3.6. Как связаны нч шумы с технологией изготовления транзистора?
Анализ
уровня НЧ шума от полупроводниковых
приборов позволяет улучшить процесс
отбраковки некачественных изделий.
Исследуемые транзисторы сравниваются
по уровню шума с контрольными бездефектным
транзистором и по разности значений
шумов изделие оценивается на надёжность.
Однако недостатком такого метода
является низкая достоверность, так как
отбраковывается до 15% надёжных изделий.
Измерения
проводятся в режиме диода переходов
Э-Б и К-Б при прямом токе 10 мА с помощью
установки прямого измерения на частоте
1 кГц, после чегго сигнал детектируется
квадратичным детектором и измеряется
на цифровом вольтметре. [2]
Источники:
Григорьев
А. Д., Иванов В. А., Молоковский С. И. Г 83
Микроволновая электроника: Учебник /
Под ред. А. Д. Григорьева., СПб.: Издательство
«Лань», 2016;
Возможности
отбраковки полупроводниковых приборов
по уровню низкочастотного шума // URL:
https://www.kit-e.ru/assets/files/pdf/2005_08_198.pdf
(дата обращения: 07.06.2021)
Диоды
сверхвысокочастотные: Генераторные
диоды // URL:
http://www.club155.ru/diods-uhf-generator
(дата обращения: 05.06.2021).
Сушков
А. Д. Вакуумная электроника:
Физико-технические основы: Учебное
пособие. – СПб.: Издательство «Лань»,
2004. – 464 c.: ил. – (Учебники для вузов.
Специальная литература).
Презентации
и лекции по микроволновой электронике;
Конспект
лекций по ТТЭ.
2
балл
