
- •Методы и технологии магнитного контроля
- •Часть I Общие вопросы магнитного контроля
- •Введение
- •1 Классификация методов магнитного неразрущающего контроля
- •Классификация методов магнитного нк по различным признакам
- •Неразрушающий контроль сплошности (задача дефектоскопии) размеров (задача Толщинометрии) Физико-механиче-ских свойств (Задача структуроскопии)
- •2 Некоторые вопросы физики магнитных явлений
- •2.1 Магнитное поле и его характеристики
- •2.2 Краткие сведения о ферромагнетизме
- •2.3 Намагничивание и перемагничивание. Магнитные свойства материалов
- •2.3.1 Кривые намагничивания
- •2.3.2 Магнитная проницаемость
- •2.3.3 Магнитный гистерезис
- •3 Физические основы методОв магнитНого контроля
- •3.1 Искажение магнитного поля. Понятие о поле рассеяния дефекта
- •3.2 Топография магнитных полей рассеяния моделей дефектов
- •Модель а
- •Модель в
- •4 Магнитные преобразователи
- •4.1 Феррозонды
- •4.2 Индукционные преобразователи
- •4.3 Преобразователи Холла, магниторезисторы
- •4.4 Магнитные порошки, пасты, концентраты. Магнитные суспензии
- •4.4.1 Магнитные порошки
- •4.4.2 Магнитные суспензии
- •4.4.3 Нанесение магнитного индикатора
- •5 Различные Способы магнитного контроля
- •5.1 Способ приложенного поля
- •5.2 Способ остаточной намагниченности
- •6 Намагничивание и размагничивание деталей при методе магнитНого контроля
- •6.1 Виды, способы и схемы намагничивания деталей
- •Трещины
- •Трещины
- •Электромагнит
- •Трещины
- •Трещины
- •Tрещины
- •6.2 Особенности намагничивания деталей постоянным, переменным и импульсным полями
- •6.3 Размагничивание деталей. Демагнитизаторы. Контроль размагниченности
- •Библиографический список
- •Методы и технологии магнитного контроля
- •Часть I
- •Общие вопросы магнитного контроля
- •190031, СПб., Московский пр., 9.
3 Физические основы методОв магнитНого контроля
3.1 Искажение магнитного поля. Понятие о поле рассеяния дефекта
Достаточно полное и физически обоснованное представление об образовании магнитного поля рассеяния вблизи дефекта можно получить расчетно-аналитическими методами [8–10]. Выводы, полученные в результате применения этих методов, позволяют правильно представить схему распределения магнитных силовых линий поля рассеяния дефекта внутри намагниченной детали и над её поверхностью. На рис. 3.1 показан контролируемый объект (КО) в виде длинного цилиндрического стержня с одной внешней граничной поверхностью. Предположим, что материал стержня однороден по своим магнитным свойствам и имеет относительную магнитную проницаемость μ1. В однородном внешнем магнитном поле материал стержня приобретает намагниченность J. В некотором сечении КО расположен поверхностный дефект, сжатый в направлении внешнего поля H0.
Hд
H0
Рис. 3.1 Схема поляризации стенок дефекта
и линии магнитного поля
Полость дефекта, как правило, заполнена воздухом или немагнитными включениями, относительная магнитная проницаемость которых (μ2 1) намного меньше, чем у ферромагнитного материала. Материал внутри дефекта однороден, относительная магнитная проницаемость равна μ2, при этом μ2 значительно меньше μ1. Тогда намагниченность J2 материала, заполняющего дефект, будет меньше намагниченности J1 остальных участков стержня. В связи с этим часть векторов намагниченности будет обрываться на границе КО–дефект и снова начинаться на границе дефект–КО. Известно, что каждый конец линии намагниченности действует как некоторый положительный магнитный заряд, а каждое ее начало – как магнитный заряд противоположного знака. В результате этого границы или стенки дефекта будут поляризованы положительными и отрицательными магнитными зарядами (см. рис. 3.1). Каждый магнитный заряд создает магнитное поле, направленное из него, как из центра. Над участком намагниченной детали, в пределах которого находится поверхностная трещина или иной дефект, суммарное поле магнитных зарядов направлено в ту же сторону, что и внешнее поле H0, т. е. усиливает действие этого поля. Суммарное поле магнитных зарядов называется полем рассеяния дефекта Hд. Оно имеет сосредоточенный характер с максимальным значением напряженности непосредственно над дефектом (рис. 3.2).
