Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Дубовий_О._М._и_др.pdf(Материаловедение)

.pdf
Скачиваний:
51
Добавлен:
15.02.2015
Размер:
6 Мб
Скачать
☆

ЗБІРНИК ЛАБОРАТОРНИХ РОБІТ

Для забезпечення чіткого нерозмитого зображення приповерхневої структури мікрошліфів поверхня їх країв має бути такою ж плоскою, як

іповерхня центральних ділянок. Тому перед шліфуванням зразки оптимальних розмірів, особливо дрібні зразки (дріт, тонкі стрічки тощо), закріпляють у струбцинах, затискаючи гвинтами між двома пластинами, абозаливаютьупорожнистихоправкахнайчастішеакриловимичиепоксидними смолами так, щоб поверхня мікрошліфа була на одному рівні з поверхнею смоли і краєм оправки.

Шліфування. Шліфуютьвручнуабомеханічно наверстатах шліфувальнимпапером, якийрозрізняютьзатакимиознаками:

величиною частинок абразиву (150...10 мкм); матеріалом абразиву: карбід силіцію (карборунд), оксид алюмінію

(корунд), кварц, алмаз; матеріаломоснови: папір, тканина.

Шліфування розпочинають на папері з грубозернистим абразивом і, поступово зменшуючи розмір частинок абразиву, завершують шліфуваннянадрібнозернистомупапері. Щоразузізміноюпаперузразокпротирають чи промивають, змінюють напрямок шліфування на 45...90°

ішліфуютьдозникненнярисоквідшліфуваннянапопередньомупапері. Шліфування буває двох видів: ручне та механічне.

Ручне шліфування виконують на шліфувальному папері, покладеномунарівнуповерхню, рівномірнопритискаючизразокдошліфувального паперу під час робочого руху від себе. Механічне шліфування здійснюється автоматично на спеціальних шліфувальних машинах, на обертовихдискахякихзакріпляютьшліфувальнийпапір. Допаперупритискаються закріплені в затискачах зразки, які також можуть здійснювати рух за певною траєкторією.

Полірування усуває риски від шліфування на дрібнозернистому папері й робить поверхню мікрошліфа дзеркальною. Як полірувальні матеріали застосовують водні суспензії або пасти абразивних дисперсних порошків (алмазу, оксидів хрому, алюмінію, заліза). Для одержання дзеркальноїповерхнімікрошліфадостатньовикористатиполірувальний матеріалкількохрозмірівзернистості, завершуючиполіруванняпорошками розміром 1...3 мкм.

Найпоширенішимивидамиполіруванняємеханічнейелектролітичне. Механічневиконуютьнаполірувальнихверстатахзобертовимидисками, покритими тонким сукном, оксамитом чи цупким папером, на які

12

Мікроскопічний метод дослідження металів та сплавів

наносятьполірувальніматеріали. Підчасручногочиавтоматичногополіруванняпрошліфованийзразокзлегкапритискаютьдообертовогодиска. Полірування завершують після усунення всіх рисок й одержання дзеркальноїповерхніпромиваннямводою, спиртоміпросушуванняммікрошліфа.

Електролітичне полірування виконується у ванні з електролітом. Зразок, як анод, і катод з корозійностійкої сталі занурюють в електроліт та вмикають в електричне коло постійного струму. Під час електролізу відбуваєтьсяаноднерозчиненнявиступівнашліфованійповерхнізразка, що забезпечує полірування. На відміну від механічного електролітичне поліруванняменштривалейневикликаєповерхневогонаклепу, якийспотворює структуру.

Травлення. Спостереженняполірованоїповерхнімікрошліфавсвітломуполімікроскопаневиявляєжоднихелементівтаскладниківструктури, крімнеметалевихвиділеньтапорушеньсуцільностіматеріалу(тріщин, поруватостітощо). Відбивальназдатністьнеметалевихсполук– оксидів, нітридів, сульфідів, силікатів та ін. – значно менша, ніж відбивальна здатність металів. Тому в полі зору мікроскопа вони завжди темніші. Їх розрізняють за формою, розмірами, розташуванням, забарвленням.

Длявиявленнямікроструктурнихознак, невидимихпідмікроскопом наполірованійповерхні, застосовуєтьсяхімічнечиелектролітичнетравлення.

