8.2.4. Система временной регулировки чувствительности (врч)

Система ВРЧ современного микропроцессорного дефектоскопа весьма эффективно выравнивает чувствительность по зоне контроля. Ее использование ограничивается иногда тем, что изготовители дефектоскопов в инструкциях по эксплуатации описывают способы настройки системы ВРЧ только по образцам. Однако существуют методики, позволяющие настраивать систему ВРЧ и без образцов. Схема, поясняющая пример такой методики, приведена на рис. 8.7.

Рис. 8.7. Пример схемы для настройки системы ВРЧ без образцов

1 –дефектоскоп; 2 – калиброванный аттенюатор; 3 – прямой ПЭП; 4 – сосуд с водой;

5 - стальной диск; 6 – микрометрический винт

Настройку производят следующим образом. Настраивают глубиномер дефектоскопа (скорость звука и задержку нуля) на объект контроля. Планируют количество n и положение точек, по которым будут настраивать систему ВРЧ. По АРД – диаграмме или расчетным путем определяют ослабление амплитуды A_i (i = 2,…, n) сигнала для каждой точки по отношению к первой точке. Включают дефектоскоп 1 и получают эхосигнал от диска 5. С помощью микрометрического винта 6 устанавливают диск в такое положение, чтобы эхосигнал от него находился в положении, соответствующем точке 1. С помощью дефектоскопного аттенюатора устанавливают амплитуду сигнала на уровень, указанный в инструкции по эксплуатации дефектоскопа (рис. 8.8)

Рис. 8.8. К вопросу о настройке ВРЧ без образца

Переводят дефектоскоп в режим настройки системы ВРЧ. Нажимая соответствующую клавишу, вводят параметры точки 1 в дефектоскоп. С помощью микрометрического винта переводят диск в положение, соответствующее точке 2. Аттенюатором 2 устанавливают ослабление A₂ относительно точки 1. Вводят параметры точки 2 в дефектоскоп. Эту же операцию повторяют по всем оставшимся точкам, вводя для каждой точки свое ослабление A_i . После ввода последней точки настройка ВРЧ окончена.

Особенно целесообразно использовать систему ВРЧ в случаях:

- контроля изделий большой толщины (более 100 мм);

- наличия многочисленных дефектов, требующих оценки по сис­теме годно - брак, расположенных в некотором интервале расстояний по УЗ лучу;

- значительного изменения чувствительности в направлении УЗ луча, связанного с затуханием УЗ колебаний, например, при наличии структурных помех.

Следует помнить, что применение ВРЧ требует достаточно вы­сокой квалификации дефектоскописта.

8.2.5. Отсечка

При выключенной отсечке и достаточно большом усилении дефек­тоскопа, соответствующем режиму поиска, на экране вдоль горизонталь­ной линии развертки наблюдаются многочисленные импульсы малой амплитуды (менее 1/5 высоты экрана), причиной которых являются элек­тронные и акустические шумы, не имеющие отношения к несплошнос­тям контролируемого изделия. Опытный дефектоскопист привыкает к та­кой картине на дисплее и способен на ее фоне обнаружить полезные сигна­лы (то есть эхоимпульсы от дефектов) небольшой амплитуды. Для сни­жения уровня шумов предусмотрена отсечка. Однако включение отсечки подавляет не только шумы, но и полезные сигналы, сужая возможности дефектоскописта по выявлению небольших несплошностей. Кроме того, пол­ностью включенная некомпенсированная отсечка  на 10 дБ уменьшает динамический диапазон экрана, что более чем в 3 раза уменьшает диапазон оценки разме­ра дефекта по экрану дефектоскопа. Не допускается включение отсечки при использовании накладных АРД-шкал, применение которых рассчи­тано на полный динамический диапазон. По этим причинам следует по возможности избегать включения отсечки.