
- •Часть 1
- •Оглавление
- •1 Классификация и обзор акустических методов контроля
- •2 Общая схема и анализ акустического тракта методов отражения. Диаграммы и индикатрисы рассеяния дефектов
- •3 Акустический тракт эхоимпульсного метода
- •3.1 Отражение от малого плоского дефекта: расчет амплитуды эхосигнала, влияние параметров дефекта
- •3.2 Обобщенное приближенное выражение для амплитуд эхосигналов. Эхосигналы от отражателей простой геометрической формы (моделей дефектов)
- •Модели отражателей простой геометрической формы
- •3.3 Пространственные и временные огибающие параметров эхосигналов как характеристики индикатрис рассеяния
- •4 Измеряемые характеристики дефектов при эхоимпульсном методе
- •4.1 Измеряемые характеристики дефектов как параметры огибающих амплитуд эхосигналов
- •4.2 Принцип измерения координат отражателей. Угол ввода луча
- •4.3 Случайные и систематические погрешности измерения координат
- •Изменение угла ввода при изменении температуры на 10 °с
- •4.4 Амплитуда эхосигнала и коэффициент выявляемости дефекта
- •Шкала децибел
- •4.5 Эквивалентная площадь дефекта. Методы измерения.
- •4.6 Условные размеры дефектов
- •4.7 Способы измерения условных размеров дефектов
- •5 Основные параметры эхоимпульсного метода
- •5.1 Понятие основных параметров и связь между ними
- •Основные параметры контроля
- •5.2 Длина волны и частота
- •5.3 Эталонирование угла ввода и направленности поля
- •5.4 Понятия чувствительности эхоимпульсного метода
- •5.5 Эталонирование предельной чувствительности
- •5.6 Эталонирование условной и эквивалентной чувствительности
- •5.7 Мертвая зона
- •5.8 Разрешающая способность
- •5.9 Стандартные образцы для эталонирования
- •6 Помехи и шумы при эхоимпульсном методе
- •6.1 Виды и природа шумов и помех
- •6.2 Структурные помехи и способы борьбы с ними
- •7 Способы оценки размеров и конфигурации дефектов
- •7.1 Классификация способов распознавания дефектов
- •7.2 Признаки дефектов, основанные на соотношениях условных размеров. Компактные и протяженные дефекты
- •7.3 Эхозеркальный (тандем-) метод
- •7.4 Оценка размеров и конфигурации дефектов по параметрам дифрагированных сигналов
- •Библиографический список
- •Методы акустического контроля
- •Часть 1
- •190031, СПб., Московский пр., 9.
5.4 Понятия чувствительности эхоимпульсного метода
Реальная чувствительность определяет минимальные размеры дефектов конкретного вида, выявляемых в изделиях только путем набора огромного числа статистических данных о дефектах, выявленных в конкретных изделиях (металлография).
В настоящее время реальная чувствительность известна только применительно к ультразвуковому контролю стыков электроконтактной сварки рельсов. Попытки оценить реальную чувствительность новых методик делаются с помощью образцов объектов контроля с так называемыми реалистическими дефектами, выполненными по специальной технологии и имеющими заданные характеристики, близкие к характеристикам реальных дефектов.
Предельная чувствительность характеризуется минимальной площадью отверстия с плоским дном, ориентированным перпендикулярно акустической оси преобразователя, которое еще обнаруживается на определенной глубине в изделии при определенной настройке прибора.
Мерой предельной чувствительности можно считать минимальную эквивалентную площадь дефекта, выявляемого на определенной глубине в определенном изделии при определенной настройке.
Условная чувствительность характеризуется размерами и глубиной залегания выявляемых искусственных отражателей, выполненных в образце из материала с определенными акустическими свойствами.
Условную чувствительность измеряют максимальной глубиной залегания выявляемого отражателя или отношением (дБ) между данной настройкой аппаратуры и настройкой, соответствующей выявлению эталонного отражателя в стандартном образце.
Эквивалентная чувствительность характеризуется отражателем (моделью дефекта) определенного типа и размера в образце объекта контроля, принятом за эталонный, и измеряется отношением (дБ) между данной настройкой аппаратуры и настройкой, соответствующей выявлению указанного отражателя.
5.5 Эталонирование предельной чувствительности
Настройка на предельную чувствительность представляет собой процедуру, обратную определению эквивалентной площади.
Можно использовать два способа настройки:
а) по тест-образцам с моделями дефектов;
б) по специально построенным диаграммам (АРД и SKH-диаграммы).
Для настройки по образцам необходимо:
выбрать тест-образец с толщиной, соответствующей глубине выявляемых дефектов;
озвучить в этом образце модель с размером S0, соответствующим заданной величине S;
небольшими смещениями добиться максимальной амплитуды эхосигнала от этой модели и установить органы управления прибора таким образом, чтобы его индикаторы срабатывали от данного уровня сигнала.
В качестве модели можно использовать плоскодонное отверстие (Sп = S0), сегментный отражатель (Sп = S0) и угловой отражатель. При использовании углового отражателя (зарубки) Sп = nзSз, где Sз – площадь углового отражателя; nз – коэффициент, зависящий от величины (см. рис. 4.7).
При контроле изделий небольшой толщины значение Sп часто настраивают, используя угловые отражатели, выполненные на верхней или нижней границах изделия (рис. 5.4).
Рис. 5.4. Настройка чувствительности по образцам с угловыми отражателями
Поскольку предельная чувствительность определяется минимальной эквивалентной площадью выявляемого дефекта, при ее настройке по АРД и SKH-диаграммам должны быть использованы эталонные отражатели в виде бокового цилиндрического отражателя в стандартном образце СО-2 (для SKH-диаграмм) и в виде бесконечной плоскости (для АРД-диаграмм). Следует заметить, что разработаны и используются для задач контроля наклонным преобразователем специальные АРД-диаграммы, построенные относительно отражателя в СО-2.
Решим задачу настройки предельной чувствительности по SKH-диа-грамме (рис. 5.5).
Пример.
Настроить Sп = 3 мм2 на глубине Н = 50 мм.
Параметры контроля: = 50º, f = 2,5 МГц.
Решение:
1. Измерено на СО-2: N0 = –20 дБ, ΔN = 4 дБ.
2. Определено по SКН-диаграмме кд = –12 дБ.
3. Расчет: Nд = кд + (N0 + ΔN) = –12 + (20 + 4) = 12 дБ.
Рис. 5.5. Настройка предельной чувствительности по SKH-диаграмме