Методы неразрушающего контроля и диагностики

контроль параметров» / Дряхлушин В.Ф., Вейко В. П., Вознесенский Н. Б. // Квант. Электроника. – 2007. – Т. – 37. – Вып. 2 – С. 193-203.

14 Фишер Х. Конфокальная рамановская спектроскопия и атомно-силовая микроскопия для анализа гетерогенных материалов / Фишер Х., Шмит У., Диинг Ч. // Наноиндустрия – научно-технический журнал. Контроль и измерения. – URL: https://www.nanoindustry.su/files/article_pdf/1/article_1815_699.pdf (дата обращения: 04.02.2022). − Режим доступа: свободный.

15 Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии: учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений. − Нижний Новгород: Изд-во ИФМ РАН, 2004. – 114 с.

21