Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Балыгин, И. Е. Электрические свойства твердых диэлектриков

.pdf
Скачиваний:
33
Добавлен:
19.10.2023
Размер:
8.49 Mб
Скачать

подключением термопары либо к прибору 10 (милливольтметр), проградуированномупо стоградусной шкале, либо к дифференци­ альному гальванометру 12 (при измерении высокочастотного на­ грева образца). Шунт 11 предназначен для изменения чувствитель­ ности. Термо-э. д. с. термопары от нагрева печи компенсировалась пропусканием тока через вторую катушку гальванометра. Ток можно изменять сопротивлениями 13 и 14, которые вместе с ба­ тареей 15 и миллиамперметром 16 составляли схему компенсации.

До включения напряжения U и после его выключения записы­

вались кривые

зависимости

температуры

образца

от

времени.

Экстраполяцией

кривых к

моменту

 

 

 

 

 

 

выключения поля определялся на­

 

 

 

 

 

 

грев образца АТ.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Приложенное напряжение к об­

 

 

 

 

 

 

разцам можно измерять вольтмет­

 

 

 

 

 

 

ром

(с делителем),

время

нагрева

 

 

 

 

 

 

т — секундомером,

частоту — вол­

 

 

 

 

 

 

номером. Максимальная погреш­

 

 

 

 

 

 

ность

при

tg 6= 10 5—і—ІО-4

равна

 

 

 

 

 

 

~33% . В табл. 4-6 сравниваются

 

 

 

 

 

 

значения tg б, измеренные

на

уста­

 

 

 

 

 

 

новке (рис. 4-8) и полученные дру­

 

 

 

 

 

 

гими

методами.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

По этому методу были произве­

Рис. 4-9. Зависимость tg б от на­

дены

измерения

tg 6

в зависимости

от напряженности

приложенного

 

пряженности

поля

Е

поля

у образцов из

керамического

1 - 1 = 7,65

Мгц и <=20° С;

2 — f =

= 20,5

Мгц

и /=20° С;

S — j= 7,65 Мгц

материала,

состоящего

из

опот-

и <=230° С;

4 —/=20,5

Мгц

и

/-230° С

ского

талька

(91,6%), ельнинского

 

 

 

 

 

 

каолина (5,2%) и борацита (3,2%). На рис. 4-9 приведены кривые tg 6= /(£ ) этого керамического материала при различных темпе­ ратурах. На кривых хорошо различимы максимумы tg б, соот­ ветствующие £эфф~0,15-1-0,2 кв/мм. В [4-11] появление этих макси­ мумов объяснено ионизационными процессами в газовых включе­

ниях керамики.

При увеличении частоты

появление максимумов

 

 

 

Таблица 4-6

Значения tg ö,

полученные на нестационарной калориметрической

 

 

установке (рис. 4-8)

 

Диэлектрик

 

Измерен ны.е*

Полученные другими методами

Плавленый кварц . . . .

1 ■к г 4

(1,0—1,3)-10- 4 [4-8 и 4-9]

Керамика М-4 ...................

(2,4—2,6)10-—4

(2 —4)-ІО- 4

Фторопласт-4.......................

2,13ІО- 4

2 ,2 -10 - 4

Полиэтилен .......................

3,8- ІО- 4

(3 - 4 ) - ІО“ 4 [4-10]

* Измерения произведены

при f = ІО7 гц

 

6 7

фиксировалось при меньших Е. То же — при возрастании темпе­ ратуры окружающей среды. Поскольку ионизация может проис­ ходить каждый полупериод, то смещение максимумов в сторону меньших Е при увеличении f считается вполне объяснимым.. Что же касается температурного смещения максимума, то его следует объяснить некоторым снижением электрической прочности воздуха или вообще газа в порах.

После достижения максимума значения tgö снижаются и за­ тем снова возрастают. Это возрастание тем резче, чем выше тем­ пература окружающей среды.

