Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

ИДЗ_2_Зикратова_31

.docx
Скачиваний:
8
Добавлен:
09.08.2023
Размер:
242.29 Кб
Скачать

МИНОБРНАУКИ РОССИИ

Санкт-Петербургский государственный

электротехнический университет

«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)

Кафедра МНЭ

ИДЗ №2

по дисциплине «Методы анализа структур электроники и микросистемной техники»

Тема: ПРОВЕДЕНИЕ АНАЛИЗА МЕТОДОМ РСМА И МОДЕЛИРОВАНИЕ СПЕКТРА ВЫДАННОГО ОБРАЗЦА

Вариант 31

Студентка гр. 9282

Зикратова А. А.

Преподаватель

Андреева Н. В.

Санкт-Петербург

2023

Цель работы: проведение анализа методом РСМА и моделирование спектра TlIn0,94Yb0,06Te2.

Моделирование спектра образца

Пусть энергия электронного пучка E0 = 40 кэВ, разрешение детектора Δ ≈ 150…200 эВ

1) Качественный спектр TlIn0,94Yb0,06Te2

XKα = Eсв(K) - Eсв(L3) XKβ = Eсв(K) - Eсв(M3)

XLα = Eсв(L3) - Eсв(M5) XLβ = Eсв(L2) - Eсв(M4)

XMα = Eсв(M5) - Eсв(N7) XMβ = Eсв(M4) - Eсв(N6)

Пример расчёта:

YbKα = Eсв(K) - Eсв(L3) = 61332 – 8943 = 52389 эВ

TeLβ = Eсв(L2) - Eсв(M4) = 4612 – 582 = 4030 эВ

TlMα = Eсв(M5) - Eсв(N7) = 2390 – 118 = 2272 эВ

Значения энергий переходов для K, L, M – серий для элементов, входящих в исследуемый образец, сведены в таблицу 1:

Рис. 1 – Качественный спектр излучения образца для α- и β-линий

2) Количественный спектр TlIn0,94Yb0,06Te2

Расчёт атомных процентов (долей):

= = = 0,25

= = = 0,235

= = = 0,015

= = = 0,5

Пример расчёта сечений ударной ионизации, размера области генерации и интенсивности:

σ(InK) = = ≈ 5,82*10-7 А2

σ(YbL3) = = ≈ 1,82*10-6 А2

Rхри(TlM5) = * ( = * ( ≈ 4 мкм

Y(TlMα) = N(Tl)* σ(TlM5)*ω(TlM5)* Rхри(TlM5) = 0,25*6,81*10-6*0,021*3,99*

*104 ≈ 0,001429

Параметры для построения спектра сведены в таблицу 2:

Глубина проникновения электронного пучка:

R = * = * ≈ 4,03 мкм

На основании таблицы 2 построен спектр излучения образца:

Рис. 2 – Количественный спектр излучения образца для α-линий

Вывод: в ходе данной работы были смоделированы качественный и количественный спектры образца TlIn0,94Yb0,06Te2

Соседние файлы в предмете Методы анализа структур электроники и микросистемной техники