
Твердотельная электроника.-3
.pdf
366
Рисунок 5.23. Упрощенная эквивалентная схема (а)
(Rr - внутреннее сопротивление генератора напряженияUBX; Rн - сопротивление нагрузки; RД - отрицательное дифференциальное сопротивление туннельного диода) и графическое пояснение работы (б) усилителя на туннельном диоде(1 - вольтамперная характеристика нагрузки; 2 - вольтамперная характеристика туннельного диода: 3 - суммарная вольтамперная характеристика схемы).
При выборе рабочей точки Р на падающем участке суммарной вольтамперной характеристики схемы небольшие изменения входного напряжения UB X приводят к значительным изменениям тока в цепи и напряжения на выходе
(на сопротивлении RН).
Большинство практических схем усилителей на туннельных диодах - резонансного типа. Одна из возможных схем такого усилителя приведена на рис. 5.24. Колебательный контур здесь образован катушкой индуктивности L1 и емкостью Сд диода. Батарея G1 совместно с резисторами RБ и R1 задает рабочую точку по постоянному току. Дроссель L6 блокирует источник питания по переменному току.
Современные усилители на туннельных диодах работают до частот порядка десятков гигагерц ( l » 1см ).
Туннельный диод в схеме генератора. Генераторы гар-
монических колебаний на туннельных диодах отличаются простотой схемы, малыми габаритами и массой, высокой экономичностью.

367
Рисунок 5.24. Принципиальная схема усилителя на туннельном диоде
Наиболее полно преимущества туннельного диода удается использовать в генераторах диапазона СВЧ, особенно на частотах выше 1 ГГц, где из-за невозможности использования транзисторов приходилось использовать сложные, громоздкие и неэкономичные генераторы на клистронах, лампах бегущей и обратной волны и др. Современные туннельные диоды позволяют генерировать электрические колебания с частотами до 100 ГГц.
Применение туннельного диода в схемах генераторов объясняется тем, что с помощью отрицательного сопротивления туннельного диода можно компенсировать потери в колебательном контуре и получить в нем незатухающие колебания.
Простейшая схема генератора на тунн ельном диоде приведена на рис.5.25.
RД
С1L1
VД Сб
- Е +
Рисунок 5.25. Схема генератора на туннельном диоде
Туннельный диод как переключатель. Переключающей схемой называется такая схема, электрическое состояние которой резко изменяется под воздействием относительно ма-

368
лого электрического сигнала. В основе большинства переключающих схем на туннельных диодах лежит цепь, представляющая собой последовательное соединение туннельного диода с другими элементами. Пример такой цепи показан на рис.5.26,а. В отсутствие переменного входного сигнала под действием внешнего напряжения Е в цепи диода те-
чет постоянный ток I0, а на диоде действует постоянное напряжение U1 = E - I0 R1 . При подаче переменного сиг-
нала в зависимости от его полярности ток в цепи будет либо уменьшаться на величину i, либо увеличиваться на ту же величину. При токе (I0-i) на диоде будет действовать напряжение U2 (рис. 5.26), а при токе (I0+i) напряжение будет равно U3, затем по мере уменьшения тока напряжение на диоде упадет доU4 и потом скачком изменится до U1. В результате при отрицательном напряжении сигнала напряжение на диоде(и на выходе) будет равно U2, а при положительном значении - U3, причем U3
> > U2.
Эта резкая разница между величинами напряжений на выходе и позволяет рассматривать туннельный диод как прибор с двумя устойчивыми состояниями, т.е. электронный ключ.
Переход из одного устойчивого состояния в другое совершается очень быстро – за время порядка 10-9 ¸ 10-8 с, в связи с чем туннельные диоды широко используются в быстродействующих вычислительных машинах в схемах триггеров, заминающих ячеек, логических элементов и т.д.
Рисунок 5.26. Применение туннельного диода в режиме ключа: а – схема, б – графическое пояснение работы