4-4. Диэлектрические потери у стекол и ситаллов

В § 4-1 возрастание значений tg ö при определенных напряженностях прило­

женного поля

и не очень высоких температурах объяснялось ионизацией в газо­

вых порах. В

керамических изделиях поры имеют

различную

форму, а размеры

их изменяются

в довольно широких пределах. У

стекол же,

как правило, нет

газовых пор,

но зависимость tg ö = f(E)

 

в принципе такая

же, как и у керамиче­

ских материалов.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Для измерений диэлектрических потерь -на мосте Шеринга были изготовлены

из стекла некоронирующие образцы,

по форме похожие на керамические (см.

рис. 4-1), но без загибов к

электродам

(форма

двусторонних

боченков).

Хими­

ческий состав стекла был следующий:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

О ки слы ........................... S i0 2

Na20

А120 3 В20 3

ZnO

As20 3

 

 

 

 

 

 

Количество,

% . . . . .

68,25

6,00 4,00

16,50 5,00

0,25

 

 

 

 

Измерения производились в температурном диапазоне 26ч-150°С и при

напряженностях поля 1—6 ,8 кв/мм

 

при

/= 50

гц. На рис. 4-10 приво­

дятся

соответствующие

кривые.

Из

них

можно

заключить,

что

при

26° С

и

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

4 кв/мм происходило некоторое увели­

1,0

 

 

 

 

 

 

 

 

чение

tg б. При

 

более высоких

температу­

 

 

 

 

 

 

 

 

рах

(50—100° С)

 

значения

tg б от £

в ука­

8 -tgS

 

 

 

 

 

 

 

 

В

 

 

 

 

 

 

 

 

занном диапазоне не зависят. Видимо, та

4

 

 

 

 

 

 

 

 

доля диэлектрических потерь, которая при

2

 

 

 

 

 

Л

 

 

более низких температурах зависела от ве­

 

 

 

 

 

 

 

личины Е, оказалась сравнительно малой.

 

 

 

 

 

 

 

 

Но при

более высоких температурах (150° С)

6

 

 

 

 

 

 

 

 

эти потери снова стали зависеть от Е, но

 

 

 

 

 

 

 

 

несомненно уже в «новом качестве».

 

 

 

4

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

В стекло было введено большое коли­

2 0-00-

 

 

 

 

 

чество

 

Na20. Ранее

уже

отмечалось,

что

 

 

Ч

 

Е

 

в

силу

своей одновалентности

ионы

Na+

 

 

 

 

 

 

10~г0

1,0 2,0

3,0

4,0

5,0 кв/т (макс)

связаны

с ионами кислорода только од­

ной связью, и потому не могут быть прочно

Рис. 4-10. Изменение

tg б у

стек­

закреплены

в

структурной

сетке

стекла.

По этой причине около ионов Na+ должно

ла при различных напряженно­

быть

некоторое

 

разрыхление.

В

§

3-2

и

стях

приложенного

поля

(f =

 

3-4 уже приводились данные

о

том,

что

=50 гц) в температурном диапа­

ионная

электропроводность

у

некоторых

 

зоне

26—150° С

 

 

сортов

 

керамики

и

стекла

при

не

очень

/ — 26“ С;

2

50° С;

3

100° С;

 

высоких температурах прежде всего осу­

 

 

4 — 150° С

 

 

 

 

ществляется

одновалентными ионами

ще­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

лочных металлов, если, конечно, они входят

По-видимому,

неупругие

 

 

в

химический состав этих материалов.

 

 

смещения

таких

частиц

у

стекол играют

значитель­

ную, если не решающую роль в отношении увеличения tg б. Можно полагать, что

такого

рода смещения происходят именно в местах с разрыхленной структурой,

о чем

упоминалось выше. В радиокерамических материалах эти потери склады-

68

ваются с потерями от ионизации в порах. При увеличении температуры до 150° С активизируются более прочно закрепленные ионы Na+.

В § 2-3 приводились данные об увеличении электрической прочности и удель­ ного объемного сопротивления р у некоторых закристаллизованных образцов из ситаллов по сравнению со стекловидными, не закристаллизованными образцами.

