- •Учебно-методическое обеспечение дисциплины
- •1. Введение в экспертные системы.
- •Перспективная экспертная интеллектуальная система
- •2. Организация и средства построения тэс.
- •3. Приобретение знаний от технолога-эксперта.
- •Методы извлечения знаний.
- •4. Структурирование и формализация знаний.
- •4.1. Методология структурирования знаний.
- •Семантическое кодирование
- •Стимуляция
- •4.2. Формализация знаний.
- •1. Структуризация общей задачи на связанные подзадачи
- •2. Структуризация предметной области на основе иерархии классов
- •3. Структуризация знаний на декларативные и процедурные
- •4. Структуризация приложения на основе иерархии «часть/целое»
- •5. Представление знаний.
- •6. Принятие решений в технологических экспертных системах.
- •Корень дерева
- •Дочерние вершины
- •Начальное состояние
- •Целевое состояние
- •7. Исследование технологических процессов изготовления тонкопленочных интегральных микросхем.
- •7.3. Фотолитография
- •8. Оборудование для промышленного изготовления тонкопленочных интегральных микросхем.
- •8.5 Вакуумноные напылительные установки и линии непрерывного действия.
- •8.6 Оборудование для флг.
- •9. Толстопленочная технология изготовления имс
- •9.1. Схема технологического процесса изготовления толстопленичных микросхем.
- •9.2. Методы получения толстых пленок.
- •9.2.1. Метод контактной печати.
- •9.3. Изготовление трафаретов.
- •9.4.Процесс сушки и вжигания.
- •9.5. Толстопленочные элементы.
- •10. Технологическое оборудование для промышленного изготовления толстопленочных имс.
- •10.2 Термическое оборудование.
- •10.3 Оборудование для подгонки параметров толстопленочных элементов.
- •11. Технология изготовления печатных плат
- •12. Технология сборочно-монтажного производства эс
9.5. Толстопленочные элементы.
Основной недостаток толстопленочных элементов - низкая точность номинального значения (15-20%). Поэтому при изготовлении элементов, особенно резисторов, необходима их подгонка к номинальному значению.
Существенные методы подгонки элементов микросхем включает механическое соскабливание, анодирование, обработку образивом, импульсным и высокочастотным напряжением, лазерным и электронным лучом.
Для толстопленочных резисторов в основном применяют образивную и лазерную подгонку номиналов. Образивная подгонка заключается в удалении
резистивного материала путем его обработки струей образивного порошка.
Данный метод отличается низкой стоимостью оборудования, незначительными
расходами по обслуживанию и эксплуатации, возможностью подгонки одно-
временно нескольких резисторов с достаточно высокой точностью (до 0,1%),
возможностью удаления с высокой скоростью больших участков материалов.
Благодаря этому,а также возможности автоматизации процесса, образивная подгонка нашла широкое применение. Разработан ряд высокопроизводительных многоструйных установок для массового и мелкосерийного производства. К недостаткам образивной подгонки следует отнести:
загрязнение подложки и всей схемы,
трудность подгонки резисторов шириной 0,25 мм.;
возникновение нестабильности глазурованного резистора под воздействием внешних условий.
Поэтому в настоящее время особенно широко используют лазерную подгонку резисторов, т.к. она обладает следующими преимуществами:
высокая точность (до 0,01%);
отсутствие электрического контакта, в результате чего возможна подгонка схем во время работы;
возможность обработки резисторов очень малой ширины;
локальность процесса;
возможность получения оптимальных вырезов с целью достижения максимальных характеристик мощности рассеивания;
отсутствие возможности повреждений или загрязнений компонентов;
возможность использования ЭВМ;
возможность использования оборудования для других точных работ.
Основный недостаток лазерной подгонки - высокая стоимость оборудования. Однако возможность получения высоких скоростей подгонки, использования лазерного оборудования для выполнения других операций (прошивки отверстий в диэлектрических подложках), микросварки - все это почти полностью окупает стоимость оборудования и позволяет широко использовать лазер в микроэлектронике.
После изготовления пассивных элементов толстопленочных ИМС производят лужение контактных площадок. Монтаж и сборку толстопленочных ИМС производят также, как и тонкопленочных.
Некоторые технико-экономические характеристики толстопленочной тех-
нологии приведены в таблице 9.1.
Таблица 9.1
Параметры Разновидность ИМС
тонкопленочные толстопленочные
Точность номинала,% 0,005 - 1,0 0,1 - 1,0
Стабильность характеристики 1/год 2*0,00001- 0,01 0,05 - 1,0
ТКС*1000000, град.С*0,1
Удельное сопротивление, Ом*см 1,0 -100 100 - 500
Сопротивление Ом. 1-100000 10-1000000000
Удельн.мощн-ть рассеяния,Вт/мм(кв) 0,03 0,3
Общ. точность конструкции, % 0,1-2,0 1-10
Толщина слоя, см 0,00001-0,001 0,001-0,01
Материалы Металл,сплавы Пасты на керам.
или окислы подложке
нитриды мет-ов
на ситалловой
подложке
Оборудование Вакуумн. камеры и Шелкографич-е
линии для ФЛГ рамы и печи для
вжигания
Стоимость оборудования, отн.ед. 100 10
Обращение с готовой подложкой осторожно без особых
предосторожн-й
Минимальная ширина линии, мм 0,01 0,1