Для хімічного травлення поліровану поверхню мікрошліфа занурюють у відповідний хімічний реактив (травник) і витримують у ньому протягом певного часу (до потьмяніння й втрати блиску). Як реактиви длятравленнявикористовуютьводнічиспиртовірозчиникислот, солей, лугів. Травлення полягає в різній інтенсивності розчинення й взаємодії окремих структурних складників з травником. Різні структурні ділянки відрізняютьсязаелектроднимипотенціалами. Ділянкизбільшимиелектроднимипотенціаламистаютькатодамивідносносусідніханоднихділянок з меншими електродними потенціалами. Аноди в цих мікрогальванічних парах у середовищі електроліту, яким є травник, розчиняються утворюючивідповіднийрельєфнаповерхні(рис. 2.1,а). Післятравлення мікрошліфпромиваютьводою, спиртоміпросушують.

Електролітичне травлення виконують так само, як і електролітичнеполірування, тількизаіншимирежимами.

13

ЗБІРНИК ЛАБОРАТОРНИХ РОБІТ

Травлення змінює контраст окремих зерен, виявляє границі зерен, двійників, різніфазивнаслідокстворенняхарактерногорельєфу. Нерівності поверхні розсіюють світлові промені, виводячи їх за межі оптичної системимікроскопа приспостереженні усвітлому полі. Томучимрельєфніший структурний елемент, тим темніший він у полі зору мікроскопа

(див. рис. 2.1,б).

а

б

Рис. 2.1. Схемавиявленняструктурнихскладників унаслідоктравлення:

а– поперечний переріз уздовж штрихпунктирної лінії;

б– зображення в полі зору мікроскопа (стрілками позначено хідсвітловихпроменів)

Протравленімікрошліфиможнапевнийчасзберігативексикаторі– склянійпосудиніізщільнодопасованоюкришкоюігігроскопічноюречовиноювсередині.

Металографічний світловий мікроскоп забезпечує формування збільшених зображень структурних об'єктів у відбитому від поверхні мікрошліфасвітлі.

Роздільна здатність мікроскопа визначається найменшою відстан-

ню d між двома найдрібнішими елементами зображення структури, на якій вони ще не зливаються та їх можна розрізнити як окремі елементи. Чимбільшароздільназдатністьмікроскопа, тимнаменшійвідстаніd він розрізняєдрібніструктурніелементи. Максимальнароздільназдатність металографічнихмікроскопівскладає0,2...0,3 мкм.

Максимальне корисне збільшення мікроскопа визначається за формулою

M = Dd ,

де D, d – роздільна здатність людського ока (0,1…0,2 мкм) та мікроскопавідповідно.

14

Мікроскопічний метод дослідження металів та сплавів

Для мікроскопічних досліджень з малими збільшеннями (у 50...

...600 разів) використовується повітряне середовище між об'єктивом і об'єктом. Для досліджень з великими збільшеннями у 500...1500 разів, що потребує більшої роздільної здатності об'єктива, між ним і об'єктом розташовують імерсійну рідину (кедрову олію, гліцерин, дистильовану воду), що має більший показник заломлення, ніж повітря. Об'єктиви, придатні для роботи в повітряному середовищі, називають сухими, а об'єктиви, придатні для роботи в імерсійному середовищі, – імерсій-

ними.

Корисне збільшення мікроскопа. Надто мале збільшення окуляра не виявляє всіх здатних до виявлення дрібних елементів структури. Разом з тим надмірне збільшення окуляра не додає до дійсного зображення, створеного об'єктивом, додаткових дрібніших елементів. Тому для ефективного проведення мікроскопічного аналізу структури необхідно здійснювати оптимальний вибір збільшення, добираючи об'єктив і окуляр з відповідними параметрами.

Будова металографічного світлового мікроскопа МІМ-7. До основних систем мікроскопа належать: освітлювальна (джерело світла, конденсор, світлофільтр, діафрагми), оптична(об'єктив, окуляр, дзеркало, призми, лінзи) тамеханічна(штатив, тубус, макроімікрогвинтитощо) (рис. 2.2).

Дляроботизмікроскопомнеобхідно:

вибрати збільшення та встановити відповідно об'єктив та окуляр; установити предметний столик у такому положенні, щоб об'єктив

знаходивсявцентріотворукільця; поміститимікрошліфнастоликполірованоюповерхнеюдонизу;

спостерігаючи в окуляр 13 (39) й обертаючи макрогвинт 37, провестигрубенаведеннянафокустазакріпитистоликстопорнимпристроєм для макрогвинта 38 (точне фокусування здійснюється обертом мікрогвинта 40 у тому чи іншому напрямку);

переглянутиструктурунарізнихділянкахмікрошліфашляхомпереміщення предметного столика за допомогою гвинтів 44.

