между дисперсией рассеяния и индикатрисой

рассеянного света

в окрестности критической точки,

 

IqA ( 1 + cos2 9)

(1)

/'(0 ) =

4—п 9

 

%n ( l — COS0) 2

 

где приняты обычные обозначения, п — показатель дисперсии рас­

сеяния. Перепишем формулу

(1) в

удобном для

анализа виде

 

2 - —

 

1+cos!!e- = С (п) (k2)

2 = F (k2),

(2)

Xi -I' (0)

7

7

w

24

где С(«) = [Л (4я)4-"]-1 . При фиксированных значениях показа­ теля дисперсии л = 4 и 2 получаем хорошо известные релеевское рассеяние и рассеяние света в критической точке, как предска­ зывает теория ОЦ. Для промежуточных фиксированных значе­ ний п будем иметь кривые постоянной дисперсии критической

опалесценции (2< л < 4). По теории ОЦ в окрестности критической точки зависимость интенсивности рассеянного света от параметра k2 описывается прямыми линиями постоянного наклона для раз­

ных АТ — Т Тк.

приведенной

интенсивности

рассеянного

Сравним зависимость

света от параметра k2 по формуле (2)

с результатами

опытов [3].

Исследовалась система

н. октан — р,

Р'-дихлордиэтиловый эфир

критического состава (41,9 вес. % н. октана); критическая темпера­ тура Тк= 19,0^° С; длина волны возбуждающего света А- = 0,436 мкм..

На рисунке

точками

обозначены результаты измерений (0)]-1

в функции

А

при различном удалении от критической

sin2— (&2)

температуры расслаивания. Сплошными линиями показаны рас­ четы по формуле (2). Привязка сделана для точки 0 = 90°

sin2Y=0>5V Показатель дисперсии рассеяния п определяли из

опытных данных по угловой зависимости интенсивности рас­ сеянного света с использованием формулы (1). Значения интенсив­

ности

рассеянного света Г (0)

для

различных

температур

брали из графиков в работе [3].

Совпадение

результатов

из­

мерений

с расчетами

можно

считать

удовлетворительным.

Для

температурных

разно­

стей

 

ДТ’ = Т — Т к= 0,75;

O, 69;

0,53

и 0,36°

средний

показатель дисперсии п = 3,82.

При меньших ДГ он плавно

уменьшается

и

при

0,08°

достигает значения 3,23.

Это

не противоречит теории ОЦ.

Отклонения

л

от

4

для

ДТ^О,5-4-0,75°

можно

отне­

Кривые

постоянной

дисперсии

рассея­

сти к особенностям рассеяния

ния.

Раствор

41,9

вес.

% н.

октана в

света

системой

н.

октан —

Р,

Р'-дихлордиэтиловом

эфире

(Тк=

P, p'-дихлордиэтиловый

эфир.

 

= 19,04° С; к =0,436 мкм [3]).

 

Если

предположить,

что в

 

 

АТ

п

 

 

АТ

п

/

 

3,86

6 .

 

растворе присутствуют

ча­

 

. 0.75

. . 0,27

3,68

2

 

. 0,75

3,82

7 .

. .0,19

3.61

стицы

пыли,

как

считают

3

 

. 0,69

3,82

8 .

. .0 ,1 3

3,40

авторы [3], то

с ростом ин-

4 .

.

. 0,53

3.82

9 .

. . 0,08

3,23

5

 

. 0,36

3.82

 

 

 

 

25

тенсивности молекулярного рассеяния света ее вклад должен относительно уменьшаться, а показатель дисперсии рассеяния должен быть близок к 4. Однако при увеличении интенсивности рассеяния примерно в 2 раза для ДГ = 0,36° по сравнению с ДТ’ = 0,75° средний показатель дисперсии не возрос, а остался неизменным (3,82). Малые загибы вверх кривых рассеяния для больших углов связаны, по-видимому, с паразитным рассеянием.

Форма кривых рассеяния сильно зависит от величины пока­ зателя дисперсии. Так, для изотермы ДГ = 0,75° изменение вели­

чины п на 1 % привело к отклонению результата для малых углов рассеяния на 5%. Поэтому при измерениях интенсивности

рассеянного света необходима высокая точность проведения экспе­ риментов и внесения поправок.

Таким образом, загибы вниз кривых рассеяния в функции параметра k2/sin2— для малых углов и изменение углового коэф'

фициента линейных участков кривых связаны с характером рас­ сеяния в области критической опалесценции при изменении пока­ зателя дисперсии от 4 до 2. Угловая зависимость обратной величины интенсивности рассеянного света описывается кривыми постоянной дисперсии, в предположении справедливости эмпири­ ческой формулы (2). Форма кривых и наклон линейных участков определяются величиной п. В области слабых корреляций, когда

2 < п < 4 ,

теория ОЦ не верна и требует уточнений.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Л И Т Е Р А Т У Р А

 

 

 

1.