Эти

образцы

(№ 1,

2и 3) различались добавками Ag и Au (табл. 4-7). У та­

ких

ситаллов

были

измерены диэлектрические потери тоже в стекловидном со­

стоянии, когда они прозрачны и поле их закристаллизовывания, когда структура их делалась поликристаллической и прозрачность терялась. К сожалению, не было возможности приготовить образцы такой формы, при которой можно было

бы производить

измерения при

повышенных

Е

и

определить

зависимость

tg б = /(£ ).

Измерения проводились на

куметре при /=Ш гг;. Данные,

полученные

при этом, приведены в табл.

4-7.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 4-7

Значения tg 8 у образцов

из ситаллов до и после кристаллизации

 

 

 

 

при прогревании в течение 30 м и н

 

 

Образцы

Температура, °С

 

tg 6

Образцы

Температура,

°С

tg 6

1

Не

прогрет

1,65-10-2

2

 

 

800

 

8 ,2 - 10 —3

 

(стекловидный)

 

 

 

 

2

 

 

900

 

9 ,3 -ІО 3

1

 

800

 

 

 

9 -ІО 3

3

 

Не

прогрет

1 ,6 -ІО“ 2

1

900

 

 

5 ,2 -ІО

3

3

 

 

800

 

7 ,4 -ІО 3

2

Не прогрет

1 ,6 -ІО- 2

3

 

 

900

 

8 , ІО“ 3

Из табл. 4-7 видно, что диэлектрические потери после кристаллизации за­

метно снижаются,

а

у

образцов

из

ситалла

№ 1

с

небольшими добавками Ag

(0 ,0 2 %) величина

tg

б

оказалась

зависящей

от

температуры

кристаллизации.

Опыты

показали,

 

что

при

/=800° С и

выше

предварительное

облучение

ультрафиолетовыми лучами не оказывают влияния на процесс кристаллизации, но при / = 500-^600° С это влияние заметно. Оно ускоряет кристаллизацию. Действие его сказывалось и в изменении окраски образцов.

Рентгеновский анализ показал, что структурные изменения при кристаллиза­ ции у всех перечисленных ситаллов приблизительно одинаковы. При сравнительно низких температурах образуется кристаллическая структура Li2ÖSi0 2. Об этом можно было заключить по дифракционным максимумам на рентгенограммах.

При повышении температуры кристаллизации до 900° С появлялись новые дифракционные максимумы. Из этого можно было сделать вывод о том, что процесс кристаллизации продолжал развиваться. В формировании кристалличе­ ской решетки начинали принимать участие ионы А13+. Наиболее вероятно про­

исходило образование

ß-сподумена (Li20 -Al20 3 -4 Si0 2).

 

 

 

Резкое изменение электрических и некоторых иных свойств при кристаллиза­

ции наблюдалось

у

ситаллов, по химическому составу близких

к цельзиану

(ВаО • А120 з ' 2 Si02),

содержащих Ті02 в качестве минерализатора

[4-12].

Исследовались диски диаметром 50 мм и толщиной 2-Ч-3 мм. Электроды на­

носились вжиганием

серебра. Измерения производились на

мостах

и куметрах,

а при f = 1010 и

3,7 • 1010 — использовались цилиндрические

резонаторы

[4-13].

Полученные

данные о частотной зависимости tg б у ситалла

при

t = 20° С

приведены на рис. 4-11. Здесь кривая 1 относится к незакристаллизованному ситаллу в стекловидном состоянии. Для него характерно увеличение tg б при по­ вышении частоты в диапазоне ІО7—1010 гц. У образцов, закристаллизованных при различных температурах, ход изменения tg б не одинаков.

Можно полагать, что снижение tg б, как уже замечалось, связано с умень­ шением разрыхленное™ в структурах ситаллов, при переходе к поликристалли­ ческому состоянию. Возрастание же tg б в области частот 1010 гц возможно

69

вызывается резонансной поляризацией, когда частота приложенного поля оказыва­ ется близкой к частоте колебаний заряженных частиц при тепловом движении. Такая поляризация, как известно, имеет в основе упруго-ионное или упруго-ди- польное смещение.

Кривая 6 (рис. 4-И) относится к закристаллизованным ситаллам кордиеритовой системы MgO-Al2 0 3 -SiC>2 [4-13] и приведена для того, чтобы показать

Рис. 4-11.