У практиці металографічних досліджень часто необхідно кількісно оцінитирозмірипевнихелементівмікроструктури: наприклад, середній діаметр зерен, частинок вторинних фаз, середню міжпластинчасту відстаньуперліті, глибинудифузійногонасиченняпісляхіміко-термічно- гооброблення, товщинугальванічногопокривутощо. Длянапівкількісного аналізурозміриоцінюютьубалах, порівнюючиструктурузістандартни-

15

ЗБІРНИК ЛАБОРАТОРНИХ РОБІТ

11

22

10

21

9

13

14

15

17

16

8

25 23

12

а

7

7

 

 

 

18

43

8 і 20

19

42

 

19

 

 

38

 

5

24

34

 

30

 

6

33

5

29

 

32

 

 

4 1

 

 

2

 

б

3

 

 

36

44

41

 

23

 

44

37

39

30

40

35

29

 

31

28

27

26

в

Рис. 2.2. МікроскопМІМ-7:

а– оптична схема; б – вигляд з боку трансформатора; в – вигляд з боку фотокамери;

1– лампа; 2 – колектор; 3, 14, 16 – дзеркала; 4, 6, 8 – лінзи; 5, 18 – апертурна й польова діафрагмивідповідно; 7 – призма; 9 – відбивальнапластинка; 10 – об'єктив; 11 – об'єкт;

12 – ахроматична лінза; 13 – окуляр; 15 – фотоокуляр; 17 – фотопластинка; 19 – затвор; 20 – лінза для роботи у темному полі; 21, 22 – відповідно кільцеве і параболічне дзеркала; 23 – заслінка (вмикається при роботі в темному полі); 24 – поляризатор; 25 – аналізатор; 26 – плита; 27, 35 – корпуси відповідно фотокамери та мікроскопа; 28 – фотокамера; 29 – ліхтар освітлювача; 30 – гвинти, які центрують лампу; 31 – диск зі світлофільтрами; 32 – ручка для повороту диска з фотоокулярами; 33 – ручка для зміщення і повороту ірис-діафрагми; 34 – гвинт, який фіксує поворот діафрагми 5; 36 – предметнийстолик; 37, 40 – макротамікрометричнийгвинтивідповідно;

38 – стопорний пристрій для макрогвинта; 39 – тубус для візуального спостереження; 41 – освітлювальний тубус; 42 – ручка для польової ірис-діафрагми; 43 – центруючий механізм; 44 – гвинтидляпереміщеннястоликаудвохвзаємноперпендикулярних напрямках

16

Мікроскопічний метод дослідження металів та сплавів

миеталоннимишкалами. Длявимірюванняабсолютнихрозмірівоб'єктів у полі зору мікроскопа користуються окуляр-мікрометром, між лінзами якого вставлено скляну пластинку з вимірювальною шкалою.

Перед початком вимірювань слід визначити ціну поділки окулярмікрометра, яказалежатимевідзбільшеннямікроскопа, тобтозбільшення окуляр-мікрометрайвибраногооб'єктива. Напредметнийстоликмікроскопа кладуть об'єкт-мікрометр – пластинку, еталонна шкала якої завдовжки 1 мм містить 100 поділок. Таким чином, ціна поділки об'єкт-

мікрометра складає 0,01 мм. Після фоку-

 

 

 

 

суваннязображенняеталонноїшкалиоб'єкт-

 

 

 

 

мікрометратавимірювальноїшкалиокуляр-

 

 

 

 

мікрометра (обертанням його оправи) їх

0

5

10

15

суміщають (рис. 2.3).

Ціну поділки окуляр-мікрометра для

 

 

 

1

 

 

 

2

вибраного збільшення визначають за фор-

0

5 10

15

20

мулою

 

 

 

 

Cок-м = Cоб-м Nоб-м ,

Nок-м

де Соб-м = 0,01 мм – ціна поділки об'єктмікрометра; Nоб-м – кількість поділок шка-

лиоб'єкт-мікрометра; Nок-м – кількістьподі- лококуляр-мікрометра.

Рис. 2.3. Схемавизначення поділкиокуляр-мікрометра:

1 – вимірювальна шкала окуляр-мікрометра; 2 – еталон- нашкалаоб'єкт-мікрометра

Порядок виконання роботи

1.Отримайтемікрошліфзаданогосплаву, протрітьнамоченоюветиловомуспиртіваткоюйогополіровануповерхнюйпросушітьїї.

2.Відповідно до завдання мікроскопічного дослідження задайте збільшеннямікроскопа.

3.За формою, забарвленням та іншими ознаками визначте тип неметалевихвиділень. Оцінітьбаламиїхкількість, розміри, розташування методомпорівняннязеталоннимишкалами відповідних стандартів. Зарисуйтехарактернуструктурунеметалевихвиділеньтазапишітьїхповнухарактеристику.

