 
        
        ИДЗ_1_Зикратова_14
.docxМИНОБРНАУКИ РОССИИ
Санкт-Петербургский государственный
электротехнический университет
«ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина)
Кафедра МНЭ
ИДЗ №1
по дисциплине «Методы анализа структур электроники и микросистемной техники»
Тема: ВОССТАНОВЛЕНИЕ ПОВЕРХНОСТНОЙ СТРУКТУРЫ ПО ДИФРАКЦИОННОЙ КАРТИНЕ
Вариант 14
| Студентка гр. 9282 | 
 | Зикратова А. А. | 
| Преподаватель | 
 | Андреева Н. В. | 
Санкт-Петербург
2023
Цель работы: определить параметры и тип поверхностной структуры из дифракционной картины
Задание: a0 = 1.41421, b0 = 1 – параметры прямой решётки подложки, угол можно выбрать произвольно (350 или 1450)
 
Рис. 1 – Исходная дифракционная картина подложки с поверхностной структурой
На рис 1. обозначены рефлексы подложки – окружности с бОльшим радиусом, рефлексы поверхностной структуры – окружности с меньшим радиусом.
 =
= 
 ,
,
 =
= 
 – параметры
обратной решётки подложки
– параметры
обратной решётки подложки
 
b0*
a0*
b1*
a1*
	 b0*
b0*
	 b0*
b0*
	 a0*
a0*
 
 
 
 
 
 
Рис. 2 – Исходная дифракционная картина с обозначенными базисными векторами обратной решётки подложки и поверхностной структуры
1) Разложение базисных векторов обратной решётки плёнки по базисным векторам обратной решётки подложки (исходя из рис. 2):
 → M*
=
 → M*
= 
 – матрица коэффициентов разложения
обратной решётки
– матрица коэффициентов разложения
обратной решётки
2) Нахождение обратной матрицы коэффициентов разложения обратной решётки (M*-1):
 →
→ 
 →
→ 
 →
→ 
 
M
= M*-1
= 
 - матрица коэффициентов разложения
прямой решётки
- матрица коэффициентов разложения
прямой решётки
Проверка:
 M*
* M*-1
= 
* 
= 
 =
= 
 
Разложение базисных векторов прямой решётки плёнки по базисным векторам прямой решётки подложки:
M
= 
→ 
 
3) Определение типа поверхностной структуры:
detM
= 
 +
+
 =
= 
 ≈ 0,5 =
≈ 0,5 = 
 – отношение 2-х целых несократимых чисел
→ соизмеримая структура, плёнка с
подложкой имеет общую периодичность
(есть совпадающие рефлексы)
– отношение 2-х целых несократимых чисел
→ соизмеримая структура, плёнка с
подложкой имеет общую периодичность
(есть совпадающие рефлексы)
4) Построение прямых решёток подложки и поверхностной структуры:
Угол между 
 и
и 
 :
π - 350
:
π - 350
 
 
a0
b0
	 a0
a0
	 a0
a0
a1
b1
	 b0
b0
	 b0
b0
 
Рис. 3 – Построение элементарных ячеек подложки и плёнки
 
 
 
 
 
 
Рис. 4 – Восстановленные структуры подложки и плёнки
- а томы подложки, - атомы плёнки 
Вывод: в данной работе была восстановлена кристаллическая структура плёнки по дифракционной картине.
