
- •Технология сращивания протонированных пластин кремния с поверхностью гидрофильных подложек с целью получения структур кремний на изоляторе
- •Содержание
- •Введение
- •Преимущества структур кни перед структурами на основе объемного кремния
- •Перспективы применения структур "кремний на изоляторе" (кни)
- •2. Экспериментальные данные по очистке и окислению стандартных пластин кремния
- •2.1 Очистка пластин кремния в процессах полупроводникового производства
- •2.2 Окисление пластин кремния и германия
- •2.3. Процесс окисления кремния в структурах кни
- •2.4. Синергетический подход к процессу окисления
- •Вводя обозначения
- •2.5. Возможность синергетического подхода к эволюции свойств структур кни
- •3. Теоретическое обоснование метода протонирования стандартных пластин
- •4. Физико-химические основы smurt-cut технологий
- •4.1.Стадия ядрообразования
- •Стадия роста
- •4.3. Стадия слипания
- •4.4. Отщепление
- •7. Технология гёзеля-тонга связывания гидрофильных пластин во влажных условиях (включая возможность использования химической сборки поверхности методом молекулярного наслаивания)
- •8. Экспериментальные данные по технологИи газового скалывания получения структур кни c использованием методов термообработки поверхности во влажных условиях
- •9. Рассмотрение технологии процессов обработки
- •Поры для случая SiO2// SiO2 связывания пластин
- •Состояние сращенных пластин
- •9.3. Плоскостность пластин
- •9.4. Утончение и полировка сращенных пластин
- •9.5. Микродефекты сращенных структур
- •10. Радиационные свойства smart-cut структур кни
- •E.P. Prokop'ev, s.P.Timoshenkov. Possible synergetic approach to problem of silicon oxidation. Abstracts of Int. Conf. On Thin Films (12 th). Bratislava, Slovakia. 01.09.02 – 06.09.02. В печати.
2.2 Окисление пластин кремния и германия
Поверхности кремния и германия, подвергнутые описанной выше очистке, содержат тонкий естественный слой оксида (толщиной ~1-2 нм). Для получения поверхности с толщинами оксида порядка 1 мкм необходима специальная стадия термического окисления, выполняемая в диффузионной печи при температурах около 11500 С с помощью высокотемпературных реакций с сухим или влажным кислородом. Эти процессы окисления хорошо исследованы и широко используются в электронной промышленности.
Главное внимание нами было уделено рассмотрению процесса термообработки для сращивания пластин кремния и германия во влажных условиях (включая использование химической сборки поверхности методом молекулярного наслаивания).
2.3. Процесс окисления кремния в структурах кни
При сращивании пластин кремния в атмосфере кислорода следует учитывать наряду с процессами типа (1) процессы окисления поверхностей сращиваемых пластин. Процесс окисления кремния имеет фундаментальное значение в микроэлектронике [20]. Поэтому исследованиям этого процесса посвящено множество экспериментальных и теоретических работ. Установлено, что процесс окисления кремния в атмосфере кислорода является сложным и многостадийным. В феноменологическом приближении, основанном на термодинамических расчетах, процесс окисления в пренебрежении диссоциативными реакциями кислорода характеризуется брутто-рекциями [34]
(1)
(2)
и
(3)
(4)
Сразу
же отметим, что реакцией типа (1) можно
пренебречь во всем интервале температур
окисления (800 ÷1600 К) и давлениях кислорода
вплоть до 10-9
атм, так как парциальное давление
ничтожно мало. Термодинамический анализ
реакций (1)-(4) и экспериментальные
исследования позволяют заключить, что
при относительно низких температурах
и достаточно высоких парциальных
давлениях кислорода скорость образования
двуокиси кремния по реакции (2) намного
превышает скорость ее восстановления
до моноокиси, и на поверхности кремния
образуется термодинамически стабильная
пленка
(кристаллическая
или стеклообразная). При достаточно
высоких температурах и низких парциальных
давлениях кислорода скорость образования
по реакции (3) значительно превышает
скорость образования
по реакции (2). В этом случае
отводится от поверхности окисления в
газовую фазу, а пленка
не растет вовсе, то есть наблюдается
активная фаза процесса окисления.
Выделяющейся газ
окисляется на поверхности по реакции
(4). Если на поверхности выращен толстый
слой
,
а затем образец нагрет до высоких
температур в вакууме, то по реакции (4)
диссоциирует
на
и
со скоростью, определяемой скоростью
газофазного переноса молекул
и
от
реакционной поверхности раздела. Таким
образом, концентрация
в
системе
-
-
-
испытывает
осцилляции.
2.4. Синергетический подход к процессу окисления
В
этой связи интересно рассмотреть
практически важный случай процесса
окисления кремния, протекающего вдали
от термодинамического равновесия, когда
исходные продукты (и
)
«подводятся», а продукты реакции
(например,
)
«отводятся». Покажем ниже, что в этом
случае к процессу окисления кремния в
атмосфере кислорода возможен
синергетический подход [35-38].
Допустим,
что концентрации атомов Si
и молекул
и
и
константы скоростей
и
поддерживаются
постоянными. Обозначим концентрации
этих реагентов
Согласно (2)-(4), скорости реакций
могут быть записаны в виде
(5)
(6)
(7)
Согласно
(2)-(4) и (5)-(7) полное изменение
во времени
равно сумме полных скоростей реакций
,
так что
+
+
=
(8)
Изменяя в (8) соответствующим формальным образом единицы измерения времени и концентрации, можно записать
(9)