Рис. 3.2 Образование поля рассеяния дефекта Hд
Магнитные поля рассеяния от различных простейших моделей дефектов исследованы теоретическими методами, аналогичными используемым в электростатике [11–15]. Основной результат таких исследований – получение распределения магнитных полей рассеяния в виде функции распределения тангенциальной (касательной) Hx и нормальной Hy составляющих поля рассеяния над КО вблизи дефекта. Начало прямоугольной системы координат помещено посредине раскрытия модели дефекта, ось x направлена вдоль поверхности КО, ось y – перпендикулярно к ней.
3.2 Топография магнитных полей рассеяния моделей дефектов
Методы магнитной дефектоскопии основаны на обнаружении полей рассеяния нарушений сплошности (дефектов) при помощи магнитного порошка. Для принятия правильного решения необходимо иметь достаточно полную информацию о пространственном распределении (топографии) магнитных полей как от недопустимых дефектов (трещин, волосовин, флокенов, закатов, надрывов, неметаллических включений, расслоений, дефектов сварных соединений и др.), так и от дефектов1 типа магнитных неоднородностей, обусловленных технологией производства, колебаниями химического состава материала и т. д.
Геометрия и характер этих неоднородностей и, следовательно, топография поля зависят от многих, часто трудно поддающихся учету факторов. Например, на поверхности контролируемого изделия имеются риски, надавы, надиры и т. п. дефекты, случайно образовавшиеся в процессе производства. Магнитные свойства таких дефектных участков могут существенно отличаться от свойств неповрежденного изделия. Хотя КО по этим дефектам не всегда бракуется, однако создаваемые ими поля (и их градиенты) могут быть по величине не только сравнимы с полями от реальных дефектов, но и превышать их, поэтому при контроле возможны ложные скопления магнитного порошка, и надежность выявления реальных дефектов при этом может существенно снижаться.
В общем случае расчёт магнитных полей рассеяния от дефектов типа магнитных неоднородностей представляет собой весьма сложную математическую задачу и практически неосуществим, так как они могут иметь сложные геометрические формы и различаться по физической природе. Однако в ряде случаев эти неоднородности могут быть смоделированы, то есть заменены моделями известных размеров и простой формы. Например, дефекты типа локального точечного надава, надира, риски и т. п. могут быть аппроксимированы эквивалентными точечными магнитными диполями, дефекты типа надира, лыски и т. п. – линейными магнитными диполями.
Дефекты типа нарушения сплошности отличаются тем, что у них глубина намного больше ширины (или сравнима с ней). У таких дефектов магнитные заряды распределяются в двух измерениях – по длине и глубине.
Поле их можно уподобить полю ленточночного магнитного диполя, состоящего из двух заряженных пластин (граней, лент) бесконечной или конечной длины, причем расстояние между ними (ширина диполя) и их высота (глубина диполя) в первом приближении совпадают с параметрами действительного дефекта.
Материалы по расчету магнитных полей различных моделей дефектов и их экспериментальной проверке подробно представлены во многих литературных источниках [8, 9]. Основной результат этих исследований – получение функции распределения тангенциальной (касательной) Hx и нормальной Hy составляющих поля рассеяния над поверхностью КО вблизи той или иной модели дефекта. Начало прямоугольной системы координат помещается посредине раскрытия модели дефекта, ось x направлена вдоль поверхности КО, ось y – перпендикулярно к ней.
Учитывая, что наиболее часто встречающимся поверхностным дефектом являются вертикальные трещины, имеющие малое раскрытие с выходом на поверхность, ниже будет более подробно рассмотрена модель дефекта типа ленточный магнитный диполь.
На рис. 3.3 приведены две совершенно различные модели А и В для расчета поля рассеяния Hд трещины конечной глубины.