Добавил:
2200 7008 9480 6099 TKFF БЛАГОДАРНОСТЬ МОЖНО ТУТ ОСТАВИТЬ Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

laba_5(МЭТ-ГОТОВА)

.docx
Скачиваний:
2
Добавлен:
27.05.2023
Размер:
604.34 Кб
Скачать

Министерство цифрового развития, связи и массовых коммуникаций Российской Федерации

Ордена Трудового Красного Знамени федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования

«Московский технический университет связи и информатики»

Кафедра Электроники

Отчёт по Лабораторной работе №5

На тему: «Влияние концентрации примеси на параметры контакта двух полупроводников»

Выполнил:

Студент группы БРТ-2102

Епифанов Георгий Юрьевич

Доронина Анжела

Проверила:

Преподаватель

Каравашкина Валентина Николаевна

Москва 2022 г.

Цель работы: Исследование зависимости основных характеристик идеализированного p-n перехода от концентрации примеси.

Собственное электрическое поле p-n перехода характеризуют контактной разностью потенциалов ϕk0. В идеализированном p-n переходе:

T - температура

– собственная концентрация

NA, NД – концентрации примесей

Где собственная концентрация:

где NC, NV – эффективные плотности состояний,

ϕЗ – ширина запрещенной зоны.

ϕТ - термический потенциал

Протяженность приграничных областей с нескомпенсированными ионами примесей называют толщиной p-n перехода w. Для идеализированного p-n перехода:

εε0диэлектрическая проницаемость полупроводника, q – элементарный электрический заряд.

Анализ процессов в идеализированном p-n переходе приводит к так называемой формуле Шокли или теоретической ВАХ:

где I0 – тепловой ток (ток насыщения), I и U – ток и напряжение перехода. Величина I0 определяет величины Iпр и Iобр не только идеализированного, но и в значительной степени реального p-n перехода. Для идеализированного p-n перехода:

,

где D – коэффициент диффузии, S – площадь p-n перехода,

L – диффузионная длина, Nб – концентрация примеси в базе.

Значения I0 изменяются в больших пределах в зависимости от типа полупроводника, площади, особенностей изготовления и температуры p-n перехода.

В зависимости от толщины p-n перехода в нём возникает лавинный или, в очень тонких p-n переходах, туннельный пробой. Напряжение лавинного пробоя Uпроб.л можно рассчитать по приближенной формуле:

Напряжение туннельного пробоя Uпроб.т определяется выражением:

Для идеализированного p-n перехода в отсутствие напряжения барьерная ёмкость определяется соотношением:

Исходные данные

Тип п/п

Si

S, см2

3*107

Характеристики p-n перехода

Исходный вариант

Nб*20

Nб *40

Nб *60

Nб *80

Nб *100

NA, см–3

3*1016

6*1016

12*1016

18*1016

24*1017

3*1017

NД, см–3

3*1018

3*1018

3*1018

3*1018

3*1018

3*1018

Результаты при Т = 300 К

ϕk0, В

8,12E-1

8,6E-1

9E-1

9,1E-1

9,2E-1

9,3E-1

w, мкм

5,9E-1

1,4E-1

1E-1

8,5E-2

7,4E-2

6,7E-2

I0, А

2E-21

2,7E-22

2,8E-22

2,88E-22

2E-22

1,7E-22

Uпроб.л., В

4,7E+1

4,98

2,9

2,1

1,7

1,4

Uпроб.т., В

9,9E+1

4,97

2,4

1,6

1,24

9,9E-1

Сб0, Ф

5,8E-13

2,27E-14

3,1E-14

3,87E-14

4,35E-14

4,36E-14

P-N переход

Исходные данные

Тип п/п

Si

S, см2

3·107

Характеристики p-n перехода

Исходный вариант

N*20

N*40

N*60

N*80

N*100

NД =NA, см–3

3·1015

6·1016

12·1016

18·1016

24·1016

3·1017

Результаты при Т = 300 К

ϕk0, В

6,3E-1

7,8E-1

8,24E-1

8,45E-1

8,6E-1

8,7E-1

w, мкм

7,4E-1

1,8E-1

1,3E-1

1,11E-1

9,7E-2

8,7E-2

I0, А

1,6E-21

3,2E-22

2,2E-22

1,8E-22

1,5E-22

1,3E-22

Uпроб.л., В

4,7E+1

4,98

2,9

2.1

1,76

1,4

Uпроб.т., В

9,9E+1

4,97

2,4

1,6

1,24

9,9E-1

Сб0, Ф

6E-15

2,4E-14

3,3E-14

4E-14

4,6E-14

5,1E-14

Вывод:

В ассиметричном переходе увеличение концентрации примеси в базе уменьшает напряжение пробоя и увеличивает барьерную емкость

В симметричном переходе увеличивается тепловой ток, напряжение пробоя и увеличивается барьерная емкость

Зависимость контактной разности потенциалов от концентрации примесей в обоих случаях экспоненциальная

Соседние файлы в предмете Материалы электронной техники