R. P a n c i r o v ,

Н. B r u m b e r g e r .

J. Amer. Chem. Soc.,

1964,'86,

3562.

2.

D. Me

In t y r e ,

A. W i m s,

M. S. Gr e e n . J. Chem. Phys., 1962,37,3019.

3.

W. P. Ka o, B. Chu.

Там же, 1969, 50,

3986.

 

762.

4.

L. S. O r n s t e i n ,

F.

Z e r n i k e .

Phys.

z.,

1918, 19, 134; 1926, 27,

5.

В.

П. С к р и п о в ,

Ю.

Д.

К о л п а к о в . Современные проблемы физической

6.

J.

химии, т. V. Изд-во МГУ, 1970, стр. 295.

Phys., 1963,

39, 2506.

 

Е. T h o m a s ,

Р. W.

S c h m i d t .

J.

Chem.

 

7.

М.

Е. F i s h e r .

J. Math.

Phys., 1964,

5,

944.

 

 

1970,

8.

Ю.

Д. К о л п а к о в ,

В.

П.

С к р и п о в .

Оптика и спектроскопия,

 

 

28,

675.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

А К А Д Е М И Я Н А У К С С С Р

У Р А Л Ь С К И Й Н А У Ч Н Ы Й Ц Е Н Т Р

Теплофизика и термодинамика • 1974

УДК 536.42;535.361

В. С. ВИТКАЛОВ, Ю. Д. КОЛПАКОВ

ЯЧЕЙКА ВЫСОКОГО ДАВЛЕНИЯ ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ КРИТИЧЕСКОЙ ОПАЛЕСЦЕНЦИИ

Исследования рассеяния света двуокисью углерода и шести­ фтористой серой выявили ряд факторов, которые затрудняют количественное изучение критической опалесценции [1]- Главные из них — гравитационный эффект, многократное рассеяние и ос­ лабление проходящего и рассеянного пучков света.

По мере приближения вещества к критическому состоянию растет изотермическая сжимаемость

Р \ d p j т

Это приводит к тому, что веса лежащих выше слоев вещества оказывается достаточно, чтобы по высоте ячейки установился заметный градиент плотности. Распределение плотности двуокиси углерода, этана и ксенона в критической области по высоте ячей­ ки изучалось Пальмером [2]. Связь между интенсивностью рассе­ янного света и градиентом плотности исследована в работе [3]. Установлено, что максимальному рассеянию соответствует наиболь­ ший градиент плотности.

С ростом рассеивающей способности вещества существенную роль начинает играть многократное рассеяние, доля которого в наблюдаемом потоке зависит от коэффициента рассеяния и гео­ метрии оптической ячейки. Предложена методика [4, 5] прибли­ женного расчета и экспериментального определения доли много­ кратного рассеяния. С уменьшением размеров оптической ячейки и рассеивающего объема поправки на ослабление света и на мно­

гократное рассеяние

уменьшаются. Нами

сконструирована и ис­

пытана ячейка

цилиндрической

формы

меньшего объема, чем

в работах [1, 4,

5],

рассчитанная

на давление до 100 бар.

27

КОНСТРУКЦИЯ ТЕРМОСТАТА И ОПТИЧЕСКОЙ ЯЧЕЙКИ

Конструкция

термостата и оптической ячейки показана на

рис. 1. Термостат

состоит из бака прямоугольного сечения (240 X

X240x240 мм), в котором установлен медный цилиндр диаметром 90 мм и высотой 240 мм. В термостате помещаются: опорный

нагреватель, нагреватель регулятора, мешалки, холодильник, пла­

тиновый термометр

сопротивления,

который является датчиком

для регулирования

температуры, стеклянный ртутный термометр

с ценой деления 0,1° С, два термометра Бэкмана, один из

кото­

рых помещен в цилиндр, окружающий кювету. Для точных

изме­

рений температуры

в критической

области в термостате преду-

Рис. 1. Конструкция термостата и оптической ячейки.

/ — латунная

пятка;

2 — ампула;

3 — световод;

4 — фланец для

крепления

фотоумножителя;

5 — нагреватель;

6 — мешалка;

7 — медная трубка;

8 — регу­

лировочный

винт;

9,

10 — уплотнения

(9 — ампулы, 10 —световодов); 11 —

патрон оптической ячейки;

12 —цилиндр для патрона.

 

28