
книги из ГПНТБ / Рыбинский, О. А. Пассивные элементы гибридных интегральных схем
.pdfлению его рабочей площади, т. е. площади перекрытия нижней об кладки конденсатора верхней обкладкой. Рабочая площадь рассчи тывается по формуле:
где С — заданная |
емкость конденсатора, пФ; |
С0 — величина |
удельной емкости, пФ/см2. |
Величина емкости конденсатора рассчитывается по общеизвест ной формуле плоского конденсатора:
с_ 0,0385 s 5
~~d
Удельная емкость определяется видом диэлектрика, из которого изготовлена диэлектрическая пленка. Так, например, в случае при
менения |
в качестве диэлектрика |
Sb2S3 (трехсернистая сурьма) |
С0 = 2000 |
пФ/см2; для других диэлектриков эти данные приведены |
|
в таблице 3. |
■ |
|
Расчет плоских индуктивностей на ферромагнитных подложках |
||
подробно рассмотрен в книге А. П. |
Калантарова и Л. А. Цейтлина |
|
«Расчет |
индуктивностей» (Госэнергоиздат, 1955) и поэтомх здесь |
Рис. 12. Зависимость приращения индуктивности от толщины: - а) ферромагнитной подложки; б) ферромагнитной подложки и ферромаг
нитного покрытия
t\ — толщина ферромагнитной подложки; t2— толщина ферромагнитного покрытия; го радиус токопроводящей спирали
30
не рассматривается. Расчет плоских катушек ца ферромагнитных: катушках разработали В. И. Семенцов, К. А. Афанасьев и др. Однако из-за сложности выведенных ими формул их трудно исполь зовать в повседневных инженерных расчетах и поэтому полученные ими зависимости мы приведем в виде графиков (рис. 12), Как сле дует из приведенных зависимостей, с увеличением толщины под-
ложки приращение индуктивности стремится к уровню -— (pi —
магнитная проницаемость ферромагнитного материала). Причем, начиная с некоторой толщины подложки, ее влияние на величину индуктивности плоской катушки прекращается. Краткие сведения, приведенные по расчету некоторых плоских пассивных элементов, позволяют быстро оценить порядок величины того или иного эле мента. Более подробные сведения по этому вопросу можно найти в специальных монографиях, ибо с повышением степени интегра ции схем расчет даже простейшего резистора сильно усложняется из-за появления дополнительных (паразитных) связей между эле ментами схем, которые чрезвычайно трудно теоретически оценить. Поэтому необходимо проведение больших экспериментальных ра бот для создания всеобъемлющей методики расчета, а в настоя щее время вопросы, связанные с расчетами, решаются примени тельно к конкретной схеме и в ряде случаев чисто эмпирическим путем.
В связи с тем, что микроминиатюризация позволяет резко по высить надежность радиоэлектронной аппаратуры, увеличить пока затель машинного времени в технологических процессах ее изготов ления и получать целые законченные схемы за один технологиче ский цикл, этот процесс продолжается и в настоящее время. Про должается он в двух направлениях: с одной стороны, происходит интенсивное внедрение разработанных интегральных схем во все отрасли техники, где используется электроника, а с другой продолжается интенсивная разработка микроминиатюрных схем с более высокой степенью интеграции. Следует отметить, что начи ная с 1970 г. наметились тенденции к сокращению объема произ водства чисто гибридных схем, состоящих из дискретных элемен тов, функциональных узлов (микромодулей) и функциональных интегральных узлов, а увеличивается выпуск интегральных схем на полупроводниковых кристаллах, в том числе и гибридных инте гральных схем, которые, очевидно, являются промежуточным эта пом, так как современные технологические методы не позволяют реализовать в полупроводниковом кристалле все пассивные эле менты с требуемыми характеристиками. Кроме того, не все типы элементов можно реализовать, используя свойства твердого тела, (индуктивные элементы). Показателем дальнейшего пути развития является тот факт, что в США начиная с 1968 г. выпуск полупро водниковых интегральных схем увеличился почти в 10 раз, стои мость их понизилась приблизительно в 20 раз, а общее количество типов интегральных полупроводниковых схем, выпускаемых про-
31
мышленностью. превысило 6000, хотя большинство из них — это цифровые и логические схемы, но число типов линейных схем растет с каждым днем.
В заключение следует отметить, что наряду с дальнейшим раз витием интегральных полупроводниковых схем зарождаются но вые направления микроэлектроники, такие как квантовая, молеку лярная и оптоэлектроника, позволяющие достичь более высоких ступеней интеграции радиоэлектронной аппаратуры.
Л и т е р а т у р а
.1. Катушки индуктивности для гибридных интегральных схем (ГИС). Обзоры по электронной технике. Серия ферритовая техника. Вып. 12. Ин-т «Электрони ка». М., 1971, 28 с. Авт. Травкин С. П., Назаров В. И. Яценко Е. К., Евдоки
2. |
мова В. А. |
с х е мы. |
Принципы конструирования |
и производства. |
||
И н т е г р а л ь н ы е |
||||||
3 |
Пср. с англ. Под ред. А. А. Колосова. Изд. «Советское |
радио». М., 1968, 262 с. |
||||
Р ы б и н с к и й О. А., З л о б и н В. А. Ферритовые |
пленки. Изд. ЛДНТП, |
|||||
4. |
1969, 32 с. |
|
микроэлектроника. Массовая |
библиотека инже |
||
Е ф и м о в И. Е. Современная |
||||||
|
нера. Электроника. М., «Советское радио», 1973. |
112 |
с. |
|
||
5. А р е н ко в А. Б. Печатные и пленочные элементы |
радиоэлектронной аппара |
|||||
|
туры. Л., «Энергия», |
1971, 314 |
с. |
|
|
|
Олег Александрович Р ы б и н с к и и
Пассивные элементы гибридных интегральных схем
Редактор Л. К. Т у р к о в а
Пзд. редактор Л. Н. Г р и ш м а н о в с к а я
Техн. редактор Л. П. Г о р о в а
Корректор 3. В. Л о б о в а
Ленинградский Дом научно-технической пропаганды (ЛДНТП), Невский пр„ 58
Сдано в набор |
19/XI-74 г. |
Подписано |
к печати 12/ХП-74 г. |
Тираж |
4200 |
Уч.-шзд. л. 2,0 |
Печ. л. 2,0 |
Цена 20 коп. |
Изд. № |
269 |
М-09982 |
Типография ЛДНТП |
Зак. 1624 |