Зависимость tg б

ситаллов

от

частоты

 

приложенного

напряжения

при

20° С

/ — исходное

стекло

не

закристаллизованное;

2 — закри-

сталлизировано

при

— 1100° С;

3

закристаллизовано при

1100° С;

4 — закристаллизовано

при

1200° С;

5 — закристалли­

зовано

при

1250

и 1300° С;

6 — кривая

для

ситаллов корди-

 

 

 

 

еритовой

системы

 

 

 

 

совсем иной релаксационный характер диэлектрических потерь. Из этого сопо­ ставления можно получить представление о роли химического состава ситаллов и их структуры.

Г Л А В А П Я Т А Я

ПОРИСТОСТЬ И ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ПОРИСТЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ

5-1. Особенности спекания некоторых керамических материалов, образование пор и ионизационные процессы в них

Хорошо известно, что только после обжига керамические из­ делия приобретают плотную структуру с нужными электрическими свойствами. Механическая прочность изделий резко возрастает. От­

70

носительно механизма спекания имеются различные точки зрения. По Френкелю, например, между спекающимися частицами вначале происходит увеличение площади контакта. Если размолотые час­ тицы сырьевых материалов керамики представить шариками (рис. 51), то эту начальную стадию спекания будут характеризовать элементы группы I.

В зависимости от тонины помола необожженные детали со­ держат от 25 до 50% объемных пор. В процессе обжига порис­ тость (/, 2, 3 на рис. 5-1) уменьшается, а объемная усадка равна уменьшению объема пор. Обычно при обжиге размеры пор и их форма изменяются. Движущей силой в процессе уплотнения счи­ тают поверхностную энергию. Перенос вещества при усадке мо­ жет осуществляться вязким те­ чением [5-1], поверхностной и объемной диффузией [5-2 и 5-3], пластической деформацией и испарением. Однако наиболее распространенным механиз­ мом, по-видимому, является диффузия и вязкое течение.

По теории [5-2] основным механизмом спекания следует

считать диффузию или само-

Рис. 5-1. Эскиз расположения размоло­

диффузию атомов и вакансий.

тых и спрессованных компонент кера­

Поры в черепке по этой теории

мического материала до обжига

образуются от коагуляции ва­

 

кансий в момент спекания.

 

Если поры между шариками закрываются на ранней стадии спекания (рис. 5-1), то в них должен оставаться воздух или дру­ гой газ, образующийся при сгорании связки, а также проникаю­ щий из горна. При повышении температуры давление газа в за­ крытых порах должно возрасти. Форма пор от равномерного дав­ ления газа во все стороны, наиболее вероятно, будет приближаться к круглой. По окончании же спекания и охлаждения в таких по­ рах возможно образование вакуума.

При выгорании связки и разложении шихты выделяются газо­ образные вещества. Это, как и возгонка атомов [5-4], может ока­ зать определенное влияние на образование пористости. Кроме того, в топочных газах присутствуют водород, азот, кислород, во­ дяной пар, окись и двуокись углерода и др. [5-5]. В результате захвата газов порами снижается величина конечной плотности, ко­ торая может быть достигнута обжигом.

Водород,

водяной пар и отчасти кислород могут

удаляться

из закрытых

пор вследствие растворения и диффузии.

Но газы

с меньшей растворимостью, такие, как окись углерода', углекислый газ и особенно азот, обычно не удаляются из закрытых пор. Молено представить случай, когда сферические поры закрываются при общей пористости материала, скажем 10%, и парциальном дав­ лении азота примерно 0,8 атм. В процессе лее спекания, когда

71

пористость уменьшается до 1%, давление в таких порах может возрасти ориентировочно до 8 атм. После остывания изделия дав­ ление в замкнутом объеме снизится, но, по-видимому, все же не исключено образование пор с повышенным давлением [5-6].

В процессе спекания, видимо,, возможны случаи, когда в один из элементов группы / (рис. 5-1) с определенным химическим со­ ставом диффундирует больше атомов или ионов, чем в обратном направлении от другого элемента с иным химическим составом.