369
Обращенные диоды
Обращенным называют диод на основе полупроводника с критической концентрацией примесей, в котором проводимость при обратном напряжении вследствие туннельного эффекта значительно больше, чем при прямом напряжении.
При концентрациях примесей в -ри n-областях диода, меньших, чем в туннельных диодах, но больших, чем в обычных выпрямительных диодах, можно получить диод, энергетическая диаграмма которого показана на рис.5.27, а. Уровень Ферми при такой средней концентрации примесей может быть расположен на потолке валентной зоны p-области и на дне зоны проводимости n-области диода, т.е. потолок валентной зоныp-области и дно зоны проводимости n-области при нулевом смещении на диоде находятся на одной высоте по энергетической диаграмме.
Обратная ветвь ВАХ обращенного диода аналогична обратной ветви ВАХ туннельного диода, так как при обратных напряжениях происходит туннелирование электронов из валентной зоны р-области в зону проводимостиn-области. Поэтому обратные токи в обращенных диодах оказываются большими при -ни чтожно малых обратных напряжениях (десятки милливольт).
Прямая ветвь ВАХ обращенного диода аналогична прямой ветви ВАХ обычного выпрямительного диода, так как при прямых напряжениях на обращенном диоде прямой ток может быть образован только в результате инжекции носителей заряда через потенциальный барьер p-n перехода.
Рисунок 5.27. Энергетическая диаграмма (а) и ВАХ (б) об
370
Но заметная инжекция может наблюдаться только при прямых напряжениях в несколько десятых долей вольта. При меньших напряжениях прямые токи в обращенных диодах оказываются меньше обратных (рис. 5.27, б).
Таким образом, обращенные диоды обладают выпрямляющим эффектом, но пропускное (проводящее) направление у них соответствует обратному включению, а запирающее (непроводящее) — прямому включению.
Из принципа действия обращенных диодов ясно, что они, вопервых, способны работать на очень малых сигналах. Во-вторых, должны обладать хорошими частотными свойствами, так как туннелирование — процесс малоинерционный, а эффекта накопления основных носителей при малых прямых напряжениях практически нет. Поэтому обращенные диоды можно использовать на СВЧ. В-третьих, из-за относительно большой концентрации примесей в прилегающих кp-n переходу областях обращенные диоды оказываются мало чувствительными к воздействиям проникающей радиации.
5.8. Фотодиоды
Фотодиод — это фотогальванический приемник излучения без внутреннего усиления, фоточувствительный элемент которого содержит структуру полупроводникового диода.
Принцип действия фотодиода. Действие фотодиода осно-
вано на фотогальваническом эффекте — появлении тока при включении фотодиода в электрическую цепь в результате разделения фотоносителей электрическим полем ОПЗp-n перехода.
Поглощение квантов оптического излучения вp-n переходе сопровождается генерацией электронно-дырочных пар. Если излучение поглощается в квазинейтральныхn- или р- областях на расстоянии, меньшем диффузионной длины, то электроны и дырки достигают p-n-перехода. Потенциальный барьер перехода способствует перемещению электронов из р-области в n-область и дырок в обратном направлении. Если излучение поглощается в ОПЗ, то электроны переносятся
в n-область, а дырки в p-область. В рабочем состоянии к фо-

371
тодиоду приложено напряжение в обратном направлении
(рис.5.28).
Рисунок 5.28. Схема включения фотодиода (а) и его ВАХ (б)
Воздействие света вызывает протекание помимо темнового тока, равного току насыщения для узкозонных полупроводников (InSb, Ge), фототока Iф , который по направле-
нию совпадает с током насыщения. Так как из n- и р- областей в ОПЗ уходят неосновные носители заряда, то они увеличивают обратный ток перехода, ибо именно он образуется за счет неосновных носителей.
При прямом направлении напряжения электрическое поле в ОПЗ не изменяется по направлению, поэтому направление
фототока также остается постоянным и противоположным темновому току. Вольтамперная характеристика фотодиода описывается уравнением
|
qU |
|
|
I = IS (e |
kT |
-1) - Iф |
(5.23) |
Пусть излучение поглощается в р-области таким образом, |
|||
что произведение aw > 1, т. е. интенсивность |
света быстро |
спадает у поверхности, a Ln > w , поэтому почти все фотоно-
сители достигают p-n перехода. При обратном направлении напряжения перенос фотоносителей тождествен переносу неосновных носителей, образующихся в результате термогенерации в р-области, поэтому плотность фототока
|
372 |
|
|
jф = qgw , |
(5.24) |
||
где объемная скорость генерации фотоносителей g = |
bФ |
. |
|
|
|||
|
|
w |
|
Следовательно, Iф = qbФA , |
(5.25) |
||
где Ф – световой поток, |
|
|
|
b- квантовый выход,
А– площадь p-n-перехода,
w - толщина полупроводника
Это выражение получено в предположении, что все фотоносители достигают р—п перехода и дают вклад в обратный ток.
Для узкозонных полупроводников ВАХ фотодиода при собственном поглощении в приповерхностной области и выпол-
нении условия Ln > w описывается уравнением (5.23), где
Iф определяется формулой (5. 2 5). Для широкозонных полу-
проводников (Si, GaAs, GaP) преобладает обратный темновой
ток генерации носителей в ОПЗ. |
|
||||
I |
RG |
= qn d |
A |
|
(5.26) |
|
|||||
|
i |
2t |
|
||
|
|
|
|
поэтому уравнение ВАХ при обратном направлении напряжения имеет вид
Iобр = -qA(nid / 2t + bФ). |
(5.27) |
Характеристики и параметры. На рис. 5.29,б. показаны ВАХ фотодиода на основе узкозонного полупроводника. При отсутствии освещения обратный ток равен току насыщения. При освещении он возрастает и тоже практически не зависит от напряжения. Темновая ВАХ проходит через начало координат. При освещении ВАХ сдвигается по оси обратных токов, даже при отсутствии внешнего напряжения на фотодиоде через него протекает обратный ток вследствие проявления фотогальванического эффекта. Рабочий режим фотодиода соответствует принципиальной электрической схеме, показанной на рис. 5.28,а, с внешним источником напряжения, приложенного к