4.Протравітьмікрошліфвідповіднимтравником. Дослідітьструктуру, зарисуйтеїїтаопишіть.

5.Визначте лінійні розміри вибраного елемента структури: зерна, частинкивторинноїфази, глибинидифузійногонасиченнятощо. Виберіть

17

ЗБІРНИК ЛАБОРАТОРНИХ РОБІТ

окуляр зі шкалою і, дивлячись у нього на світло та повертаючи першу лінзу, сфокусуйте її на чітке зображення шкали. Вставте його в окулярнийтубус. Користуючисьоб'єкт-мікрометром, визначтецінуподілкиоку- ляр-мікрометра. Налаштуйтечіткезображеннявибраногоструктурного елемента. Пересуваючи гвинтами предметний столик, сумістіть об'єкт вимірювання зі шкалою. Для визначення лінійного розміру об'єкта кількість поділок окуляр-мікрометра, яку він займає, помножте на ціну поділки. Зарисуйтесхемувимірювання.

6. Напишіть звіт по роботі, в якому коротко сформулюйте мету роботи, охарактеризуйте методику мікроскопічного аналізу на металографічному світловому мікроскопі, зарисуйте й опишіть структуру нетравленогоітравленогомікрошліфівсплаву, опишітьвизначенняціниподілки окуляр-мікрометра й вимірювання лінійного розміру вибраного структурного об'єкта.

Прилади, матеріали та інструменти

Дляпроведенняроботислідматинаступне: металографічнийсвітловий мікроскоп з комплектом окулярів та об'єктивів, об'єкт-мікрометр, комплектмікрошліфів, хімічніреактивидлятравленнямікрошліфів, вата йетиловийспирт.

Контрольні запитання

1.Що досліджують методом світлової мікроскопії?

2.Охарактеризуйте оптичну систему мікроскопа.

3.Яквизначаютьзбільшенняоб'єктива, окулярайзагальнезбільшеннямікроскопа?

4.Яке практичне значення має роздільна здатність мікроскопа та як можнаїїпідвищити?

5.Що таке корисне збільшення мікроскопа та як його визначають?

6.Визначтеосновніелементиконструкціїсвітловогомікроскопа.

7.Охарактеризуйте методику вирізання й закріплення зразків для виготовленнямікрошліфів.

8.Якшліфуютьзразкивпроцесівиготовленнямікрошліфів?

9.З якою метою та як полірують мікрошліфи?

10.Пояснітьмеханізмвиявленнямікроструктурисплавівунаслідок травленняповерхні.

11.Якіреактивизастосовуютьдляхімічноготравленнямікрошліфів?

12.Яквизначаютьлінійнірозміриелементівструктури?

18

Визначення критичних точок і побудова діаграми стану "свинець–стибій"

Лабораторна робота № 3

ВИЗНАЧЕННЯ КРИТИЧНИХ ТОЧОК І ПОБУДОВА ДІАГРАМИ СТАНУ "СВИНЕЦЬ–СТИБІЙ"

Мета роботи: побудувати криві охолодження методом термічного аналізу та визначити критичні точки у сплавах Pb–Sb; побудувати діа- грамустану"свинець–стибій".

Теоретичні відомості

Прививченніструктурнихіфазовихперетвореньуматеріалознавстві (металознавстві) користуються такими поняттями: сплав, компонент, фаза, твердийрозчин, хімічнасполука, механічнасуміш.

Сплав – це речовина, яку отримують сплавленням двох і більше елементів. Можливійіншіметодиотриманнясплавів– спікання, електроліз, сублімація(уцьомувипадкуречовининазиваютьпсевдосплавами).

Компонентами називають речовини, які складають систему. Це можутьбутихімічніелементитастійкіхімічнісполуки.

Фаза – це однорідна частина системи, відокремлена від інших поверхнеюподілу, припереходічерезякурізкозмінюютьсяхімічнийсклад і властивості.

Система – це тіло (речовина) або група тіл (речовин), які взаємодіють (стикаються).

Тверді розчини – це фази змінного складу, в яких атоми іншого елемента В розміщуються в ґратках елемента А, не змінюючи їх типу. Розміщення відбувається заміщенням або проникненням атомів В між вузламиґратокА. Упершомувипадкурозчининазиваютьтвердимирозчинами заміщення, у другому – твердими розчинами проникнення. Для твердихрозчинівхарактернийметалічнийтипзв'язку.