Рис. 5-2. Микрофотография образцов из рутиловой ке­ рамики Т-80

Тогда в одном из них будет недостаток атомов и избыток вакан­ сий, а в другом избыток атомов и недостаток вакансий (эффект Киркендаля). У окисла с избытком вакансий в начальную стадию спекания может произойти сжатие, а при коагуляции вакансий могут образоваться поры. В окисле же с избытком атомов воз­ можны уплотнения и растяжения. Если не произойдет дальней­ шего перераспределения атомов в процессе спекания, то растя­ жения могут повести к образованию микротрещин. В порах, обра­ зовавшихся от коагуляции вакансий, наиболее вероятно, будет пониженное давление газа.

При спекании образцов из рутиловой керамики, как показали опыты, образование зерен кристаллической фазы происходит при участии винтовых дислокаций [5-7]. Если последние имеют вектор Бургерса больше 10 А, то, по данным [5-8], могут образоваться по­ лости диаметром в несколько микронов.

72

Винтовые дислокации при спекании Т-80 можно было наблю­

дать на

микрофотографиях,

снятых у образцов, спеченных при

t — 13504-1400°С. Несколько

вырезок из микрофотографий с та­

кими дислокациями

приведено на рис. 5-2. Особенно'

наглядной

в этом отношении

является

кристаллическая ячейка

А на рис.

5-2, III. Эта ячейка как бы набрана из отдельных пластин. Длина

ее равна

~ 0,013 мм. Можно предполагать, что кристаллические

зерна Т-80, как правило, имеют такую же форму слоистых пара­ болоидов или яйцевидную, как и у этой ячейки. При этом оси параболоидов и яйцевидных зерен по отношению к плоскости ри­ сунка имеют всевозможные направления.

В тех случаях, когда при шлифовке срезается только верхушка зерна, на микрофотографиях видны образования типа А (рис. 5-2, II, IV). Если же срезается больше половины фигуры, распо­ ложенной приблизительно перпендикулярно к плоскости рисунка, то слоистости не будет видно. На микрофотографии I зерна рас­ положены под углом к этой плоскости (боком).

Известно, что такие несовершенства, как дислокации в кристал­ лах, являются обязательной формой роста последних и что там, где присутствуют ступени на поверхности кристаллического обра­ зования, обязательно должны быть винтовые дислокации.

Количество пор, их форма и размеры определяются также хи­ мическим составом керамической массы и технологическими при­ емами изготовления деталей. Об этом можно судить по данным [5-9], в которой сообщено об особенностях изготовления образцов из различных керамических материалов, о количестве и размерах пор в черепке и об электрической прочности изделий. Данные о рецептуре керамических материалов, из которых были приго­ товлены опытные образцы, представлены в табл. 5-1.

Таблица 5-1

Рецептуры семи опытных керамических материалов (%) и температура обжига

 

 

 

 

 

 

материалов

 

 

 

 

 

Составные части

1

2

3

4

5

6

7

 

 

 

 

Каолин

глуховецкий . . . .

27,5

27,5

27,5

27,5

27,0

27,5

31,5

Глина

часовярская ................

16,3

16,3

16,3

16,3

16,0

16,3

17,5

Песок

л у ж с к и й .......................

11,7

П ,7

11,7

30,7

28,0

11,7

Шпат

 

мурманский

розовый

25,5

25,5

25,5

25,5

29,0

25,5

29,2

Черепок фарфоровый . . . .

19,0

19,0

19,0

19,0

2 1 , 8

Размол:

остаток на

сите с

38,3

 

 

 

 

1,3

 

10 0 0 0

отверстий на 1 см2

1 ,8

0 , 6

0 , 8

1 ,0

1 ,0

Температура обжига,

1С . . .

1280

1300

1330

1300

1330

1350

1300

В материалах № 4, 5 и 6 кварцевый песок подвергался пред­ варительному размолу практически до полного прохождения через сито с 10 000 отверстиями на 1 см2. .Обжиг производился в произ­ водственных горнах. Отдельные серии образцов из материалов

73

№ 3, 4 и 5 подвергались трехкратному обжигу при тех же ко­ нечных температурах, что и при однократном обжиге.