373
фотодиоду в запирающем направлении. Этот режим называют фотодиодным, рабочая область ВАХ фотодиода расположена в третьем квадранте рис. 5.28,б.
Зависимость фототока от потока излучения называют световой или энергетической характеристикой фотодиода. В отличие от фоторезисторов, фототок фотодиодов линейно зависит от потока излучения при обычных уровнях освещенности
Iф = SiФ |
(5.28) |
( Si — интегральная |
фоточувствительность), вследствие того, |
что при Ln > w почти все неосновные фотоносители, обра-
зовавшиеся в р-области, дают вклад в фототок. Спектральная характеристика фотодиода (рис.5.29) по-
казывает зависимость чувствительности от длины волны. Граница спектральной характеристики со стороны больших длин волн определяется шириной запрещенной зоны, а коротковолновая граница зависит от толщины облучаемой области и скорости поверхностной рекомбинации. Положение максимума спектральной характеристики зависит от скорости возрастания коэффициента поглощения с уменьшением длины волны.
Iф ,%
Iф max
l, мкм
Рисунок 5. 29. Спектральные характеристики фотодиодов на основе германия и кремния
При более быстром возрастанииa максимум лежит ближе к длинноволновой границе и слабо зависит от толщины облучаемой области.
Преимуществом фотодиодов по сравнению с фоторезисторами является их быстродействие. Если фотодиод освещать
374
модулированным светом, то фототок появляется только после |
|
||||||
того, как фотоносители достигают р-n перехода. Так как ге- |
|
||||||
нерация |
|
1 |
носителей |
происходит |
в |
слое- |
т |
ной x |
= |
<< w , то время |
диффузии электронов через |
р- |
|
||
|
|
||||||
0 |
|
a |
|
|
|
|
область |
tn = |
w2 |
|
(5.29) |
|
2Dn |
|||||
|
|
|
|||
Вследствие уменьшения градиента концентрации фото- |
|||||
носителей |
по мере их |
продвижения pк-n переходу, скорость |
диффузии фотоносителей уменьшается во время воздействия светового импульса. Поэтому и нарастание, и спад фототока происходят постепенно и тем сильнее, чем толще р-область, так как при этом увеличивается вклад от разброса скоростей фотоносителей. С увеличением частоты следования импульсов фронт нарастания фототока накладывается на фронт спада фототока от предыдущего импульса. При некоторой частоте фотодиод не успевает различать отдельные импульсы света
— фототок через него становится практически постоянным. При одинаковых толщинах освещаемых областей предельная частота больше у фотодиода с освещаемой р-областью, так как Dn>Dp. Быстродействие фотодиодов в сильной степени определяется возможностями технологии. Получить толщину освещаемой области менее30 ¸ 50 мкм методом сплавления затруднительно, тогда как с помощью диффузии она получается не толще 3 ¸5 мкм, поэтому различие в постоянной времени и быстродействии таких фотодиодов составляет почти
100 раз.
Для повышения быстродействия фотодиодов применяют диффузионные p-i-n структуры с тонкой р-областью, тогда излучение поглощается вi-слое. Высокое быстродействие имеют фотодиоды с переходом Шоттки. Излучение проходит через полупрозрачную металлическую пленку и поглощается в ОПЗ полупроводника. Инерционность фотодиода Шоттки определяется перезарядкой барьерной емкости и временем
пролета ОПЗ: t = d /umax , где для германия и кремния максимальная скорость движения носителей в электрическом поле

375
umax » 5 ×106 см / c и t »10-10 c . Использование узкозонных материалов (InAs, InSb) позволяет сдвинуть длинноволновую границу спектральной характеристики в область4,5 ¸ 5,5 мкм. Для работы этих фотодиодов необходимо охлаждение. На рис. 5.30 показаны конструкции фотодиодов типа ФД-3 и ФД-2.
кристалл
кремния
p-n переход
Рисунок 5.30. Фотодиоды типа ФД-3 (а) и ФД-2 (б)
Широкое применение фотодиодов обусловлено чувствительностью их в видимой, УФ и ИК областях спектра, высоким быстродействием, низкими шумами, долговечностью. Основное применение фотодиоды находят в вычислительной технике в устройствах ввода и вывода информации, фотометрии, автоматике. Перспективно применение фотодиодов в оптоэлектронике.
5.9. Светодиоды
Светоизлучающим диодом (СИД) называют полупроводниковый диод, в котором осуществляется непосредственное преобразование электрической энергии в энергию светового излучения (видимого или инфракрасного) за счет рекомбинации электронов и дырок. В обычных диодах процесс рекомбинации заканчивается выделением энергии в виде квантов тепловых колебаний решетки(фононов) и является безызлучательным. Такую рекомбинацию называют фононной. В струк-