Хімічна сполука характеризується певним співвідношенням компонентівіновимикристалічнимиґратками, яківідрізняютьсявідкристалічних ґраток компонентів, що входять до даної хімічної сполуки. Вона виражається певною хімічною формулою, має свою температуру плавленняйіншівластивості.

Поняття про діаграму стану. Діаграма стану для сплавів – гра-

фічнезображеннярівноважногостанусплавівузалежностівідтемператури і концентрації. Вигляд діаграми стану залежить від того, як реагують компоненти один з одним у твердому і рідкому станах, тобто чи

19

ЗБІРНИК ЛАБОРАТОРНИХ РОБІТ

розчиняються вони у твердому й рідкому станах, чи утворюють хімічні сполукиіт. д. Діаграмастанудлясплавів, щоутворюютьмеханічнісуміші ізчистихкомпонентів, показананарис. 3.1.

t, °C СплавI

СплавII

СплавIII

 

 

 

 

 

 

 

 

 

B

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

A

 

 

 

 

 

 

L

 

 

 

 

 

 

 

 

 

L +B

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

b

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

a

 

 

 

c

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

C

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

D

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

L + A

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

E

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

A

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3 b

3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

B

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

B, %

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

100

Рис. 3.1. Діаграмастанусплавівевтектичноготипу

Компоненти– речовиниАіВ. Фази– рідинаL, кристаликомпонентівА і В. Лінія АСВ (лінія початку кристалізації) називається лінією ліквідусу, лінія DСЕ (кінець кристалізації) – солідуса. На лінії АС починають (приохолодженні) виділятисякристалиА. НалініїВСЕзрідиниконцентрації С одночасно виділяються кристали А і В. Механічна суміш двох абобільшевидівкристалів, щоодночаснокристалізуютьсязрідини, називається евтектикою. Сплав, який має концентрацію компонентів, що відповідаєевтектиці, називаєтьсяевтектичним. Сплавизконцентрацією компонента менше від евтектики називаються доевтектичними, а більше – заевтектичними.

ДляхарактеристикидоевтектичнихсплавіврозглянемосплавІ(див. рис. 3.1). Крива охолодження (побудована в координатах температура– час t–τ) для цього сплаву наведена на рис. 3.2,а.

В інтервалі температур 0–1 проходить процес охолодження рідкого сплаву. У точці 1 із рідкого сплаву починають виділятися кристали А. Процес виділення кристалів А проходить в інтервалі температур 1–2, прицьому концентрація компонента Ву рідкому сплаві непостійна інаближаєтьсядоевтектичної. Уточці2 концентраціякомпонентаВурідко-

20

Визначення критичних точок і побудова діаграми стану "свинець–стибій"

мусплавівідповідаєпроекціїточкиСірідина, щозалишилася, кристалізуєтся з утворенням евтектики (ділянка 2–2' на кривій охолодження). Вінтервалітемператур2–3 охолоджуєтьсятвердийсплав, щомаєструктуру кристалів А та евтектику (А + В).

t, °С

CплавІ

t, °С

CплавІІ t, °С

0 CплавІІІ

 

0

 

 

0

 

1

 

 

1

 

 

 

 

2

2'

 

2

2'

 

2

2'

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3

 

3

 

3

 

 

τ, хв

 

 

τ, хв

 

τ, хв

1–2

2–2'

2'–3

1–2

 

2'–3

A L А+B A А+B A

B

L

А+B

 

 

 

 

B

 

 

 

 

 

 

а

 

б

в

 

 

Рис. 3.2. Кривіохолодженнясплавів:

 

а– доевтектичного; б– евтектичного; в– заевтектичного

КривіохолодженнядлясплавівII, III наведенінарис. 3.2,б,в. Упроцесі кристалізації змінюються концентрації фаз і кількість кожної фази (кількість твердої фази збільшується, рідини – зменшується). У будьякій точці діаграми, коли в сплаві одночасно існують дві фази, можна визначати кількість обох фаз та їхні концентрації. Для цього застосовуютьправиловідрізків. Длятогощобвизначитиконцентраціюкомпонентів у кожній фазі будь-якої двофазної області, через точку, що характеризує стан сплаву, проводять горизонтальну лінію до перетину з лініями, які обмежувалидануобласть; проекціїточокперетинунавіськонцентрацій показують склад фаз. Отже, для сплаву III (див. рис. 3.1) при температурі, що відповідає лінії bас, склади обох фаз визначаються проекціями точок b і с.

Длятогощобвизначитикількіснеспіввідношенняфаз, череззадану точкупроводятьгоризонтальнулінію. Відрізкицієїлініїміжзаданоюточкою і точками, що визначають склад фаз, обернено пропорційні кількостям цих фаз.

21