Физические величины

Фундаментальные физические константы
Электрическая постоянная	0 = 8,8510-12 Ф/м
Магнитная постоянная	0 = 12,5710-7 Гн/м
Элементарный заряд	e = 1,610-19 Кл
Масса электрона	me = 9,110-31 кг
Масса протона	mp = 1,6710-27 кг
Характеристики материалов
Диэлектрическая проницаемость керосина	2
Диэлектрическая проницаемость стекла	6
Удельное электрическое сопротивление меди	17 нОмм
Удельное электрическое сопротивление алюминия	26 нОмм

2. Контрольная работа №4 Волновая оптика. Квантовая природа излучения. Элементы атомной и ядерной физики

2.1 Законы и формулы

Волновая оптика

Абсолютный показатель преломления среды

,

где с = 3∙10⁸ м/с – скорость распространения света в вакууме, v – скорость распространения света в среде.

Оптический ход светового луча (оптическая длина пути)

,

где l – геометрический ход луча.

Оптическая разность хода двух волн

.

Условие усиления света при интерференции волн от двух когерентных источников

,

где – длина волны падающего света, k = 0, 1, 2, … .

Условие ослабления при интерференции двух волн

.

Линейное расстояние между соседними интерференционными максимумами или минимумами на экране, расположенном параллельно двум когерентным источникам света

,

где l – расстояние от когерентных источников волн до экрана, d – расстояние между источниками волн (при этом ),  – длина волны, излучаемая источниками.

Оптическая разность хода световых волн при интерференции на тонких пленках (или пластинках) в отраженном свете:

или ,

где d – толщина пленки, i – угол падения лучей на пленку, r – угол преломления лучей в пленке, n – показатель преломления пленки.

Радиусы светлых колец Ньютона в отраженном свете

,

где – радиус сферической поверхности, = 1, 2, … .

Радиусы темных колец Ньютона в отраженном свете

.

В проходящем свете расположение светлых и темных колец обратно их расположению в отраженном свете.

Условие максимума дифракции света от одной щели, на которую нормально падает пучок параллельных лучей, определяется условием

,

где – размер щели, – угол дифракции, = 0, 1, 2, … .

Условие минимума дифракции света от одной щели

.

Условие максимума дифракции света на дифракционной решетке (при нормальном падении света на решетку)

,

где – постоянная (период) решетки, = 0, 1, 2, … .

Разрешающая способность дифракционной решетки

,

где – наименьшая разность длин волн двух соседних спектральных линий (  и  ), при которой эти линии могут раздельно наблюдаться в спектре, полученном с помощью данной решетки, – полное число щелей решетки.

Угловая дисперсия дифракционной решетки

.

Формула Вульфа - Брэггов для дифракции рентгеновских лучей на кристалле

,

где – расстояние между соседними атомными плоскостями в кристалле,  – угол скольжения,  – длина волны рентгеновского излучения.

Закон Бугера

,

где – интенсивность падающего на вещество света, – интенсивность света, прошедшего слой вещества толщиной , – коэффициент поглощения.

Степень поляризации частично поляризованного света определяется формулой

,

где – максимальная интенсивность света, прошедшего через анализатор, – минимальная интенсивность этого света.

Интенсивность света, прошедшего через поляризатор и анализатор, определяется по закону Малюса

,

где – интенсивность плоскополяризованного света, падающего на анализатор, – интенсивность этого света после прохождения анализатора, – угол между главными плоскостями поляризатора и анализатора.

Закон Брюстера

,

где – угол падения естественного света, при котором отраженный от диэлектрика свет полностью поляризован (угол Брюстера), – относительный показатель преломления второй среды относительно первой.