Пористость определялась на прозрачных шлифах при помощи микроскопа. У таких образцов определялась и электрическая проч­ ность при переменном напряжении. Плоские образцы имели сфе­ рические выточки радиусом 27 мм. Толщина образцов в средней части равнялась 1,8—2,3 мм. Электроды наносились графитированием, а на графит накладывалась металлическая фольга. Про­ бой производился в трансформаторном масле.

Оказалось,

что количество пор на единице площади, их раз­

меры и форма

зависят от особенностей помола и обжига, а также

химического состава керамических материалов

(табл. 5-2 и 5-3).

У материала

№ 1 на 1 мм2 приходится 4000

пор, а у № 5 они

практически отсутствуют. Электрическая прочность образцов со­

ответственно равна 14,7 и 30,7 кв/мм.

При 1700 пор на 1

мм2 и це-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Табмица 5-2

Данные о закрытой пористости и электрической прочности

 

 

образцов из различных керамических материалов

 

 

 

 

 

 

№ материалов (табл. 5-1)

 

 

 

Характе­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ристика

1

2

3

3*

4

4*

5

5*

6

7

 

Количество

4000

900

850

2 0 0

400

150

300

2 2 0

90

1700

пор на

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 л л 2 шлифа

2—5

 

 

5 -2 0

 

5 -1 2

6—17

нет

3—9

4—7

Размеры

2 — 8

2 — 10

2 — 8

пор, мкм

14,7

21,3

20,7

24,7

25,4

31,1

25,8

30,7

34,0

20,4

Электри­

ческая

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

прочность,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

квімм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

* Партия

образцов обжигалась три раза.

 

 

 

 

Таблица 5-3

 

Данные о форме пор и их расположении у образцов

 

 

 

 

 

различных керамических материалов

 

 

 

№ материа­

Форма пор и их располо­

№ мате­

Форма пор и их располо­

риалов

лов (табл.

 

жение

 

(табл.

 

жение

 

5-1 и 5-2)

 

 

 

 

5-1 и 5-2)

 

 

 

 

1

 

Круглая

 

 

5

Круглая, распределение не­

 

 

 

 

 

 

 

равномерное, густота рас­

 

 

 

 

 

 

 

положения

изменяется

 

50%

неправильной формы

 

 

 

в 2 —3 раза

 

2

 

6

Поры

Круглая

 

3 и 3*

Значительное

количество

 

7

несколько вытянуты,

 

 

пор слилось

 

 

 

местами расположены це­

4

 

Круглая

 

 

 

 

почками

 

 

 

 

 

 

 

 

 

74

почечном их расположении у образцов № 7 £ Пр = 20,4 кв!мм. Сле­ дующим фактором, определяющим электрическую прочность, по мнению авторов работы [5-9], можно считать степень оплавленности кварца.

Напряженность поля в газовой сферической полости диэлект­ рика Е' будет больше приложенной Е:

 

 

2 ек +

в

 

 

где

Бк — диэлектрическая

проницаемость керамики,

а

е — то же,

но

газа, заключенного в

полости.

Обычно е*=»1, а

ек

изменяется

в очень широких пределах. Пренебрегая е по сравнению с 2 ек, по­ лучим: Е '^З Е /2 . Такое увеличение Е в порах должно способст­ вовать пробою газа в них. При бомбардировке стенок пор заря­ женными частицами в процессе разрядов должно выделяться оп­ ределенное количество тепла и в отдельных местах температура керамического диэлектрика может повыситься настолько, что соз­ дадутся благоприятные условия для теплового пробоя. Вследствие неравномерного разогрева еще до развития теплового пробоя мо­ жет произойти раскалывание керамических образцов.

Из рассмотрения пор в виде эллипсоида вращения можно рас­ четным путем получить представление о возможных напряжен­ ностях поля в вытянутых порах керамических материалов. В [5-10 и 5-11] показано, что внутри такой полости амплитудное значение напряженности поля

ен

4

здесь Еа — амплитудное значение напряженности поля в керамике вдали от полости; ея и ев— диэлектрические проницаемости соот­ ветственно вне (наружная) и внутри поры; и — зависит от соот­ ношения осей эллипсоида с2/а2 и изменяется в пределах приблизи­ тельно от 0 до —4. Когда пора вытянута вдоль направления поля, значение к близко к нулю и напряженность поля в поре мало от­ личается от Еа в керамике. Если же пора сжата в направлении поля, то к близка к —4 и Еэ превосходит Еа примерно в еп раз.

При рассмотрении процессов ионизации в закрытых порах не следует упускать из виду того положения, что разряды происходят в диэлектрике и ионы, бомбардируя стенки таких пор, остаются на них и образуют электрическое поле обратного направления. Стенание зарядов должно определяться поверхностной про­ водимостью. Поскольку эти поверхности не соприкасаются с воз­ духом, то их электропроводность, несомненно, отличается от по­ верхностной проводимости самого образца. Кроме того, при бом­ бардировке стенок заряженными частицами возможно восстанов­ ление металлических ионов окислов. Часть стенки тогда может сделаться проводящей и разряды в порах будут происходить и при постоянном напряжении.

75

5-2. Электрические свойства некоторых радиокерамических материалов, спеченных при различных температурах

Хорошо известно, что при одинаковом сырье, неизменной тех­ нологии приготовления материала и заготовке деталей, электри­ ческие свойства керамических материалов будут изменяться в ши­ роких пределах только от изменения режима обжига. Ниже при­ водятся данные о tgö, р и Е„ѵ образцов из радиокерамических материалов, спеченных при различных температурах.

Круглые спрессованные диски при заданной конечной темпера­ туре обжига выдерживались два часа. Время подъема темпера­ туры печи и охлаждение ее после двухчасовой выдержки было одинаковым. У образцов, обожженных при 1300° С и выше, элект­ роды наносились двукратным вжиганием серебра, а у прочих ими служила алюминиевая фольга толщиной 8 мкм. Кружки из такой фольги приклеивались к керамике тончайшим слоем конденсатор­ ного вазелина. Опыты с образцами, у которых электроды из такой же фольги просто прижимались, показали, что пленки вазелина не оказывали заметного влияния на измеряемые электрические параметры.

Образцы, спеченные при температурах 1200° С и ниже, сразу после обжига помещались в эксикатор, из которого они вынима­ лись на короткое время измерений в сухой атмосфере. Для конт­ роля часть дисков с открытой пористостью перед измерениями про­ каливалась при 600-У-700°С. Некоторые образцы исследовались в эксикаторе, приспособленном для измерительных целей. При одинаковых условиях испытывались партии по 6—10 образцов.

На рис. 5-3 приведены микрофотографии образцов из рутило­ вой керамики Т-80, спеченных при различных температурах в диа­ пазоне 1200-У1400° С. У дисков, спеченных при 1200° С', полной дифференциации кристаллической фазы еще*не произошло. В тем­ ных стекловидных прослойках хорошо различаются многочислен­ ные кристаллические зародыши. По рис. 5-3, / можно заключить, что при /=1200° С только еще начинался процесс спекания раз­ молотых зерен составляющих сырьевых компонент. Однако ниже будет показано, что при этом уже образовались все элементы ос­ новной структуры.

При t= 1300°С эта дифференциация выражена более

опреде­

ленно

(рис. 5-3, II), но все же недостаточна.

Только при

1350° С

(рис.

5-3, III) произошло

четкое

разделение

на кристаллическую

и стекловидную фазы. В

случае

повышения

температуры

спека­

ния до 1400°С размеры кристаллических зерен увеличиваются (рис. 5-3, IV). Длина некоторых из них достигает нескольких сотых долей миллиметра. Для градуировки микрофотографий в нижнем правом фото IV приведен соответствующий масштаб.

На рис. 5-4 приведены рентгенограммы образцов, спеченных при 1200 и 1400° С. Из сравнения рентгенограмм видно, что они получились одинаковыми. Это должно означать, что уже при t = 1200°С образовались элементы основной структуры. При дальней­

76

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